Deteccion de Armas de Fuego
Deteccion de Armas de Fuego
Deteccion de Armas de Fuego
Facultad de Ingeniera
Departamento de Ingeniera Electr onica
CIRCUITOS INTEGRADOS DE BAJO CONSUMO PARA
DETECCI
ON Y LOCALIZACI
ON DE DISPAROS DE
ARMAS DE FUEGO
Por
Alfonso Chac on Rodrguez
Tesis presentada para optar por el Grado Acad emico de:
Doctor en Ingeniera, Orientaci on Electr onica
Director de Tesis: Dr. Pedro M. Juli an
Co-Director de Tesis: Mg. Manuel Gonz alez
Mar del Plata, Argentina. Mayo de 2008.
Indice general
Indice general II
Indice de tablas V
Indice de tablas
3.1. ROC para comparaci on contra valor absoluto de la se nal. . . . . . . . . . . 24
3.2. Semiperiodo aproximado del primer o segundo pico de presi on sonora. . . . 27
3.3. ROC para ltrado de mediana de la se nal de entrada. . . . . . . . . . . . . 29
3.4. ROC para ltrado de la se nal de entrada usando un operador de energa de
Teager. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
3.5. ROC para correlaci on de la se nal contra plantilla hecha con el promedio de
disparos a 30 m. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
3.6. ROC para correlaci on de la se nal contra plantilla hecha con el promedio
disparos a 90 m. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
3.7. Diadas del banco de ltros en cascada para la DWT. . . . . . . . . . . . . . 38
3.8. ROC para ltro transformada de ondita discreta (DWT). Bandas 3, 4 y 5.
Estimador cuadr atico de energa. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
3.9. ROC para ltro transformada de ondita discreta (DWT). Bandas 3, 4 y 5.
Valor absoluto como estimador de energa. . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
3.10. ROC para ltro transformada de ondita discreta (DWT). Bandas 4, 5 y 6.
Estimador cuadr atico de energa. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 40
3.11. ROC para ltro transformada de ondita discreta (DWT). Bandas 4, 5 y 6.
Valor absoluto como estimador de energa. . . . . . . . . . . . . . . . . . 40
3.12. ROC para ltro transformada de ondita continua (CWT). Bandas 3, 4 y 5.
Valor absoluto como estimador de energa. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44
3.13. ROC para ltro transformada de ondita continua (CWT). Bandas 3, 4 y 5.
Estimador cuadr atico de energa. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
3.14. ROC para ltro transformada de ondita continua (CWT). Bandas 3 y 4. Valor
absoluto como estimador de energa. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
3.15. ROC para ltro transformada de ondita continua (CWT). Bandas 3 y 4 .
Estimador cuadr atico de energa. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
3.16. ROC para se nal de entrada sin procesar. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
3.17. Mejores pares (TPR, FPR) por algoritmo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
4.1. Tensiones pico entregadas, referidas a presiones sonoras esperadas por el
sistema, por un micr ofono EMKAY MD9745APZ-F. . . . . . . . . . . . . 56
4.2. Razones de aspecto de transistores para cada OTA (W/L). . . . . . . . . . . 60
4.3. Caractersticas de OTAs implementados, obtenidas de simulaciones SPICE. 61
V
4.4. C alculos de la desviaci on porcentual de las tensiones de compuerta para los
pares diferenciales para la tecnologa y los tama nos escogidos (transistores
PMOS). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 76
4.5. C alculos de la desviaci on porcentual de los copiadores de corriente NMOS,
para la tecnologa y los tama nos usados. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 77
4.6. C alculos de la desviaci on porcentual de los copiadores de corriente PMOS,
para la tecnologa y los tama nos usados. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 77
4.7. Consumo completo de etapas con alimentaci on a 4V. CI 1. . . . . . . . . . 79
4.8. Consumo completo de etapas con alimentaci on a 3.3V. CI 2. . . . . . . . . 80
4.9. Offset de salida para las etapas de los coecientes, para los dos CI medidos. 82
4.10. Tensiones de polarizaci on para el amplicador operacional tipo cascode. . . 98
5.1. Comparaci on de consumo y precisi on entre la arquitectura de lazo cerrado y
otros circuitos que realizan la misma funci on. . . . . . . . . . . . . . . . . 119
5.2. Consumo nal del CI estimador de retardo basado en ltro lineal de Kalman
(excluidos pads). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 133
5.3. Consumo nal del CI estimador de retardo basado en un algoritmo de b usque-
da binaria(excluidos pads). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 138
A.1. Diadas del banco de ltros en paralelo propuesto en el captulo 3. . . . . . 146
VI
Indice de guras
2.1. Imagen Schlieren de alta velocidad de un rie calibre .30-06 haciendo fuego. 7
2.2. Imagen Schlieren del estallido de boca de una pistola .45 sin silenciador
(izquierda) y con silenciador (derecha). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
2.3. Firma temporal del fen omeno ac ustico detr as de un disparo de arma de fuego
en direcci on a un micr ofono, a campo abierto. . . . . . . . . . . . . . . . . 8
2.4. Cono de propagaci on de la onda de choque generada por la bala a velocidad
supers onica. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
2.5. Muestra temporal de algunas de las se nales grabadas en un ambiente selv atico. 10
2.6. Muestra de rma temporal de las cinco armas grabadas, a una distancia de
30m, 0 grados de incidencia sobre el micr ofono. . . . . . . . . . . . . . . . 11
2.7. Ejemplos espectrales para una carabina calibre .22, una pistola de 9mm y
una escopeta calibre .12, todas grabadas a una distancia de 30m. Sonidos
tomados de [1]. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
2.8. Muestra de rma temporal detallada para una pistola 9mm, a una distancia
de 30m, 0 grados de incidencia sobre el micr ofono. . . . . . . . . . . . . . 12
2.9. Ejemplo de un nodo completamente integrado. . . . . . . . . . . . . . . . 15
2.10. Ejemplo de la red de sensores para la detecci on de caza ilegal. . . . . . . . 16
3.1. Estructura b asica del algoritmo de detecci on evaluado. . . . . . . . . . . . 19
3.2. Los positivos que ocurren en un instante demasiado alejado del verdadero
evento, como los que se observan cerca de los cinco y siete segundos en este
caso, se consideran como anomalas (XTP). . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
3.3. Ejemplo de detecci on correcta (positivo verdadero) del disparo de una es-
copeta calibre .12, a 250m del detector, usando el m etodo de transformada
discreta de ondita (DWT). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
3.4. Estructura b asica del algoritmo de detecci on por valor absoluto o rectica-
ci on de se nal. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
3.5. ROC de sistema sobre la se nal recticada en onda completa (o valor absoluto). 25
3.6. Estructura de detecci on por ltrado de mediana. . . . . . . . . . . . . . . . 25
3.7. Dispositivo de brigada de baldes, o Bucket Brigade Device, usado como
registro anal ogico de desplazamiento. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
3.8. Unidad b asica de una celda de retardo basada en muestrear y mantener una
se nal usando dos relojes complementarios no solapados. . . . . . . . . . . 27
VII
3.9. Ejemplo de b usqueda por el retardo y la ventana optimos. . . . . . . . . . . 28
3.10. ROC. Preprocesamiento de Filtro de mediana. . . . . . . . . . . . . . . . . 29
3.11. Estructura b asica del algoritmo de detecci on basado en el operador discreto
de energa de Teager. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
3.12. ROC. Preprocesamiento por medio de TEO. . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
3.13. Esquema b asico para el algoritmo de detecci on basado en ltrado por apa-
reamiento (correlaci on contra una plantilla). . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
3.14. ROC. Procesamiento por correlaci on. Plantilla de disparos a 30 metros. . . 33
3.15. ROC. Procesamiento por correlaci on. Plantilla de disparos a 90 metros. . . 33
3.16. Respuesta normalizada en frecuencia de ltro escala Haar. El ltro act ua
como un pasa bajos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
3.17. Respuesta normalizada en frecuencia de ltro ondita Haar. El ltro act ua
como un pasa altos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
3.18. Estructura general de un banco de ltros de descomposici on por onditas. . 37
3.19. Estructura del banco de ltros y el detector. . . . . . . . . . . . . . . . . . 37
3.20. Suma de vectores a la salida de los ltros de ondita discreta. . . . . . . . . 38
3.21. ROC. Procesamiento por DWT. Banco de ltros Haar. Estimador cuadr atico
de energa. Coecientes de niveles 3, 4 y 5. A 0, 90 y 180 grados de inciden-
cia sobre el micr ofono. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
3.22. ROC. Procesamiento por DWT. Banco de ltros Haar. Valor absoluto como
estimador de energa. Coecientes de niveles 3, 4 y 5. A 0, 90 y 180 grados
de incidencia sobre el micr ofono. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 40
3.23. ROC. Procesamiento por DWT. Banco de ltros Haar. Estimador cuadr atico
de energa. Coecientes de niveles 4, 5 y 6. A 0, 90 y 180 grados de inciden-
cia sobre el micr ofono. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41
3.24. ROC. Procesamiento por DWT. Banco de ltros Haar. Valor absoluto como
estimador de energa. Coecientes de niveles 4, 5 y 6. A 0, 90 y 180 grados
de incidencia sobre el micr ofono. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41
3.25. Estructura de procesamiento de se nal para encontrar detalles de se nal, uti-
lizando un banco de ltros paralelos como estructura de preprocesamiento
CWT. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
3.26. Banco de ltros paralelos anal ogico equivalente a una descomposici on con-
tinua de onditas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
3.27. Respuesta de frecuencia de los ltros en un banco paralelo de transformada
continua de onditas (CWT). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44
3.28. ROC de procesamiento por banco de ltros CWT. Bandas 3, 4 y 5. A 0, 90
y 180 grados de incidencia sobre el micr ofono. Estimador de valor absoluto
para la energa. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
3.29. ROC de procesamiento por banco de ltros CWT. Bandas 3, 4 y 5. A 0, 90
y 180 grados de incidencia sobre el micr ofono. Estimador cuadr atico para la
energa. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
VIII
3.30. ROC de procesamiento por banco de ltros CWT. Bandas 3 y 4. A 0, 90 y
180 grados de incidencia sobre el micr ofono. Estimador de valor absoluto
para la energa. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
3.31. ROC de procesamiento por banco de ltros CWT. Bandas 3 y 4. A 0, 90 y
180 grados de incidencia sobre el micr ofono. Estimador cuadr atico para la
energa. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
3.32. ROC. Se nal sin preprocesamiento. A 0, 90 y 180 grados de incidencia sobre
el micr ofono. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
3.33. Falso positivo obtenido con el ltro de mediana procesando una grabaci on
de una quebrada. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50
4.1. Banco de ltros completo a implementar, utilizando amplicadores opera-
cionales de transconductancia (OTAs). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54
4.2. Valor de la constante de proporcionalidad entre la transconductancia del
OTA y la transconductancia de los transistores del par de entrada, K =
gm
M1
/G
m
, en funci on de la transconductancia normalizada como funci on a
su vez del nivel de inversi on del transistor. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
4.3. Valor de la constante de proporcionalidad entre transconductancia del OTA
y transconductancia de los transistores del par de entrada, K = gm
M1
/G
m
en funci on del nivel de inversi on i
f
del transistor M
1
. . . . . . . . . . . . . 59
4.4. OTA linealizado con difusores sim etricos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59
4.5. Transconductor de 137nS. Se usan transistores PMOS como par de entrada
por su menor transconductancia intrnseca. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
4.6. Simulaciones de rango lineal y transconductancia de OTA de 137nS. . . . . 62
4.7. Transconductor de 68.5nS. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
4.8. Simulaciones de rango lineal y transconductancia de OTA de 68.5nS. . . . . 63
4.9. Simulaciones de rango lineal y transconductancia OTA34.25nS. . . . . . . 64
4.10. Rango lineal y transconductancia para OTA de 385nS, polarizado con 180nA. 64
4.11. Esquema de amplicaci on usado para las salidas a pads de los coecientes y
el nodo intermedio del banco de ltros. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 65
4.12. Respuesta en frecuencia para los coecientes 3, 4 y 5 y el nodo intermedio. 66
4.13. OTA dual, 68.5 nS. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67
4.14. Comparador para detecci on de cruce por cero. Versi on 1, salida balanceada. 67
4.15. Comparador para detecci on de cruce por cero para recticador. Versi on 2. . 68
4.16. Simulaci on en CD para comparadores, versiones 1 y 2. . . . . . . . . . . . 68
4.17. Respuesta transitoria para comparadores versiones 1 y 2, entrada de 20mV. 69
4.18. Circuito recticador completo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 69
4.19. Transferencia CD para el recticador (versiones 1 y 2 con comparadores
versiones 1 y 2 respectivamente). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 70
4.20. Respuesta transitoria para el recticador. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 70
4.21. Unidad de c alculo con sumador de salida de ltros recticada. . . . . . . . 71
4.22. Respuesta de unidad completa, entrada 20mV. . . . . . . . . . . . . . . . 72
IX
4.23. Salida del algoritmo te orico versus salida simulada a partir del esquem atico,
para una aproximaci on lineal a tramos al sonido grabado de una pistola 9mm
a 250m, 180 grados. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 72
4.24. Salida del algoritmo te orico versus salida simulada a partir del esquem atico,
para una aproximaci on lineal a tramos al sonido grabado de un revolver .32
a 250m, 0 grados. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 73
4.25. Salida del algoritmo te orico versus salida simulada a partir del esquem atico,
para una aproximaci on lineal a tramos al sonido grabado de una carabina .22
a 90m, 0 grados. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 73
4.26. Ejemplo de los copiadores de corrientes de polarizaci on. . . . . . . . . . . 74
4.27. Fuente de autopolarizaci on, independiente de la alimentaci on. Se incluye
circuito arrancador. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 75
4.28. Escalera de divisi on de corrientes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 75
4.29. Ejemplo de layout de los OTAs. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 78
4.30. Layout nal de todo el circuito integrado, en tecnologa est andar CMOS de
0.5 m. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 78
4.31. Banco de pruebas usado, con detalle de la placa de mediciones con el CI
incorporado. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 80
4.32. Respuesta en frecuencia para el nodo intermedio y los coecientes 3, 4 y 5. 81
4.33. Respuesta temporal de la unidad de c alculo para un tono de 500Hz. . . . . . 82
4.34. Salida del sistema, con la entrada alimentada con una sinusoidal de 500Hz,
150mV. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 83
4.35. Banco de pruebas fuera de lnea, aplicado sobre el CI 2. . . . . . . . . . . . 84
4.36. Respuesta del sistema y el algoritmo para un disparo de escopeta .12 a 30m. 85
4.37. Respuesta del sistema y el algoritmo para un disparo de carabina .22 a 30m. 85
4.38. Respuesta del sistema y el algoritmo para un disparo de una pistola de 9mm
a 90m. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 86
4.39. Respuesta del sistema y el algoritmo para un disparo de rev olver .38 a 90m. 86
4.40. Respuesta del sistema y el algoritmo para una grabaci on de ave, amplicada
100 veces. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 87
4.41. Respuesta del sistema y el algoritmo para una grabaci on de avi on, ampli-
cada 100 veces. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 87
4.42. Respuesta del sistema y el algoritmo para una grabaci on de una motosierra
a 30m, amplicada 10 veces. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88
4.43. Propuesta de banco de pruebas en lnea. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88
4.44. Estructura de un ltro de Haar de escala, llamado tambi en de aproximaci on. 89
4.45. Estructura de un ltro de Haar de ondita, llamado tambi en de detalle. . . . . 90
4.46. Estructura b asica de descomposici on de un coeciente cAN 1 en un coe-
ciente cDN de detalle y un coeciente cAN de aproximaci on. . . . . . . 90
4.47. Dos bloques de aproximaci on en cascada, con un submuestreo por 2 en el
medio. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90
X
4.48. Circuito que realiza un ltrado por aproximaci on en dos niveles, para obtener
el coeciente CA
2
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 91
4.49. Secuencia ideal de relojes para conmutaci on del circuito de la Fig. 4.48. . . 92
4.50. Circuito que realiza el muestreo y mantenimiento a la salida de todos los
coecientes. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 93
4.51. Circuito que realiza un ltrado por detalle de un nivel, para obtener el coe-
ciente cD
3
. El diagrama de tiempos de los relojes necesarios se muestra en
la Fig. 4.52. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 94
4.52. Secuencia ideal de relojes para conmutaci on del circuito de la Fig. 4.51. . . 94
4.53. Un bloque de aproximaci on seguido de un bloque diferenciador en cascada,
con un submuestreo por 2 en el medio. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 95
4.54. Circuito que realiza un ltrado por detalle de dos niveles, para obtener el
coeciente cD
4
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 95
4.55. Secuencia ideal de relojes para conmutaci on del circuito de la Fig. 4.54. . . 96
4.56. Muestra de la implementaci on discreta en Matlab del coeciente cA
2
. . . . 97
4.57. Diagrama de bloques del circuito completo para el c alculo de los coecientes
de detalle 3, 4 y 5. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 97
4.58. Conguraci on del amplicador operacional con terminaci on o salida senci-
lla, tipo cascode, y respuesta de frecuencia. . . . . . . . . . . . . . . . . . 98
4.59. Diagrama de tiempos de la secuencia de relojes principales. . . . . . . . . . 99
4.60. Generador de relojes bif asicos. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 100
4.61. Buffer de reloj. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 100
4.62. Bloque de acondicionamiento de reloj para cada se nal de conmutaci on nece-
saria. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 101
4.63. Simulaci on temporal para el coeciente de aproximaci on 2, luego de sus
respectivo muestreo y mantenimiento. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 101
4.64. Simulaci on temporal para el coeciente de detalle 3, luego de su respectivos
muestreo y mantenimiento. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 102
4.65. Simulaci on temporal para el coeciente de detalle 5, luego de su respectivos
muestreo y mantenimiento. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 102
4.66. Simulaci on temporal para el coeciente de detalle 5, luego de su respectivos
muestreo y mantenimiento. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 103
4.67. Simulaci on de circuito nal para el coeciente cA
2
. . . . . . . . . . . . . . 103
4.68. Simulaci on de circuito nal para el coeciente cD
3
. . . . . . . . . . . . . 104
4.69. Simulaci on nal de circuito nal para el coeciente cD
4
. . . . . . . . . . . 104
4.70. Simulaci on de circuito nal para el coeciente cD
5
. . . . . . . . . . . . . . 105
4.71. Simulaci on de circuito nal para el coeciente cD
4
, en las salidas no dife-
renciales. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 105
4.72. Layout completo del circuito para implementar la DWT Haar. . . . . . . . 106
5.1. Arreglo b asico de cuatro micr ofonos, M
1
, M
2
, M
3
y M
4
, para estimaci on de
angulo de arribo de una fuente sonora. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 110
XI
5.2. Unidad bit de correlaci on cruzada. Una por etapa de retardo. . . . . . . . . 111
5.3. Unidad bit de derivada de correlaci on cruzada. . . . . . . . . . . . . . . . . 112
5.4. Aproximaci on adaptiva. Las se nales se almacenan en lneas de retardo. . . . 113
5.5. Sistema de lazo cerrado para estimar ITD. . . . . . . . . . . . . . . . . . 114
5.6. Ejemplo algortimico sobre dos ondas desfasadas. . . . . . . . . . . . . . . 115
5.7. Arquitectura digital de lazo cerrado. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 116
5.8. Arquitectura implementada usando celdas est andar en un proceso est andar
CMOS de 0.35m. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 117
5.9. Banco de pruebas implementado sobre una placa Digilent Inc. con una FP-
GA Spartan 3. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 117
5.10. Test de linealidad del CI estimador de retardo por lazo cerrado. . . . . . . . 118
5.11. Error absoluto de estimaci on, con su desviaci on est andar. . . . . . . . . . . 118
5.12. Detalle de convergencia total del sistema para varios retardos aleatorios. . . 119
5.13. Esquema del ambiente de medici on en campo abierto. La unidad sensora de
direcci on (Bearing Sensor Unit o BSU) se conecta a una red inal ambrica de
sensores, con el CI estimador de retardo incorporado. . . . . . . . . . . . . 120
5.14. Resultados de mediciones angulares a campo abierto con la BSU, para un
barrido de angulo entre -90
y 90
M
= sin
1
(
1
M
) (2.1)
donde M = V/c. Aqu, la velocidad del sonido se incrementa con la temperatura, seg un la
relaci on
c = c
0
_
(1 +
T
273
) (2.2)
donde T es la temperatura en grados centgrados y c
0
=331 m/s la velocidad del sonido a
0
y la onda de choque se
propaga casi en paralelo a la trayectoria de la bala. Al irse desacelerando la bala por efecto
de la fricci on con el aire, el angulo de Mach empieza a crecer.
7
En tercer y cuarto lugar, las vibraciones mec anicas dentro del arma y la vibraci on en las
supercies s olidas tambi en son fuentes ac usticas en el caso de disparos, pero sus intensidades
son bajas y solo detectables a distancias cortas.
En la Fig. 2.1 se muestra una imagen de Schilieren del disparo de un arma, y las pertur-
baciones que produce en el ambiente viscoso del aire (las generalidades de este m etodo de
captura de im agenes de alta velocidad pueden hallarse en [7]). Son claramente perceptibles
tanto la esfera ac ustica producto del estallido de boca, como el cono que va produciendo la
onda de choque, generalmente llamada onda de choque N, por la breve rma temporal que
produce.
Fig. 2.1: Imagen Schlieren de alta velocidad de un rie calibre .30-06 haciendo fuego. La bala sale
a aproximadamente Mach 2.5. Son claramente perceptibles tanto la esfera ac ustica producto del esta-
llido de boca, como el cono que va produciendo la onda de choque. Fotografa de Gary Settles [7].
En la Fig. 2.2 se muestra un ejemplo del efecto que produce el uso de un silenciador o
atenuador ac ustico. Un ejemplo de la presi on ac ustica en funci on del tiempo, o rma tem-
poral, de los fen omenos de boca de ca n on y de onda de choque se muestra en la Fig. 2.3,
tomada de [5], mientras que un croquis m as detallado de la expansi on del cono se muestra en
la Fig. 2.4. Es de notar, adem as, que la onda de choque solo ser a detectable en la direcci on
que indica el croquis, y que desaparecer a no bien la velocidad de la bala caiga debajo de la
velocidad del sonido, o haga impacto en alg un objeto.
Las caractersticas sonoras detectables de un disparo de arma de fuego est an por tanto de-
terminadas por factores tales como el calibre del proyectil y del can on, la longitud de este y
las propiedades qumicas del propelente. Adem as, por tratarse de una se nal casi perfectamen-
te impulsiva la que se produce en la boca del ca n on, cualquier medici on de las caractersticas
espectrales o impulsivas de un disparo terminar a ofreciendo m as informaci on ac ustica del
ambiente circundante (i.e., la respuesta ac ustica al impulso) que de las caractersticas del
arma o el proyectil [4], y que como se ha dicho son dependientes tambi en de otra gran canti-
dad de factores, tales como la temperatura, la velocidad del viento, la densidad del follaje, la
humedad del aire y las caractersticas del suelo [6]. Es por lo anterior que Maher arma que
el estallido de boca no resulta una fuente ac ustica conable para el an alisis clasicatorio de
8
Fig. 2.2: Imagen Schlieren del estallido de boca de una pistola .45 sin silenciador (izquierda) y
con silenciador (derecha). N otese el cambio en la expansi on de los gases debida a la explosi on de la
p olvora. Cuando se usa un supresor ac ustico, los gases se expanden siguiendo la trayectoria de la bala,
produciendo una especie de hisido en vez de la explosi on com un. Fotografas de Gary Settles [7].
Fig. 2.3: Firma temporal del fen omeno ac ustico detr as de un disparo de arma de fuego en direcci on
a un micr ofono, a campo abierto. Primero viene la onda de choque en forma de N, debida al rom-
pimiento de la barrera del sonido por parte de la bala. Luego viene el estallido de la boca. La copia
retrasada de las ondas se debe a la reexi on en el suelo de ambos sonidos. Figura tomada de [5].
9
armas [4].
Para la mayora de las armas, el estallido es m as fuerte en la direcci on en que apunta el
ca n on, y decrece a medida que el angulo fuera del eje del disparo crece. El estallido puede
tambi en verse obscurecido por obst aculos que bloqueen el camino directo entre el arma de
fuego y el sensor ac ustico, lo que complica su detecci on. Una opci on alternativa es detectar la
onda de choque N (tal como se propone en Sadler et al usando una transformaci on de onditas
[8]), pero esto puede resultar complicado tambi en dado que la onda pierde r apidamente esa
forma debido a la dispersi on no lineal, o desaparece del todo una vez que el proyectil pierde
velocidad y cae bajo la barrera del sonido, o hace blanco en un obst aculo; una posibilidad
mucho mayor en un denso ambiente tal como el de un bosque tropical. Adem as, como indica
el cono en la Fig. 2.4, este sonido es a un m as direccional que el del estallido de boca. No
obstante, al menos en un primer nivel de detecci on, la caracterstica impulsiva del disparo y
su alta intensidad resultan utiles.
Bala
Ca n on
Trayectoria de bala
Trayectoria de onda de choque
Angulo
M
Fig. 2.4: Cono de propagaci on de la onda de choque generada por la bala a velocidad supers onica.
El angulo de Mach
M
est a determinado por la Ec. 2.1, seg un [4, 5].
Seg un las mediciones efectuadas por Weissler y Kobal en un estudio sobre distintas armas
utilizadas por la polica estadounidense, el estallido de boca de un arma tpica oscila entre
171 dB
SPL
(para un rev olver Magnum calibre .44) y 139 dB
SPL
(para un rie calibre .22),
medidos a unos dos metros de la boca del ca n on [9]. Dichas intensidades est an bastante
por encima del umbral de dolor auditivo para un ser humano (unos 120 dB
SPL
, aunque el
lmite considerado para evitar da no permantente es de 105 dB
SPL
), y no existen fen omenos
naturales comunes capaces de producir dichas presiones sonoras [10]. La rma temporal de
un disparo grabado en un ambiente selv atico, comparada con la de otros fen omenos grabados
en ese mismo ambiente, se muestra en la Fig. 2.5 [1]. Las se nales est an normalizadas a un
10
m aximo de presi on ac ustica de 130dB
SPL
(decibeles efectivos sobre un nivel de referencia de
20Pa). Son notables las diferencias en el tipo de impulso y la amplitud y duraci on relativa
del fen omeno.
1 2 3 4 5 6 7
1
0.5
0
0.5
5 10 15 20 25 30 35 40
0.04
0.02
0
0.02
0.04
5 10 15 20 25 30 35 40
0.02
0
0.02
5 10 15 20 25 30
0.01
0
0.01
10 20 30 40 50
0.01
0
0.01
5 10 15 20 25 30 35
0.05
0
0.05
10 20 30 40 50 60
0.02
0
0.02
2 4 6 8 10 12 14
0.05
0
0.05
0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4 4.5 5
0.02
0
0.02
0.04
5 10 15 20 25
0.5
0
0.5
t(segundos) t(segundos)
t(segundos) t(segundos)
t(segundos) t(segundos)
t(segundos) t(segundos)
t(segundos) t(segundos)
Pistola de 9mm, a 30m Motosierra a 30m
Aves 1 Aves 3
Avion 1
Lluvia 1 Viento 1
Voz masculina Trueno
Quebrada 1
Fig. 2.5: Muestra temporal de algunas de las se nales grabadas en un ambiente selv atico. Amplitudes
normalizadas a 130dB
SPL
(re 20Pa). Sonidos tomados de [1].
Como los disparos para esta muestra se hicieron siempre con el arma apuntando en sen-
tido contrario al micr ofono por razones de seguridad, no existe patr on de onda de choque.
Adem as, no es posible ver el efecto de rebote de la se nal en el suelo (como en la Fig. 2.3),
toda vez que en este caso existe interferencia multicamino debido al ambiente selv atico. Una
simple comparaci on de las rmas temporales de varias armas de distinto calibre se aprecia
en la Fig. 2.6. La informaci on espectral, tal como se ve en la Fig. 2.7, no ofrece a primera
vista facilidades de clasicaci on por medio de alg un esquema sencillo de ltrado para tres
armas disparadas a la misma distancia. Un detalle m as no de la se nal se observa en la Fig.
2.8.
11
1 2 3 4 5 6 7
1
0.5
0
0.5
2 4 6 8 10 12 14
1
0.5
0
0.5
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
0.5
0
0.5
2 4 6 8 10 12 14 16 18
1
0.5
0
0.5
1 2 3 4 5 6 7 8
0.1
0
0.1
t(segundos)
t(segundos)
t(segundos)
t(segundos)
t(segundos)
Pistola de 9mm, a 30m
Rev olver calibre .32, a 30m
Rev olver calibre .32, a 30m
Escopeta calibre .12, a 30m
Carabina calibre .22, a 30m
Fig. 2.6: Muestra de rma temporal de las cinco armas grabadas, a una distancia de 30m, 0 grados de
incidencia sobre el micr ofono. Amplitudes normalizadas a 130dB
SPL
(re 20Pa). Como los disparos
para estas muestras se hicieron siempre con el arma apuntando en sentido contrario a la ubicaci on del
micr ofono por razones de seguridad, no existe patr on de onda de choque. No es posible ver el efecto
de rebote de la se nal en el suelo (como en la Fig. 2.3), toda vez que en este caso existe interferencia
multicamino debido al ambiente selv atico. Sonidos tomados de [1].
12
0 500 1000 1500 2000 2500 3000 3500 4000
0
0.5
1
1.5
x 10
3
0 500 1000 1500 2000 2500 3000 3500 4000
0
0.02
0.04
0.06
0 500 1000 1500 2000 2500 3000 3500 4000
0
0.02
0.04
0.06
0.08
Frec. (Hz)
Frec. (Hz)
Frec. (Hz)
E
n
e
r
g
a
E
n
e
r
g
a
E
n
e
r
g
a
Espectro de carabina .22 a 30m
Espectro de pistola 9mm a 30m
Espectro de escopeta .12 30m
Fig. 2.7: Ejemplos espectrales para una carabina calibre .22, una pistola de 9mm y una escopeta
calibre .12, todas grabadas a una distancia de 30m. Sonidos tomados de [1].
2.48 2.5 2.52 2.54 2.56 2.58 2.6 2.62 2.64 2.66 2.68
0.8
0.6
0.4
0.2
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
A
m
p
l
i
t
u
d
(
n
o
r
m
a
l
i
z
a
d
o
)
t(segundos)
Pistola de 9mm, a 30m
Fig. 2.8: Muestra de rma temporal detallada para una pistola 9mm, a una distancia de 30m, 0 grados
de incidencia sobre el micr ofono. Amplitudes normalizadas a 130dB
SPL
(re 20Pa). Sonido tomado
de [1].
13
2.4. Aproximaciones a los m etodos de detecci on, clasica-
ci on y localizaci on existentes en la literatura
Existe una gran cantidad de investigaciones alrededor de la teora sobre disparos de ar-
mas de fuego y sus necesidades de estudio por razones de seguridad ocupacional, seguridad
ciudadana y protecci on ambiental (ver [9, 1113]), y varias implementaciones en software y
hardware de m etodos computacionalmente ecientes para procesamiento digital de se nales
de disparos, con el objetivo de detectar, clasicar y localizar los mismos o las armas que los
producen [8, 1319]. Estas soluciones se basan en algorimos complejos tales como:
Transformada de tiempo corto de Fourier (STFT) [15].
Transformadas de onditas para detecci on de la onda de choque [8] y como preprocesa-
miento para un algoritmo de detecci on por umbral adaptivo y posterior procesamiento
por modelos de m axima verosimilitud y mezclas gaussianas [19].
Detecciones de cruce por cero para detecci on inicial [18]
Modelos ocultos de Markov para clasicaci on nal tomando coecientes obtenidos de
una STFT [18].
Filtrado de mediana para detecci on inicial, y clasicaci on por modelos de m axima
verosimilitud y mezclas gaussianas [14].
Transformadas de Fourier para la extracci on de coecientes MFCC (Mel Frequency
Cepstral Coefcients) usados en clasicadores bayesianos [13].
Localizaci on por triangulaci on de sensores que proveen de informaci on de angulo de
arribo de fuentes sonoras [16].
En la mayora de estas propuestas se reportan eciencias superiores al 90 % en la de-
tecci on, clasicaci on y localizaci on de disparos de distintas armas de fuego, con distintos
rangos de alcance: entre 30-150m [14, 18] y kil ometros [16].
Estas cifras de efectividad son disputadas en algunos casos por estudios del Ministerio
de Justicia de EE.UU., que sit uan la efectividad de soluciones comerciales como el ShotS-
potter apenas encima del 80 %, si bien el estudio es de 1999 [12], y existen reportes de
eciencia cercanos al 100 % en distancias entre 30m y 50m, para algunas implementaciones
comerciales de la compa na BBN Technologies, usadas por las tropas norteamericanas en
Irak para la detecci on y localizaci on de francotiradores [20]. Algunos de los m etodos, no
obstante, no pasan de modelados matem aticos [8, 16], o requieren de un alto poder compu-
tacional [1315,18,19], y su portabilidad es limitada en t erminos de alimentaci on, al requerir
desde sistemas computacionales centralizados, hasta redes inal ambricas de sensores con dis-
positivos DSP y GPS dedicados, microcontroladores y dispositivos de l ogica programable.
Un ejemplo de los sistemas m as portables es el propuesto por [18], que reporta necesidades
de potencia en el orden de los 31mA por nodo, sin considerar el nodo central de proceso.
14
Puesto que la motivaci on central es el establecimiento de una red de vigilancia contra
la caza ilegal en reservas o bosques tropicales, es natural optar por una soluci on que sea de
muy bajo consumo y de largo alcance. En un ambiente de este tipo es necesario contar con
fuentes de alimentaci on de larga duraci on, por lo que el consumo de potencia de los sensores
se transforma en un par ametro clave. El uso de algoritmos y estructuras de procesamiento
complejas se ve por tanto limitado, al menos en las primeras etapas de detecci on.
2.5. Propuesta metodol ogica
Si se divide el procesamiento de cualquier fen omeno en tres partes: detecci on, clasica-
ci on y localizaci on, se puede dar un paso m as en direcci on a una soluci on factible al contestar
la siguiente pregunta en t erminos al menos cualitativos. Cu an selectivos se desea ser en el
procesamiento del fen omeno? Es claro que, en el caso de disparos de armas de fuego, la
clasicaci on es un area que no resulta de inter es si se trata de dar simplemente una voz de
alarma sobre la existencia o no de disparos en determinado sitio; situaci on que se magnica
al considerarse la vigilancia de un sitio donde el uso de dichas armas es altamente impro-
bable (a diferencia de un campo de batalla). Por otra parte, la localizaci on efectiva de una
fuente sonora en un ambiente no hostil no necesita de la misma precisi on que, por ejemplo,
el tratar de localizar desde d onde dispara un potencial enemigo.
Bajo dichas consideraciones, un primer criterio de descarte es entonces el abandono de
algoritmos de clasicaci on complejos en el nodo local, tales como algunos de los usados en
los dispositivos mencionados. Por otra parte, las necesidades de precisi on de localizaci on de
una fuente sonora pueden entonces aliviarse tambi en de gran manera. No hay que dejar de
lado adem as la capacidad de procesamiento conjunta de una red de sensores relativamente
no tan inteligentes, que permita a trav es del procesamiento paralelo de la informaci on de
cada sensor, elevar la capacidad en conjunto de todo el sistema. Varias de las aplicaciones
ya mencionadas se aprovechan de lo anterior (como [13, 17, 18]), y existen ejemplos de
fusi on de datos para localizaci on por estimaci on de angulo de arribo usando N sensores
y fusionando datos a trav es de un procesamiento de m axima verosimilud y de ltrado de
Kalman (ver [21, 22]) que bien pueden adaptarse posteriormente a la soluci on del problema.
Tal simplicaci on permitira entonces considerar opciones menos complejas en t erminos
computacionales, que no requiren de dispositivos demasiado inteligentes y que, por lo tanto,
pueden integrarse en un sistema donde el bajo consumo de energa es clave.
Los objetivos nales a los que apunta esta tesis son los siguientes:
1. Encontrar y evaluar algoritmos de detecci on y localizaci on lo sucientemente ecien-
tes en t erminos de precisi on, que sean integrables en dispositivos microelectr onicos de
muy bajo consumo.
2. Integrar dichos algoritmos en circuitos microelectr onicos, de forma que se puedan
evaluar en t erminos m as reales su capacidad y funcionalidad.
15
3. Integrar completamente los sensores para obtener un nodo como el de la Fig. 2.9, capaz
de conectarse a una red de sensores como la de la Fig. 2.10, a su vezcapaz de procesar
la informaci on con el objetivo de proveer una soluci on completa en campo. Los nodos
deberan funcionar con una alimentaci on barata y compacta, como por ejemplo pilas
electroqumicas.
Detector de
disparos
Registro
Registro
Registro
Registro
an alogico
an alogico
an alogico
an alogico
Control de
Alimentaci on
A/D
A/D
A/D
A/D
A/D
12 bits
1 bit
1 bit
1 bit
1 bit
RF
Micro
controlador
Estimador
de retardo
Arreglo de micr ofonos
Fuente V
Pila electroqumica
Unidad de proceso con alimentaci on controlada
Fig. 2.9: Ejemplo de un nodo completamente integrado. Las secciones de m as consumo seran ad-
ministradas de manera que solo entren a funcionar cuando existe una cierta certeza de que ha habido
un disparo. As, el sistema podra alimentarse con una pila relativamente barata de peque nas dimen-
siones. El arreglo de micr ofonos es el adecuado para un sistema de estimaci on de angulo de arribo de
se nales ac usticas (ver Fig. 5.1 m as adelante).
La realizaci on de estos tres pasos a primera vista tan simples es un asunto que engloba a
su vez otros problemas. A saber:
1. Establecer par ametros s olidos de evaluaci on y desarrollar una metodologa para la
selecci on de los algoritmos a evaluar.
2. Desarrollar los subsistemas electr onicos digitales y anal ogicos capaces de implementar
los algoritmos siempre desde la perspectiva de un dise no microelectr onico de bajo
consumo.
3. Integrar dichos subsistemas de forma optima para implementar el algoritmo escogido.
4. Dise nar una estrategia de jerarquizaci on encargada de determinar qu e unidades fun-
cionan en cada momento, con el objeto de ahorrar el m aximo de energa posible.
5. Implementar los lazos de comunicaci on de radio frecuencia entre los dispositivos.
16
Nodo
Nodo
Nodo
Nodo
Nodo
Guardabosques
decisi on
Nodo de fusi on y
Fig. 2.10: Ejemplo de la red de sensores para la detecci on de caza ilegal. Los nodos ejecutaran un
procesamiento b asico, y alimentaran con sus datos nodos m as complejos con capacidad de fusi on de
los mismos para toma de decisiones.
6. Desarrollar el sistema de control, ya sea centralizado o distribuido, que coordinar a la
red de sensores y procesar a en ultima instancia la informaci on.
Considerando lo anterior, y sabiendo de la existencia ya de prototipos funcionales de
redes de sensores y de algoritmos de alto nivel para la fusi on de datos de m ultiples sensores,
se decide por tanto concentrar los esfuerzos en las primeras tres etapas del problema, donde
es posible ofrecer una soluci on novedosa. Ello signica concentrarse primero en el sensor
mismo y su implementaci on microelectr onica.
Captulo 3
An alisis y evaluaci on de m etodos de
detecci on
17
18
3.1. Introducci on
En este captulo se efect ua un an alisis de se nales de disparos basado en grabaciones rea-
lizadas en ambientes naturales, y se eval uan distintos algoritmos algunos propuestos en la
literatura y otros propios a los nes de elegir la opci on m as adecuada para una implemen-
taci on VLSI de bajo consumo.
Si se parte de las caractersticas ac usticas de disparos de armas de fuego, estudiadas en
el captulo anterior, es claro que una caracterstica determinante de un disparo es un salto
impulsivo de energa. Se ha visto como un simple an alisis frecuencial no ofrece mayores
pistas sobre dicho salto, y que incluso intentar m etodos complejos de clasicaci on puede
resultar ineciente considerando la inuencia del medio en un fen omeno de por s susceptible
a gran cantidad de variables. En virtud de esto es deseable hallar un m etodo sensible a la
impulsividad en la presi on sonora. Es importante notar que el fen omeno bajo an alisis no
se ve afectado en gran manera por la relaci on se nal-ruido, lo cual constituye una ventaja
signicativa.
Un breve repaso por la bibliografa destaca el uso de la detecci on por comparaci on contra
un umbral adaptivo (en particular Istrate et al [19], proponen dicho m etodo para la detecci on
de diferentes fen omenos impulsivos) como un m etodo de detecci on inicial. Dicho m etodo es
usado ampliamente en la detecci on de los picos de energa que produce una neurona al co-
municarse a trav es de sus sinapsis. Comparando ambos fen omenos es apreciable la similitud
en t erminos cualitativos: detectar un cambio s ubito de energa sobre un piso relativamente
constante, que en el caso de la neurona es ruido y, en el caso de un disparo, ser a el sonido
provocado por el ambiente alrededor (y que a todos los efectos pr acticos se puede tambi en
considerar como ruido).
La utilizaci on de un umbral jo y el aprovechamiento de la intensidad extrema del dis-
paro constituye una soluci on inicial razonable. Pero puesto que el fen omeno sonoro es al-
tamente sensible a la atenuaci on, y los sensores estar an situados en medio de un ambiente
que puede ser extremadamente ruidoso en funci on de la cercana al sensor, jar el umbral de
detecci on volvera el sistema propenso a las falsas alarmas. El mero hecho de un ave cantan-
do cerca del micr ofono de detecci on podra superar el umbral escogido: un intento por subir
dicho umbral para compensar el ruido disminuira el rango de acci on del sensor. Por tanto,
la colocaci on de un umbral de detecci on adaptable con la energa promedio proporciona ya
de una soluci on m as eciente (un ave, y otra gran cantidad de sonidos tpicos de una zona
boscosa, tienen una distribuci on energ etica en el tiempo que tiende a ser peri odica, es decir,
no tan impulsiva, como se aprecia en la Fig. 2.5 del Cap. 2). As que se escoge este m etodo
como el piso de referencia de los m etodos a evaluar. Por supuesto, si antes de la comparaci on
se efect ua alg un tipo de procesamiento de la se nal, de forma que realce la impulsividad de
la misma o la compare con alg un patr on general, es posible aumentar el nivel de efectividad
del m etodo. Siguiendo esta lnea, Obeid y Wolf [23] han propuesto una funci on para evaluar
la idoneidad de integraci on en un ASIC digital de procedimientos similares para la detec-
ci on de los picos o spikes tpicos de la interacci on neuronal. En el presente caso, dado que
tambi en se consideran se nales impulsivas, es l ogico buscar un ndice similar. Sin embargo,
19
no se establecer an pesos relativos a la complejidad de implementaci on en ASIC, tal como
hacen Obeid y Wolf, que asumen de antemano una implementaci on digital con estructuras
conocidas y, por lo tanto, evaluables ya desde la perspectiva de su eciencia. Puesto que uno
de los objetivos es es llevar la misma a una soluci on anal ogica o de se nal mixta (a no ser
que se descubra mediante el an alisis de la estadstica una versi on digital simplicada con
un rendimiento no muy lejano del algoritmo en condiciones optimas, i. e.: alto muestreo y
procesamiento en punto otante), es de comprender que no se pueda ofrecer una gura de
m erito adecuada.
3.2. Arquitectura de detecci on y especicaciones de carac-
terstica operativa de receptor
El esquema de detecci on propuesto se muestra en la Fig. 3.1. Este esquema es com un en
el campo de la ingeniera biom edica como m etodo de detecci on de picos neuronales [23],
pero tambi en en otras aplicaciones que involucren la detecci on y clasicaci on de eventos de
audio impulsivos [14]. La detecci on se logra mediante la comparaci on entre una versi on pre-
procesada de la se nal y un umbral adaptivo; tpicamente, un promedio deslizante (running
average), o una estimaci on RMS de la misma se nal preprocesada, escalada por un factor de
ganancia C.
Pre
Procesado
Detecci on
x(t)
Running
Average
C
Fig. 3.1: Estructura b asica del algoritmo de detecci on evaluado.
Un gr aco de caracterstica operativa de receptor (Receiver Operating Characteristic,
ROC, en adelante) se obtendr a para cada m etodo de preprocesamiento. De acuerdo con la
teora de detecci on de se nal [24], un gr aco ROC se construye con los pares ordenados
(TPR, FPR) de un sistema de detecci on, como funci on de un cierto umbral de detecci on.
TPR signica True Positive Rate (Tasa de positivos verdaderos), y FPR False Positive
20
Rate (Tasa de positivos falsos), y cada magnitud se dene de la siguiente manera
TPR =
Verdaderos positivos detectados
N umero total de muestras positivas
(3.1)
FPR =
Falsos positivos detectados
N umero total de muestras negativas
Un positivo verdadero se considera como tal cada vez que una detecci on ocurre dentro de
unas pocas decenas de muestras cercanas al pico impulsivo de un disparo real. La evaluaci on
se basa en determinar el par ordenado m as cercano (en t erminos de distancia euclidiana) a un
detector perfecto, con una (TPR,FPR)=(1,0), donde FPR es la coordenada y TPR la abscisa.
Usualmente, los detectores efectivos se escogen permitiendo un cierto porcentage de FPR
para aumentar el TPR, ya que un positivo falso puede descartarse por un sistema posterior de
clasicaci on m as no (tal como se hace por ejemplo en los an alisis bioqumicos), mientras
que una muestra positiva verdadera pasada por alto puede perderse para siempre (si el siste-
ma de detecci on no registra por ejemplo un spike neuronal, este no se guarda y, por ende, no
puede recuperarse). Sin embargo, un detector con un FPR alto implica desperdicio de consu-
mo. Si se considera que, para validar la detecci on, el nodo procede a guardar la informaci on
usando un convertidor A/D, para enviarla a otro nodo o procesarla el mismo, o incluso en
el simple caso en que se desee enviar la ocurrencia positiva como un simple bit por la red
inal ambrica para que la detecci on se procese por alg un m etodo de fusi on con las detecciones
de los nodos cercanos, se estar a consumiendo energa. En todo caso, precisamente debido
a la redundancia de la red de sensores, es posible compensar por la p erdida de un cierto
n umero de positivos verdaderos, lo que signica que un TPR m as bajo puede ser aceptable.
Realizar un ROC implica un procesamiento intensivo, por lo que se opt o por generar
ROCs con solo cinco valores de umbral para cada m etodo, para as extraer los mejores pares
ordenados desde los gr acos. Una vez que se hayan determinado el o los mejores m etodos
y estos sean implementados en hardware, sus ROC pueden renarse para ajustar la ganancia
optima.
3.3. Datos usados para la evaluaci on algortmica
Evaluar estadsticamente un algoritmo implica disponer de un cantidad abundante de
datos que vuelvan signicativo el an alisis. Adem as, es imperativo que los datos provengan
de un ambiente lo m as similar posible a aquel en que se espera aplicar el algoritmo. De esta
forma, se asegura la validez del m etodo para el objetivo buscado, y cualquier desviaci on de
la efectividad del mismo a la hora de su implementaci on podr a achacarse principalmente a
problemas propios del dise no electr onico lo que signica que en principio tienen soluci on,
antes que a defectos del m etodo en s.
Dado el objetivo general en que se enmarca este trabajo, los datos usados en la evaluaci on
algortmica se tomaron de una colecci on de sonidos grabados en un bosque lluvioso tropical,
situado dentro de un parque nacional en la provincia de San Jos e, Costa Rica (ver [13]).
Para estas grabaciones, se us o una tasa de muestreo de 48kHz con una cuantizaci on de 16
21
bits. Se grab o utilizando una grabadora DVD Fostex PD-6 y un micr ofono direccional de
alta sensibilidad (Sennheiser MKH416P48V3, [25]). La amplitud se normaliz o a la m axima
presi on sonora medible por el micr ofono: 130 dB
SPL
.
Las muestras positivas incluyen cinco grabaciones de armas de fuego de distintos cali-
bres, disparadas a 30, 90 y 250 metros del equipo de grabaci on, formando un angulo de 0
,
90
y 180
del eje axial del micr ofono. Las muestras adicionales negativas incluyen: una gra-
baci on de una motosierra a 30 metros (en las mismas tres angulaciones que las armas); dos
grabaciones de aviones de propulsi on a h elice volando sobre la escena; tres grabaciones de
varios p ajaros cantando; dos grabaciones de lluvia; dos grabaciones de quebradas de agua;
una grabaci on del viento batiendo los arboles en la escena; una muestra de ruido blanco ge-
nerada con Matlab, con un
2
= 0,1; y una grabaci on de una voz masculina grabada cerca
del micr ofono a un nivel normal del conversaci on.
Todas las se nales se preltraron en Matlab usando un ltro pasabajo IIR Butterworth
de 4to orden, con una frecuencia de corte de 3kHz (la frecuencia de corte fue determinada
por observaci on del espectro de varias muestras de los disparos), excepto aquellas que se
procesaron por medio del algoritmo de onditas y el de ltro de mediana, donde la frecuencia
de corte se movi o a 1200Hz, al reducirse la frecuencia de muestreo de 48kHz a 7kHz.
En el caso de las muestras negativas, las se nales se ajustaron a niveles de amplitud equiva-
lentes a presiones sonoras en el rango 90dB
SPL
y 110dB
SPL
, equivalentes respectivamente
al ruido producido por una banda de rock y una hilandera industrial, o a las presiones tpi-
cas de disparo a m as de 250 metros del ca n on de una pistola de 9mm., en un ambiente de
propagaci on libre de obst aculos. El objetivo de esta amplicaci on extra result o del inter es en
examinar la robustez del m etodo en rechazar se nales de muy alta presi on sonora no debidas
a fen omenos impulsivos como el de un disparo.
3.4. Descripci on y an alisis de algoritmos de preprocesamien-
to
Los m etodos a comprobar son alternativamente propuestos en [14], [19] y [23]. En las
dos primeras referencias, se consideran m etodos para la detecci on de sonidos impulsivos en
general, mientras en la tercera se eval ua la detecci on de picos neuronales para una interfaz
cerebro-m aquina (Brain Machine Interface). La detecci on sin preprocesamiento de la se nal
se considera como el piso de referencia, tal como hacen Obeid y Wolf [23]. La complejidad
de implementaci on no se considera dentro de la evaluaci on. Sin embargo, una evaluaci on
intuitiva sobre la complejidad a nivel hardware de la misma se ofrece como visi on preliminar.
Los m etodos a evaluar son los siguientes:
1. Valor absoluto, como aplicaci on directa de la funci on de estimaci on de energa x(t)
2
,
seg un se propone en [23]
2. Filtro de mediana con una ventana de siete muestras espaciadas 1ms, seg un se propone
en [14]
22
3. Operador de energa de Teager, seg un se propone en [23]
4. Correlaci on de se nal contra una plantilla (Filtro apareado), seg un se propone en [23]
5. Transformada discreta de onditas o wavelet DWT, seg un se propone en [19]
6. Banco de ltros pasabanda anal ogicos de tercer orden, estilo coclear
7. Sin procesamiento (se nal cruda), usada como piso de referencia, seg un se propone
en [23]
La detecci on se lleva a cabo mediante la comparaci on de la se nal preprocesada contra un
umbral, siguiendo el esquema conocido de la Fig. 3.1, como se propone en [19] y [23]. El
umbral se ajusta adaptivamente, obteniendo un valor RMS (en el caso de se nales de intensi-
dad) o promedio (en el caso de se nales de energa) sobre una ventana de los m as recientes
100ms de la se nal. La ganancia C ajusta este valor para la comparaci on.
Las se nales a procesar est an muestreadas a 48kHz y normalizadas a un m aximo de pre-
si on sonora SPL de 130dB
SPL
(la m axima presi on medible por el micr ofono de campo). La
muestras positivas (en las que hay disparos) se desglosan de la siguiente manera: 5 armas
de fuego (una pistola de 9mm, un rev olver de .32, un rev olver de .38, una escopeta de .12
y una carabina de .22), medidas a tres distancias (30, 90 y 250 metros), para los angulos ya
indicados.
Las muestras negativas iniciales (donde no hay disparos) son quince y se desglosan de
la manera indicada con anterioridad. En todos los casos, las se nales son amplicadas por un
factor entre 5 y 10 para acercarlas a los niveles de intensidad producidos por un disparo de
arma de fuego.
El caso en que se produce un falso positivo dentro de una muestra positiva (es decir,
que hay un positivo pero no en el mismo instante en que ocurre el disparo) se anota como
anomala (XTP). Este es claramente un caso en que el algoritmo no es lo sucientemente
selectivo. Un ejemplo de XTP se muestra en la Fig. 3.2. Un ejemplo de detecci on correcta
puede verse en la Fig. 3.3
23
1 2 3 4 5 6 7 8
0
0.5
1
1 2 3 4 5 6 7 8
0.1
0
0.1
t (segundos)
t (segundos)
Detecci on binaria de un disparo de carabina .22 a 30m
Fig. 3.2: Los positivos que ocurren en un instante demasiado alejado del verdadero evento, como
los que se observan cerca de los cinco y siete segundos en este caso, se consideran como anomalas
(XTP).
500 1000 1500 2000 2500 3000 3500 4000 4500 5000
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
1 2 3 4 5 6
0.05
0
0.05
500 1000 1500 2000 2500 3000 3500 4000 4500 5000
0.05
0.1
0.15
0.2
t (segundos)
N umero de marco
N umero de marco
Detecci on binaria
Se nal: Escopeta .12. Algoritmo: DWT
Energa promedio de coefcientes
Fig. 3.3: Ejemplo de detecci on correcta del disparo de una escopeta calibre .12, a 250m del detector,
usando el m etodo de transformada discreta de ondita (DWT) como preprocesamiento y evaluando la
energa en ciertas bandas de frecuencia, con muestreo de 7 KHz. Para la especicaci on del algoritmo
y de las bandas ver Subsecci on 3.4.5. Los datos se dividen en marcos de 2048 muestras. Se muestra
en el sub-gr aco intermedio el valor promedio de energa sumada de los coecientes, multiplicado
por una ganancia C y ploteado sobre la energa instant anea.
24
3.4.1. Valor absoluto
En este enfoque se toma el valor absoluto de la se nal antes de pasarla por el sistema
de detecci on de umbral de la Fig. 3.4. Puesto que la funci on abs[x(t)] es una aplicaci on
uno a uno con la funci on de c alculo de energa x(t)
2
, los resultados de la misma ser an
comparables [23], pero con una complejidad de implementaci on inferior. Una ventaja de
este m etodo es que es realizable anal ogicamente, con un recticador de muy bajo consumo,
como los propuestos en Silveira [26] y Arnaud [27]. Los resultados del ROC del sistema se
muestran en la Tabla 3.1 y la Fig. 3.5. Hay que destacar tres XTP a 30 m, ganancia 10 y uno
a 90m, ganancia 10. Hay adem as dos falsos positivos debidos a las muestras de lluvia y de
quebrada de agua a ganancias 15 y 20.
Detecci on
x(t)
Promedio
abs[x(t)]
C
Fig. 3.4: Estructura b asica del algoritmo de detecci on por valor absoluto o recticaci on de se nal.
Tabla 3.1: ROC para comparaci on contra valor absoluto de la se nal. En esta y las tablas subsiguientes
se a naden falsos positivos (XTP) que aparecen en las muestras positivas (positivos lejos del evento
verdadero).
Ganancia (C) TPR FPR XTP
10 0.89 0.27 5
15 0.84 0.13 0
20 0.78 0.13 0
25 0.71 0 0
30 0.64 0 0
3.4.2. Filtro de mediana
En este enfoque se pasan los datos por un ltro de mediana de ventana de siete muestras
(tres muestras anteriores y tres posteriores al centro de la ventana), con retardo de 1ms entre
cada muestra de la ventana. La salida de este ltro se resta de la se nal en la mitad de la
25
0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 1
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
ROC. Se nal de entrada recticada
T
a
s
a
P
o
s
i
t
i
v
o
s
V
e
r
d
a
d
e
r
o
s
Tasa Positivos Falsos
C= 10
C= 15
C= 20
C= 25
C= 30
Fig. 3.5: ROC de sistema sobre la se nal recticada en onda completa (o valor absoluto).
ventana. Esta se considera la energa normalizada que entra en la unidad de detecci on de
umbral (ver Fig. 3.6).
Energa
e(t) = abs[x(t)]
Se nal x(t)
Registro anal ogico
Filtro de mediana mixto
med[e(n)]
RMS deslizante
Energa normalizada
Detecci on binaria
Fig. 3.6: Estructura de detecci on por ltrado de mediana.
Dufaux et al [14] propusieron esta estructura usando un ltro de mediana con ventana
de veinti un muestras (es decir, diez muestras antes y diez despu es de la muestra a comparar)
con un muestreo de 44.1kHz y 24 bits de cuantizaci on. En su trabajo no se ofrecen deta-
lles acerca de las muestras que entran al ltro (es de suponer el retardo entre ellas igual
al perodo de muestreo). Una soluci on digital est a fuera de los objetivos, considerando la
gran cantidad de informaci on por almacenar y procesar por este m etodo. Puesto que interesa
disminuir al m aximo el consumo, se deben reducir adem as los par ametros b asicos del ltro
26
hasta donde sea posible con miras a utilizar una estrategia de se nal mixta. Se descarta una
opci on completamente anal ogica (como en [28] y [29]) debido a la dicultad de construir un
dispositivo pr actico que genere retardos en el orden de milisegundos. Implementaciones de
los mismos se hacen usando ltros pasatodo, que emulan el retardo temporal por medio de
retrasos en fase. Dichos ltros ofrecen un retraso m aximo temporal equivalente a radianes,
y su construcci on para las frecuencias de audio implica constantes de tiempo del orden de
mil esimas de segundo, difciles de alcanzar en tecnologa CMOS debido a las limitaciones
para construir altos valores de capacidad.
Una opci on de almacenamiento es usar un registro anal ogico de tiempo discreto tipo
bucket brigade como el de la Fig. 3.7, seg un se propone en [30]. Este registro funciona bajo
el principio de transferencia de d ecit de carga entre los capacitores, en sincrona con un reloj
bif asico a la velocidad de la frecuencia de muestreo. Es claro que el largo excesivo de este
registro implica una importante degradaci on de la se nal (como se muestra en la literatura
[30, 31]), aparte de requerir m as area y consumo. Restringir el largo de este registro por
otro lado signica disminuir la ventana de comparaci on del ltro, lo que signica a su vez
disminuir la sensibilidad del ltro.
n = 1
n = 2 n = 3 n = N
x(t)
Direcci on de datos
1
1
1
2
Fig. 3.7: Dispositivo de brigada de baldes, o Bucket Brigade Device, usado como registro anal ogi-
co de desplazamiento.
1
and
2
son las fases complementarias de un reloj bif asico de muestreo.
Una alternativa menos sensible a la degradaci on de se nal es utilizar una cadena de mues-
treadores y mantenedores como cadena de retardo, tal como proponen Stanacevic y Cau-
wemberhgs en [32], que se ejemplica en la Fig. 3.8. El precio a pagar es un aumento en
area y por ende en el consumo, pues se requieren dos amplicadores operacionales para su
implementaci on (que tienen un consumo est atico no existente en un registro BBD). Ello im-
plica a su vez un lmite en el largo de la cadena, aunque estas limitaciones pueden reducirse
bastante utilizando compuertas inversoras del tipo cascodo.
De lo anterior, se deduce que para obtener un ltro de mediana optimo y realizable se
requieren denir tres variables: el largo de la ventana del ltro, el retardo entre las muestras
en la ventana y el muestreo mnimo necesario.
Para determinar la frecuencia de muestreo, se efectuaron observaciones sobre el primer o
segundo pico del transitorio de la se nal impulsiva de varias muestras a 30m, donde la presi on
sonora es m axima y los efectos de interferencia multicamino a un no son aparentes en la
se nal. El inter es es precisamente realzar estos m aximos sobre el sonido de fondo por lo que,
intuitivamente, es deseable tener el m aximo n umero de muestras posibles para no perder los
m aximos de la se nal. Por otra parte, un muestreo muy r apido implica un registro muy largo
27
V
in
Vout
1
2
2
1e
1e
Fig. 3.8: Unidad b asica de una celda de retardo basada en muestrear y mantener una se nal usan-
do dos relojes complementarios no solapados.
1e
es id entico a
1
excepto que su anco de cada
ocurre ligeramente antes, para compensar el error por transferencia de carga de los transistores del
conmutador que cortocircuita el amplicador [32].
con sus consiguientes problemas de degradaci on de la se nal (o un aumento de consumo en
caso de usar la cadena de retardos propuesta en [32]). En la Tabla 3.2 se muestran valores de
cruce por cero (o de semiperiodo) de los pulsos m aximos de presi on de las distintas armas
(puesto que la se nal es recticada, estos son los periodos de dichas se nales a la entrada del
ltro).
Tabla 3.2: Semiperiodo aproximado del primer o segundo pico de presi on sonora.
Arma Escopeta .12 Rev olver .38 Rev olver .32 Pistola 9mm Carabina .22
Semiperiodo (ms) 2.0 1 1 1 0.8
A partir de estos datos, vemos que el pulso mnimo es de 0.8 ms aproximadamente (para
la Carabina .22, a 30 metros de distancia), por lo que:
T
min
= 800s
f
max
=
1
T
min
= 1250Hz (3.2)
La frecuencia de Nyquist es entonces 2500Hz. Para relajar las condiciones del ltro pa-
sabajo de antialias, aplicamos el criterio de una frecuencia 5 veces superior a f
max
, o sea,
6250Hz, que se redondea para efectos pr acticos a 7kHz.
Para la determinaci on del retardo entre muestras y el n umero de ellas que conforman
la ventana de ltrado, se llevaron a cabo simulaciones intensivas con los datos disponibles
submuestreados a 7kHz. Se buscaron las combinaciones que proveyeran de una diferencia
m axima entre el pico de la se nal y la energa normalizada para un valor lo sucientemente
28
bajo de longitud de ventana de muestras y retardo especco entre ellas. De los gr acos de
resultados obtenidos fue posible determinar que una ventana de siete muestras con un retardo
de 1ms entre muestras, a una tasa de muestreo de 7kHz, es adecuada. En la Fig. 3.9 se mues-
tra uno de los gr acos usados para la determinaci on de estos par ametros. Se aprecia como,
m as all a de 1ms, la mejora en las diferencias de energa no es signicativa. Intuitivamente,
estas magnitudes corresponden con la simple observaci on inicial de las caractersticas im-
pulsivas de varias de las se nales muestra, donde el ancho del primer o segundo impulso vara
entre 800s and 2ms. Ello impica que un retardo de 1ms es un buen compromiso que puede
ajustarse luego, y que una frecuencia de muestreo de 7kHz permite al menos la toma de cinco
muestras del impulso m as r apido, mejorando las posibilidades de capturar en alguna de esas
muestras el m aximo valor de la se nal.
10
4
10
3
10
2
10
4
10
3
10
2
10
1
10
0
Pistola 9mm
Pistola 9mm RMS
Rev olver .32
Rev olver .32 RMS
Rev olver .38
Rev olver .38 RMS
Escopeta .12
Escopeta .12 RMS
Carabina .22 RMS
Carabina .22
M ax. energa vs. energa RMS a 30m, Ventana de 7 muestras
E
n
e
r
g
a
n
o
r
m
a
l
i
z
a
d
a
t(segundos)
Fig. 3.9: Ejemplo de b usqueda por el retardo y la ventana optimos: ltro de mediana con una ventana
de siete muestras. Se busca la combinaci on que produzca la m axima distancia entre el pico de energa
y su valor RMS deslizante.
Utilizar un criterio m as relajado en el muestreo de la se nal (10 f
max
), signica dupli-
car el largo de la cadena de dispositivos de muestreo para alcanzar el mismo retardo entre
muestras de la ventana. Puesto que se necesitan 14 transistores para un retardo optimo de
1ms entre cada muestra de la ventana de siete (criterios obtenidos mediante simulaci on Spi-
ce de la estructura con se nales de prueba, para una tecnologa de 0.5m), signica que con
esta frecuencia es necesario una cadena de muestreo y almacenamiento de 98 transistores.
Duplicar el muestreo signica entonces 196 transistores (esto sin considerar los transistores
extra de acondicionamiento entre cada etapa de transferencia de carga).
En el caso de optar por el circuito de la Fig. 3.8, para un retardo de un milisegundo
29
se necesitar an siete etapas de dos operacionales cada una por cada muestra de la ventana,
lo que signica siete etapas de 56 transistores de tama nos no mnimos (considerando un
amplicador cascode telesc opico de cuatro transistores, para un total de 392 transistores
para la ventana de siete muestras), m as 70 transistores mnimos complementarios para los
conmutadores (seis NMOS y cuatro PMOS por etapa, considerando que los conmutadores
que cortocircuitan los operacionales se pueden implementar con un unico NMOS, para un
total de 490 transistores para la ventana de siete muestras). Estos n umeros se duplicaran en
caso de doblar la frecuencia de muestreo de la se nal.
Una vez determinado todo lo anterior, se termina de implementar el banco de detecci on
en Matlab, como en la Fig. 3.6. El conjunto total de se nales se submuestrea a 7kHz. Los
datos del ROC nal se muestran en la Tabla 3.3 y la Fig. 3.10. La ganancia de compromiso
es entonces 25, para un (TPR, FPR) de (0.87, 0.13), sin anolamas.
Tabla 3.3: ROC para ltrado de mediana de la se nal de entrada.
Ganancia (C) TPR FPR XTP
15 0.93 0.33 2
20 0.89 0.2 0
25 0.87 0.13 0
30 0.78 0.07 0
35 0.73 0 0
0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 1
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
ROC. Filtro discreto de mediana
T
a
s
a
P
o
s
i
t
i
v
o
s
V
e
r
d
a
d
e
r
o
s
Tasa Positivos Falsos
C= 15
C= 20
C= 25
C= 30
C= 35
Fig. 3.10: ROC. Preprocesamiento de Filtro de mediana.
30
3.4.3. Operador de energa de Teager, TEO
En este m etodo se aplica el operador TEO a la se nal antes de hacerla pasar por el detector
de umbral, seg un la propuesta de [33] a partir de la denici on de [34] (ver Fig. 3.11). Este
operador se describe por la ecuaci on discreta
y(n) = x(n)
2
(x(n 1)x(n + 1)) (3.3)
que acent ua los picos impulsivos de alta frecuencia presentes en la se nal de entrada x(n). Una
ventaja de este m etodo es su posible implementaci on anal ogica, cuya ecuaci on en tiempo
continuo es [34]
y(t) = x
2
(t) x(t)
d
2
x(t)
dt
(3.4)
Gosselin y Sawan proponen una implementaci on de muy bajo consumo en [35] con nes
detecci on de picos neuronales, por lo que se considera este procesamiento dentro de las
posibles soluciones al problema de detecci on de una se nal impulsiva. Los resultados para
cinco distintas ganancias son sin embargo poco alentadores, seg un muestran la Fig. 3.12 y
la Tabla 3.4. Adem as, se tienen varios XTP. La ganancia de compromiso oscila alrededor de
45, para un (TPR, FPR) de (0.8, 0.2) con dos XTP.
x(t)
Detecci on
RMS deslizante
Reg. desplazamiento
C
x(n 1)x(n + 1)
x
2
(n)
x(n)
Fig. 3.11: Estructura b asica del algoritmo de detecci on basado en el operador discreto de energa de
Teager.
3.4.4. Filtro apareado o correlaci on de la se nal a detectar contra una
plantilla
La detecci on y clasicaci on basada en el apareo por correlaci on son comunes en gran
cantidad de campos, desde las interfaces cerebro-m aquina [23] hasta los receptores de banda
ultra ancha (Ultra Wide Band) [36]. Si bien una implementaci on completamente digital es
muy costosa en t erminos de consumo, detectores y localizadores digitales simplicados ba-
sados en la correlaci on, con una muy baja disipaci on de consumo, han sido construidos con
exito para aplicaciones particulares (ver [37] y [38]). Adem as, clasicadores generales de
31
Tabla 3.4: ROC para ltrado de la se nal de entrada usando un operador de energa de Teager.
Ganancia (C) TPR FPR XTP
40 0.84 0.33 2
45 0.8 0.2 2
50 0.76 0.2 1
55 0.6 0.07 0
60 0.49 0 0
0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 1
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
ROC. Op. de energa de Teager
T
a
s
a
P
o
s
i
t
i
v
o
s
V
e
r
d
a
d
e
r
o
s
Tasa Positivos Falsos
C= 40
C= 45
C= 50
C= 55
C= 60
Fig. 3.12: ROC. Preprocesamiento por medio de operador de energa de Teager.
se nal mixta basados en la correlaci on han sido propuestos tambi en, tal como en [30]. En este
caso, se propone el uso de la correlaci on con resoluci on m axima (resoluci on de punto otan-
te con una tasa de muestreo de 48kHz), para que sirva como m etrica tope para la evaluaci on
de la ecacia del m etodo.
La estructura de detecci on es la mostrada en la Fig. 3.13. Primero, dos plantillas se ob-
tienen por la promediaci on de quince se nales de disparos a 30 y 90 metros, bas andose en las
propuestas de Obeid y Wolf, que obtienen sus plantillas de la promediaci on masiva de 50
muestras de picos impulsivos neuronales [23]. Las plantillas se guardan en dos vectores de
1000 muestras. La se nal a analizar se hace pasar a trav es de una ventana del mismo tama no
de los vectores plantilla, a una tasa de 39 muestras por iteraci on. A cada iteraci on, la correla-
ci on cruzada con cada vector es computada y almacenada en otro par de vectores. Estos ser an
las salidas del sistema, que ir an al detector de umbral. Como la correlaci on es una operaci on
con signo, el promediado se realiza usando un esquema de c alculo de valor RMS deslizante
(running RMS), sobre una ventana de 100ms. Los resultados son bastante satisfactorios y
32
. . . .
. . . .
x(t)
Filtro antialias
Registro de desplazamiento
Plantilla
Rxy
RMS
Deslizante
Detecci on
C
Fig. 3.13: Esquema b asico para el algoritmo de detecci on basado en ltrado por apareamiento (co-
rrelaci on contra una plantilla).
se observan en las Tablas 3.14 y en las Figs. 3.14 y 3.15, con una ganancia de veinticinco
para los dos tipos de plantilla y un notable (TPR, FPR) de (0.91, 0). Hay que hacer notar, sin
embargo, anomalas particularmente en el caso de la escopeta calibre .12 y el rev olver .38,
para ganancias superiores a veinte. Existen tambi en algunas anomalas para el rev olver .32
que podran no considerarse al producirse muy temprano en el vector de detecci on, quiz as
debido a efectos de la discontinuidad inicial de la se nal de entrada.
Tabla 3.5: ROC para correlaci on de la se nal contra plantilla hecha con el promedio de disparos a 30
m.
Ganancia (C) TPR FPR XTP
15 0.91 0.13 15
20 0.91 0.13 8
25 0.91 0 2
30 0.91 0 2
35 0.82 0 1
Como puede intuirse, a diferencia de los m etodos hasta ahora expuestos, en este caso no
se realiza una comparaci on directa de la se nal contra su energa promedio, sino de similitud
contra un patr on promedio. De hecho, en la propuesta de Edwards y Cauwenberghs de un
clasicador en modo mixto de este algoritmo [30], el c omputo no se hace directamente sobre
la se nal sino sobre las caractersticas extradas por un algoritmo de preprocesamiento coclear,
de onditas o de alg un otro tipo de procesamiento tiempo-frecuencia. En este caso, el vector
de muestreo se implementa con una estructura BBD y la correlaci on se realiza mediante la
33
0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 1
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
ROC. Correlaci on vs. plantilla 30m
T
a
s
a
P
o
s
i
t
i
v
o
s
V
e
r
d
a
d
e
r
o
s
Tasa Positivos Falsos
C= 15
C= 20
C= 25
C= 30
C= 35
Fig. 3.14: ROC. Procesamiento por correlaci on. Plantilla de disparos a 30 metros.
Tabla 3.6: ROC para correlaci on de la se nal contra plantilla hecha con el promedio disparos a 90 m.
Ganancia (C) TPR FPR XTP
15 0.96 0.13 3
20 0.91 0.13 2
25 0.91 0 0
30 0.84 0 0
35 0.84 0 0
0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 1
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
ROC. Correlaci on vs. plantilla 90m
T
a
s
a
P
o
s
i
t
i
v
o
s
V
e
r
d
a
d
e
r
o
s
Tasa Positivos Falsos
C= 15
C= 20
C= 25
C= 30
C= 35
Fig. 3.15: ROC. Procesamiento por correlaci on. Plantilla de disparos a 90 metros.
34
multiplicaci on de corrientes. Tal como en el caso del ltro de mediana, el registro BBD no
puede ser demasiado largo debido a la degradaci on de la se nal. Ello signica un recorte de
la plantilla tambi en (que en el caso de se nal mixta, tendr a que guardarse a su vez en una
memoria anal ogica), y una velocidad de muestreo inferior. No obstante estos problemas a
priori, este m etodo es atractivo adem as para una etapa posterior, por ejemplo en caso de que
su consumo sea prohibitivo para la detecci on, para implementarse como un clasicador muy
efectivo que solo se activar a cuando exista una detecci on v alida.
Ante la notable efectividad del m etodo, se procedi o a evaluar implementaciones con una
resoluci on nita de 1, 2 y 4 bits, con miras a una estructura menos costosa en t erminos de
hardware (siguiendo ejemplos propuestos en [37] y [38]), a costa de una leve degradaci on.
No obstante, las evaluaciones de los mismos no fueron satisfactorias, con tasas de falsos
negativos que llegaban el 30 % de las muestras en el caso de la implementaci on de 4 bits, y
que superaban dicho porcentaje para los otros dos casos, y una tasa de positivos demasiado
baja: menos del 60 % para la cuanticaci on a 1 y 2 bits, y un 70 % para la de 4 bits.
3.4.5. Banco de ltros para la transformada discreta de onditas (DWT)
Istrate et al proponen en [19] el uso de una ondita de Daubechies con seis momen-
tos de desvanecimiento para la detecci on de se nales impulsivas. En este caso, se usa una
aproximaci on similar, pero con un banco de ocho niveles con ondita Haar, sobre una se nal
submuestreada a 7kHz (Fig. 3.18). La frecuencia de muestreo escogida se deriva del an alisis
realizado para el ltro de mediana. De acuerdo con el algoritmo de descomposici on usado
en este tipo de ltros (para una elaboraci on detallada de las relaciones presentadas a conti-
nuaci on, ver [39, 40]), sea f
n
una funci on que puede descomponerse de forma unica en dos
espacios ortogonales complementarios, f
n
V
n
= V
n1
W
n1
, tal que
f
n
= f
n1
+ g
n1
, con f
n1
V
n1
, g
n1
W
n1
. (3.5)
Si esto se repite, entonces
f
n
= g
n1
+ g
n2
+ ... + g
nm
+ f
nm
, f
j
V
j
, g
j
W
j
. (3.6)
El entero mes lo sucientemente grande cuando f
nm
es lo sucientemente borrosa. Aho-
ra, sean
f
j
=
k
v
jk
jk
, v
j
= (v
jk
)
2
(Z)
g
j
=
k
w
jk
jk
, w
j
= (w
jk
)
2
(Z) (3.7)
donde (t) es una base de Riez y (t) es una base ortonormal (a ambas se les llama a menudo
funci on padre de escala y funci on madre de ondita, respectivamente), las que generan los
espacios V
n
y W
n
. Los coecientes de aproximaci on y detalle de un nivel n se relacionan
35
con aquellos del siguiente nivel n + 1 mediante las ecuaciones:
v
nk
=
h
l2k
v
n+1,l
w
nk
=
l
g
l2k
v
n+1,l
(3.8)
Estas ecuaciones corresponden a la aplicaci on de ltros respectivos con funciones de trans-
ferencia H(z) =
k
h
k
z
k
y G(z) =
k
g
k
z
k
, seguidos de un submuestreo por dos, donde
h
k
= c
k
/
2 y g
k
= d
k
/
2, con c
k
y d
k
como los coecientes de la ecuaci on de dilataci on
(t) =
k
c
k
(2t k),
k
c
k
= 2 (3.9)
y la ecuaci on de ondita
(t) =
k
d
k
(2t k), d
k
= (1)
k
c
1n
(3.10)
Se decide utilizar una ondita Haar por su relativa simpleza de implementaci on discreta
(por medio de ltros de capacitores conmutados, por ejemplo), aun a riesgo de sacricar
neza en la detecci on (las onditas de Haar son mejores para analizar ondas tipo lineales a
tramos, no tan suaves como las que se pretende detectar). La respuesta temporal de un ltro
de escala de Haar es la de un promediador deslizante, con una funci on de transferencia
H(z) =
z
1
+ 1
2
(3.11)
mientras que su ltro complementario de detalle u ondita, es un diferenciador deslizante que
responde a la funci on de transferencia
H(z) =
z
1
1
2
(3.12)
Como demuestra Bultheel en [39] ambos ltros son complementarios espejo en cuadra-
tura (QMF) y complementarios en potencia (PCF). La respuesta de los mismos corresponde
a la de las Figs. 3.16 y 3.17. De las guras, resulta obvio que el ltro de escala es un ltro
pasa bajos de aproximaci on, mientras que el de ondita es un ltro pasa alto de detalles. Una
ventaja adicional de estos ltros es que no requieren de largos almacenamientos de informa-
ci on pasada, como en el caso de otros ltros FIR. A lo sumo, se requiere guardar el valor
anterior de la se nal de entrada. Esto signica que una implementaci on en tiempo real de la
transformada es directa (en lnea) y no implica el almacenamiento de vectores de datos para
la aplicaci on del ltro.
La normalizaci on de los ltros por 1/
Promedio
Detecci on
Fig. 3.19: Estructura del banco de ltros y el detector. La energa a partir de los coecientes de
detalle se calcula y se suma para proveer la entrada al detector de umbral adaptable. Se utiliza una
funci on cuadr atica en una primera fase del an alisis y luego una funci on de valor absoluto, de m as
f acil implementaci on electr onica.
El banco de ltros se estructura siguiendo las escalas di adicas (o de octavas) mostradas
en la Tabla 3.7, con 3500Hz como la frecuencia de Nyquist. Este banco se alimenta con
secuencias de entrada de 2048 muestras. El n umero de niveles de la descomposici on y la
selecci on inicial de los coecientes son el resultado de un an alisis preliminar con el toolbox
interactivo de onditas de Matlab. La energa se calcula para cada coeciente, y luego se
suman siguiendo un esquema piramidal como el de la Fig. 3.20, propuesto en [19].
Para el c alculo de energa se utiliza primero un an alisis con funci on cuadr atica como esti-
mador, y luego se eval ua la degradaci on que se produce al usar una funci on de valor absoluto
en su lugar. La raz on primordial para lo anterior es la mayor facilidad de implementaci on
de un recticador, a costa de perder la caractersitica de refuerzo de impulsividad que tie-
ne la funci on cuadr atica (en el captulo siguiente se discutir a m as sobre las dicultades de
38
Tabla 3.7: Diadas del banco de ltros en cascada para la DWT. Se indica el n umero de muestras
disponible por coeciente luego de la descomposici on y el submuestreo. En el ultimo nivel, queda un
remanente de muestras de aproximaci on luego de la ultima descomposici on.
Nivel Frec. (Hz) Muestras por coeciente
1 3500-1750 1024
2 1750-875 512
3 875-437.5 256
4 437.5-218.75 128
5 218.75-128.375 64
6 128.375-64.187 32
7 64.187-32.09 16
8 32.09 8
8
j
k
l i
n m
a c
d e f
g
h
b
Fig. 3.20: Suma de vectores a la salida de los ltros de ondita discreta.
construir circuitos multiplicadores de un rango din amico amplio).
La suma energ etica de los coecientes se hace pasar por el detector de umbral, tal como
en la Fig. 3.19. A partir de esta energa total, el umbral adaptivo se calcula mediante la
energa promedio sobre una ventana de 100ms.
Partiendo del estudio preliminar, se sit uan los coecientes de inter es entre los valores
dos y seis de la descomposici on. Se eval uan con m as detalle varios casos y combinaciones
de coecientes: los mejores resultados se obtienen para las combinaciones de niveles 3, 4,
5 y 4, 5, 6. Los resultados obtenidos tanto para un estimador cuadr atico de energa como
para uno de valor absoluto se detallan en las Figs. 3.21, 3.23, 3.22 y 3.24. Utilizando una
funci on cuadr atica, para una ganancia de quince, no se producen XTP para los niveles 3,
4 y 5. Adem as, se obtiene una TPR apenas un 2 % menor a la obtenida por el m etodo de
correlaci on.
39
Tabla 3.8: ROC para ltro transformada de ondita discreta (DWT). Bandas 3, 4 y 5. x
2
como esti-
mador de energa.
Ganancia (C) TPR FPR XTP
40 0.91 0.13 4
45 0.91 0.13 2
50 0.89 0 1
55 0.89 0 1
60 0.89 0 1
0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 1
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
ROC. DWT Haar, suma cuadr atica coefs. 3, 4, 5.
T
a
s
a
P
o
s
i
t
i
v
o
s
V
e
r
d
a
d
e
r
o
s
Tasa Positivos Falsos
C= 40
C= 45
C= 50
C= 55
C= 60
Fig. 3.21: ROC. Procesamiento por DWT. Banco de ltros Haar. Estimador cuadr atico de energa.
Coecientes de niveles 3, 4 y 5. A 0, 90 y 180 grados de incidencia sobre el micr ofono.
Tabla 3.9: ROC para ltro transformada de ondita discreta (DWT). Bandas 3, 4 y 5. Valor absoluto
como estimador de energa.
Ganancia (C) TPR FPR XTP
5 0.91 0.4 12
10 0.89 0.13 4
15 0.89 0 0
20 0.8 0 0
25 0.76 0 0
40
0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 1
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
ROC. DWT Haar, suma coefs. 3, 4, 5 recticados.
T
a
s
a
P
o
s
i
t
i
v
o
s
V
e
r
d
a
d
e
r
o
s
Tasa Positivos Falsos
C= 5
C= 10
C= 15
C= 20
C= 25
Fig. 3.22: ROC. Procesamiento por DWT. Banco de ltros Haar. Valor absoluto como estimador de
energa. Coecientes de niveles 3, 4 y 5. A 0, 90 y 180 grados de incidencia sobre el micr ofono.
Tabla 3.10: ROC para ltro transformada de ondita discreta (DWT). Bandas 4, 5 y 6.Estimador
cuadr atico de energa.
Ganancia (C) TPR FPR XTP
40 0.84 0.07 4
45 0.8 0.07 1
50 0.78 0.07 1
55 0.71 0.07 1
60 0.69 0.07 0
Tabla 3.11: ROC para ltro transformada de ondita discreta (DWT). Bandas 4, 5 y 6. Valor absoluto
como estimador de energa.
Ganancia (C) TPR FPR XTP
5 0.84 0.4 3
10 0.82 0.07 1
15 0.76 0 1
20 0.69 0 1
25 0.67 0 1
41
0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 1
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
ROC. DWT Haar, suma cuadr atica coefs. 4, 5, 6.
T
a
s
a
P
o
s
i
t
i
v
o
s
V
e
r
d
a
d
e
r
o
s
Tasa Positivos Falsos
C= 40
C= 45
C= 50
C= 55
C= 60
Fig. 3.23: ROC. Procesamiento por DWT. Banco de ltros Haar. Estimador cuadr atico de energa.
Coecientes de niveles 4, 5 y 6. A 0, 90 y 180 grados de incidencia sobre el micr ofono.
0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 1
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
ROC. DWT Haar, suma coefs. 4, 5, 6 recticados.
T
a
s
a
P
o
s
i
t
i
v
o
s
V
e
r
d
a
d
e
r
o
s
Tasa Positivos Falsos
C= 5
C= 10
C= 15
C= 20
C= 25
Fig. 3.24: ROC. Procesamiento por DWT. Banco de ltros Haar. Valor absoluto como estimador de
energa. Coecientes de niveles 4, 5 y 6. A 0, 90 y 180 grados de incidencia sobre el micr ofono.
Los resultados de los niveles 4, 5 y 6 son menos satisfactorios y con la presencia de falsos
positivos extra. El an alisis con funci on de valor absoluto muestra una degradaci on mayor
para el procesamiento con los niveles 4, 5 y 6 (aumenta sobre todo la FPR). Sin embargo,
para el caso de los niveles 3, 4 y 5, se mantienen los valores de (TPR, FPR) alcanzados en la
primera iteraci on con funci on cuadr atica, lo que sugiere la posibilidad de usar un recticador
en vez de un multiplicador para ejecutar este procesamiento.
42
3.4.6. Banco de ltros anal ogicos
El an alisis por onditas puede resultar en una implementaci on digital compleja, sobre
todo si se sigue un esquema vectorial como el considerado en el an alisis anterior (2048
muestras por segundo, con una resoluci on de 16 bits). Por supuesto, se ha visto como al usar
ltros del tipo Haar, el uso de vectores de datos se vuelve innecesario, pero tambi en resulta
interesente aproximar el problema desde el espacio continuo. Podra por ejemplo optarse
por una transformada continua de onditas, CWT (Continuous Wavelet Transform) utilizando
onditas complejas tales como las de Morlet o de Gauss tal como en [28, 4145].
Sin embargo, como se sabe de la teora de onditas, el an alisis con bancos paralelos de l-
tros pasabanda es un equivalente al proceso de descomposici on tiempo-frecuencia mediante
ltros en cascada discretos. De hecho, un banco de ltros cocleares, provee de una descom-
posici on tiempo-frecuencia similar al an alisis por onditas (ver [4649]). Por ello se plantea
la posibilidad de realizar una descomposici on anal ogica por medio de un ltro de estructura
similar al de la Fig. 3.19, pero utilizando un banco paralelo de ltros continuos pasabanda
en vez del ltro discreto de Haar.
En este caso, puesto que se conoce la descomposici on de inter es, se propone una estruc-
tura simplicada utilizando solo ltros de segundo o tercer orden, siguiendo el modelo de
la Fig. 3.26. Como no se puede realizar una operaci on de submuestreo entre las etapas, se
debe ir escalando la respuesta frecuencial de los ltros de manera di adica, en las mismas
frecuencias de corte que se plantearon para el banco de DWT. As, entonces, se dene un
banco de ltros con tres bandas de paso, con las frecuencias ejemplicadas en la Fig. 3.19,
y con una respuesta de frecuencia tal como exhibe la Fig. 3.27. Se toman las salidas de las
ramas 3, 4, 5 y se alimentan a una estructura similar a la que se us o para la DWT, la cual por
supuesto ahora es continua y no discreta.
Tal como se demuestra en el Ap endice A, un ltro pasabanda de tercer orden o supe-
rior cumple los requerimientos fundamentales para ser considerada una ondita. La funci on
transferencia resultante de cada banco es del tipo
CD(s)
n
=
2
n
s
1
(1 +
2
n1
s
1
)
2
(1 +
2
n
s
1
)
(3.13)
El ltro se complementa con un ltro extra paso alto a la entrada destinado a eliminar el
offset y ruido rosa proveniente del micr ofono. La evaluaci on algortimica se hace consideran-
do este t ermino extra (se tiene entonces un ltro de orden 4 en cada coeciente, lo que respeta
el orden mnimo establecido por el an alisis te orico en el ap endice A). Las simulaciones se
hacen mediante el toolbox de sistemas continuos de Matlab.
Los resultados de la estructura continua son bastante satisfactorios, lo que abre la posi-
bilidad de una implementaci on de bajo consumo utilizando ltros tipo GmC, por ejemplo.
En el caso de considerar las bandas 3, 4 y 5, se tiene un (TPR, FPR) de (0.89, 0,07) para
ganancias de 30 (en el caso de usar un estimador con valor absoluto) y de 210 (estimador
cuadr atico).
Es de notar que no existen anomalas para estos valores. En el caso de usar s olo los
43
f(t)
cD3
cD4
cD5
x
2
x
2
x
2
Banco de ltros
Pasabanda
C
Promedio
Detecci on
Fig. 3.25: Estructura de procesamiento de se nal para encontrar detalles de se nal, utilizando un banco
de ltros paralelos como estructura de preprocesamiento CWT. Al igual que con el caso DWT, se
eval uan las diferencias entre usar una funci on cuadr atica y valor absoluto como estimador de energa.
f(t)
Acondicionamiento
K
f2=875Hz
f1=437Hz
f2=437Hz
f1=219Hz
f2=219Hz
f1=109Hz
fc=109Hz
fc
cD3(t)
cD4(t)
cD5(t)
f1
f1
f1
f2
f2
f2
Fig. 3.26: Banco de ltros paralelos anal ogico equivalente a una descomposici on continua de onditas.
Las frecuencias de corte se basan en la divisi on di adica del an alisis de onditas discreto de la Tabla
3.7. Los ltros paralelos son todos de tercer orden, m as un ltro pasa altos de primer orden como
acondicionador de se nal de entrada.
coecientes 3 y 4, cabe destacar adem as que la utilizaci on del estimador cuadr atico provee
de los mismos resultados, si se utiliza una ganancia alta (230) en el detector de umbral. En
el caso de usar valor absoluto, se obtiene este mismo resultado usando una ganancia de 30,
pero con la salvedad de la aparici on de tres anomalas. Puesto que ganancias bajas implican
menor consumo y mayor facilidad de implementaci on, se tiene entonces una raz on extra
de peso para usar las bandas 3, 4 y 5 con un detector de valor absoluto (la menor ganancia
necesaria para este detector, aunque contraintuitiva, deviene del hecho de trabajar con valores
normalizados, lo que hace que la operaci on cuadr atica m as bien atenue la funci on de entrada.
44
150
100
50
0
10
1
10
2
10
3
10
4
10
5
10
6
180
90
0
90
Coeficiente 3
Coeficiente 4
Coeficiente 5
Diagrama Bode
M
a
g
n
i
t
u
d
(
d
B
)
F
a
s
e
(
g
r
a
d
o
s
)
Frecuencia (rad/s)
Fig. 3.27: Respuesta de frecuencia de los ltros en un banco paralelo de transformada continua de
onditas (CWT).
Este sera el caso tambi en al trabajar con amplitudes de se nal inferiores a 1V, tal como las
se nales de audio que se pretende procesar).
El efecto de a nadir el quinto coeciente fortalece sobre todo el rechazo de falsos positi-
vos, sin tener casi incidencia en la detecci on de verdaderos positivos, lo que sugiere que, en
algunos casos, podra bastar utilizar solo la 3da y 4ta banda y dejar la eliminaci on de falsos
positivos para etapas posteriores.
Tabla 3.12: ROC para ltro transformada de ondita continua (CWT). Bandas 3, 4 y 5. Valor absoluto
como estimador de energa.
Ganancia (C) TPR FPR XTP
30 0.89 0.07 0
40 0.82 0 0
50 0.8 0 0
60 0.8 0 0
70 0.8 0 0
45
0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 1
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
ROC. CWT, suma bandas 3, 4, 5 recticadas.
T
a
s
a
P
o
s
i
t
i
v
o
s
V
e
r
d
a
d
e
r
o
s
Tasa Positivos Falsos
C= 30
C= 40
C= 50
C= 60
C= 70
Fig. 3.28: ROC de procesamiento por banco de ltros CWT. Bandas 3, 4 y 5. A 0, 90 y 180 grados
de incidencia sobre el micr ofono. Estimador de valor absoluto para la energa.
Tabla 3.13: ROC para ltro transformada de ondita continua (CWT). Bandas 3, 4 y 5. Estimador
cuadr atico de energa.
Ganancia TPR FPR XTP
150 0.93 0.07 4
170 0.93 0.07 3
190 0.93 0.07 1
210 0.89 0.07 0
230 0.89 0.07 0
Tabla 3.14: ROC para ltro transformada de ondita continua (CWT). Bandas 3 y 4. Valor absoluto
como estimador de energa.
Ganancia TPR FPR XTP
30 0.89 0.07 3
40 0.84 0 0
50 0.84 0 0
60 0.8 0 0
70 0.8 0 0
46
0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 1
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
ROC. CWT, suma cuadr atica bandas 3, 4, 5
T
a
s
a
P
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i
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v
o
s
V
e
r
d
a
d
e
r
o
s
Tasa Positivos Falsos
C= 150
C= 170
C= 190
C= 210
C= 230
Fig. 3.29: ROC de procesamiento por banco de ltros CWT. Bandas 3, 4 y 5. A 0, 90 y 180 grados
de incidencia sobre el micr ofono. Estimador cuadr atico para la energa.
0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 1
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
ROC. Method= CWT Bands(3,4). Abs, 0, 90 and 180 degrees
T
a
s
a
P
o
s
i
t
i
v
o
s
V
e
r
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a
d
e
r
o
s
Tasa Positivos Falsos
C= 30
C= 40
C= 50
C= 60
C= 70
Fig. 3.30: ROC de procesamiento por banco de ltros CWT. Bandas 3 y 4. A 0, 90 y 180 grados de
incidencia sobre el micr ofono. Estimador de valor absoluto para la energa.
47
Tabla 3.15: ROC para ltro transformada de ondita continua (CWT). Bandas 3 y 4 . Estimador
cuadr atico de energa.
Ganancia TPR FPR XTP
150 0.93 0.27 5
170 0.93 0.13 4
190 0.93 0.13 3
210 0.93 0.13 1
230 0.89 0.07 0
0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 1
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
ROC. CWT, suma cuadr atica bandas 3, 4.
T
a
s
a
P
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V
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Tasa Positivos Falsos
C= 150
C= 170
C= 190
C= 210
C= 230
Fig. 3.31: ROC de procesamiento por banco de ltros CWT. Bandas 3 y 4. A 0, 90 y 180 grados de
incidencia sobre el micr ofono. Estimador cuadr atico para la energa.
48
3.4.7. Sin preprocesamiento
El ultimo algoritmo a probar es la utilizaci on de ning un algoritmo de preprocesamien-
to, es decir, alimentar la se nal cruda (luego de acondicionarse) directamente al detector de
umbral. Este procedimiento se ofrece como piso de referencia con respecto a los dem as
m etodos, tal como se propone en [23] (ver Tabla 3.16 y Fig. 3.32). Hay dos XTP a ganancia
diez a 30 metros, y uno a 90 metros.
Tabla 3.16: ROC para se nal de entrada sin procesar.
Ganancia TPR FPR XTP
10 0.87 0.33 4
15 0.78 0.13 0
20 0.67 0.07 0
25 0.58 0 0
30 0.51 0 0
0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 1
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
ROC. Se nal sin procesar
T
a
s
a
P
o
s
i
t
i
v
o
s
V
e
r
d
a
d
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r
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s
Tasa Positivos Falsos
C= 10
C= 15
C= 20
C= 25
C= 30
Fig. 3.32: ROC. Se nal sin preprocesamiento. A 0, 90 y 180 grados de incidencia sobre el micr ofono.
3.5. An alisis conjunto de los m etodos
Se toman las combinaciones algortmicas que produjeron los mejores pares-ordenados
(TPR, FPR) para cada m etodo. El mejor (TPR, FPR) se escoge como aquel situado a menor
distancia del punto ideal (1,0).
49
Tabla 3.17: Mejores pares (TPR, FPR) por algoritmo.
M etodo TPR FPR Ganancia de umbral C
Correlaci on. Plantilla de 30m 0.91 0 25
Correlaci on. Plantilla de 90m 0.91 0 25
Transformada discreta de onditas (DWT). Coefs. 3, 4, 5 0.89 0 15
con estimador de valor absoluto
Transformada continua de onditas (CWT). Coefs. 3, 4, 5 0.89 0.07 30
Con estimador de valor absoluto
Transformada continua de onditas. Coefs. 3 y 4 0.89 0.07 30
Con estimador de valor absoluto
Filtro de mediana 0.8666 0.1333 25
Estimador de valor absoluto 0.8444 0.1333 15
Transformada discreta de onditas. Coefs. 4, 5, 6 0.82 0.07 10
con estimador de valor absoluto
TEO 0.80 0.20 45
Sin pre-procesamiento 0.77 0.1333 15
La Tabla 3.17 lista de mejor a peor los algoritmos propuestos. Ya en esta tabla se toman
en cuenta algunas de las sugerencias planteadas en las subsecciones anteriores, a saber: para
los estimadores de transformada de onditas se preeren estimadores de valor absoluto sobre
los de valor cuadr atico por su mayor simpleza y menor requerimiento de ganancia en la
detecci on. El m etodo de preprocesamiento de correlaci on contra una plantilla de se nales a
30m o a 90m (Matched Filter o ltro apareado) fue el mejor, llev andose los dos primeros
puestos. El tercer puesto en t erminos de efectividad es el de usar un ltro discreto de onditas
con estimador de valor absoluto, utilizando la informaci on de los coecientes de detalle 3,
4, 5. Para este m etodo, se obtiene una TPR de 0.89 para los tres angulos de incidencia, con
FPR nula. En el cuarto puesto, se encuentra el ltro continuo de onditas para las bandas 3,
4 y 5, con una FPR de apenas 0.07 (con un falso positivo debido a la se nal de lluvia 2 y sin
anomala alguna). En el quinto puesto, se halla el mismo ltro pero s olo considerando las
bandas 3 y 4, con tres anomalas. El sexto proceso en t erminos de efectividad es el Filtro de
Mediana. Este m etodo se ve particularmente afectado por los falsos positivos. Ello implica
mayor consumo (al signicar una activaci on m as frecuente de las etapas posteriores), lo que
sumado a su ya de por s compleja implementaci on lo vuelve poco atractivo. Como s eptimo
proceso est a el de valor absoluto, seguido de la transformada discreta de onditas para los
coecientes 4, 5 y 6. Finalmente, el TEO apenas supera el piso de la m etrica, dada por la
detecci on de la se nal cruda. Sorprendentemente, incluso el no procesar la se nal da una mejor
FPR que el TEO. Ahora, si se considera la complejidad de los m etodos, est a claro que tanto
el TEO como el valor absoluto pueden compensar su relativamente menor desempe no con
su simpleza de implementaci on, en contraste con el de Filtro de mediana, el de DWT o la
50
correlaci on.
Un dato interesante surge de analizar el FPR de los m etodos alternativos al de correla-
ci on. Un an alisis de los falsos positivos producidos en algunos de los m etodos, como el de
mediana, resultan de fuertes pops en la grabaci on (ver por ejemplo la Fig. 3.33), causados
probablemente por gotas de agua que golpean el micr ofono y generan por ende un impulso
sonoro. Una protecci on ac ustica en el micr ofono entonces permitira bajar la FPR en estos
casos, con la consiguiente posibilidad de aumentar la ganancia para una mejor TPR. En to-
do caso, es notable que ni el procesamiento por correlaci on ni por onditas discretas se ven
afectados por estos pops.
5 10 15 20 25 30 35
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
5 10 15 20 25 30 35
0.6
0.4
0.2
0
0.2
0.4
t(segundos)
t(segundos)
Detecci on binaria. Muestra 2 de quebrada
Fig. 3.33: Falso positivo obtenido con el ltro de mediana procesando una grabaci on de una quebra-
da. Notar el pop que enga na el algoritmo. Una ganancia m as alta en el detector de umbral corrige
este falso positivo, a expensas de perder algunos verdaderos positivos. Un protecci on ac ustica en el
mic rofono puede ser una simple soluci on, sin sacricar la TPR.
Del an alisis anterior se deslinda la conveniencia de optar por alguno de los primeros tres o
cuatro algoritmos. Queda hecha sin embargo la salvedad de lo extremadamente complejo que
resulta implementar la correlaci on en sistemas de se nal mixta (descartado de antemano un
procesamiento enteramente digital por los argumentos ya expuestos). Por otra parte, como se
ha mostrado, la implementaci on de los ltros discretos y continuos de onditas como unidad
de preprocesamiento es no solo factible, sino que a primera vista parece requerir menos
potencia para su funcionamiento.
51
3.6. Conclusiones
La detecci on de se nales impulsivas puede lograrse con una amplia variedad de algoritmos
efectivos, utilizando una estructura tpica en el area de detecci on de se nales: comparaci on
contra un umbral adaptivo. Se ha propuesto una m etrica estadstica ROC para ordenar los
mismos en t erminos de su eciencia de detecci on. Adem as, se han bosquejado algunas ano-
taciones sobre la factibilidad de implementaci on en un sistema VLSI de bajo consumo para
cada algoritmo. Claramente, un ltro apareado, seguido de algoritmos de detecci on basados
en transformadas de onditas, proveen de las soluciones optimas en t erminos estadsticos.
En el caso de su factibilidad de integraci on, no obstante, resultan m as favorecidos algorit-
mos simples como el c alculo del valor absoluto y el operador de Teager, con los algoritmos
de onditas como una opci on intermedia. De lo anterior resulta la decisi on de optar como
compromiso por la implementaci on de los algoritmos de onditas discretas y anal ogicas, con
una tasa de detecci on alta versus una implementaci on de complejidad mediana. El siguiente
captulo da cuenta del proceso seguido para el dise no y evaluaci on de dichas implementacio-
nes.
Captulo 4
Implementaci on de circuitos detectores
basados en onditas
52
53
4.1. Introducci on
En el captulo anterior se describieron distintos m etodos de procesamiento de se nales de
audio, dentro de un esquema de detecci on de eventos impulsivos tales como el sonido de
disparos de armas de fuego. Los m etodos fueron evaluados estadsticamente y escalonados
en t erminos de su eciencia de detecci on siguiendo la teora de detecci on de se nales. Este
captulo est a dedicado a la implementaci on de un m etodo que pueda funcionar de manera
apropiada satisfaciendo restricciones de bajo consumo, como las de un sensor o nodo en
una red inal ambrica de protecci on ambiental. Estos nodos se dise nan con el prop osito de
funcionar en un ambiente aislado operado a bateras por un largo tiempo, y por ello deben
estar integrados por dispositivos no solo de muy bajo consumo, sino que tambi en puedan
desactivarse en la medida que no sean utilizados. Un sistema de primer nivel de detecci on
de muy bajo consumo puede actuar como un arbitro de primera decisi on, que determine
con una abilidad aceptable si un evento pertenece o no a los eventos de inter es, y a partir
de ah active los circuitos subsiguientes ya sea para que procesen m as la informaci on o la
transmitan a otros nodos en la red.
Para la realizaci on de este primer nivel de detecci on, los an alisis de factibilidad realiza-
dos llevaron a la selecci on de dos candidatos para la realizaci on de los CI, considerando los
aspectos de su viabilidad en t erminos de bajo consumo y abilidad estadstica: el de onditas
anal ogicas y el de onditas discretas de Haar, como preprocesamiento antes de la unidad de
detecci on por umbral adaptivo. En primer lugar, se dise n o un banco de ltros continuos he-
chos en tecnologa CMOS est andar de 0.5m, utilizando t ecnicas de dise no de bajo consumo
para bancos de ltros en cascada y paralelos, tal como se propone en [4649]. En segundo
lugar, se dise n o una unidad de preprocesamiento de onditas discretas por medio de capaci-
tores conmutados, tambi en desarrollada en tecnologa CMOS est andar de 0.5m, basada en
los trabajos de Stanacevic, Razavi y Temes [32, 5052] en el area de circuitos a capacitores
conmutados.
La Secci on 4.2 detalla el desarrollo de la unidad de detecci on por onditas anal ogicas, con
su correspondiente vericaci on electr onica. La Secci on 4.3 explica el dise no e implementa-
ci on del banco de ltros Haar, junto con los resultados de simulaci on, y propone una posible
aproximaci on a la implementaci on de la unidad de c alculo de energa de coecientes.
4.2. Unidad de detecci on basada en ltros ondita anal ogi-
cos
El algoritmo de pre-procesamiento mediantes onditas anal ogicas consiste en implementar
los polinomios caractersticos de pasa banda calculados en secciones anteriores seg un las
bandas determinadas en la Fig. 3.26 del Captulo 3, y calcular la energa sumada de los tres
coecientes escogidos. Se a nade adem as un ltro pasa altos a la entrada para eliminar el
offset de la alimentaci on del micr ofono y el ruido rosa.
Luego de considerar la opci on de usar estructuras del tipo bicuadr atico para los ltros
54
pasa banda [53, 54], se opt o por la opci on m as sencilla de ltros de primer orden en cascada,
que requieren un menor n umero de transconductores en cada coeciente. El ltro pasa alto
de cada etapa se coloca al nal de cada banco, para eliminar el offset acumulado hasta ese
momento. El circuito completo de ltrado se detalla en la Fig. 4.1.
V
REF
V
REF
V
REF
V
REF
V
REF
V
REF
V
REF
V
REF
V
REF
V
REF
V
REF
V
REF
V
in
34.25nS
34.25nS
34.25nS
68.5nS
68.5nS
68.5nS
137nS
137nS
137nS
137nS
137nS 137nS
137nS
385nS
VoutC3
VoutC4
VoutC5
25pF
25pF
25pF
25pF
50pF
50pF
50pF
50pF
50pF
50pF
Fig. 4.1: Banco de ltros completo a implementar, utilizando amplicadores operacionales de trans-
conductancia (OTAs). V
REF
=V
DD
/2. El escalamiento de transconductancias y capacitores se ajusta
para utilizar un banco cuadrado de 16 capacitores unitarios de 25pF.
4.2.1. Consideraciones de rango din amico
Puesto que no se hizo una calibraci on de presi on in situ durante las mediciones, se parte
de un modelo simplicado de atenuaci on por propagaci on para determinar las presiones
equivalentes a las tres distancias estudiadas en el an alisis estadstico del Cap. 3: 30, 90 y
250m. Considerando una propagaci on isotr opica en espacio libre, seg un [10], la presi on del
sonido sigue una ley logartmica de atenuaci on dada aproximadamente por:
L
p
L
W
20log4r (4.1)
55
con r la distancia radial desde la fuente sonora. Suponiendo una presi on sonora tpica de
151-152dB
SPL
, y considerando la informaci on provista por Weissler sobre armas de ca-
libre similar al usado en las grabaciones de prueba usadas (pistola de 9mm, escopeta de
.12, [9]), resultar an presiones equivalentes a las de la Tabla 4.1. Se toma la presi on m axima
de 130 dB
SPL
como referencia para las mediciones obtenidas con un micr ofono Sennheiser
MKH416P48U3 (Sensibilidad de 25mV/Pa, y una m axima presi on soportada de 130dB
SPL
seg un datos del fabricante [25]). Por observaci on de las se nales detectadas usando los algo-
ritmos de procesamiento en Matlab, se determina que el sistema debe al menos discriminar
se nales en un rango entre 1.0 y 0.017 del valor normalizado de amplitud, considerando que
el arma con menor intensidad sonora la carabina .22 provoca un pico apenas superior a
90dB
SPL
a 90 metros de distancia, con el micr ofono en contrafase. Es decir, el rango din ami-
co debe ser de al menos 40 dB m as un adecuado margen de ruido. La tensi on de salida de las
conguraciones que se elijan deber an entonces cubrir este rango din amico, a su vez acotado
por el rango lineal de transconductancia de los dispositivos electr onicos de amplicaci on y
ltrado. Utilizar transistores en inversi on d ebil es inconveniente pues los transconductores
polarizados en estas zonas poseen rangos lineales de decenas de milivoltios (ver [49]). En
el otro extremo, transistores en inversi on fuerte pueden signicar un consumo excesivo. En
t erminos generales entonces conviene intentar colocar los transistores lo m as cerca posible
de la zona de inversi on moderada, para obtener un compromiso adecuado entre el rango
din amico deseado, la relaci on se nal ruido y el consumo.
Considerando las restricciones existentes, se utiliza una estructura Gm-C como la de la
Fig. 4.1. Para alcanzar los requisitos de linealidad se propone usar amplicadores de trans-
conductancia con una topologa como la de la Fig. 4.4, tal como se describen en [55], pero
operando en inversi on moderada para disminuir su consumo, sin penalizar mucho su rango
din amico. Seg un [55], en inversi on d ebil este circuito posee un rango lineal de 58.4mV, y su
transconductancia es ajustable por medio del par ametro m = S
a
/S
b
, que dene la relaci on
de aspecto relativa entre los dos pares de transistores apareados. En esta regi on, no obstante,
el tama no de los transistores puede volverse excesivo. Por ejemplo, como se ve en [55], para
una tecnologa de 1.2 m, el tama no tpico de los transistores de los pares diferenciales es
de 1377.6 m x 4.8 m, lo que resulta prohibitivo en este caso.
Para acotar m as estos valores, se calcula la sensibilidad del micr ofono a usar en t erminos
de las presiones esperadas para el sensor que se desea construir. Puesto que gran parte del
trabajo de detecci on y localizaci on ac usticas que se ha venido realizando por parte del grupo
de investigaci on de la la Universidad Nacional del Sur se basa en un micr ofono EMKAY
omnidireccional tipo electret, se decide platear el dise no a partir de este dispositivo. Este
micr ofono tiene una sensibilidad de -44dB 2.0 (0dB=1V/Pa, 1kHz), o sea, 6.31 mV/Pa
(que incluye el efecto un amplicador FET usado como convertidor de impedancia entre el
micr ofono en s y su salida; para m as informaci on ver [56]). La m axima presi on soportada
por el micr ofono es de 120dB
SPL
. En la Tabla 4.1 se desglosan tambi en algunas tensiones de
salida del micr ofono, referidas a presiones sonoras dentro del rango de detecci on esperado
para el sistema.
56
Con esta informaci on, se puede plantear una cota inferior de sensibilidad requerida. La
carabina a 90 metros, como se mencionaba, con un angulo de incidencia de 180
es detectable
seg un el algoritmo, as que la colocamos en la Tabla 4.1 como referencia, considerando
su valor pico relativo seg un las mediciones en campo. Resta por estudiar el fen omeno de
saturaci on de la se nal al superarse el m aximo detectable por el micr ofono usado. Como se
desprende de la Tabla 4.1, incluso el revolver .32 a 250m alcanza el m aximo medible por un
EMKAY como el que se planea utilizar. No obstante, es de esperar que el algoritmo no se
vea afectado toda vez que ya incluso algunas de las se nales usadas para el estudio muestran
dichos recortes por saturaci on del micr ofono Sennheiser (particularmente la pistola de 9mm
y la escopeta .12, a 30 m de la fuente).
Tabla 4.1: Tensiones pico entregadas, referidas a presiones sonoras esperadas por el sistema, por
un micr ofono EMKAY MD9745APZ-F. Sensibilidad del micr ofono: -44dB 2.0 (0dB=1V/Pa).
6.31mV/Pa [56]. La presi on de referencia a 2m es tomada de [9]. Se supone una atenuaci on ideal
isotr opica del sonido
Sonido Presi on relativa Presi on Tensi on Tensi on
(dB
SPL
) absoluta (Pa) RMS (mV) pico (mV)
Pistola 9mm a 2m 160dB 2000 NA NA
de boca del ca n on [11]
Pistola 9mm a 30m 130dB 63 398.0 563.0
M axima presi on 120dB 19.95 125.8 178.0
mic. EMKAY [56]
Revolver .32 a 250m 120dB 20.04 126.6 179.0
Pistola 9mm a 250m, 180
116dB 13.250 398.0 118.0
Carabina 22 a 90m, 180
94.6dB 1.078 6.81 9.63
Piso de ruido de mediciones 68.5dB 0.053 0.336 0.475
en campo
Piso de ruido de micr ofono 35dB 0.0011 0.007 0.001
4.2.2. Dise no de subsecciones de la unidad de detecci on
En esta parte se muestra el procedimiento de dise no y c alculo para las distintas unidades
del detector, acompa nadas de las simulaciones de comprobaci on.
C alculo y ajuste de los transconductores para el banco de ltros
Los transconductores dise nados se resumen en la Tabla 4.3. Para las transconductancias
de 137nS y 385 nS se utiliza el OTA linealizado por difusor propuesto por Krummenacher
57
en [57] (ver Fig. 4.4). Los transconductores de 68.5nS y 34.25nS se obtienen a partir del de
137nS, por medio de espejos de corrientes, tal como se propone en Arnaud [27]. El layout
de los OTAs se realiza tambi en siguiendo las recomendaciones descritas en Arnaud [27]:
transistores apilados e intercalados en columnas. Para el c alculo de la relaci on de transcon-
ductancia K del OTA en t erminos de la transconductancia del transistor de entrada, se sigue
la recomendaci on propuesta en [57], donde se supone una relaci on de aspecto 7:1 entre los
transistores de entrada (M
1
) y los difusores (M
2
), para obtener mayor rango lineal, tal que
G
m
gm
M
1
K
(4.2)
Analticamente, la ecuaci on que describe la relaci on de transconductancia de salida del
OTA se puede expresar como (ver [53]):
G
m
gm
M
1
2 +
gm
M
1
2gm
M
2
(4.3)
Si se considera que
gm
M
1
=
I
BIAS
n
G
i
f1
(4.4)
con G
i
fx
la transconductancia normalizada del transistor x en t erminos de la m axima trans-
conductancia, se puede reescribir la Ec. (4.3) como
G
m
gm
M
1
2 +
G
i
f1
2G
i
f2
(4.5)
Si el transistor M
2
se escala en t erminos de M
1
, y suponiendo que ambos est an polariza-
dos por la misma corriente, entonces M
2
termina en una zona de inversi on diferente que M
1
.
Siguiendo el modelo EKV, podemos denir las corrientes de inversi on i
f1
e i
f2
para cada
transistor. Puesto que
i
fx
=
I
BIAS
I
s
Wx
Lx
(4.6)
con
I
s
= C
ox
n
2
(4.7)
la corriente especca del proceso en cuesti on, y utilizando la relaci on de aspecto entre los
transistores, se llega a la relaci on
g
M
1
2g
M
2
=
_
1 + 0,5
7
_
i
f1
+ 7i
f1
_
1 + 0,5
_
i
f1
+ i
f1
(4.8)
Puede resolverse esta ecuaci on analticamente para tener entonces una expresi on para la
constante buscada
K = 2 +
g
M
1
2g
M
2
(4.9)
o simplemente averiguar num ericamente los puntos de inter es utilizando Matlab. Intuitiva-
mente, se puede ver que, para i
f1
1, cuando el transistor se halla en inversi on d ebil, esta
58
relaci on tiende a 3, mientras que si i
f1
1 (inversi on fuerte), la relaci on tiende a 4.64.
Ambos valores verican entonces la condici on de la Ec. (4.3) cuando el transistor est a en in-
versi on d ebil (donde gm
M
1
gm
M
2
I
BIAS
/n), y la usada com unmente cuando est a en
inversi on fuerte (ver [53]). En el caso presente, es de inter es colocar el transistor lo m as
cerca de la zona de inversi on moderada, para utilizar una polarizaci on de baja corriente, pe-
ro con un rango lineal de al menos 500mV. Simulaciones en la zona de inversi on d ebil y
moderada muestran que la relaci on 7:1 produce una distorsi on muy grande de la transcon-
ductancia media sin ampliar mucho el rango lineal (en inversi on d ebil, la relaci on debe bajar
a 2:1 para una transconductancia lineal m axima con un rango de menos de 100mV, como se
demuestran Furth y Andreou en [55]). En las Figs. 4.2 y 4.3 se observa la variaci on de esta
funci on en t erminos de la transconductancia normalizada y del nivel de inversi on respectivo
del transistor. En este caso, se opt o por una transconductancia nal entre un 40 % y un 35 %
de la transconductancia m axima, que provee de un rango lineal aceptable, con el transistor
siempre cerca de la zona de inversi on moderada, i. e., con un consumo relativamente bajo.
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
3
3.2
3.4
3.6
3.8
4
4.2
4.4
4.6
4.8
Relaci on de G
m
vs. g
m1
= f(G
i
f
)
Valor de transconductancia normalizada G
if
(1/nUt)
C
o
n
s
t
a
n
t
e
d
e
p
r
o
p
o
r
c
i
o
n
a
l
i
d
a
d
Fig. 4.2: Valor de la constante de proporcionalidad entre la transconductancia del OTA y la transcon-
ductancia de los transistores del par de entrada, K = gm
M1
/G
m
, en funci on de la transconductancia
normalizada como funci on a su vez del nivel de inversi on del transistor.
59
10
3
10
2
10
1
10
0
10
1
10
2
10
3
10
4
3
3.2
3.4
3.6
3.8
4
4.2
4.4
4.6
4.8
Relaci on de G
m
vs. g
m1
= f(i
f
)
Nivel de inversi on i
f
C
o
n
s
t
a
n
t
e
d
e
p
r
o
p
o
r
c
i
o
n
a
l
i
d
a
d
Fig. 4.3: Valor de la constante de proporcionalidad entre transconductancia del OTA y transconduc-
tancia de los transistores del par de entrada, K = gm
M1
/G
m
en funci on del nivel de inversi on i
f
del
transistor M
1
.
I12
M
1a
M
1b
M
2a
M
2b
V
N1
V
N2
0,5I
b
0,5I
b
I
1
I
2
V
1 V
2
Fig. 4.4: OTA linealizado con difusores sim etricos, seg un [57].
60
Hay tres transconductores b asicos para obtener las octavas de las bandas seg un la Fig.
3.26 del Cap. 3. El escalado de las frecuencias de corte se hace por medio de las capacidades.
Para los valores m as altos, la capacidad de carga m axima acota el slew rate para una dada
corriente de polarizaci on (I
bias
), una tensi on m axima de pico y la frecuencia tope de cada
banda. Partiendo del caso de la banda superior (875Hz), con una tensi on pico de al menos
500mV, a partir de la ecuaci on de slew-rate:
SR =
V
t
=
I
bias
C
carga
500mV
4 (875Hz)
1
=
I
bias
C
carga
(4.10)
puede estimarse que para una capacidad de carga de 25pF, una corriente de 45nA es su-
ciente para obtener el slew-rate deseado. Para las siguientes bandas, al dividirse por dos la
frecuencia tope, se divide por dos tambi en el slew-rate necesario, lo que signica que se
puede duplicar sin problemas la capacidad de carga.
El dise no de los OTAs se hizo siguiendo las ecuaciones de aproximaci on deducidas en el
apartado anterior como paso inicial. Se parti o de un transconductor base de 137nS. Mediante
simulaciones se ajustaron los tama nos para obtener el rango lineal deseado. Los transistores
se polarizaron cerca de la zona de inversi on moderada, tendiendo a inversi on fuerte (con un
gm/I
bias
entre un 30 y 40 %), para evitar excesiva no linealidad en la zona de inter es. As,
tras varias iteraciones, se polariz o el OTA base de 137nS a 90nA para obtener un rango lineal
adecuado de aproximadamente 460mV seg un la Tabla 4.3, por lo que la corriente lmite se
satiszo adecuadamente.
Puesto que el objetivo era trabajar en una zona de inversi on moderada tendiendo a inver-
si on fuerte, los transistores terminaron siendo m as delgados que anchos. El punto de partida
de las relaciones adecuadas se obtienen de los scripts de Matlab, usando transistores en se-
rie, como muestra la Tabla 4.2, para alcanzar las relaciones de aspecto deseadas (a partir de
ahora, todas las relaciones de tama no de los transistores que se indican est an en micr ome-
tro sobre micr ometro). El OTA de 68.5nS se obtiene a partir de un espejo doble de arreglo
NMOS a la salida de los transistores de entrada (ver Fig. 4.7), mientras que el de 34.25nS
se obtiene duplicando el arreglo NMOS de 3 transistores a 6 transistores en serie de 3/8 a la
salida, siguiendo la t ecnica de espejos en serie y paralelo descrita en [27, 58]. Los resultados
se detallan en la Tabla 4.3.
Tabla 4.2: Razones de aspecto de transistores para cada OTA (W/L), medidas en micrones.
Transconductor M
1
M
2
M
3
M
4
M
5
137nS 5 serie 3/8 7 serie M
1
3 serie 3/8 NA NA
68.5nS 5 serie 3/8 7 serie M
1
3 serie 3/8 3 serie 3/8 3 serie 3/8
34.25 5 serie 3/8 7 serie M
1
3 serie 3/8 6 serie 3/8 3 serie 3/8
385nS 3 serie 6/8 6 serie M
1
4 serie 3/8 NA NA
61
Tabla 4.3: Caractersticas de OTAs implementados, obtenidas de simulaciones SPICE. Polarizaci on
I
SS
/2=45nA, excepto para OTA de 395nS,I
SS
/2=90nA. Las capacidades en el nodo positivo de
entrada de los OTA son obtenidas del simulador Eldo de Mentor Graphics. El rango lineal se dene
como el punto donde la transconductancia cae un 5 % de su valor promedio.
Transconductor Gm Rango lineal Offset sistem atico Capacidad entrada
simulado (5 % Gm) (mV) (mV)
137nS 141.41nS 486.0 2.03 2.23pF
68.5nS 71nS 483.0 -1.35 2.23pF
34.25nS 36.36nS 483.0 -2.6 2.23pF
385nS 387nS 267.0 1.8 2.10pF
A primera vista, puede pensarse que los casos de los transconductores de 68.5nS y
34.25nS debe considerarse con cuidado, dado que por los bajos niveles de corriente su ran-
go de trabajo lineal es reducido. No obstante, puesto que estos transconductores se colocan
en todos los casos a la salida de los ltros de paso de banda, la restricci on de tensi on pico
se ve ya relajada debido a la atenuaci on de las etapas anteriores (situaci on vericada por
simulaci on, que oblig o incluso a una posterior amplicaci on para recuperar niveles adecua-
dos de tensi on). En las Fig. 4.6, 4.8 y 4.9 se muestran los resultados de simulaci on para las
caractersticas deseadas de cada transconductor.
V +
V
M
1 M
1
M
2
M
2
M
3 M
3
I
o
0.5I
BIAS
0.5I
BIAS
V
N1
Fig. 4.5: Transconductor de 137nS. Se usan transistores PMOS como par de entrada por su me-
nor transconductancia intrnseca. El OTA tiene un offset sistem atico dado que para V +=V ,
V
Io
=V
N1
=V
GS3
(ver [51]).
62
Fig. 4.6: Simulaciones de rango lineal y transconductancia de OTA de 137nS. A partir de ahora,
todas las guras de simulaci on son obtenidas del programa EZWave para gracaci on de resultados de
Eldo Spice, Mentor Graphics.
V +
V
M
1 M
1
M
2
M
2
M
3
M
3
M
3
M
3
M
4
M
4
M
5
M
5
I
o
0.5I
BIAS 0.5I
BIAS
Fig. 4.7: Transconductor de 68.5nS. La transconductancia se obtiene mediante la divisi on por dos
de corriente. El transconductor de 34.25nS se obtiene con el mismo circuito, pero reemplazando
duplicando el largo de M
4
.
63
Fig. 4.8: Simulaciones de rango lineal y transconductancia de OTA de 68.5nS.
Por ultimo, para amplicar la se nal de entrada al menos al rango din amico de los trans-
conductores dise nados, se implement o un transconductor extra. Considerando el m aximo
pico posible entregado por el micr ofono a usar (120dB
SPL
=178mV), se calcul o una ganan-
cia aproximada de 2.7 como aquella que mantiene dentro de los rangos lineales de los OTAs
la m axima tensi on entregada por el micr ofono. Usando un OTA de 137nS como base para
c alculo de la constante de amplicaci on, se dise n o un OTA de 385nS para obtener esta ga-
nancia. Puesto que la se nal a la entrada est a acotada a ese m aximo, los requerimientos de
rango lineal fueron menores para este transconductor. Sin embargo, result o necesario llevar
su polarizaci on hasta 180nA para alcanzar un rango lineal de al menos 200mV. El resto de la
informaci on sobre este OTA se detalla tambi en en la Tabla 4.3. Su topologa es similar a la
del OTA de 137nS, y los resultados de simulaci on para sus caractersticas se muestran en la
Fig. 4.10. Se provey o de una fuente independiente a este OTA en caso de que fuere necesario
ajustar su ganancia durante el testeo del sistema.
Tras algunas simulaciones, se decidi o incluir adem as una etapa de amplicaci on a las
salida de los ltros con doble prop osito: hacer de buffer para manejar los pads de salida
para las mediciones y levantar el rango din amico de las se nales antes de entrar a la etapa
de c alculo. Se utilizaron los mismos transconductores de la secci on de ltros, para duplicar
los niveles de tensi on antes de salir a los pads, utilizando el esquema de amplicaci on de la
Fig.4.11.
Este arreglo gener o dos problemas que no fueron adecuadamente previstos y que luego
ser an discutidos: offset excesivo y alta impedancia de salida. Las simulaciones nales en CA
64
Fig. 4.9: Simulaciones de rango lineal y transconductancia OTA34.25nS.
Fig. 4.10: Rango lineal y transconductancia para OTA de 385nS, polarizado con 180nA.
(ver Fig. 4.12) revelaron adem as ya un inconveniente en el nodo com un del que se alimentan
los ltros pasabanda y que no pudo corregirse con tiempo antes del envo a fabricaci on. La
alta capacidad de entrada de los OTAs dise nados (ver Tabla 4.3), m as la del amplicador
de entrada y el usado como buffer de salida de testeo de este nodo intermedio, a naden un
polo muy cerca de la frecuencia m axima de inter es, que afecta tanto la banda de paso del
65
137nS
68.5nS
V
in
V
REF
V
REF
V
out
Fig. 4.11: Esquema de amplicaci on usado para las salidas a pads de los coecientes y el nodo
intermedio del banco de ltros. N otese que esta topologa implica una alta impedancia de salida y
amplicaci on de offset.
coeciente 3 como la del 5to. Un c alculo aproximado de la capacidad para ese nodo arroja
un resultado no despreciable de 12pF (seg un el simulador, la misma resulta de 11.21pF).
Soluciones para esto se discuten m as adelante, en la subsecci on 4.2.4.
Unidad de c alculo para la determinaci on de la energa total de los coecientes
Durante la determinaci on algortmica se determin o que la aplicaci on de una recticaci on
completa en vez de elevar al cuadrado la salida de cada ltro, provea de una manera al-
ternativa para la determinaci on de las energas de las bandas caractersticas, sin un impacto
en la precisi on del m etodo ((TPR, FPR)=(0.89,0.07) en ambos casos). Aunque se hicieron
simulaciones con algunas estructuras de multiplicadores anal ogicos (ver [5963] no fue po-
sible encontrar circuitos de bajo consumo que tuvieran los rangos din amicos deseados (estos
circuitos generalmente no superan los 400mV de rango din amico total). Incluso hubo una
sobre la que se determin o su propensi on a la inestabilidad en operaci on subumbral ( [62]). Y
aunque hay algunas propuestas con transistores de compuerta otante que se arma alcan-
zan rangos din amicos de m as de 1 voltio (operaci on de rail a rail, ver [64]), se preri o no
continuar esta ruta dados los problemas inherentes de polarizaci on que tienen las estructuras
de compuertas otantes.
Para el desarrollo del recticador, se parti o del circuito propuesto por Arnaud en [27].
Para ello, se hizo necesario modicar levemente el transconductor de 68.5nS para obtener
una salida dual de corriente (ver Fig.4.13).
Se desarroll o adem as un comparador junto con las llaves de paso necesarias. Los inver-
sores a la salida del comparador se ajustaron mediante simulaci on para ajustar su tripping
point de forma que compensaran el offset debido al par diferencial. Se plantearon dos di-
se nos. Se muestran las versiones 1 y 2 (ver Figs. 4.14 y 4.15 respectivamente). Simulaciones
de la respuesta transitoria y de CD de ambas versiones se muestran en las Figs. 4.16 y 4.17.
A primera vista, parece m as adecuada la versi on 2, por su t de transici on menor, aunque
con un offset mayor que la versi on 1. El recticador completo se muestra en la Fig. 4.18.
Simulaciones con una entrada de 20 mV de las versiones 1 y 2 de los recticadores, (que
66
(a) Respuesta en frecuencia para el nodo intermedio. (b) Respuesta en frecuencia para coeciente 3.
(c) Respuesta en frecuencia para coeciente 4. (d) Respuesta en frecuencia para coeciente 5.
Fig. 4.12: Respuesta en frecuencia para los coecientes 3, 4 y 5 y el nodo intermedio. N otese como el
efecto de capacidad par asita en el nodo intermedio produce un polo demasiado cerca de la frecuencia
tope del coeciente 3 (875Hz), que termina afectando la respuesta del sistema. Notar adem as la leve
cada en la amplitud de la respuesta del coeciente 5. La lnea punteada muestra la respuesta te orica.
incluyen respectivamente el comparador 1 y 2) se muestran en las Figs. 4.19 y 4.20. Estas si-
mulaciones denieron la selecci on a favor del comparador versi on 2 por su mayor velocidad
de respuesta.
La suma de energas se hizo mediante espejos cascode a la salida de cada recticador, uni-
dos en un mismo punto (ver Fig.4.21). Un OTA de 137nS se us o como conversor corriente-
tensi on, pero tambi en se proveen por separado las salidas en corriente de cada ltro para
posteriores ajustes nos para la etapa de detecci on nal. La relaci on de transconductores
de entrada-salida en este caso (68.5ns/137ns=0.5) provee de una atenuaci on que compensa
las ganancias por la transformaci on corriente-tensi on y mantiene las se nales dentro de los
rangos din amicos de los transconductores.
Detector
De acuerdo al dise no establecido en el Cap. 3 para el esquema general algortmico (ver
Fig. 3.1 en el mismo captulo), es necesaria como etapa nal una unidad de detecci on con
67
V + V
M
1 M
1
M
2
M
2
M
3
M
3
M
3
M
3
M
4
M
4 M
4
M
4
M
5
M
5 M
5
M
5
I
O
+
I
O
0.5I
BIAS
0.5I
BIAS
Fig. 4.13: OTA dual, 68.5 nS. Usado como convertidor Tensi on-Corriente a la entrada del rectica-
dor.
M
1
M
1
M
2
M
2
M
3
M
3 M
4
M
4
M
5
M
5
M
6 M
6
M
7
M
7
M
8 M
8
I
BIAS
Vout+ Vout
V + V
Fig. 4.14: Comparador para detecci on de cruce por cero. Versi on 1, salida balanceada. No se detallan
los transistores usados pues este circuito no fue usado en la implementaci on nal.
umbral adaptivo. Esta secci on debe contar con alg un tipo de ltro de promedio deslizante
que, en el caso m as sencillo, es un ltro paso bajo extractor de valor medio.
La amplicaci on a la salida de este ltro es la que determina la selectividad del algorit-
mo, pues es la que determina el rango del umbral a la entrada del comparador, tal como se
vio en el Cap. 3. Se ha preferido realizar por ahora esta etapa fuera del circuito integrado,
para facilidades de ajuste. Una vez determinado el rango optimo de la ganancia mediante
mediciones de campo, y la topologa de comparaci on m as adecuada para una interfaz digital,
ser a relativamente sencillo incluir esta etapa ya sea en una versi on mejorada del circuito nal
o incluso en otro circuito ya con la interfaz digital necesaria para completar el sensor.
68
M
1
M
1
M
2
M
2
M
3
M
3
M
3
M
4
M
4
M
4
I
BIAS
Vout+ Vout
V +
V
Fig. 4.15: Comparador para detecci on de cruce por cero para recticador. Versi on 2. Los tama nos
para este circuito son: M
1
= 3 transistores 3/8 en paralelo. M
2
= 3 transistores 3/8 en serie. M4= 3/0.6,
M
3
= 1.3/0.6.
Fig. 4.16: Simulaci on en CD para comparadores, versiones 1 y 2. N otese como cerca del cruce por
cero, el comparador versi on 1 tiene ambas salidas en el mismo valor. Imagen tomada del EZWave de
Mentor Graphics. M signica milis.
69
Fig. 4.17: Respuesta transitoria para comparadores versiones 1 y 2, entrada de 20mV. Notar como el
t de transici on es menor en la versi on 2, aunque con un tripping point u offset sistem atico mayor.
V
in
I
out
V
REF
I+
I
V o+
V o
68.5nS
Fig. 4.18: Circuito recticador completo. Los transistores de las llaves de paso son de tama no mni-
mo. Se simularon dos versiones, usando los comparadores versi on 1 y 2 respectivamente.
70
Fig. 4.19: Transferencia CD para el recticador (versiones 1 y 2 con comparadores versiones 1 y
2 respectivamente). Notar la no linealidad en la versi on 2, debida al t de transici on en que ambas
salidas del comparador 4 tienen el mismo valor (ver Fig. 4.16).
Fig. 4.20: Respuesta transitoria para el recticador, seg un se utilice el comparador versi on 1 o la
versi on 2.
71
V
C4
V
C5
V
C3
137nS
V
REF
V
out
I
3
I
4
I
5
Fig. 4.21: Unidad de c alculo con sumador de salida de ltros recticada. Todos los transistores de
los espejos cascodes tienen una relaci on 3/20.
Simulaciones de unidad de c alculo y ltros
Simulaciones de suma con entrada desde el banco de ltros se muestran en Fig.4.22.
Como paso nal de comprobaci on, se procedi o a aproximar mediante funciones PWL tres
se nales tpicas que el sistema debera estar en capacidad de detectar: un revolver .32 a 250m,
una pistola de 9mm a 250m (180
) y una carabina C22 a 90m (180
). Esta se nales se
alimentaron al esquem atico completo y al algoritmo equivalente en Matlab. Las Figs. 4.23,
4.24 y 4.25 muestran las respuestas para los tres casos.
72
Fig. 4.22: Respuesta de unidad completa, entrada 20mV. Versiones 1 (con recticador versi on 1) y 2
(con recticador versi on 2).
0 0.001 0.002 0.003 0.004 0.005 0.006 0.007 0.008 0.009 0.01
0.1
0.05
0
0.05
0.1
50 100 150 200 250 300 350 400
0
0.05
0.1
0.15
0.2
0.25
Se nal de entrada PWL
t (segundos)
Energa total en coefs. 3, 4, 5 del ltro
Respuesta te orica
CI con comparador versi on 1
CI con comparador versi on 2
Fig. 4.23: Salida del algoritmo te orico versus salida simulada a partir del esquem atico, para una
aproximaci on lineal a tramos al sonido grabado de una pistola 9mm a 250m, 180 grados.
73
0 0.001 0.002 0.003 0.004 0.005 0.006 0.007 0.008 0.009 0.01
0.15
0.1
0.05
0
0.05
0.1
50 100 150 200 250 300 350 400
0
0.1
0.2
0.3
0.4
Se nal de entrada PWL
t (segundos)
Energa total en coefs. 3, 4, 5 del ltro
Respuesta te orica
CI con comparador versi on 1
CI con comparador versi on 2
Fig. 4.24: Salida del algoritmo te orico versus salida simulada a partir del esquem atico, para una
aproximaci on lineal a tramos al sonido grabado de un revolver .32 a 250m, 0 grados.
0 0.001 0.002 0.003 0.004 0.005 0.006 0.007 0.008 0.009 0.01
0.01
0.005
0
0.005
0.01
50 100 150 200 250 300 350 400
0
0.005
0.01
0.015
0.02
0.025
0.03
Se nal de entrada PWL
t (segundos)
Energa total en coefs. 3, 4, 5 del ltro
Respuesta te orica
CI con comparador versi on 1
CI con comparador versi on 2
Fig. 4.25: Salida del algoritmo te orico versus salida simulada a partir del esquem atico, para una
aproximaci on lineal a tramos al sonido grabado de una carabina .22 a 90m, 0 grados. N otese que el
efecto del offset del recticador ya afecta esta se nal.
74
Polarizaci on
En primera instancia, se estima un consumo necesario de 90 nA por transconductor
(I
SS
/2 = 45nA). Se hacen por separado tres bancos de polarizaci on para facilitar los ajustes
post-fabricaci on:
Banco de ltros
Unidad de c alculo y detecci on
Amplicador de entrada
Los tres bloques de copiado se construyeron siguiendo el mismo procedimiento que en [27]:
un espejo de corriente PMOS hecho tres transistores de 3/20 en paralelo para cada fuente de
corriente necesaria, tal como se muestra en la Fig. 4.26.
I
IN
I
BIAS
(1) I
BIAS
(2)
I
BIAS
(n) I
BIAS
(n 1)
M
1
M
1
M
1
M
1
M
1
Fig. 4.26: Ejemplo de los copiadores de corrientes de polarizaci on (ver [27]). El tama no equivalente
de los transistores es de 9/20, obtenidos mediante el paralelo de tres transistores de 3/20. Se separan
las polarizaciones del Banco de ltros, de la Unidad de c alculo y del Amplicador de entrada, para
ajustes post-fabricaci on.
Para alimentar todo el CI, se us o la fuente de polarizaci on independiente de tensi on seg un
la describe Razavi en [51] (ver Fig. 4.27), con una R
CONT
calculada a partir de
I
OUT
=
2
N
C
OX
(W/L)
N
(1
1
2
)
2
1
R
2
CONT
(4.11)
Para el arranque, se introduce el arreglo de tres transistores mostrado a la izquierda de
la fuente (ver Fig. 4.27). Se realizaron simulaciones transitorias, de CD y con pulso de ini-
cializaci on para vericar el arranque correcto de la fuente. Se calcularon los transistores
y la resistencia de control para una corriente de polarizaci on de 720nA. Se realizaron dos
fuentes: una para las unidades de c alculo y ltrado, y otra para controlar el amplicador de
entrada. El transistor b asico calculado fue de una relaci on de 3/20 que se aproxim o usando
tres transistores unitarios de 3/8 en serie de los ya usados para los OTAs.
Para producir las corrientes deseadas, se opta por la divisi on de corrientes en escalera
propuesta por Vitoz et al en [65]. La escalera se realiz o mediante transistores unitarios de
3/8. El dise no nal se muestra en la Fig. 4.28.
75
Circuito de arranque
R
CONT
I
OUT
M
1
M
1
M
1
M
1
M
2
M
2
M
2
M
3
Fig. 4.27: Fuente de autopolarizaci on, independiente de la alimentaci on. Se incluye circuito arranca-
dor. El tama no de los transistores para M
1
= M
2
es de 3 transistores en serie con un W/L de 3/8. El
transistor M
3
= 2M
2
se obtiene colocando en paralelo dos de estos arreglos serie. Para una R
CONT
de 112 k, se obtiene una corriente de salida de 720nA.
I
I
I/2 I/4 I/8 I/16 I/16
M
1
M
1
M
1
M
1
M
1
M
1
M
1
M
2
M
2
M
2
M
2
M
3
M
3
M
3
M
3
Fig. 4.28: Escalera de divisi on de corrientes dise nada seg un proponen Vitoz et al en [65]. El tama no
de los transistores es, respectivamente: M1=M3=tres transistores 3/8 en serie. M2= dos arreglos M1
en paralelo.
Estudio del offset por desapareamiento
Se siguieron las recomendaciones dadas por [27, 65, 66]. A saber, que si se modela la
desviaci on (V
G
) de la tensi on de gate en un par diferencial de transistores por la ecuaci on
(V
G
) =
2
V
T
+ (
I
D
g
m
)
2
(4.12)
y la desviaci on (I
D
)/I
D
de la corriente de drenaje
(
I
D
I
D
) =
_
+ (
g
m
I
D
V
T
)
2
(4.13)
76
con I
D
la corriente de polarizaci on,
V
T
la desviaci on del desapareamiento de la tensi on
de umbral, g
m
la transconductancia del dispositivo, y
WL
(4.14)
y
() =
A
/
WL
(4.15)
En la Tabla 4.4 se muestran algunos c alculos de las desviaciones esperadas para la tensi on
de gate, a partir de los datos reportados por los manuales de tecnologa para los par ametros
A
V
T
y A
/
para el proceso CMOS utilizado. En el caso de los espejos de corriente, tanto
en [65] como en [66] se recomienda llevar los transistores a la zona de inversi on fuerte.
Sin embargo, la primera referencia tambi en arma que dado que el llevar un transistor a la
zona de inversi on fuerte implica disminuir su area de gate, el
V
T
y el
aumentan, por la
relaci on de Pelgrom mencionada. Es por ello que un optimo puede encontrarse en la zona de
inversi on moderada. En el caso de todos los espejos de los OTAs dise nados, y de la fuente
de polarizaci on, las relaciones g
m
/ID se encuentran levemente por encima de la regi on de
inversi on moderada. En las Tablas 4.5 y 4.6 se muestran los c alculos de los porcentajes
esperados de desviaci on.
Tabla 4.4: C alculos de la desviaci on porcentual de las tensiones de compuerta para los pares dife-
renciales para la tecnologa y los tama nos escogidos (transistores PMOS). Se muestran los niveles
de inversi on i
f
. Como se aprecia, todos los pares de entrada est an situados en la zona de inversi on
moderada, levemente tendiendo a la zona de inversi on fuerte, con excepci on del par de entrada del
comparador, situado en la zona de inversi on d ebil.
Dispositivo Area(WL) m
2
i
f
g
m
/I
D
(V
G
)mV
OTA137nS 120 2.53 13.1 2.79
OTA385nS 144 1.38 14.84 2.79
Comparador 5 72 0.17 21.86 1.75
77
Tabla 4.5: C alculos de la desviaci on porcentual de los copiadores de corriente NMOS, para la tec-
nologa y los tama nos usados. Se muestran los niveles de inversi on i
f
.
Dispositivo Area(WL)m
2
i
f
g
m
/I
D
(I
D
/I
D
)
OTA137nS 72 1.38 14.8 2.79
OTA68.5nS 72 1.38 14.8 2.79
OTA385nS 144 3.74 10.7 1.75
Comparador ver 2 72 0.73 17.4 3.28
Tabla 4.6: C alculos de la desviaci on porcentual de los copiadores de corriente PMOS, para la tecno-
loga y los tama nos usados. Se muestran los niveles de inversi on i
f
.
Dispositivo Area(WL)m
2
i
f
g
m
/I
D
(I
D
/I
D
)
OTA68.5nS 72 1.47 15.56 3.5
Espejos polarizacion 180 0.83 18 2.46
4.2.3. Layout del circuito
Para disminuir el desapareamiento entre los transistores, se sigui o el m etodo propuesto
por Arnaud en [27] de apilar de forma intercalada los transistores de los pares diferenciales
de entrada de los OTA, y bajo estos apilar los difusores tambi en intercalados. Si bien el
mismo Arnaud propone otras formas de layout que disminuyen a un m as la dispersi on por
desapareamiento, esta t ecnica es muy simple y, como el demuestra, provee de una dispersi on
satisfactoriamente baja, sin un impacto prohibitivo en el area. Este mismo procedimiento de
apilado e intercalamiento se us o para los pares diferenciales de entrada de los comparadores
y para los espejos copiadores de corriente. En la Fig. 4.29 se muestra el layout nal del OTA
de 34.25nS.
Los capacitores hechos con dos capas de polisilicio (poly2 sobre poly) se acomodaron
en un arreglo rectangular de capacitores unitarios de 25pF, con estructuras falsas adyacentes
cortocircuitadas para conservar la geometra circundante de cada capacitor. Un pozo N atado
a un potencial de VDD se coloc o debajo de todo el arreglo, el que adem as se rode o de un
anillo de P+ atado a tierra.
Se separ o el anillo de pads con una alimentaci on independiente para cada secci on, para
aislarlas galv anicamente y facilitar los c alculos de consumo del circuito en s, excluyendo
el consumo introducido por los pads. En la Fig. 4.30 se muestra el layout completo una vez
fabricado, con sus distintas secciones destacadas. El tama no nal fue de 2.2mm x 3mm,
incluyendo pads.
Para el comparador se sigui o el mismo procedimiento de apilado, al igual que para los
espejos de polarizaci on, la fuente independiente y el divisor en escalera de Vitoz. Las ultimas
simulaciones de vericaci on de todas las unidades se hicieron sobre netlists de par asitas
extrados del layout nal. El consumo nal seg un el simulador fue de 3.139A a 4V, para las
78
Fig. 4.29: Ejemplo de layout de los OTAs. En este caso, del OTA de 34.25nS. Los transistores se
intercalan apilados, siguiendo las recomendaciones en [27]. Arriba el par diferencial y los transis-
tores usados como difusores de degeneraci on. Abajo, los espejos de copiado y divisi on. Las escalas
mostradas corresponden a las unidades escalables para el proceso utilizado.
Fig. 4.30: Layout nal de todo el circuito integrado, en tecnologa est andar CMOS de 0.5 m. El
tama no nal fue de 2.2mm x 3mm, incluyendo pads.
79
unidades de c alculo y el banco de ltros en conjunto.
4.2.4. Discusi on de los resultados experimentales
Se midieron dos circuitos integrados. La primera etapa probada fue la fuente de pola-
rizaci on, que trabaj o correctamente dentro de los rangos previstos. Esto evit o el tener que
recurrir a una polarizaci on externa y agiliz o las mediciones. Puesto que esta fuente no era el
centro de inter es de este dise no, no se realizaron m as pruebas sobre la misma. Es sin embargo
necesario m as adelante sustituir esta fuente por una de mucho menor consumo.
La primera medici on de los ltros y la unidad de c alculo se realiz o con una alimentaci on
de 4V, la misma con que se realizaron todas las simulaciones. La polarizaci on de la unidad
de c alculo se ajust o para obtener 300mV pico a la salida con una entrada de 150mV en todos
los coecientes. Los resultados fueron satisfactorios y todas las unidades (banco de ltros,
unidad de c alculo y fuente de polarizaci on) funcionales. El consumo para estas pruebas se
desglosa en la Tabla 4.7.
Puesto que es del inter es disminuir el consumo, se procedi o a realizar una segunda medi-
ci on usando una alimentaci on est andar de 3.3V. Estos resultados tambi en resultaron satisfac-
torios (con un consumo desglosado en la Tabla 4.8), por lo que son los que se analizan con
m as detalle a continuaci on. La polarizaci on de la unidad de c alculo para la segunda medici on
se mantuvo en 45nA, pues el procedimiento anterior no revel o ventajas a la hora de las me-
diciones de respuesta transitoria. Se muestran primero los resultados de las subunidades por
separado, y luego un an alisis de la unidad completa evaluada con algunas de las se nales de
prueba con que se hizo el estudio estadstico del Cap. 3. En la Fig. 4.31 se muestra el banco
de pruebas usado, que incluy o un osciloscopio Hewlett Packard 54615B, una PC con Matlab
7.01, un generador de funciones Agilent 33220A y un multmetro de precisi on Hewlett Pa-
ckard 34401A. La alimentaci on al chip se realiz o a trav es de un regulador alimentado por
una batera de 6V.
Tabla 4.7: Consumo completo de etapas con alimentaci on a 4V. CI 1.
Circuito Consumo sin ajuste (A) Consumo con ajuste (A)
@I
bias
=45nA @I
bias
=95.03nA
Fuente de polarizaci on 12.0 24.1
Banco de ltros 2.26 5.64
Unidad de c alculo 4.0 6.8
La respuesta de frecuencia en magnitud para el nodo intermedio y para los coecientes
3, 4 y 5 se muestra en la Fig. 4.32 respectivamente. Existe un corrimiento en frecuencia que
oblig o a ajustar la polarizaci on del banco de ltros (los valores nales de polarizaci on, tanto
para el banco de ltros como para la unidad de c alculo, se indican en las tablas anteriores
de consumo). Una causa posible para este corrimiento es que el valor usado de capacidad
80
Fig. 4.31: Banco de pruebas usado, con detalle de la placa de mediciones con el CI incorporado.
Tabla 4.8: Consumo completo de etapas con alimentaci on a 3.3V. CI 2. Sobre este chip no se midi o el
consumo antes de ajustar la frecuencia.
Circuito Consumo con ajuste (A)
@I
bias
=90.15nA
Fuente de polarizaci on 15.13
Banco de ltros 5.35
Unidad de c alculo 1.813
param etrica para capacitores hechos con doble poly, tomado del kit de dise no de Mentor
Graphics, fue de un 15 % inferior al reportado por el fabricante para la corrida del prototipo.
En todo caso, se comprueba que estas desviaciones absolutas pueden corregirse f acilmente
ajustando la polarizaci on del circuito, penalizando nada m as el consumo pero no de forma
excesiva. Las diferencias entre el CI 1 y el CI 2 para una misma polarizaci on no son nota-
bles (el efecto de cola visto en algunas mediciones se debe al ruido de lnea que apareca a
intervalos durante los das en que se efectu o la medici on).
N otese el efecto de la capacidad par asita en el nodo intermedio (ya visto durante la si-
mulaci on) sobre los coecientes. Se vuelve entonces conveniente variar la topologa de este
nodo para disminuir este efecto, quiz as incluyendo un amplicador operacional como se-
guidor que sirva de buffer a la salida de la etapa de amplicaci on y disminuya la capacidad
colgada del nodo.
Otro problema comprobado fue el del offset por desapareamiento introducido por las
81
10
1
10
2
10
3
10
4
25
20
15
10
5
0
5
10
M
a
g
n
i
t
u
d
(
d
B
)
Frecuencia (Hz)
Te orico
CI1 sin aj.
CI1 con aj.
CI2 con aj.
(a) Respuesta en frecuencia para nodo intermedio.
10
1
10
2
10
3
10
4
60
50
40
30
20
10
0
10
M
a
g
n
i
t
u
d
(
d
B
)
Frecuencia (Hz)
Te orico
CI1 sin aj.
CI1 con aj.
CI2 con aj.
(b) Respuesta en frecuencia para coeciente 3.
10
1
10
2
10
3
10
4
60
50
40
30
20
10
0
10
M
a
g
n
i
t
u
d
(
d
B
)
Frecuencia (Hz)
Te orico
CI1 sin aj.
CI1 con aj.
CI2 con aj.
(c) Respuesta en frecuencia para coeciente 4.
10
1
10
2
10
3
10
4
60
50
40
30
20
10
0
10
M
a
g
n
i
t
u
d
(
d
B
)
Frecuencia (Hz)
Te orico
CI1 sin aj.
CI1 con aj.
CI2 con aj.
(d) Respuesta en frecuencia para coeciente 5.
Fig. 4.32: Respuesta en frecuencia para el nodo intermedio y los coecientes 3, 4 y 5, sin ajustar
y luego de ajustados, para los dos CI probados. N otese como la capacidad par asita coloca un polo
par asito demasiado cerca de los 875Hz, la frecuencia de corte superior del coeciente 3. La ampli-
caci on provista es de 2.6, cerca de la calculada de 2.74. Se muestran las mediciones de los dos
chips vericados, as como la respuesta te orica del polinomio. Notar la leve cada en la amplitud de
la respuesta del coeciente 5.
etapas de amplicaci on colocadas luego de cada ltro. A pesar de haberse considerado en
un principio que la salida de cada etapa fuera la de un ltro pasa alto que limitara este offset
al propio del OTA de salida, la posterior incorporaci on de esta amplicaci on afect o esta
previsi on. En la Tabla 4.9 se detallan los offset medidos para los dos CI probados. El impacto
de estos offset en el c alculo nal se analizar a m as adelante.
Es conveniente entonces incluir la amplicaci on dentro de cada ltro pasabanda y, si se
vuelve necesario, usar un amplicador operacional como buffer de salida, en vez del arreglo
de OTAs. Algo que adem as, facilitara las mediciones al no requerirse instrumentos de muy
alta impedancia para las mismas (algo necesario en esta versi on dadas las altas impedancias
de los OTAs dise nados).
82
Tabla 4.9: Offset de salida para las etapas de los coecientes, para los dos CI medidos.
Etapa CI 1 CI 2
Coeciente 3 20.3mV 20mV
Coeciente 4 36mV 28mV
Coeciente 5 -8mV -4.4mV
En las Figs. 4.33(a) y 4.33(b) se muestra la respuesta de salida de uno de los recti-
cadores y de la unidad completa de c alculo para una entrada sinusoidal com un en los tres
recticadores.
2 1.5 1 0.5 0 0.5 1 1.5 2 2.5
x 10
3
0.05
0.1
0.15
Medida sobre un resistor de 2.05Mohms
I rect., V
IN
=300mV pico, 500Hz
t (segundos)
V
(
v
o
l
t
s
)
(a) Salida de uno de los recticadores. Circuito ali-
mentado con una sinusoidal de 500Hz, 300mV.
2.5 2 1.5 1 0.5 0 0.5 1 1.5 2
x 10
3
0.15
0.1
0.05
0
0.05
0.1
0.15
t (segundos)
V
(
v
o
l
t
s
)
V
calc
. V
IN
=150mV pico, 500Hz
(b) Salida de la unidad de c alculo con entradas alimen-
tadas con una sinusoidal de 500Hz, 150mV pico.
Fig. 4.33: Respuesta temporal de la unidad de c alculo para un tono de 500Hz. Todas las se nales
obtenidas a continuaci on fueron adquiridas a trav es de un osciloscopio Hewlett Packard 54615B.
La Fig. 4.34 muestra la respuesta de los dos chips testeados ante una misma entrada sinu-
soidal al banco de ltros. Se graca adem as la respuesta te orica. Hay una diferencia notable
en uno de los ciclos, presumiblemente debida al offset por desapareamiento ya analizado a la
salida de cada coeciente de los ltros, lo que enfatiza la necesidad de mejorar la topologa
de salida usada en el banco.
Una vez pasada las pruebas individuales y en conjunto del sistema, se le alimentaron
algunas de las se nales usadas en el Cap. 3 para la evaluaci on de los algoritmos. Se escogieron
4 se nales de disparo: la escopeta de .12 a 30m, la carabina .22 a 30m, la pistola de 9mm a
90m y el rev olver .38 a 90m. Adem as se usaron 3 muestras negativas: un canto de ave,
amplicado 100 veces, una motosierra amplicada 10 veces y un avi on amplicado 100
veces (notar como las amplitudes de las mismas rondan 200mV, equivalentes a presiones
sonoras de 120dB
SPL
, tpicas de armas de fuego muy cercanas).
Las se nales se midieron con el osciloscopio Hewlett Packard 54615B, y fueron adquiridas
a trav es de una conexi on HPIB a una base de datos de Excel. El plug-in utilizado tiene una
83
2.5 2 1.5 1 0.5 0 0.5 1 1.5 2
x 10
3
0.1
0.12
0.14
0.16
0.18
0.2
5.5 5 4.5 4 3.5 3 2.5 2 1.5 1
x 10
3
0.1
0.12
0.14
0.16
0.18
0.2
Salida CI 2. V
IN
=150mV pico, 500Hz
Salida CI 1. V
IN
=150mV pico, 500Hz
t (segundos)
t (segundos)
T
e
n
s
i
o
n
(
v
o
l
t
s
)
T
e
n
s
i
o
n
(
v
o
l
t
s
)
Respuesta del IC2
Respuesta del IC1
Respuesta te orica
Respuesta te orica
Fig. 4.34: Salida del sistema, con la entrada alimentada con una sinusoidal de 500Hz, 150mV. N oten-
se los efectos del offset por desapareamiento en los coecientes. El CI 2 parece verse menos afectado
que el CI1. 563mV seran equivalentes a 130dB
SPL
resoluci on limitada de 1000 puntos por cada eje del osciloscopio, lo que present o problemas
sobre todo para la adquisici on de las se nales de mucha amplitud (la escopeta y el canto de
aves amplicado), que debieron ser medidas en modo CA y ajustadas luego con los valores
de CD de las otras mediciones. Esta se nales medidas se hicieron pasar luego fuera de lnea
por un script similar al usado para la evaluaci on de los algoritmos, donde se les aplic o el
ltro promediador y la comparaci on.
El esquema general de medici on se muestra en la Fig. 4.35. 583mV corresponden a
130dB
SPL
, calibrados con una se nal sinusoidal de 500Hz seg un la Tabla 4.1. Debido a que la
ventana de adquisici on era corta, se decidi o aplicar el ltro promediador sobre una ventana de
30ms, en vez de los 100ms, lo que afecta tambi en la detecci on al volver la se nal a promediar
menos estacionaria. A pesar de las salvedades anteriores, los resultados que se muestran
en las Figs. 4.36, 4.37, 4.38, 4.39, 4.40, 4.41 y 4.42 son prometedores (se acompa nan los
mismos de la respuesta de Matlab del sistema de polinomios te oricos). Los primeros 30ms
en todas las muestras tienen falsos positivos debido a que el promediador no ha alcanzado
su estado de r egimen (el valor del promedio m ovil se graca como la lnea continua bajo
las curvas). Los positivos luego de la detecci on correcta no son determinantes, y se deben
en parte a reexiones del mismo disparo que llegan al micr ofono (en cuyo caso la detecci on
sera tambi en correcta) y a la baja resoluci on del A/D del ORC (10bits), que hace que los
datos para amplitudes muy bajas se redondeen. Este fen omeno no se repite con escalas muy
bajas de medici on.
84
Matlab
Excel
Se nal medida
Filtro
Prom. Desl.
de
Sonido
Tarjeta
Ganancia
Detecci on
Algoritmo corrido en Matlab (fuera de lnea)
coefs.
C alculo
Bias
CI
PC
Banco
de ltros
V
OUT
HPIB
Osc.
Fig. 4.35: Banco de pruebas fuera de lnea, aplicado sobre CI2. Se nales desde Matlab a trav es de una
tarjeta de sonido. Se normaliza la tensi on a los niveles adecuados seg un la Tabla 4.1, usando un tono
de 500Hz. Los datos se obtienen en Excel a trav es de una interfaz HPIB, y de ah son exportados a
Matlab.
En general, hay que notar que pese a los problemas de dise no detectados en el circuito,
el algoritmo es funcional a un, excepto en el caso de la carabina, que no fue detectada para
la ganancia calculada con el algoritmo evaluado estadsticamente. Esta, por ser una se nal de
amplitud muy baja (50mV), se ve probablemente m as afectada por los problemas de offset
ya mencionados, as que es de esperar que corrigiendo los mismos, esta se nal se vuelva
detectable. Una soluci on temporal sera colocar un ltro pasa altos en cada coeciente para
eliminar este offset del circuito ya fabricado y alimentar de ah la unidad de c alculo. As se
comprobara el efecto total de este offset de desapareamiento sobre el rendimiento completo
del sistema.
Por otra parte, es de notar que a un en los casos donde la se nal de entrada supera el
rango lineal de 480mV pico de los dispositivos dise nados (escopeta a 30m), el circuito es
a un funcional como detector. Es posible entonces suponer que aumentando la ganancia del
acondicionador a la entrada, la carabina se vuelva detectable sin afectar los dem as resultados,
y sin necesidad de corregir los defectos ya mencionados de este primer dise no.
A la luz de los resultados obtenidos, se plante o una evaluaci on estadstica en lnea del
sistema, para terminar de validar las apreciaciones hechas. En la Fig. 4.43 se muestra el
esquema propuesto para este banco de pruebas. Los datos de la detecci on se obtienen desde
el CI programable Cypress CY8C29466 que completara primero el algoritmo de manera
digital (como se muestra), con vistas a una implementaci on anal ogica, como paso anterior a
la integraci on de la parte faltante del detector (para m as datos sobre este CI, ver [67]). No
obstante, no fue posible completar este banco de pruebas antes de presentar este documento.
85
0.1 0.05 0 0.05 0.1 0.15 0.2 0.25 0.3
0
0.2
0.4
0.6
0.8
CI
Matlab
Prom. desl.
0.1 0.05 0 0.05 0.1 0.15 0.2 0.25 0.3
0.5
0
0.5
0.1 0.05 0 0.05 0.1 0.15 0.2 0.25 0.3
0
0.5
1
Escopeta .12 Ganancia=10
Energa calculada por el CI
Detecci on binaria
t (segundos)
t (segundos)
t (segundos)
V
(
v
o
l
t
s
)
V
(
v
o
l
t
s
)
V
(
v
o
l
t
s
)
Fig. 4.36: Respuesta del sistema y el algoritmo para un disparo de escopeta .12 a 30m., resoluci on
ORC de 50mV/div. 583mV corresponden a 130dB
SPL
, calibrados con una tono de 500Hz seg un la
Tabla 4.1.
0.04 0.03 0.02 0.01 0 0.01 0.02 0.03 0.04 0.05
0
0.02
0.04
0.06
0.08
CI
Matlab
Prom. desl.
0.04 0.03 0.02 0.01 0 0.01 0.02 0.03 0.04 0.05
0.1
0.05
0
0.05
0.04 0.03 0.02 0.01 0 0.01 0.02 0.03 0.04 0.05
0
0.5
1
Carabina .22 Ganancia=10
Energa calculada por el CI
Detecci on binaria
t (segundos)
t (segundos)
t (segundos)
V
(
v
o
l
t
s
)
V
(
v
o
l
t
s
)
V
(
v
o
l
t
s
)
Fig. 4.37: Respuesta del sistema y el algoritmo para un disparo de carabina .22 a 30m., resoluci on
ORC de 10mV/div (el valor del promedio m ovil se graca como la lnea continua bajo las curvas).
La detecci on no ocurri o en este caso.
86
0.08 0.06 0.04 0.02 0 0.02 0.04 0.06 0.08 0.1
0
0.1
0.2
CI
Matlab
Prom. desl.
0.08 0.06 0.04 0.02 0 0.02 0.04 0.06 0.08 0.1
0.2
0.1
0
0.1
0.2
0.08 0.06 0.04 0.02 0 0.02 0.04 0.06 0.08 0.1
0
0.5
1
Pistola 9mm Ganancia=10
Energa calculada por el CI
Detecci on binaria
t (segundos)
t (segundos)
t (segundos)
V
(
v
o
l
t
s
)
V
(
v
o
l
t
s
)
V
(
v
o
l
t
s
)
Fig. 4.38: Respuesta del sistema y el algoritmo para un disparo de una pistola de 9mm a 90m.,
resoluci on ORC de 20mV/div. La detecci on es correcta para ganancia 10.
0.08 0.06 0.04 0.02 0 0.02 0.04 0.06 0.08 0.1
0
0.1
0.2 CI
Matlab
Prom. desl.
0.08 0.06 0.04 0.02 0 0.02 0.04 0.06 0.08 0.1
0.1
0
0.1
0.2
0.08 0.06 0.04 0.02 0 0.02 0.04 0.06 0.08 0.1
0
0.5
1
Rev olver .38 Ganancia=10
Energa calculada por el CI
Detecci on binaria
t (segundos)
t (segundos)
t (segundos)
V
(
v
o
l
t
s
)
V
(
v
o
l
t
s
)
V
(
v
o
l
t
s
)
Fig. 4.39: Respuesta del sistema y el algoritmo para un disparo de rev olver .38 a 90m., resoluci on
ORC de 20mV/div. La detecci on es correcta para ganancia 10.
87
2.5 2 1.5 1 0.5 0 0.5 1 1.5 2
0
0.02
0.04
0.06
0.08 CI
Matlab
Prom. desl.
2.5 2 1.5 1 0.5 0 0.5 1 1.5 2
0.2
0.1
0
0.1
0.2
2.5 2 1.5 1 0.5 0 0.5 1 1.5 2
0
0.5
1
Ave Ganancia=10
Energa calculada por el CI
Detecci on binaria
t (segundos)
t (segundos)
t (segundos)
V
(
v
o
l
t
s
)
V
(
v
o
l
t
s
)
V
(
v
o
l
t
s
)
Fig. 4.40: Respuesta del sistema y el algoritmo para una grabaci on de ave (muestra ave 2usada en
el Cap. 3) amplicada 100 veces, resoluci on ORC de 20mV/div. No hay detecci on pese al alto nivel
sonoro (200 mV, equivalentes a 120dB
SPL
).
2.5 2 1.5 1 0.5 0 0.5 1 1.5 2
0
0.05
0.1
0.15
CI
Matlab
Prom. desl.
2.5 2 1.5 1 0.5 0 0.5 1 1.5 2
0.1
0
0.1
0.2
2.5 2 1.5 1 0.5 0 0.5 1 1.5 2
0
0.5
1
Avi on Ganancia=10
Energa calculada por el CI
Detecci on binaria
t (segundos)
t (segundos)
t (segundos)
V
(
v
o
l
t
s
)
V
(
v
o
l
t
s
)
V
(
v
o
l
t
s
)
Fig. 4.41: Respuesta del sistema y el algoritmo para una grabaci on de avi on (muestra avi on 2
usada en el Cap. 3) amplicada 100 veces, resoluci on ORC de 20mV/div. No hay detecci on pese al
alto nivel sonoro (200 mV, equivalentes a 120dB
SPL
).
88
2.5 2 1.5 1 0.5 0 0.5 1 1.5 2
0
0.02
0.04
0.06 CI
Matlab
Prom. desl.
2.5 2 1.5 1 0.5 0 0.5 1 1.5 2
0.1
0
0.1
0.2
2.5 2 1.5 1 0.5 0 0.5 1 1.5 2
0
0.5
1
Motosierra a 30m Ganancia=10
Energa calculada por el CI
Detecci on binaria
t (segundos)
t (segundos)
t (segundos)
V
(
v
o
l
t
s
)
V
(
v
o
l
t
s
)
V
(
v
o
l
t
s
)
Fig. 4.42: Respuesta del sistema y el algoritmo para una grabaci on de una motosierra a 30m, ampli-
cada 10 veces, resoluci on ORC de 20mV/div. No hay detecci on pese al alto nivel sonoro (200 mV,
equivalentes a 120dB
SPL
).
RS232
A/D
Matlab
Filtro
Prom. Desl.
de
Sonido
Tarjeta
Ganancia
Detecci on
Algoritmo implementado en un CI Cypress CY8C29466
coecientes
C alculo
Bias
CI
PC
Banco
de ltros
V
OUT
Fig. 4.43: Propuesta de banco de pruebas en lnea. El chip Cypress completa el algoritmo digital (o
en forma continua) como paso anterior a la integraci on de la parte faltante del detector.
89
4.3. Filtro en cascada Haar
Como alternativa al trabajo con onditas continuas, se inici o el desarrollo de un detector
basado en la ondita discreta de Haar. El centro del procesamiento depende de los ltros de
ondita en cascada, tal como fueron descritos en el Cap. 3. En este apartado, se colabor o con
el Dr. Milutin Stanacevic, profesor de la Universidad de Stony Brook en Nueva York, experto
en el area de ltrado a capacitores conmutados (SWC) para procesamiento de se nales (ver
[32, 50, 68]). Si se recuerda de la secci on 3, los ltros de Haar de escala (aproximaci on) y
ondita (detalle) responden a ltros del tipo descrito en las Figs. 4.44 y 4.45, tal que para el
ltro de escala de Haar se tiene una especie de promediador m ovil
v
o
(n) =
1
2
[v
in
(n) + v
in
(n 1)] (4.16)
con una funci on de transferencia
H(z) =
V
o
(z)
V
in
(z)
=
1 +z
1
2
(4.17)
mientras que el ltro de ondita de Haar realiza un diferenciador m ovil
v
o
(n) =
1
2
[v
in
(n 1) v
in
(n)] (4.18)
con una funci on de transferencia
G(z) =
V
o
(z)
V
in
(z)
=
z
1
1
2
(4.19)
siendo ambos ltros (como muestra Bultheel en [39]), espejo en cuadratura (QMF) y com-
plementarios en potencia (PCF), con una norma H(z) = 1/
2.
+
+
2
v
in
(n) v
o
(n)
z
1
Fig. 4.44: Estructura de un ltro de Haar de escala, llamado tambi en de aproximaci on.
Para obtener los coecientes de detalle de determinado nivel, es necesario simplemente
ir bajando en forma recursiva por una escalera de ltros de escala y luego aplicar un ltro de
detalle (ver Fig. 3.18 en el Cap. 3). Podran entonces implementarse todo el sistema usando
ltros SWC para cada funci on, construir una unidad b asica como la de la Fig.4.46 y colocar
las mismas de manera que se emule la escalera, con el respectivo submuestreo entre cada
etapa. No obstante, este proceso implicara un n umero excesivo de componentes y de relojes
90
+
-
2
v
in
(n) v
o
(n)
z
1
Fig. 4.45: Estructura de un ltro de Haar de ondita, llamado tambi en de detalle.
H
G 2
2
cDN = w
nN
cAN 1 = v
nN1
cAN = v
nN
Fig. 4.46: Estructura b asica de descomposici on de un coeciente cAN 1 en un coeciente cDN
de detalle y un coeciente cAN de aproximaci on.
de muestreo, aparte de problemas de acumulaci on de offset a lo largo de la escalera. Se
propuso realizar el submuestreo y el escalamiento de un n umero n de etapas usando una
unica secci on SWC diferencial, partiendo de las siguientes consideraciones:
Para obtener el coeciente de aproximaci on 2(cA
2
), es necesario bajar por dos ltros de
escala en cascada, como se muestra en la Fig. 4.47.
V
in
(n)
V
mid
(n)
Vout(k) = Vout(2n)
2
Filtro de aprox. Filtro de aprox.
Fig. 4.47: Dos bloques de aproximaci on en cascada, con un submuestreo por 2 en el medio.
Dado que
V
mid(n)
=
V
in
(n) + V
in
(n 1)
K
(4.20)
y
V
out
(k) =
V
mid
(k 1) +V
mid
(k)
K
(4.21)
y si solo se consideran los valores pares de V
mid
(n) para calcular V
out
(k), tal que k = 2n,
entonces
V
out
(k) =
V
mid
2(n 1) +V
mid
2(n)
K
(4.22)
91
y sustituyendo 4.20 en 4.21
V
out
(k) =
V
in
(2n 2) +V
in
(2n 3) +V
in
(2n) + V
in
(2n 1)
K
2
(4.23)
lo que para n = 2 y K =
2, es igual a
V
out
(k) = cA
2
=
V
in
(1) +V
in
(2) +V
in
(3) +V
in
(4)
2
(4.24)
El proceso anterior puede obtenerse usando el circuito diferencial de la Fig. 4.48, im-
plementado con amplicadores operacionales de terminaci on sencilla (single ended) hechos
con amplicadores inversores tipo cascode (ver Fig. 4.58). El circuito se conmuta con la
secuencia de relojes ideales mostrada en la Fig.4.49.
V
in
P
V
in
N
V
mid
V
mid
Vos
2
2
1e
1e
4X
1e
4X
1e
4X
1
4X
1
4X
2
4X
2
C
2
C
2
C
1
VoutN
VoutP
Fig. 4.48: Circuito que realiza un ltrado por aproximaci on en dos niveles, para obtener el coeciente
CA
2
. El diagrama de tiempos de los relojes necesarios se muestra en la Fig. 4.49. La relaci on de
capacitores de este circuito es de (C
1
/C
2
=0.5).
Para este circuito, puede comprobarse analizando los ciclos de conmutaci on que
V
out
= V
outP
V
outN
= (V
in
P
1
+ V
in
P
2
+ V
in
N
1
+ V
in
N
2
)
C
1
C
2
(4.25)
lo que para C
1
/C
2
=0.5 y V
in
P
1
= V
in
(1), V
in
P
2
= V
in
(3), V
in
N
1
= V
in
(2) y V
in
N
2
= V
in
(4)
es equivalente a la expresi on (4.24). Para el an alisis, puede considerarse a
1e
=
1
. El circui-
to real que produce
1e
tendr a el acondicionamiento necesario para evitar los solapamientos
92
2
4X
1
4X
2
Fig. 4.49: Secuencia ideal de relojes para conmutaci on del circuito de la Fig. 4.48.
y los problemas de inyecci on de carga del conmutador de realimentaci on. Los amplicadores
operaciones de salida simple son simples amplicadores tipo cascode (ver Fig. 4.58). El va-
lor de tensi on V
os
representa la tensi on de salida de un amplicador operacional realimentado
(que es tomado precisamente de uno de ellos perpetuamente conectado en realimentaci on).
V
mid
es la tensi on de referencia de CD (V
DD
/2). Un an alisis detallado de este circuito se
muestra en el Ap endice B.
Este circuito se conecta a un dispositivo muestreador como el de la Fig. 4.50, que man-
tiene su salida v alida por un perodo adecuado. A su vez, las salidas de este circuito son
respectivamente V
sam
P y V
sam
N, que alimentan a las respectivas tensiones de entrada de los
circuitos que calculan los coecientes de detalle como se indica m as adelante en el diagrama
completo del circuito (ver Fig. 4.57).
Para obtener el coeciente de detalle cD3, que sigue la ecuaci on dada por
V
out
= (V
in1
V
in2
)
1
2
(4.26)
se utiliza el circuito de la Fig. 4.51, con la temporizaci on de conmutaci on dada en la Fig.
4.52. Para este circuito,
V
out
= (V
in
P
1
+ V
in
N
2
V
in
N
1
V
in
P
2
)
C
1
C
2
(4.27)
Si C
1
/C
2
=1, entonces
V
out
= V
outP
V
outN
= V
in1
V
in2
(4.28)
que resulta equivalente a la ecuaci on 4.26, pero escalada la anterior por un t ermino
2.Para
el an alisis puede considerarse a
1e
=
1
y 2X
1
=2X
1e
.
Para obtener el coeciente 4 (cD
4
), se utiliza el mismo procedimiento seguido para hallar
cA
2
. Si se coloca un bloque promediador con un bloque diferenciador en cascada a conti-
nuaci on del bloque de aproximaci on 2, tal como se muestra en la Fig. 4.53, se tiene que
V
mid(n)
=
V
in
(n) + V
in
(n 1)
K
(4.29)
93
V
in
P
V
in
N
V
mid
V
mid
1e
1e
C
2
C
2
C
1
C
1
VsamN
VsamP
Fig. 4.50: Circuito que realiza el muestreo y mantenimiento a la salida de todos los coecientes.
y
V
out
(k) =
V
mid
(k 1) V
mid
(k)
K
(4.30)
y si solo se consideran los valores pares de V
mid
(n) para calcular V
out
(k), tal que k = 2n,
entonces
V
out
(k) =
V
mid
2(n 1) V
mid
2(n)
K
(4.31)
y sustituyendo 4.29 en 4.30
V
out
(k) =
V
in
(2n 2) +V
in
(2n 3) V
in
(2n) V
in
(2n 1)
K
2
(4.32)
lo que para n = 2 y K =
2, es igual a
V
out
(k) = cD
4
=
V
in
(1) +V
in
(2) V
in
(3) V
in
(4)
2
(4.33)
Usando el circuito de la Fig. 4.54 con la sincronizaci on de relojes dada en la Fig. 4.55, y
una relaci on de capacitores de C
1
/C
2
=0.5, puede comprobarse que
V
out
= (V
in1
+ V
in2
V
in3
V
in4
)
C
1
C
2
(4.34)
94
V
in
P
V
in
P
V
in
N
V
in
N
V
mid
V
mid
Vos
1
+
1
+
1e
1e
2X
1e
2X
1e
2X
1
2X
1
2X
2
2X
2
C
2
C
2
C
1
VoutN
VoutP
Fig. 4.51: Circuito que realiza un ltrado por detalle de un nivel, para obtener el coeciente cD
3
. El
diagrama de tiempos de los relojes necesarios se muestra en la Fig. 4.52. La relaci on de capacitores
de este circuito es de (C
1
/C
2
=1), por lo que su salida viene escalada por un t ermino de
2.
2
2X
1
2X
2
Fig. 4.52: Secuencia ideal de relojes para conmutaci on del circuito de la Fig. 4.51. Aqu, 2X
1
=
1
+
95
V
in
(n)
V
mid
(n)
Vout(k) = Vout(2n)
2
Filtro de aprox. Filtro de detalle
Fig. 4.53: Un bloque de aproximaci on seguido de un bloque diferenciador en cascada, con un sub-
muestreo por 2 en el medio.
V
in
P
V
in
P
V
in
N
V
in
N
V
mid
V
mid
Vos
1
+
1
+
1e
1e
4X
1e
4X
1e
4X
1
4X
1
4X
2
4X
2
C
2
C
2
C
1
VoutN
VoutP
Fig. 4.54: Circuito que realiza un ltrado por detalle de dos niveles, para obtener el coeciente cD
4
.
Este circuito es id entico al de la gura 4.51, excepto por la relaci on de capacitores (C
1
/C
2
=0.5) y el
diagrama de tiempos de los relojes necesarios, que se muestra en la Fig. 4.55.
lo que para C
1
/C
2
=0.5 es equivalente exactamente a la expresi on (4.33). Para el an alisis
puede considerarse a
1e
=
1
y 4X
1e
= 4X
1
. El an alisis de este circuito se muestra en
el Ap endice B.
El circuito que realiza cD
5
ser a id entico al circuito de la Fig. 4.54, pero con una relaci on
de capacitores C
1
/C
2
=0.25 (por lo que su salida deber a escalarse por (
2)
1
para obtener
el valor real). Aqu, 8X sustituira a 4X, y
1
+ y
1
duplicaran su n umero de pulsos.
Puede comprobarse igualmente que con este circuito se obtiene una salida
cD
5
=
V
CA2
(1) +V
CA2
(2) +V
CA2
(3) +V
CA2
(4) V
CA2
(5) V
CA2
(6) V
CA2
(7) V
CA2
(8)
4
(4.35)
que es equivalente a dos bloques de aproximaci on seguidos de un bloque de diferenciaci on,
96
2
4X
1
4X
2
1
+
Fig. 4.55: Secuencia ideal de relojes para conmutaci on del circuito de la Fig. 4.54.
con un escalamiento de 1/
2.
Para comprobar las expresiones discretas anteriores y la equivalencia de los circuitos
SWC que las ejecutan idealmente, se codicaron en Matlab y se compararon contra salida
de un banco en cascada de onditas Haar (usando el toolbox de onditas de Matlab), para los
coecientes de aproximaci on 2 y los de detalle 3, 4 y 5, para una entrada sinusoidal de 200Hz,
200mV pico. Los resultados son id enticos (se muestra un detalle del coeciente cA
2
, como
ejemplo, en la Fig.4.56). Este mismo script de Matlab es usado m as adelante para vericar
el circuito ya simulado a nivel de componentes.
Un diagrama de bloques del circuito completo nal se muestra en la Fig. 4.57. Se separan
la alimentaci on de la secci on anal ogica (V
DDA
) de las secciones de generaci on de relojes
(V
DD
).
En la Fig. 4.58 se muestra en detalle el amplicador operacional de salida simple usa-
do en todas las conguraciones: un inversor tipo cascode. Este amplicador provee de una
alta ganancia y un ancho de banda adecuado con una conguraci on sencilla y compacta
(ver [68]). La polarizaci on del transistor M
1
dene la corriente de polarizaci on en 1A apro-
ximadamente (923nA exactamente), lo que coloca a los transistores en la zona de inversi on
moderada (i
f
=4 para M
1
y M
2
). Esta polarizaci on viene determinada tambi en en una primera
aproximaci on por el slew rate necesario para las frecuencias de trabajo del circuito.
Una vez se lleven a cabo las mediciones, se estudiar a ajustar la misma mediante pruebas
para bajar el consumo nal. Las dem as polarizaciones de ajustan para que los transistores
acomoden los valores m aximo (V
DD
10
T
) y mnimo (10
T
) de tensi on de salida (ver
Tabla 4.10), sin salirse de saturaci on. En la Fig. 4.58 se muestra adem as un detalle de la
respuesta de frecuencia para este amplicador (91dB, con un GBW de 2.85MHz para una
carga de 1pF).
Los relojes principales se derivan de un reloj maestro por medio de una m aquina de es-
tados (FSM) descrita en Verilog y sintentizada usando la biblioteca ADK de Mentor para
la tecnologa objetivo. Las primeras simulaciones se realizaron en forma mixta usando las
herramientas provistas por Mentor Graphics para este n. As se asegur o que la descripci on
RTL en Verilog de la FSM produca la secuencia correcta de relojes, adem as de permitir una
97
0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.014 0.016 0.018 0.02
0.4
0.3
0.2
0.1
0
0.1
0.2
0.3
0.4
cA2 para un tono de 200Hz, 200mV pico
t (segundos)
T
e
n
s
i
o
n
(
v
o
l
t
s
)
Algoritmo discreto
Toolbox de Onditas
Fig. 4.56: Muestra de la implementaci on discreta en Matlab del coeciente cA
2
. Se muestra la sa-
lida comparada contra la respuesta del toolbox de onditas de Matlab, para una entrada sinusoidal de
200Hz, 200mV pico.
S&H S&H
S&H
S&H
cA
2
cA
2sam
cD
3
cD
3sam
cD
4
cD
4sam
cD
5
cD
5sam
V
in
Reloj
Relojes
Relojes bif asicos
acondicionados principales
FSM de
sincrona
maestro
Generador
de
relojes
Fig. 4.57: Diagrama de bloques del circuito completo para el c alculo de los coecientes de detalle 3,
4 y 5.
98
V
in
V refNup
V refPup
Vout
V
DDA
V refPdown
M
1
M
2
M
3
M
4
(a) Amplicador cascode (b) Respuesta de frecuencia para el amplicador inversor cascode.
Fig. 4.58: Conguraci on del amplicador operacional con terminaci on o salida sencilla, tipo cas-
code. Los transistores se polarizan de acuerdo con la Tabla 4.10, para colocarlos cerca de la zona
de inversi on moderada (i
f
= 4). El tama no de los transistores es, respectivamente: M
1
=M
2
= 6.6/3,
M
3
= 5.4/1.8, M
3
= 10.8/1.8. La respuesta de frecuencia revela una ganancia de 91dB y un GBW
de 2.85MHz aproximadamente, para una carga de 1pF. Imagen tomada del simulador EldoSpice de
Mentor Graphics.
Tabla 4.10: Tensiones de polarizaci on para el amplicador operacional tipo cascode. Las polariza-
ci on de M
1
lo coloca en la regi on de inversi on moderada (i
f
= 4), y por ende ja la corriente en los
otros transistores. Las polarizaciones de los dem as transistores unicamente deben asegurar que estos
est en saturados.
Punto Tensi on (V)
V refNup 1.2
V refPup 1.9
V refPdown 1.6
V
mid
1.5
V
DDA
3
simulaci on m as r apida de la excitaci on de los bloques anal ogicos. Solo una vez que se con-
rmaron las secuencias de tiempos adecuadas, se sintetizaron y produjeron los esquem aticos
de la FSM para una simulaci on ya completamente anal ogica (a nivel de Spice).
En la Fig. 4.59 se muestra la secuencia correcta de relojes a aplicar al generador de los
relojes acondicionados. Este generador desdobla cada reloj maestro en relojes bif asicos no
solapados, necesarios para evitar la descarga indebida de los capacitores durante las transi-
ciones y los efectos por inyecci on de carta por parte de los transistores conmutadores de la
realimentaci on de los amplicadores (la forma de estos relojes bif asicos sigue la forma de la
Fig. 4.62(a)).
99
phi8x
phi4x
phi2x
phi
in_phi_2x
in_phi
samphi_cA2
phi2s
masterSel4x
masterSel8x
selSamcD3
selSamcD4
selSamcD5
Fig. 4.59: Diagrama de tiempos de la secuencia de relojes principales. La secuencia se genera con una
m aquina de estados descrita en Verilog y luego sintetizada con celda est andar para el proceso CMOS
usado. Los nombres mostrados son los mismos nombres de las se nales usadas en la descripci on RTL.
El circuito completo de acondicionamiento para cada reloj necesario se muestra en la
Fig. 4.62(b). Los largos y anchos de los distintos transistores en estos circuitos se varan
empricamente dependiendo de los retardos deseados. El bloque b asico para la generaci on
de estos relojes es el de la Fig. 4.60, que parte cada reloj en dos fases no solapadas, a partir
de un circuito que convierte el reloj monof asico en dos fases sincronizadas (Fig. 4.61).
Las llaves se implementan con transistores complementarios y sin estructuras dummy
(para una discusi on m as detallada sobre estos circuitos y los efectos debidos a problemas de
conmutaci on de capacitores e inyecci on de carga, ver [51, 52]).
El consumo total para el circuito, obtenido de las simulaciones, es de 3.93nA para la
secci on digital, y 12.145A para la secci on anal ogica, con una alimentaci on de 3V en ambas
etapas.
4.3.1. Resultados de las simulaciones
Se prueban los circuitos con una se nal sinusoidal de 200Hz, 200mV pico, con un reloj
maestro de 14kHz (lo que signica una frecuencia de muestreo de 7kHz). Un detalle de las
salidas no diferenciales para los coecientes de detalle (junto con la evaluaci on de lo que
sera la salida diferencial) se muestra en las Figs. 4.63, 4.64,4.65 y 4.66 (respuesta temporal
tomada del simulador EldoSpice de Mentor Graphics).
Del mismo simulador, se exportan a Matlab las salidas muestreadas, que se gracan en
las Figs. 4.67, 4.68, 4.69 y 4.70, donde se indica tambi en su error absoluto respectivo contra
la salida de cada coeciente, tomada del banco en cascada de onditas Haar implementado
con el toolbox de Matlab.
100
2
Fig. 4.60: Generador de relojes bif asicos. B asicamente, una celda SR hecha con compuertas NOR,
con retardos en la realimentaci on. Para un an alisis m as detallado de este circuito, ver [69]).
in
out out
Fig. 4.61: Buffer de reloj. Se obtiene el complemento de una se nal monof asica y se le introduce
cierto retardo para sincronizar sus ancos.
101
maestr
1e
t
(a) Diagrama de tiempos de la se-
cuencia de relojes bif asicos, con las
ventanas necesarias de no solapa-
miento.
maestro
1int
1int
1int
2int
2int
1e
1eint
1
2
Buffer de
Buffer de
Buffer de
Buffer de
reloj
reloj
reloj
reloj
Reloj
bif asico
1
2
1e
(b) Bloque de acondicionamiento de reloj.
Fig. 4.62: Bloque de acondicionamiento de reloj para cada se nal de conmutaci on necesaria, que
responde al diagrama de tiempos de la izquierda.
1e
cae levemente antes de
1
para evitar errores
por inyecci on de carga al realimentar los operacionales (para m as detalles, ver [51, 52]). El Generador
de relojes de la Fig. 4.57 se construye con este bloque como unidad b asica.
Es de notar que el error es siempre inferior a 2mV. Se muestra en la Fig.4.71 el resul-
tado de las salidas no diferenciales y el respectivo error para absoluto para cD
4
p y cD
4
n,
para hacer notar como la conguraci on diferencial disminuye en gran medida los problemas
debidos al offset de los amplicadores.
Fig. 4.63: Simulaci on temporal para el coeciente de aproximaci on 2, luego de sus respectivo mues-
treo y mantenimiento. Imagen tomada del simulador EldoSpice de Mentor Graphics.
102
Fig. 4.64: Simulaci on temporal para el coeciente de detalle 3, luego de su respectivos muestreo y
mantenimiento.
Fig. 4.65: Simulaci on temporal para el coeciente de detalle 5, luego de su respectivos muestreo y
mantenimiento.
4.3.2. Layout
Para el layout se parti o el espacio fsico en 4 zonas, como se muestra en el layout nal,
en la Fig. 4.72: circuitos de acondicionamiento de relojes, FSM generadora de los relojes
principales, banco de capacitores y secci on anal ogica. Aunque es de una mejor pr actica se-
parar la secci on anal ogica de manera que los amplicadores operacionales queden aislados
de los conmutadores (ver [70]), se consider o que al trabajar aqu con se nales de muy baja
frecuencia, no se justicaba el area extra que esto implica. Para el banco de capacitores se
103
Fig. 4.66: Simulaci on temporal para el coeciente de detalle 5, luego de su respectivos muestreo y
mantenimiento.
0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.014 0.016 0.018 0.02
0.4
0.2
0
0.2
0.4
0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.014 0.016 0.018 0.02
4
2
0
2
4
6
x 10
4
cA2 para tono 200Hz, 200mV
Error abs. de cA2
t (segundos)
t (segundos)
T
e
n
s
i
o
n
(
v
o
l
t
s
)
T
e
n
s
i
o
n
(
v
o
l
t
s
)
Simulacion Spice
Toolbox de Onditas
Fig. 4.67: Simulaci on de circuito nal para el coeciente cA
2
. Salida comparada contra la respuesta
del toolbox de onditas de Matlab, para una entrada sinusoidal de 200Hz, 200mV pico. Para este y los
siguientes circuitos, la salida se toma de la respuesta transitoria de Spice muestreada en las salidas
no diferenciales, exactamente en la zona media de validez del reloj de muestreo de cada bloque. Se
adjunta el error absoluto.
104
0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.014 0.016 0.018 0.02
0.2
0.1
0
0.1
0.2
0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.014 0.016 0.018 0.02
1
0.5
0
0.5
1
x 10
3
cD3 para tono 200Hz, 200mV
Error abs. de cD3
t (segundos)
t (segundos)
T
e
n
s
i
o
n
(
v
o
l
t
s
)
T
e
n
s
i
o
n
(
v
o
l
t
s
)
Simulacion Spice
Toolbox de Onditas
Fig. 4.68: Simulaci on de circuito nal para el coeciente cD
3
. Se muestra la salida comparada contra
la respuesta te orica del toolbox de Onditas de Matlab, para una entrada sinusoidal de 200Hz, 200mV
pico. Se adjunta el error absoluto.
0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.014 0.016 0.018 0.02
0.4
0.2
0
0.2
0.4
0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.014 0.016 0.018 0.02
1
0.5
0
0.5
1
x 10
3
cD4 para tono 200Hz, 200mV
Error abs. de cD4
t (segundos)
t (segundos)
T
e
n
s
i
o
n
(
v
o
l
t
s
)
T
e
n
s
i
o
n
(
v
o
l
t
s
)
Simulacion Spice
Toolbox de Onditas
Fig. 4.69: Simulaci on nal de circuito nal para el coeciente cD
4
. Se muestra la salida comparada
contra la respuesta te orica del toolbox de Onditas de Matlab, para una entrada sinusoidal de 200Hz,
200mV pico. Se adjunta el error absoluto.
105
0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.014 0.016 0.018 0.02
0.8
0.6
0.4
0.2
0
0.2
0.4
0.6
0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4 4.5 5
x 10
3
3
2
1
0
1
2
3
x 10
3
cD5 para tono 200Hz, 200mV
Error abs. de cD5
t (segundos)
t (segundos)
T
e
n
s
i
o
n
(
v
o
l
t
s
)
T
e
n
s
i
o
n
(
v
o
l
t
s
)
Simulacion Spice
Toolbox de Onditas
Fig. 4.70: Simulaci on de circuito nal para el coeciente cD
5
. Se muestra la salida comparada contra
la respuesta te orica del toolbox de Onditas de Matlab, para una entrada sinusoidal de 200Hz, 200mV
pico. Se adjunta el error absoluto.
0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.014 0.016 0.018 0.02
0.2
0.1
0
0.1
0.2
0.3
0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.014 0.016 0.018 0.02
0.0175
0.017
0.0165
0.016
0.0155
Coefs cD4p y cD4n para tono 200Hz, 200mV
Errores abs. cD4p y cD4n
t (segundos)
t (segundos)
T
e
n
s
i
o
n
(
v
o
l
t
s
)
T
e
n
s
i
o
n
(
v
o
l
t
s
)
Error de cD4p
Error de cD4n
cD4p
cD4n
cD4p simulaci on
cD4n simulaci on
Fig. 4.71: Simulaci on de circuito nal para el coeciente cD
4
, en las salidas no diferenciales. Se
adjunta el error absoluto individual para cada se nal (que incluye la tensi on CD de referencia V
mid
.)
106
sigui o el mismo proceso empleado para el circuito anterior: se dise n o un arreglo de capacito-
res unitarios de 253fF, y se colocaron sobre un pozo de N-well, atado a un potencial limpio.
Se rode o el banco con un anillo de P+ atado a tierra.
Se enrutaron las lneas de relojes de forma que no pasaran sobre ninguna estructura ac-
tiva, y en la zona anal ogica, se les a nadi o una ruta de polisilicio debajo, atada a tierra, para
disminuir el ruido en el substrato. La FSM de generaci on de relojes se obtuvo de las herra-
mientas autom aticas de colocaci on y ruteo de Mentor Graphics. Para el acondicionamiento
de los relojes bif asicos se generaron los layouts de las celdas a manos, y se rutearon con la
herramienta semiautom atica del mismo proveedor. Se separan adem as las alimentaciones de
los pads para medir el consumo del circuito por s solo.
Fig. 4.72: Layout completo del circuito para implementar la DWT Haar. El layout nal se divi-
di o en circuitos de acondicionamiento de relojes, FSM generadora de los relojes principales, banco
de capacitores y secci on anal ogica.
No fue posible adjuntar resultados de mediciones para este circuito, dado que el mismo
se encontraba a un en proceso de fabricaci on a la hora de terminar este documento.
4.3.3. Estructuras pendientes
Para completar el an alisis por onditas discretas, quedaran por implementar las unidades
de recticaci on y de suma nales. Una propuesta sencilla es seguir los lineamientos de la
107
estructura ya propuesta anteriormente para el ltro de onditas continuo (ver 4.2.2), usando
un comparador conmutado (latched) sincronizado con los relojes de muestreo de cada coe-
ciente, y llaves de paso para conmutar el orden de las salidas no diferenciales. La suma se
ejecutara usando alguno de los mismos circuitos ya usados para el c alculo de coecientes.
Se a nadira un ltro pasabajo o integrador como emulador del c alculo de promedio m ovil, y
un amplicador SWC con ganancia conmutable por medio de alguna selecci on externa.
4.4. Conclusiones
Se ha mostrado el desarrollo de dos alternativas a la implementaci on de un banco de
ltros de onditas, como preprocesamiento para la detecci on por umbral adaptivo de se nales
de audio de disparos de armas de fuego. En el primer caso, se ha detallado la implemen-
taci on en una tecnologa CMOS est andar de 0.5 m de una estructura funcional de ltros
anal ogicos paralelos, que realizan un procesamiento tiempo frecuencia contnuo sobre una
se nal de banda limitada y amplio rango din amico. Los resultados de esta implementaci on
han satisfactorios con las pruebas realizadas:
Funcionalidad electr onica con un desajuste en las unidades de ltrado y de c alculo de
energa, considerando las variaciones tpicas de los procesos y sus efectos sobre los
dispositivos anal ogicos.
Un consumo de 21.46W para todo el circuito, una vez ajustados los ltros a las ban-
das correctas (sin incluir la fuente de polarizaci on ni los pads).
Resultados preeliminares de detecci on satisfactorios sobre muestras de se nales reales
a detectar, pese a los problemas de desajuste por offset de la etapa de ltrado.
Todo el desarrollo se ha ejecutado siguiendo las t ecnicas de dise no de circuitos CMOS
anal ogicos de bajo consumo, usando los modelos para todas las zonas de inversi on del tran-
sistor MOS. Los problemas hallados son menores y tienen soluciones sencillas; una segunda
iteraci on del circuito debera ofrecer ya un prototipo mucho m as cercano al modelo ideal
propuesto. Sin embargo, el prototipo actual es funcional y adecuado ya para efectuar la etapa
de preprocesamiento de se nal para la que fue ideado.
En el segundo caso, se ha mostrado el desarrollo de un ltro discreto de onditas de Haar
de tres coecientes de detalle, el que se ha llevado a su terminaci on a nivel de silicio en
una tecnologa CMOS est andar de 0.5 m, utilizando una topologa discreta de capacitores
conmutados. Aunque no se poseen a un mediciones sobre el circuito fabricado (pendiente de
entrega por parte de la f abrica a la hora de la redacci on de este documento), los resultados de
las simulaciones permiten preveer su funcionalidad y bajo nivel de error en comparaci on con
los algoritmos te oricos, a costa de un consumo no superior a los 40W para una alimentaci on
de 3V. Esta unidad ser a la base para continuar con la implementaci on de las secciones faltan-
tes para contar con un detector alternativo de disparos de armas de fuego, de bajo consumo
y alta efectividad.
Captulo 5
Implementaci on de circuitos
localizadores de se nales de audio
impulsivas
108
109
5.1. Introducci on
En los captulos anteriores, se han analizado varios algoritmos con el n de detectar dis-
paros de armas de fuego en un bosque tropical lluvioso, se han seleccionado aquellos m as
adecuados seg un una evaluaci on estadstica, y se han propuesto y evaluado dos implemen-
taciones electr onicas de los mismos. El siguiente problema por resolver, es el de proveer de
una estimaci on de la localizaci on de dichos disparos. Si cada sensor puede proveer de una es-
timaci on angular de la proveniencia del sonido detectado, se podra alimentar la misma a los
nodos superiores de la red para una estimaci on m as na de la localizaci on, utilizando alg un
m etodo de fusi on. Las dos restricciones a tomar en cuenta son: la limitaci on existente en el
consumo de potencia, ya considerada en el Cap. 4, y la corta duraci on de la rma temporal
de un disparo (alrededor de 200ms), lo que implica la necesidad de estimadores r apidos.
Existen varias t ecnicas que pueden usarse para la localizaci on de fuentes ac usticas, tal
como se puede observar en [7173]. A partir de las mismas, un buen n umero de circuitos
integrados VLSI, tanto anal ogicos como digitales, han sido demostrados en [50, 74, 75], mas
solo algunos de ellos han sido dise nados para operar con un consumo bajo de potencia, y la
mayora trabajan sobre una ventana de tiempo relativamente larga, pues suponen se nales es-
tacionarias. Por ejemplo, el CI de se nal mixta reportado en [50], basado en la determinaci on
del gradiente espacial, consume 32W con 3V de alimentaci on, y muestrea se nales con una
ventana de estimaci on de un segundo.
La mayora de los CI citados se basan en la medici on del retardo temporal interaural
(Interaural Time Delay en ingl es, o ITD) tambi en conocido como diferencia temporal de
arribo entre dos sensores (micr ofonos en el caso de se nales de audio), para la localizaci on de
la fuente. Un arreglo muy com un es el mostrado en la Fig. 5.1, donde dos micr ofonos proveen
de la estimaci on en un eje, y otros dos en su correspondiente eje perpendicular. Con esta
conguraci on mnima se asegura una localizaci on angular completa, pues dos micr ofonos
en un mismo eje pueden determinar la magnitud del angulo de incidencia con respecto al
plano que forman, pero no pueden determinar su signo correcto.
La medici on directa del ITD es bastante compleja; en general, todos los m etodos de lo-
calizaci on realizan una medici on indirecta del mismo. Bas andose en esa medici on indirecta,
varios algoritmos pueden proponerse para obtener una estimaci on robusta contra el ruido o
variaciones del sensor, por ejemplo.
Una aproximaci on al problema ampliamente usada para generar una medici on indirecta
es medir la diferencia temporal entre el cruce de las se nales con uno o varios valores de
referencia, siendo la m as tpica y sencilla la de cruce por cero. Algunas propuestas relacionan
las diferencias temporales y espaciales de la onda ac ustica viajante para obtener la estimaci on
del retardo, utilizando sistemas discretos de se nal mixta (ver [50]), mientras que otros optan
por aplicar alg un m etodo digital, derivado de las t ecnicas de correlaci on cruzada (ver [38,
76, 77]) propuestas en [78]. En el caso de sistemas digitales de bajo consumo de potencia, la
frecuencia del reloj y el factor de actividad de los circuitos se ven limitadas por el consumo
de potencia tope y deben por ello minimizarse. Ello implica una restricci on en la cantidad de
posible mediciones hechas durante cada ciclo de la se nal de entrada. Adem as, la precisi on en
110
E
O
N
S
d
M
1
M
2
M
3
M
4
Fuente sonora
Fig. 5.1: Arreglo b asico de cuatro micr ofonos, M
1
, M
2
, M
3
y M
4
, para estimaci on de angulo de
arribo de una fuente sonora.
la adquisici on de la se nal usada para la generaci on de las medidas indirectas de retardo tiene
un impacto decisivo en la complejidad (y, por ende, en los requerimientos de potencia) de los
circuitos resultantes. El tama no de la palabra de datos determina el tama no y la disipaci on de
potencia del convertidor A/D y de los bloques de procesamiento internos (lneas de retardo,
sumadores, multiplicadores, etc.) a su vez. En [79] y [80] los autores prueban que el espectro
de potencia de ciertas se nales est a relacionado con el espectro de sus versiones innitamente
recortadas por una funci on no lineal. En particular, para la localizaci on de se nales de audio
de banda limitada, una cuantizaci on de 1 bit de la amplitud de las se nales puede llevarse a
cabo con un sacricio mnimo en la precisi on, como se muestra en [38]. Una consecuencia
directa de esto es la reducci on en el tama no el circuito. Hay dos CIs que siguen esta lnea en
la literatura (ver [76, 77]), donde se usan lneas de retardo basadas en cadenas de registros
para almacenar muestras de la se nal de entrada, necesarias para determinar el ITD a trav es
de la derivada de la correlaci on cruzada. El requerimiento de resoluci on temporal dene la
velocidad del reloj, y en consecuencia la tasa de muestreo, mientras que el rango de medici on
dene la longitud de las lneas de retardo. La actividad de las lneas de retardo, que se mueven
con el reloj principal a 200kHz, imponen unan cota inferior en el consumo de potencia de
los CI. Los datos almacenados en las lneas de retardo, m as especcamente, el n umero de
cuentas entre cambios de bit en las se nales en ambas cadenas de registros, se usa como una
medida indirecta del ITD. En particular, el CI presentado en [38] realiza una integraci on
durante una ventana de tiempo de un segundo para obtener una estimaci on. Usando, por
otra parte, la informaci on de la medida indirecta del ITD como entrada, diferentes tipos de
algoritmos de ltrado, estimaci on o de control pueden usarse para producir una estimaci on
robusta en una ventana de tiempo similar o menor.
111
En este captulo, se proponen algoritmos para obtener un estimador adecuado para la
localizaci on de fuentes de audio impulsivas, del tipo caracterstico del disparo de un arma de
fuego, con frecuencias en el rango [200-1200Hz] y una duraci on de no m as de 200ms. En
la Secci on 5.2 se hace un repaso de t ecnicas para la estimaci on de retardos usando cadenas
de registros como lneas de retardo. En la Secci on 5.3 se propone una estructura de lazo
cerrado para estimar el retardo, sin usar cadenas de retardo, que ha sido reportado en [81].
En la Secci on 5.4 se propone un estimador de retardo basado en un ltro lineal de Kalman.
En la Secci on 5.5 se propone un estimador alternativo, basado en un algoritmo de b usqueda
binaria.
5.2. Descripci on funcional de estimadores usando lneas de
retardo
Esta secci on presenta material de base sobre arquitecturas de baja potencia para la me-
dici on del ITD basadas en cadenas de retardo, como introducci on para las arquitecturas
propuestas.
5.2.1. Correlaci on cruzada (CC)
La estructura paralela est andar para mediciones del ITD consiste en un banco de regis-
tros de retardo. Una de las se nales entra por el banco y se retrasa en una muestra en cada
unidad de correlaci on de bit; la otra entra en la unidad de bit sin ning un retardo, como se
muestra en la Fig. 5.2.
1
st
2
nd i
th
x
1
(t)
x
2
(t)
x
1
(t i)
y(i)
Lnea de retardo
Unidad bit de correlaci on
P
Fig. 5.2: Unidad bit de correlaci on cruzada. Una por etapa de retardo.
La se nal de entrada x
2
(t) y la se nal retrasada x
1
(t i), en la etapa i
esima
, entran en
el bloque donde se multiplican y suman en un contador. Luego de un cierto n umero de
integraci on T, la salida m axima indica el ITD estimado (ITD
e
) entre x
1
y x
2
, normalizado
112
contra el tiempo de muestreo. Esto requiere ser capaz de obtener el m aximo de la serie de
salidas de los bloques; en otras palabras,
ITD
e
= {i : y(i) > y(j), j = i} (5.1)
Esta estructura tiene la desventaja de requerir determinar el m aximo entre n valores de k
bits de ancho, lo que resulta costoso en t erminos de area y por ende potencia.
5.2.2. Derivada de la correlaci on cruzada (CCD)
La arquitectura propuesta en [76] reemplaza la unidad bit de correlaci on por una de deri-
vada de correlaci on. Cuando se detecta un cambio en x
1
antes que un cambio en x
2
, la cuenta
del sumador se incrementa. En el caso opuesto, la suma en el contadores se decrementa (Fig.
5.3).
+1
-1
Detector
de Bandera
x
2
(t)
z(i)
x
1
(t i)
P
Fig. 5.3: Unidad bit de derivada de correlaci on cruzada.
En [76] se prueba que la salida z es la derivada espacial de la correlaci on (con respecto
a la posici on del ndice). De acuerdo con esto, el ITD
e
puede obtenerse de un cambio de
signo en z.
ITD
e
= {i : sign[z(i)] = sign[z(i + 1)]} (5.2)
Esta aproximaci on reduce la complejidad (y el consumo de potencia) de la arquitectura
previa, porque se vuelve innecesario el bloque de c alculo de m aximos para las salidas de las
unidades bit de correlaci on, y tambi en porque los contadores son m as peque nos y tienen una
menor actividad (cuentan eventos a la frecuencia de la se nal de entrada, a diferencia de la
arquitectura previa, que integra usando la frecuencia de reloj principal).
Una realizaci on de este algoritmo se presenta en [77], fabricada en un proceso CMOS
est andar de 0.5 m. El CI discrimina diferencias de retardo hasta de 5s con un consumo de
apenas 12W a 2V. El CI tiene 64 etapas de retardo, por lo que el consumo de potencia por
etapa es de 187.5nW.
5.2.3. El CCD adaptivo (ACCD)
El procedimiento adaptivo propuesto por F. Martin Pirchio en su tesis de Magster [82],
publicado en [83] y conrmado experimentalmente en [84] elimina las m ultiples unidades
bit de la arquitectura CCD y deja una unica unidad de c alculo. La unidad tiene un registro
113
embebido en un sumador que mantiene el ITD
e
actual. Las dos se nales se alimentan a dos
lneas de retardo (ver Fig. 5.4).
L ogica de
decisi on
X
1
(k)
X
2
(k)
X
1
(k 1) X
2
(k 1)
X
1
(k 2) X
2
(k 2)
X
1
(k 3) X
2
(k 3)
X
1
(k i) X
2
(k i)
P
ITD
Fig. 5.4: Aproximaci on adaptiva. Las se nales se almacenan en lneas de retardo. La l ogica de decisi on
estima el ITD
e
para usarlo como puntero de una de las cadenas de retardo, mientras que se usa la
primera posici on de la cadena opuesta como referencia.
Usando una l ogica de decisi on apropiada, el sumador con ITD
e
apunta a la posici on
ITD
e
en una de las lneas, y a la primera posici on en la otra lnea de retardo. Cuando se
detecta un cambio en una de las se nales en la posici on ITD
e
, el circuito analiza la otra
se nal. Si se observa el mismo cambio, entonces las se nales est an sincronizadas y el ITD
e
ha convergido. Si no hay cambio, ello signica que el ITD
e
no ha convergido, y la cuenta
ITD
e
se incrementa o decrementa, dependiendo del signo de la se nal opuesta.
As, se eliminan todas las unidades bit y se reemplazan por una m aquina de estados
nitos. Adem as, el circuito solo opera cuando existe un cambio en una de la se nales de
entrada.
El circuito fue fabricado en una tecnologa est andar CMOS de 0.5 m, con 128 etapas de
retardo, con un consumo de potencia medido de 15.2W a 2.5V [84], lo que implica 118nW
por etapa.
5.3. Sistema de lazo cerrado sin cadenas de retardo
Hasta ahora, se han evaluado estructuras basadas en el uso de cadenas de retardo, como
son todas aquellas basadas en la correlaci on como m etodo de estimaci on de retardos tem-
porales (ver [78]). Un aspecto destacado de estas estructuras es que se vuelve necesario un
tiempo de integraci on o de c alculo para la convergencia del sistema, que depende de la fre-
cuencia de la se nal de entrada. Es posible recortar este tiempo de integraci on sin castigar
el consumo de potencia? Una opci on es plantear primero el problema de estimaci on como
114
un sistema de control donde la entrada es el retardo a ser medido, y el error se genera como
la resta entre dicho retardo y un estado interno. Se puede demostrar que un sistema como
este es un control de modo deslizante (Sliding Mode control, [85]) que converge linealmente
a una estimaci on del ITD, con un mnimo de l ogica requerida. A diferencia de los casos
anteriores, con un sistema de este estilo no se necesitan lneas de retardo para obtener la me-
dici on indirecta del retardo a medir. La eliminaci on de estas lneas de retardo produce una
signicativa reducci on del consumo de potencia, de al menos dos ordenes de magnitud (co-
mo se comprobar a m as adelante) con respecto a las aproximaciones alternativas. Este recorte
de potencia permitir a, luego, encarar el sistema de control con algoritmos de estimaci on m as
r apidos, compensando as el crecimiento en complejidad y, por ende, en consumo.
Primero, partimos del sistema sin cadenas de retardo. Conceptualmente, el sistema de
medici on es un sistema de control como el que se ilustra en la Fig. 5.5, donde W(k) es el
estado de la estimaci on del retardo en el instante k, y se verica que
W(k + 1) = W(k) + sign(e(k))
e(k) = ITD
e
(k) W(k) (5.3)
.
Asumiendo que ITD
e
es una se nal lenta con respecto al reloj del sistema, se puede ver
que W(k) converge linealmente a ITD en a lo sumo ITDW
0
pasos, donde W
0
es el valor
inicial de W(k), ya sea una estimaci on previa o cero.
e(k)
+
+
+
sign(e(k)) z
1
ITDe(k) W(k)
Fig. 5.5: Sistema de lazo cerrado para estimar ITD.
La utilizaci on de este m etodo de control es clave dado que no es necesario obtener
|ITD
e
(k)|, sino que basta con obtener sign(ITD
e
(k) W(k)), lo cual puede hacerse sin
cadena de retardos, como se explica a continuaci on.
En la Fig. 5.6 se muestran dos se nales para el caso en que X
1
adelanta a X
2
. El retraso
instant aneo est a dado por ITD
e
. En el anco ascendente de X
1
se inicia una cuenta des-
cendente que arranca con W(k). Si W(k) > ITD
e
(k), al terminar la cuenta (cuenta=0),
entonces S = sign(ITD
e
(k) W(k)) = +1, dado que X
2
(W(k)) = 1 y la cuenta de-
ber a decrementarse por 1. Si por el contrario, W(k) < ITD
e
(k) al terminar la cuenta,
entonces S = 1, dado que X
2
(W(k)) = 0 y la cuenta deber a aumentarse en 1. En el caso
de igualdad de los ancos, S = 0 y la cuenta W(k) permanecer a constante, indicando que
se ha logrado el sincronismo entre ambas se nales.
115
X
1
X
2
(a)
(b)
k
1
t k
2
ITDe(k
1
)
ITDe(k
2
)
W(k
1
)
W(k
2
)
Fig. 5.6: Ejemplo algortimico sobre dos ondas desfasadas. Cuando se detecta un anco en X
1
,
se inicia una cuenta descendiente, empezando en W(k). En el caso (a), ITD
e
(k) > W(k). As,
S(k) = sign(ITD
e
(k) W(k)) = +1 y W(k) debe decrementarse. En el caso (b) ITD
e
(k) >
W(k), as S(k) = 1 y W(k) se incrementa. Cuando S(k) = 0, W(k) se mantiene y el sistema ha
convergido.
Este esquema (Fig. 5.7) se implementa de la siguiente manera: en el instante k, W(k) se
almacena en un registro y se inicializa un contador descendente, el que cuenta hasta alcan-
zar cero. En ese momento, W(k) se actualiza a W(k + 1) y el sistema se desactiva hasta el
siguiente anco de se nal. Es claro que la selecci on de cualquier otro tipo de control requiere
conocer el valor de ITD
e
(k), lo que signica la necesidad de cadenas de retardo para alma-
cenarlo. El uso del signo en vez del valor completo de ITD
e
(k) vuelve innecesario el uso de
cadenas de retardo, a expensas de restringir la velocidad de convergencia a un paso a la vez.
El algoritmo se mejora levemente al considerar tanto los ancos positivos como los ne-
gativos de la se nal de entrada. Multiplexores a la entrada permiten la estimaci on de retardos
negativos (adelantos) al intercambiar la referencia de entrada. El tiempo de convergencia T
c
viene dado por una simple f ormula:
T
c
=
1
2
f
clk
f
signal
|ITD W
0
| (5.4)
donde |ITDW
0
| es el cambio absoluto de retardo en la se nal del ITD a estimarse al valor
previo almacenado en W
0
.
5.3.1. Implementaci on en silicio
El algoritmo se ha implementado usando una m aquina de estados (FSM) de tres estados.
X
1
y X
2
se sincronizan y se rutean a trav es de dos multiplexores. Una peque na cadena de dos
registros (pipeline) hace posible la detecci on de transiciones (Fig. 5.7). Debido a la latencia
de la FSM, un registro extra se usa para Y
2
. Las se nales data ready y out range implementan
la interfaz del CI con la circuitera externa. La arquitectura se comprob o primero en RTL
116
usando Verilog HDL y un simulador por eventos.
El c odigo se port o luego a una FPGA, donde se veric o usando un banco de pruebas
e incluso conect andose a una unidad de sensor de direcci on tal como se describe en [86].
Dado que el contador de ndice solo se activa despu es de una transici on en la entrada, se
incluy o l ogica de latch de reloj en este contador as como en el registro de almacenamiento
(ver [87]). Esto produce una reducci on extra en el consumo del circuito, dado que el c alculo
del retardo es peque no comparado con el periodo de la se nal; por tanto, el CI est a inactivo la
mayor parte del ciclo de trabajo.
Se hizo una vericaci on extra sobre la l ogica sintetizada usando las celdas est andar pro-
vistas por el University ASIC Design Kit de Mentor Graphics, y simulaciones con el si-
mulador de Spice r apido MACH-TA de Mentor Graphics, usando para ello listados de red
extrados del layout nal. Una leve mejora fue introducida reemplazando los registros crti-
cos por celdas construidas con transistores mnimos. Una foto del chip nal se muestra en la
Fig. 5.8. El circuito total es de 3303 transistores, incluyendo los de los pads. El area nal del
chip es de 0.33mm por 0.4mm, sin incluir los pads.
Y
1
(k)
Y
1
(k 1)
Y
2
(k 1)
Y
2
(k 2)
X
1
X
1
X
2
X
2
Signo
Retardo estimado[7]
Retardo estimado
Detecci on
de cero
Det. de
Saturaci on
Contador Almacenamiento
+1
-1
1
1
0
0
D D
D Q
Q Q
Sel. Datos
FSM Control
Fig. 5.7: Arquitectura digital de lazo cerrado. N otese el retardo extra introducido en Y
2
para com-
pensar por la latencia de la m aquina de estados.
5.3.2. Vericaci on el ectrica
El CI se veric o con un banco de pruebas corriendo sobre una placa Digilent con una
FPGA Spartan3. El banco de pruebas es en realidad un sistema mnimo ensamblado alre-
dedor de un microcontrolador soft de Xilinx (picoBlaze), codicado en Verilog (ver [88]).
Alrededor del microcontrolador se codicaron m odulos de comunicaci on RS-232 (el IP se
117
Fig. 5.8: Arquitectura implementada usando celdas est andar en un proceso est andar CMOS de
0.35m. El circuito total es de 3303 transistores incluyendo los de los pads. El area nal es de 0.33mm
por 0.4mm, sin incluir pads.
PC
picoBlaze
CI bajo prueba
Matlab
RS-232
UART
FPGA Xilinx Spartan3
Selecci on y control
Generador
Generador
programable
de reloj
Datos
X1
X2
Reloj
Se nales retardadas
LFSR
7 segmentos
Fig. 5.9: Banco de pruebas implementado sobre una placa Digilent Inc. con una FPGA Spartan 3.
ha tomado de [89]), un generador de retardos con una resoluci on de 2.5s y un generador
pseudo-aleatorio de vectores basado en un LFSR (ver [90]).
Un diagrama de bloques del sistema se presenta en la Fig. 5.9. El banco de pruebas
genera un barrido pseudo-aleatorio de retardos dentro del rango completo de medici on del
chip y algunos microsegundos fuera del mismo, con un paso de 2.5s. En las Fig. 5.10 y
5.11 se muestran evaluaciones de la linealidad del CI y de su precisi on de estimaci on. El
barrido de datos completo se muestra en la Fig. 5.12. El sistema converge siempre dentro del
rango predicho por (5.4) o satura hasta que la entrada retorna al rango del circuito, donde
este empieza el seguimiento de nuevo.
La Tabla 5.1 muestra los datos de consumo de potencia medidos para esta versi on, com-
parados con otras alternativas reportadas en la literatura, en t erminos de consumo y precisi on.
118
800 600 400 200 0 200 400 600 800
800
600
400
200
0
200
400
600
800
Test de linealidad
R
e
t
a
r
d
o
[
s
]
Retardo[s]
Fig. 5.10: Test de linealidad del CI estimador de retardo por lazo cerrado. La desviaci on en los bordes
se debe al lmite de rango de 8 bits del circuito.
600 400 200 0 200 400 600
40
20
0
20
40
800 600 400 200 0 200 400 600 800
0
1
2
3
E
r
r
o
r
[
s
]
s
]
Retardo[s]
Retardo[s]
Error absoluto de estimaci on del CI
Desviaci on est andar
Fig. 5.11: Error absoluto de estimaci on, con su desviaci on est andar. Tal como se esperaba, la desvia-
ci on est andar es de 0.5 del lsb, esto es 2.5s.
Como se aprecia en la tabla, esta versi on sobrepasa el desempe no en potencia de las otras
arquitecturas. Una vericaci on funcional posterior a 1.8V, 200kHz, fue tambi en exitosa, con
un consumo total de solo 282nW, excluyendo pads. Si se considera que el CI tiene un ran-
go equivalente de 256 unidades de retardo, el consumo por etapa de retardo es de apenas
4.06nW para una alimentaci on de 3.3V, y de 1.1nW para 1.8V. Esto hace que el circuito sea
id oneo para los objetivos planteados de poseer un sensor de ultra bajo consumo.
Por otra parte, hay que mencionar el relativamente largo tiempo de convergencia del
119
0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 1
8
6
4
2
0
2
4
6
8
x 10
4
Convergencia estimador
R
e
t
a
r
d
o
[
s
e
g
u
n
d
o
s
]
t[segundos]
Fig. 5.12: Detalle de convergencia total del sistema para varios retardos aleatorios. Se observa como
el tiempo de convergencia es dependiente del retardo W
0
de la estimaci on anterior.
circuito, lo que signica una limitaci on en el caso de la localizaci on de se nales impulsivas.
Es por ello que se busc o posteriormente una mejora en este tiempo de convergencia, que no
impactara en el bajo consumo logrado con esta arquitectura.
Tabla 5.1: Comparaci on de consumo y precisi on entre la arquitectura de lazo cerrado y otros circuitos
que realizan la misma funci on.
Arquitectura Tecnologa Consumo Precisi on
Neuromorphic sound 0.5 1850W 10 s
1
localizer@5V [72]
Micropower gradient 0.5 32W 2s
ow @3V, 2kHz [50]
Derivative cross-correlator 0.5 12W 5s
@2V, 200kHz [77]
Adaptivo con lneas de retardo 0.35 5.51W 5s
@3.3V, 200kHz [84]
Arquitectura de lazo cerrado 0.35 1.04W 5s
@3.3V, 200kHz
Arquitectura de lazo cerrado 0.35 282nW 5s
@1.8V, 200kHz
Posteriormente, se incorpor o el CI en una unidad sensora de direcci on (Bearing Sensor
Unit (BSU)), dise nada en el laboratorio (ver [82]) y se llev o a un campo abierto, donde la
unidad se caracteriz o para su uso en una red de sensores de localizaci on. La BSU tiene cuatro
1
La precisi on para este circuito se obtuvo bas andose en los datos reportados para una medici on de retardo
de 100s [72].
120
micr ofonos MEMS colocados en un arreglo cuadrado que provee de un rango completo de
360
. La se nal de cada micr ofono se amplica y ltra con un ltro pasa banda de cuarto
orden, implementado con un banco de ltros a capacitores conmutados, para apareamiento
de las se nales. En este caso, la BSU est a dise nada para la localizaci on de se nales en el rango
(100-300Hz), por lo que la banda de los ltros est a en ese mismo rango. Las se nales se
cuantizan a 1 bit y se alimentan al estimador de retardo. La salida del estimador se muestrea
por una mota Mica2, que transmite luego los datos a trav es de la red inal ambrica. La red
consiste en una BSU y varios nodos sensores de picos de presi on ac ustica. Un nodo receptor
toma los paquetes de datos de la BSU y de los sensores y los alimenta a una PC corriendo
Matlab bajo un ambiente TinyOs. En la Fig. 5.13 se muestra la distribuci on planteada para
las pruebas. Un tono de 200Hz, 80dB
SPL
se us o como se nal de prueba. Se realiz o un barrido
de 360
a intervalos de 10
a 90
A
n
g
u
l
o
E
s
t
.
[
Angulo [
[
b
i
t
s
]
Angulo [
Angulo [
]
Par de mics. Norte-Sur
de estimaci on de retardo
de Estimaci on de angulo
Fig. 5.14: Resultados de mediciones angulares a campo abierto con la BSU, para un barrido de
angulo entre -90
y 90
en el eje Norte-Sur. La desviaci on est andar es menor a 4 bits para todos los
angulos; 7
en el peor caso.
Fig. 5.15: La BSU en el campo, junto con un detalle de la unidad con el CI estimador de lazo cerrado
incorporado.
122
5.4. Sistema de lazo cerrado con algoritmo de ltrado li-
neal para estimaci on
De la secci on anterior, queda claro que es posible obtener estimadores de muy bajo con-
sumo usando un sistema de lazo cerrado. Es necesario ahora cumplir con el objetivo de
realizar esa estimaci on de forma r apida, para que el dispositivo sea capaz de estimar adecua-
damente el desfase en se nales con un ancho de banda de [500-1.5kHz] con una duraci on no
superior a los 200ms. Se propone para ello un algoritmo de estimaci on optimizado, basado
en un ltro lineal de Kalman para un sistema con matrices de transici on estacionarias (al que
se llamar a de ahora en adelante: estimador lineal).
El sistema a implementar sigue la conguraci on general de bloques planteada en la Fig.
5.16.
+
(k)
z(k)
z(k|k 1)
x(k|k 1)
W
y(k) = x(k) x(k|k 1) = x(k 1|k 1)
z(k|k 1) = x(k|k 1)
x(k) = x(k|k 1) +W(k)
Fig. 5.16: Diagrama funcional simplicado del sistema. Se supone un sistema sincr onico con matri-
ces invariantes de transici on.
La entrada al sistema de comparaci on z(k) es la diferencia existente entre la medici on
de tiempo de vuelo entre un anco de la se nal Y
1
y un anco de la se nal Y
2
(o viceversa),
muestreada a intervalos k = 5s. Un sistema como el de la Fig. 5.17 estima esta diferencia,
dependiendo del orden de llegada del anco. A partir del cambio de nivel de Y
1
, el contador
mide retardos positivos. Retardos negativos indican que el sistema arranca con una detecci on
en Y
2
. El diagrama de estados de la Fig. 5.18 explicita el control de este contador.
Una vez obtenida una medici on v alida z(k), el sistema trata de hallar el retardo estimado
x(k) siguiendo el algoritmo de un ltro lineal de Kalman. El ltro completo de Kalman act ua
sobre un modelo descrito por el siguiente juego de ecuaciones [91]:
x(k) = F(k)x(k 1) + B(k)u(k) + G(k)v(k) (5.5)
z(k) = H(k)x(k) + D(k)w(k)
123
Y
1
Flanco Y
1
Flanco Y
2
Y
2
X
2
X
1
D
D
D D D
D D D
Q
Q
Q Q Q
Q Q Q
load/clr
load/clr
load/clr
up/down
start/stop
Reg. de Salida
load
Cont. 8 bits
Control de
Contador TOF
z(k + 1)
clr
z listo
Fig. 5.17: C alculo del tiempo de vuelo (TOF). z(k + 1) es la medida entregada al estimador.
Start
Count
(!start_count)
(start_count)
load_tof
clr_Y_edge
(stop_count)
load_Y_edge
counter<=counter+1
(a)
a=(!stop_count)&(Y1_edge_reg)&(!max_count_+)
(b)
counter<=counter1
b=(!stop_count)&(Y2_edge_reg)&(!max_count_)
max_count_+==127
max_count_==128
(!stop_count)&(!(a|b))
counter<=counter
Fig. 5.18: FSMde control del contador de TOF. Las ecuaciones booleanas est an escritas en el formato
de Verilog HDL usado en la descripci on RTL. La se nal load tof carga el registro de salida e indica
a la siguiente etapa que hay datos nuevos (z listo).
124
donde
x(k) R
n
es el vector de estado
u(k) R
s
es una entrada conocida de control
v(k) R
q
es una variable aleatoria que describe la incertidumbre de evoluci on del
estado con covarianza Q(k)
F(k) es la matriz n x n de modelo de estado
B(k) es la matriz n x s entrada
G(k) es la matriz n x q de ruido
z(k) R
m
es el vector de observaci on
w(k) R
r
es una variable aleatoria que describe la incertidumbre en la observaci on,
con covarianza R(k)
H(k) es la matriz n x n de modelo de observaci on
D(k) es la matriz n x s de ruido de observaci on
Para este tipo de modelo, se puede denir el algoritmo de Kalman como un proceso
recursivo de predicci on y actualizaci on. La predicci on de la observaci on se lleva a cabo a
partir de las observaciones hechas hasta el instante k 1 y se dene como
z(k|k 1) = H(k) x(k|k 1) (5.6)
y la predicci on del estado actual se obtiene aplicando la ecuaci on del modelo
x(k|k 1) = F(k) x(k 1|k 1) + B(k)u(k) (5.7)
La innovaci on introducida por la nueva observaci on z(k) se dene como
(k) = z(k) H(k) x(k|k 1) (5.8)
La covarianza de la innovaci on es
S(k) = R(k) + H(k)P(k|k 1)H
T
(k) (5.9)
con P(k|k 1) la predicci on de la covarianza de estimaci on, R(k) la covarianza de la obser-
vaci on. Esta innovaci on, junto con la predicci on de estado, produce la estimaci on de estado
actual seg un
x(k|k) = x(k|k) + W(k)(k) (5.10)
con una covarianza de estimaci on
P(k|k) = P(k|k 1) W(k)S(k)W
T
(k) (5.11)
125
y una matriz de ganancia
W(k) = P(k|k 1)H(k)S
1
(k) (5.12)
donde la predicci on de la covarianza de estimaci on es
P(k|k 1) = F(k)P(k 1|k 1)F
T
(k) + Q(k) (5.13)
Se simplica el sistema tomando las siguientes consideraciones relativas a un ltro de
estado estacionario (o ltro ) [91]
1. El ltrado es sincr onico cuando se procesa una se nal estable por un tiempo determina-
do en que se asegura la presencia de esa se nal.
2. Las matrices de estado y de observaci on son invariantes en el tiempo.
3. Utilizamos variables escalares, no vectoriales, por lo que las matrices se transforman
en simples constantes o variables.
4. En el caso de F y H, estas constantes son iguales a 1. Las matrices de covarianza Q(k)
y R(k) se transforman respectivamente en las varianzas
2
V
y
2
W
.
5. Las matrices de covarianza de estimaci on (P(k|k)) y de ganancia (W(k)) son valores
escalares, que tienden a sendos estados estacionarios de varianza de estimaci on y de
ganancia:
2
P
y W.
De lo anterior, las ecuaciones del sistema se reducen a las expresadas en el gr aco de la
Fig.5.31, que se repiten continuaci on.
x(k|k 1) = x(k 1|k 1) (5.14)
z(k|k 1) = x(k|k 1)
x(k) = x(k|k 1) +W(k)
Para obtener la ganancia W, se aplica la ecuaci on (5.9) con las simplicaciones anotadas,
tal que la varianza de estimaci on se reduce a
2
P
(k|k 1) =
2
P
(k 1|k 1) +
2
V
(k) (5.15)
y la varianza de la innovaci on se vuelve
s(k) =
2
W
(k) +
2
P
(k|k 1) =
2
W
+
2
P
(k 1|k 1) +
2
V
(k) (5.16)
Con esta varianza de innovaci on, la ganancia W(k) es entonces
W(k) =
2
P
(k|k 1)
s(k)
=
2
P
(k 1|k 1) +
2
V
(k)
2
W
(k) +
2
P
(k 1|k 1) +
2
V
(k)
(5.17)
Puesto que la ganancia W(k) converge a un valor estable W, es posible hallar este valor
de antemano, en vez de calcularla en cada paso del ltro. Este valor se puede lograr simu-
lando el ltro fuera de lnea (lo que no requiere hacer ninguna observaci on, y precisa solo
los valores de varianza de
2
V
y
2
W
) y usar la ganancia W como constante dentro del ltro.
Todo lo anterior simplica enormemente la implementaci on circuital del ltro.
126
5.4.1. C alculo y simulaciones de variables del estimador lineal
Para ajustar el estimador, es necesario obtener valores apropiados para las varianzas de
modelo (
2
V
) y de sensor (
2
W
). Estos pueden obtenerse de mediciones sobre el medio con
los sensores ya disponibles. Se escoge un
2
V
=(2.5s)
2
(debido al error de 0.5 lsb de la
representaci on del retardo para una precisi on de 5s). Para el ruido del sensor, se podra
usar una desviaci on est andar de 4 bits (a partir de las mediciones en campo con la BSU, ver
Subsecci on 5.3.2), con un
2
W
equivalente de (20s)
2
(seg un la Fig. 5.11).
No obstante, puesto que el valor medido en campo con la BSU puede incluir factores
fsicos de ruido como el viento y sonidos circundantes indeseados, que formalmente no for-
maran parte del ruido adscribible unicamente al sensor, se decidi o utilizar un
2
W
=(2.5s)
2
.
Si bien este valor es posiblemente un subdimensionamiento de la varianza en el sensor si
se suman los efectos del ruido electr onico y de cuantizaci on introducido por los circuitos
de acondicionamiento de la se nal, se decidi o utilizarlo de todas formas, considerando que
existe la posibilidad de dejar este par ametro programable para ajustes posteriores m as nos,
mediante el uso de valores de varianza para el sensor obtenidos del modelado estadstico de
la BSU denitiva en una c amara anecoica.
El estudio preliminar de la evoluci on de la ganancia W(k) se llev o a cabo con varios va-
lores arbitrarios de retardo generados aleatoriamente y alimentados al algoritmo de Kalman.
Los resultados se muestran en la Fig. 5.19 donde se muestra la tendencia de W(k) hacia un
valor estacionario de 0.61803.
20 40 60 80 100 120
3
2
1
0
1
2
3
4
x 10
4
0 20 40 60 80 100 120 140
0.5
0.52
0.54
0.56
0.58
0.6
0.62
Retardo de entrada
Estimaci on W(k)
Estimacion W=cte
Estimaci on de retardo
Evoluci on de W(k)
R
e
t
a
r
d
o
[
s
e
g
u
n
d
o
s
]
t[segundos]
t[segundos]
W
Fig. 5.19: Ejemplo de la convergencia del sistema a una estimaci on estable para una ganancia W(k)
din amica y para W(k)=W=constante. El valor constante de W(k) es su valor calculado fuera de
lnea, que tiende a W=0.61803 para los valores de varianza usados para el modelo y el sensor.
127
5.4.2. Implementaci on en silicio
La implementaci on de los bloques de la Fig. 5.16 se subdividi o en una secci on de control
y una ruta de datos, descritas a nivel RTL en Verilog HDL, con miras a una implementaci on
digital con l ogica est andar. Para la secci on de control del circuito, se dise n o una m aquina de
estados que permitiera la programaci on de la variable de ganancia de Kalman W, a trav es de
la se nal l r (ver Fig. 5.20). Este valor de W debe sostenerse al menos dos ciclos y retirarse
antes de retirar la se nal l r. El resto de las se nales monitorean la ruta de datos y proveen del
control de los registros y de la unidad de multiplicaci on.
Se utiliz o una estructura mixta Mealy/Moore para disminuir al m aximo los estados ne-
cesarios de la FSM y, en consecuencia, la cantidad de registros de estado.
1
mult
start
data_ready
y(k)<=P+x(k1|k1)
!done
load_mult
count & !l_r
[!(count | l_r)]
load_W
W<=W_ext
l_r
1
done
P<=M*Q
M<=(zx(k1|k1))
Q<={0,W}
Fig. 5.20: FSM de control del estimador lineal. Las ecuaciones booleanas est an escritas en el formato
de Verilog HDL usado para la implementaci on RTL. Las se nales de control van a la ruta de datos del
estimador de la Fig. 5.21. La se nal count es la se nal z listo del contador TOF, e indica una cuenta
v alida en el mismo. Se utiliza una estructura mixta Mealy/Moore.
El diagrama de bloques de la ruta de datos del estimador se muestra en la Fig. 5.21.
Para la multiplicaci on por la constante W se utiliz o un multiplicador secuencial de Booth
en complemento a 2 (ver [90]), con redondeo y desplazamiento a la salida del mismo, para
ajustar la multiplicaci on en punto jo por W.
Para apreciar los efectos de la representaci on limitada a 8 bits de las estimaciones, se
estudi o el resultado de la implementaci on RTL en Verilog de la estructura completa, con los
datos tomados del simulador ModelSim de Mentor Graphics. Para limitar la complejidad
128
0
W
z listo
z(k) z(k + 1)
done
start
P
Q
M
Reg.
Reg.
Reg.
Carga W
W externo
Carga y(k)
dato listo
Mult. Sec.
y(k) = x(k)
x(k 1|k 1) = x(k|k 1) = z(k|k 1)
Fig. 5.21: Diagrama de bloques de la descripci on RTL en Verilog de la ruta de datos del estimador
lineal. El multiplicador secuencial sigue el algoritmo de Booth para n umeros en complemento a 2 (ver
[90]). Para ajustar la multiplicaci on en punto jo por W, se a nadi o un redondeo y un desplazamiento
a la izquierda de 4 bits, con extensi on de signo. Las se nales de control provienen de la FSM de la Fig.
5.20. La se nal z listo proviene del contador TOF. Si no se carga un valor de W, el estimador usa
por defecto el W=0.625 redondeado a partir del calculado para varianzas de modelo y de sensor de
(2.5s)
2
.
del sistema, se busc o la forma de representar el valor de W(k) con el menor n umero posi-
ble de bits. Se decidi o usar una representaci on de 4 bits, con lo que el valor m as cercano
representable para W es 0.625.
Se estudi o adem as el caso de utilizar una ganancia W=0.5. Para las simulaciones se
usaron retardos con un paso de 2.5s, a los que se les a nade una variaci on estoc astica normal
con un
W
de 4 bits o 25s. Los resultados se aprecian en la Fig. 5.22. El sistema converge y
provee a la vez de la posibilidad de reprogramar su W para posteriores rec alculos del mismo.
La validaci on se ejecut o a nivel de simulaci on y de FPGA con bancos de prueba ya uti-
lizados para validar los dispositivos similares fabricados antes (ver Subsecci on 5.3.2). La
sntesis se realiz o sobre la herramienta de alto nivel Design Compiler de Synopsys, utilizan-
do una biblioteca de celdas est andar para la tecnologa escogida de 0.5m, provista por la
Universidad Estatal de Oklahoma EE.UU. (para m as informaci on sobre este kit de dise no,
ver [92]).
Uno de los objetivos fue el de optimizar la l ogica para el menor consumo de potencia po-
sible. Se utiliz o la opci on provista por Design Compiler de insertar l ogica de latch en la se nal
de reloj para disminuir el consumo din amico, como parte de los controles de optimizaci on
disponibles. Sobre las netlists de sntesis generadas por Design Compiler, se llevaron a cabo
nuevas simulaciones de vericaci on, antes de trasladarlas a las herramientas de back-end.
Para nalizar el circuito, se utiliz o la herramienta SocEncounter de Cadence para auto-
colocaci on y enrutamiento de las celdas est andar. Finalmente, se complet o el layout sobre
129
0 2 4 6 8 10 12 14 16
x 10
4
150
100
50
0
50
100
0 2 4 6 8 10 12 14 16
x 10
4
150
100
50
0
50
100
Retardo te orico
Retardo te orico
Retardo con ruido en sensor, =4 bits
Retardo con ruido en sensor, =4 bits
Retardo estimado, W=0.625
Retardo estimado, W=0.5
Estimaci on de retardo para W=0.625
Estimaci on de retardo para W=0.5
R
e
t
a
r
d
o
[
b
i
t
s
]
R
e
t
a
r
d
o
[
b
i
t
s
]
Muestras. paso=2.5s
Muestras. paso=2.5s
Fig. 5.22: Respuesta del estimador lineal implementado a nivel RTL en Verilog. La resoluci on es
de 5s por bit, con un rango m aximo de 8 bits para una representaci on de -640/635 s. La entrada
al estimador son dos se nales retardadas con un paso de 2.5s, con un ruido blanco sumado de =4
bits. Se muestran los resultados para W=0.625 y W=0.5. El estimador es estable y converge a un
valor estacionario entre cinco y siete semiperiodos (ancos) de la se nal de entrada, dependiendo de
la ganancia usada.
Virtuoso de Cadence, donde se realizaron las conexiones necesarias para independizar la ali-
mentaci on de los pads de la de los circuitos. As es posible evaluar el consumo de la unidad
de procesamiento unicamente.
El circuito ya fabricado se muestra en la Fig. 5.23. El tama no aproximado del circuito es
de 0.419mmx0.741 mm, sin incluir los pads. El n umero de transistores usados es de 5959,
incluyendo los de los pads. Una simulaci on de comprobaci on nal, sobre un netlist Spice
extrado del layout, se llev o a cabo sobre un simulador de Fast-Spice provisto por Cadence,
estimulando el circuito con vectores extrados de las simulaciones digitales con ModelSim.
5.4.3. Vericaci on
Las mediciones se llevaron a cabo sobre el mismo banco de pruebas usado para probar la
arquitectura de lazo cerrado (ver Subsecci on 5.3.2), pero tomando solo 130 muestras en vez
de 800 por cada retardo medido. En la Fig. 5.24 se muestra un detalle del banco usado. Se
realizaron mediciones para se nales de entrada de 200Hz, para equiparar con las mediciones
del CI de lazo cerrado. En la Fig. 5.25 se observa la convergencia del circuito para distintos
130
Fig. 5.23: Fotografa del CI estimador lineal, realizado con una biblioteca de celdas est andar sobre
un proceso CMOS est andar de 0.5m. El tama no aproximado del circuito es de 0.419mmx0.741 mm,
sin incluir los pads. El n umero de transistores usados es de 5959, incluyendo los de los pads.
retardos. N otese la r apida convergencia, en 4 o 5 muestras (equivalentes a 4 o 5 ancos de la
se nal de entrada).
La linealidad del estimador lineal (ver Fig. 5.26) es la misma del estimador de lazo cerra-
do, con desviaciones solo fuera de la zona de rango. La desviaci on est andar es la esperada:
2.5 s (ver Fig. 5.27).
Fig. 5.24: Banco de pruebas usado para el estimador lineal. Las se nales de estmulo provienen de
la FPGA, que tambi en recoge los resultados del CI y los enva por RS-232 a Matlab (ver Subsec-
ci on 5.3.2 para m as detalles). En la imagen, el circuito se encuentra midiendo un retardo de 355s,
equivalente a 71 cuentas en el estimador.
Finalmente, se realizaron tambi en mediciones para se nales de 1kHz para vericar la fun-
cionalidad del estimador a esa frecuencia, m as cercana a la de las se nales reales a medir.
131
0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20
600
400
200
0
200
400
600
800
Test de convergencia
R
e
t
a
r
d
o
[
s
]
Muestras
Fig. 5.25: Detalle de las pruebas de convergencia para un patr on aleatorio de retardos sobre dos
se nales de 200Hz. N otese la r apida convergencia del estimador (en a lo sumo 5 muestras de retardo o
ancos de la se nal de entrada).
800 600 400 200 0 200 400 600 800
800
600
400
200
0
200
400
600
800
Test de linealidad
R
e
t
a
r
d
o
[
s
]
Retardo [s]
Fig. 5.26: Prueba de linealidad del estimador lineal. N otese que el sistema diverge solo en las zonas
ya fuera de su rango.
132
600 400 200 0 200 400 600
40
20
0
20
40
800 600 400 200 0 200 400 600 800
0
0.5
1
1.5
2
2.5
3
E
r
r
o
r
[
s
]
s
]
Retardo[s]
Retardo[s]
Error absoluto del CI
Desviaci on est andar
Fig. 5.27: El error del circuito est a siempre acotado a una desviaci on est andar de 2.5s, tal como se
espera.
Puesto que para se nales peri odicas el estimador solo puede medir retardos no mayores a 1/4
del perodo de la se nal (para evitar enga nos por enganche en ancos equivocados), en este
caso el dispositivo queda limitado a retardos m aximos de 250s. En la Fig. 5.28 se observa
el error respectivo. La convergencia, a diferencia del estimador de lazo cerrado de la Secci on
5.3, no depende de la frecuencia de las se nales de entrada.
El consumo medido se muestra en la Tabla 5.2 para se nales de entrada de 200Hz y
1.2kHz, para alimentaciones de 3.3 y 2V. Al comparar estos resultados contra el estimador a
lazo cerrado de la Secci on 5.3, se aprecia como la disipaci on de potencia de la arquitectura
del estimador lineal es mayor, aunque siempre acotada a unos pocos W, con el benecio
de una mucho mayor velocidad de convergencia en la estimaci on. Ello lo hace adecuado
para el problema de localizaci on de se nales impulsivas de pocas decenas de milisegundos de
duraci on.
Es necesario acotar, sin embargo, que para los efectos pr acticos, la mayor velocidad de
convergencia de este circuito hace que su consumo de energa sea equivalente al de lazo
cerrado para un c alculo determinado. Por ejemplo, de las mediciones en campo realizadas
para la BSU, se determin o que los retardos m aximos a medir oscilaban alrededor de 60
cuentas, o 300s, sobre una se nal de 200Hz. Para este retardo, seg un la Ec. (5.4), el tiempo
total para una estimaci on correcta por el estimador de lazo cerrado es de
T
conv
= 0.5
200kHz
200Hz
|300s| = 150ms
133
400 300 200 100 0 100 200 300 400
40
20
0
20
40
250 200 150 100 50 0 50 100 150 200 250
0
0.5
1
1.5
2
2.5
3
E
r
r
o
r
[
s
]
s
]
Retardo[s]
Retardo[s]
Error absoluto del CI
Desviaci on est andar
Fig. 5.28: Error del circuito estimador lineal para medici on de retardos entre dos se nales de 1kHz.
El retardo m aximo a medir es de 250s, y est a siempre acotado a una desviaci on est andar de 2.5s.
Tabla 5.2: Consumo nal del CI estimador de retardo basado en ltro lineal de Kalman (excluidos
pads). Aunque el consumo est a por encima del alcanzado por el circuito de lazo cerrado de la Secci on
5.3, este queda siempre acotada a unos pocos W, con el benecio de una mucho mayor velocidad de
convergencia en la estimaci on.
Frecuencia Consumo A Potencia W Consumo A Potencia W
de se nal de entrada 3.3V@200kHz 3.3V@200kHz 2V@200kHz 2V@200kHz
200Hz 2.93 9.8 1.64 3.3
1.2kHz 5.14 11.6 1.82 3.65
Para este tiempo, el consumo de energa del estimador de lazo cerrado ser a de
E = 150ms 1.04W = 156nJ
Para este mismo retardo, usando el estimador Kalman y suponiendo un m aximo de seis
ancos de la se nal de entrada como peor caso para su convergencia a una estimaci on correcta,
el consumo de energa equivalente sera de
E = 0.5 6 (200Hz)
1
9.8W = 147nJ
Es decir, que si la alimentaci on al estimador es administrada de forma que solo se le aplique
cuando se requiere una estimaci on, se puede lograr con el estimador de Kalman un consumo
134
nal menor o a lo sumo equivalente que con el estimador de lazo cerrado. Algo que se puede
mejorar a un m as portando el estimador de Kalman a la misma tecnologa de 0.35 m usada
para implementar el estimador de lazo cerrado.
Como ultimo punto, se comprob o tambi en la programabilidad de la constante W. En la
Fig. 5.29 se aprecia la convergencia del CI para distintos valores cargados de W. Se corrieron
las mismas pruebas anteriores para estos valores, que no se muestran por ser redundantes.
La programabilidad provee entonces de cierta exibilidad en el circuito, en caso en que los
valores optimos de ganancia se modiquen al variar las condiciones de ruido en los sensores
que se utilicen.
0 50 100 150
6
4
2
0
2
4
6
x 10
4
W=0.75
W=0.5
W=0.625
R
e
t
a
r
d
o
[
s
e
g
u
n
d
o
s
]
t[segundos]
Convergencia en funci on de W
Fig. 5.29: Vericaci on de la programabilidad de la constante W y comparaci on de la convergencia
para distintos valores de la misma.
5.5. Sistema de lazo cerrado con algoritmo de b usqueda bi-
naria para la estimaci on del retardo
Como una alternativa extra de implementaci on de estimadores de retardo, se propuso el
mismo sistema de lazo cerrado, pero con un algoritmo de b usqueda binaria para la estimaci on
(al que se llamar a de ahora en adelante: estimador binario). La ventaja de usar este algoritmo
es que no se necesita conocer el valor en s del retardo medido entre las se nales de entrada
Y
1
y Y
2
, sino solo el signo del error existente entre ese retardo y el estimado: x(k), siguiendo
135
lineamientos similares a los de la Secci on 5.3. El sistema as planteado sigue la conguraci on
general planteada en la Fig. 5.30.
estimador
y(k)
x(k)
x(k + 1)
Reg.
Reg.
Algoritmo
Y
1
Y
2
sign(e(k))
Fig. 5.30: Diagrama de bloques de un estimador binario. El circuito usa una estructura de detecci on
de signo de error, similar a la usada en el estimador de lazo cerrado de la Secci on 5.3. No es necesario
conocer o medir el retardo entre las se nales de entrada Y
1
y Y
2
. Solamente el error entre ese retardo y
el estimado:x(k).
Por facildades de reutilizaci on, sin embargo, se decidi o aprovechar el detector de tiempo
de vuelo implementado para el estimador lineal, y generar el signo del error por medio de un
comparador de magnitudes, en vez del detector usado en la implementaci on de la Secci on
5.3. Esta modicaci on se muestra en la Fig. 5.31. As, z(k) es la diferencia existente entre
la medici on de tiempo de vuelo entre un anco de la se nal Y
1
y un anco de la se nal Y
2
(o
viceversa), muestreada a intervalos k = 5s. El sistema ya descrito en la Fig. 5.17 estima
esta diferencia, y la comparaci on entre z(k) y x(k) se alimenta al algoritmo de b usqueda
binaria (ver Fig. 5.32).
A la primera medici on de z(k) (una cuenta de TOF iniciada por un anco v alido en Y1
o Y2), el sistema trata de hallar el retardo estimado x(k + 1) siguiendo un algoritmo de
b usqueda binaria, a partir de la comparaci on sucesiva de las se nales actuales z(k) y x(k +
1). Cada anco siguiente, avanza una iteraci on en el algoritmo, hasta que z(k) = x(k) o
se cumplen siete iteraciones de b usqueda (lo que ocurra primero). Cumplida alguna de las
condiciones anteriores, el c alculo se alimenta a la salida y(k). El procedimiento se detalla
en el diagrama de estados de la Fig. 5.32. La primera comparaci on verica si el valor de
entrada es positivo o negativo. La raz de b usqueda se situa en la mitad del rango posible (64
para 7 bits), y con cada iteraci on este valor se divide entre dos. Puesto que este algoritmo es
sim etrico, el valor de retardo estimado estar a siempre en el rango 127 y(k) 127.
Es claro que, en t erminos de velocidad de convergencia, el usar ya sea un sensor de
carrera libre o un esquema similar al de la Secci on 5.3 para generar el signo del error no
ofrece diferencia alguna, al estar dicha velocidad determinada por el algoritmo de b usqueda
en s. Por ello se muestran los resultados obtenidos para comparar contra el estimador lineal.
Una posterior implementaci on de este estimador binario, siguiendo un esquema similar
136
>
<
=
y(k)
estimador
z(k)
x(k)
x(k + 1)
Reg.
Reg.
Algoritmo
Y
1
Y
2
Det. anco
Cont. TOF
Fig. 5.31: Diagrama de bloques de la ruta de datos del estimador binario alterno, descrito en Verilog
HDL. El circuito utiliza el contador TOF ya usado en el estimador lineal y un comparador de magnitud
para generar el signo del error 5.3.
a=[(i==0) | (x==z)]&count
Start
Compare
b=[!(i==0)] & (z>x)&count
c=[!(i==0)] & (z<x)&count
root<=root/2
i<=i1
x<=x+root
i<=i1
root<=root/2
y<=x
x<=xroot
root<=64
i<=7
x<=0
(!count)
(a)
(c)
(b)
(1)
Fig. 5.32: Detalle del algoritmo de b usqueda binaria para estimaci on del retardo. El algoritmo se
escribe como una m aquina de estados mixta Mealy/Moore para ahorrar estados. Las ecuaciones boo-
leanas est an escritas en el formato de Verilog HDL.
137
al de la Secci on 5.3, podra signicar una mejora en el consumo de este circuito (si bien
la diferencia entre la estructura de la Fig. 5.30 y la de la Fig. 5.31 en t erminos de recursos
l ogicos a usar no parece determinante a primera vista). La misma no se llev o a cabo por
razones de tiempo, toda vez que la misma puede vericarse sobre una FPGA y que, en la
situaci on actual, no aporta una diferencia notable para las intenciones de esta tesis.
5.5.1. Dise no y vericaci on
La unica diferencia de este circuito con respecto al del estimador lineal, es la sustituci on
en el c odigo RTL Verilog de la ruta de datos de la Fig. 5.21 por una m aquina de estados
que implemente el algoritmo de b usqueda binario (Fig. 5.32) y a nadir un comparador de
magnitud a la salida del contador TOF. Las pruebas y simulaciones corridas por tanto se
ejecutaron con los mismos bancos de prueba. La FSM se implement o como una m aquina de
estados mixta (Mealy/Moore) para disminuir el n umero de estados necesarios. Un ejemplo
de estimaci on de retardos se muestra en la Fig. 5.33.
0 0.5 1 1.5 2 2.5
x 10
5
150
100
50
0
50
100
150
Retardo estimado
Retardo te orico
Retardo con ruido en sensor, =4 bits
Estimaci on de retardo
R
e
t
a
r
d
o
[
b
i
t
s
]
Muestras. paso=2.5s
Fig. 5.33: Respuesta del estimador por b usqueda binaria implementado a nivel RTL en Verilog. La
resoluci on es de 5s por bit, con un rango m aximo de 8 bits para una representaci on de -635/635 s.
El sistema converge siempre en 8 o 16 ancos de se nal. Esto lo hace levemente m as ineciente que el
estimador basado en un ltro lineal.
Se us o el mismo ujo de dise no y la misma biblioteca de celdas est andar que se describe
en la Subsecci on 5.4.2. Igualmente, se introdujeron las opciones de optimizaci on de potencia
mediante inserci on de l ogica de latch en el reloj de los registros. En la Fig. 5.34 se aprecia
el circuito luego de su fabricaci on en una tecnologa CMOS est andar de 0.5s. El tama no
138
aproximado del circuito es de 0.39mm x0.675 mm, sin incluir el area de los pads. El n umero
de transistores usados fue de 4274, incluyendo los de los pads.
Fig. 5.34: Fotografa del CI de estimaci on de retardo basado en b usqueda binaria, realizado con una
biblioteca de celdas est andar sobre un proceso CMOS est andar de 0.5m. El tama no aproximado del
circuito es de 0.39mm x0.675 mm, sin incluir el area de los pads. El n umero de transistores usados
fue de 4274, incluyendo los de los pads.
Se utiliz o el mismo banco de pruebas de la Subsecci on 5.4.3. La convergencia del CI se
graca en la Fig. 5.35. Notar que cada muestra aqu equivale a 8 ancos de las se nales de
entrada. Los resultados de las pruebas en t erminos de error absoluto y desviaci on se muestran
en la Fig 5.37. El consumo nal del circuito es levemente inferior al del estimador lineal. Esto
puede optimizarse introduciendo el sensor de signo en vez del medidor de retardo libre, dada
la menor complejidad del primero. Pero la velocidad de convergencia del estimador binario
es inferior a la del estimador lineal en al menos 3 muestras de retardo para el mejor de los
casos, y hasta 11 muestras para el peor.
Tabla 5.3: Consumo nal del CI estimador de retardo basado en un algoritmo de b usqueda bina-
ria(excluidos pads). El consumo es levemente menor que el del estimador lineal. No obstante, su
velocidad de convergencia es superior (entre 8 y 16 muestras del retardo).
Frecuencia Consumo A Potencia W Consumo A Potencia W
de se nal de entrada 3.3V@200kHz 3.3V@200kHz 2V@200kHz 2V@200kHz
200Hz 2.4 8 1.34 2.69
1.2kHz 4.47 9.96 1.41 2.82.
139
2120 2140 2160 2180 2200 2220 2240 2260 2280 2300
600
400
200
0
200
400
600
Time [ms]
Test de convergencia
R
e
t
a
r
d
o
[
s
]
Medida
Referencia
Fig. 5.35: Detalle de convergencia del algoritmo binario. Cada valor medido equivale a un ciclo de
iteraci on del algoritmo (ocho muestras de retardo).
800 600 400 200 0 200 400 600 800
800
600
400
200
0
200
400
600
800
Test de linealidad
R
e
t
a
r
d
o
[
s
]
Retardo [s]
Fig. 5.36: Prueba de linealidad del estimador binario.
140
600 400 200 0 200 400 600
40
20
0
20
40
800 600 400 200 0 200 400 600 800
0
0.5
1
1.5
2
2.5
3
E
r
r
o
r
[
s
]
s
]
Retardo[s]
Retardo[s]
Error absoluto del CI
Desviaci on est andar
Fig. 5.37: El error del circuito est a siempre acotado a una desviaci on est andar de 2.5s, tal como se
espera.
5.6. Conclusiones
En este captulo se han descripto las estrategias de estimaci on de retardo basadas en
lneas de retardo existentes en la literatura, y se han propuesto tres alternativas basadas en
sistemas de lazo cerrado para estimar retardos en se nales ac usticas en el rango de frecuencias
[200-1200Hz]:
Se ha visto como una arquitectura de lazo cerrado sustituye con exito las arquitectu-
ras basadas en cadenas de registros usados como lneas de retardo, para la estimaci on
de retardo en dos se nales digitales. El algoritmo ha sido desarrollado y comprobado
en una tecnologa CMOS est andar de 0.35m, con una precisi on similar a las ob-
tenidas en otras implementaciones, y con un consumo resultante de solo 1.04W a
3.3V@200kHz, 282nW a 1.8V@200kHz (sin incluir pads). El CI ha sido utilizado
con exito como parte de un nodo localizador de angulo, dentro de una red inal ambri-
ca de sensores. El circuito es funcional para la detecci on de retardos en se nales en
el rango [100-1000Hz], con un tiempo de convergencia y precisi on similares a los de
implementaciones alternativas. El mismo ha sido reportado en [81]. Sin embargo, este
mismo tiempo de convergencia le impide una detecci on ecaz de se nales impulsivas
tales como las producidas por disparos de armas de fuego (con frecuencias dominantes
situadas alrededor de 1000Hz, con una duraci on no superior a los 200ms).
Se ha estudiado un algoritmo de estimaci on de retardo basado en un ltro lineal de
141
Kalman, y se ha simplicado el mismo para llevarlo a una arquitectura digital de muy
bajo consumo, en la que se han aplicado t ecnicas conocidas de ahorro de potencia en
circuitos digitales. El algoritmo ha sido desarrollado y comprobado en una tecnologa
CMOS est andar de 0.5m, con una precisi on similar a las obtenidas en implementa-
ciones con especicaciones de precisi on equivalentes y con un consumo resultante de
9.8W a 3.3V@200kHz, 3.3W a 2V@200kHz, para se nales de entrada de 200Hz
(sin incluir pads). El circuito tiene una respuesta de convergencia no superior a 5 o 6
muestras de retardo (o ancos de la se nal a detectar), y permite un ajuste de su cons-
tante principal de ltrado, para adaptar el mismo a distintas condiciones de ruido. A
pesar de su consumo superior al estimador de lazo cerrado, su rapidez y programabi-
lidad de convergencia lo hacen ideal para la localizaci on en ambientes selv aticos de
se nales impulsivas de corta duraci on. Por otra parte, no es necesario que este bloque
funcione todo el tiempo, sino solo cuando se detecte un disparo. Esto signica que en
determinadas condiciones este estimador puede consumir menos energa que el esti-
mador de lazo cerrado, al requerir mucho menos tiempo para converger a un resultado
correcto.
Se ha estudiado un estimador basado en un algoritmo de b usqueda binaria, al que se le
han aplicado t ecnicas conocidas de ahorro de potencia en circuitos digitales. El algo-
ritmo se ha desarrollado y comprobado en una tecnologa CMOS est andar de 0.5m,
con una precisi on similar a las obtenidas en implementaciones con especicaciones
de precisi on equivalentes y con un consumo de 8W a 3.3V@200kHz, 2.69W a
2V@200kHz, para se nales de entrada de 200Hz (sin incluir pads). El circuito tiene
una respuesta de convergencia siempre situada entre 8 y 16 muestras de retardo (o
ancos de la se nal a detectar), lo que le hace levemente inferior al estimador lineal.
El estimador puede optimizarse en t erminos de area sustituyendo la l ogica de medi-
ci on de retardo de entrada por un simple detector de signo similar al de la arquitectura
de lazo cerrado, lo que signicara un recorte en el consumo, pero sin mejoras en el
tiempo de convergencia.
Captulo 6
Conclusiones y aportes
142
143
A continuaci on, se desglosan los principales aportes y conclusiones de este trabajo,
as como las futuras lneas de trabajo que se desprenden del mismo:
La detecci on de se nales ac usticas impulsivas tales como las de disparos de armas de
fuego puede realizarse mediante un algoritmo de detecci on que tome en cuenta los
s ubitos cambios de energa contra un umbral de energia adaptivo.
Un sistema de detecci on de se nal por umbral adaptivo es eciente seg un la teora de
detecci on de se nales dependiendo del acondicionamiento o procesamiento previo de
la se nal a detectar.
Los ltros apareados o de correlaci on contra una plantilla, como procesamiento previo
de se nal, son de una alta efectividad para la detecci on por umbral adaptivo de ondas
ac usticas impulsivas superior al 90 %, con un porcentaje de fallos nulo, pero su
realizaci on electr onica es de alta complejidad.
El procesamiento por ltros discretos o continuos de onditas permiten una detecci on
por umbral adaptivo de ondas ac usticas impulsivas relativamente eciente levemente
inferior a un 90 %, con un porcentaje de fallos alrededor del 7 %, a cambio de una
implementaci on relativamente sencilla.
Se ha construido la primera versi on de un circuito de procesamiento continuo por on-
ditas utilizando un banco paralelo de ltros pasa banda Gm-C y una unidad de c alculo
de energa, con un consumo relativamente bajo de 21.46W a 3V, usando una tecno-
loga est andar CMOS de 0.5m. La vericaci on el ectrica del circuito muestra que es
funcional. Sucesivas mejoras apuntan a disminuir su consumo y mejorar su ecien-
cia de detecci on: en primer t ermino, disminuyendo los problemas de offset hallados,
mediante el cambio de la topologa de salida de los bancos de ltros para asegurar un
mejor apareamiento de los dispositivos de salida. En segundo t ermino, disminuyendo
el efecto de las capacidades par asitas el nodo com un de interconexi on de los ltros
pasabanda, introduciendo buffers en cada secci on para evitar la interferencia de la ca-
pacidad par asita con las constantes de tiempo deseada. En tercer lugar, reajustando las
dimensiones del banco de capacitores para evitar la recalibraci on excesiva de los va-
lores de g
m
de los OTAs, y as evitar a su vez el aumento del consumo. A futuro, una
vez evaluada la unidad fabricada contra un conjunto de muestras equivalente al usado
en el estudio algortimico, se podr a completar todo el sistema detector con un ltro de
promedio deslizante incorporado ya en el chip.
Se ha construido una escalera discreta de ltros de onditas Haar usando ltros de
capacitores conmutados. Simulaciones han mostrado su alta precisi on (un error abso-
luto inferior al 1.5 %) y relativo bajo consumo, en el orden de 40 W a 3V@14kHz.
La vericaci on el ectrica del mismo permitir a determinar si es posible disminuir este
consumo sin afectar su precisi on. Una mejora sucesiva deber a incluir una unidad de
c alculo de energa y un ltro de promedio deslizante para completar el detector.
144
Se ha mostrado un circuito con un consumo de 1.04W a 3.3V@200kHz, 282nW
a 1.8V@200kHz, capaz de calcular el retardo entre dos se nales digitales, usando un
simple algoritmo de lazo cerrado en una tecnologa est andar CMOS de 0.35m. El cir-
cuito supera el desempe no en consumo de los circuitos con similares especicaciones
de precisi on y tiempo de estimaci on hallados en la literatura, y ha sido comprobado co-
mo parte de un nodo de una red inal ambrica de sensores para la localizaci on de fuentes
sonoras peri odicas. Su relativamente lenta velocidad de convergencia dependiente de
la frecuencia de las se nales de entrada, limita no obstante su aplicabilidad a la locali-
zaci on de se nales impulsivas.
Se ha mostrado un circuito con un consumo de 9.8W a 3.3V@200kHz y 3.3W a
2V@200kHz, capaz de calcular el retardo entre dos se nales digitales en apenas cuatro
o cinco ancos de las se nales de entrada, usando un algoritmo simplicado de ltro
lineal de Kalman en una tecnologa est andar CMOS de 0.5m. La programabilidad
de la ganancia de este estimador lineal permite adem as adaptar el circuito a distintas
condiciones de ruido en la electr onica de acondicionamiento de se nal y del ambiente
mismo. La rapidez de convergencia del circuito independiente de la frecuencia de las
se nales de entrada lo vuelve id oneo para la localizaci on de se nales impulsivas, ergo,
de muy corta duraci on.
Se ha mostrado un circuito con un consumo de 8W a 3.3V@200kHz y 2.69W a
2V@200kHz, capaz de calcular el retardo entre dos se nales digitales en apenas ocho o
diecis eis ancos de las se nales de entrada, usando un algoritmo de b usqueda binaria en
una tecnologa est andar CMOS de 0.5m. La rapidez de convergencia del circuito sig-
nica que puede usarse para la localizaci on de se nales impulsivas, si bien su velocidad
de convergencia es menor a la del estimador lineal. Una mejora en el circuito podra
disminuir relativamente su consumo, al cambiar su sensor de error por una topologa
m as simple de detecci on de signo de error, sin alterar su velocidad de convergencia.
Las unidades de localizaci on pueden integrarse dentro del sensor de detecci on de dis-
paros, de forma que su funcionamiento se limite solo a aquellas ocasiones en que el
detector indique la presencia de un fen omeno impulsivo (simplemente proveyendo la
alimentaci on y los relojes a las unidades de localizaci on en dicho caso). Ello implicara
un consumo a un m as restringido.
Lneas futuras de trabajo apuntan a la integraci on en un solo CI de los circuitos de
detecci on y los circuitos localizadores, y su incorporaci on dentro de un nodo sensor
completo, que realice las tareas de clasicaci on y conexi on de radio frecuencia con la
red. Asmismo, se debe arrancar con el desarrollo de la interfaz de estos nodos con la
capa superior de red para el debido proceso de la informaci on.
Ap endice A
Vericaci on de condiciones de
admisibilidad de un polinomio
pasabanda de orden tercero utilizado
como funci on de ondita continua.
145
146
A.1. Introducci on
En este ap endice se verica el cumplimiento de las condiciones para considerar como
una funci on de ondita a un polinomio del tipo
(s)
n
=
2
n
s
1
(1 +
2
n1
s
1
)
2
(1 +
2
n
s
1
)
(A.1)
Este polinomio tiene para n=1 una respuesta temporal al impulso igual a
(t) = 2
1
(1 +
1
t)e
1
t
2
1
e
1
t/2
(A.2)
que se ejemplica, para las bandas de inter es de la Tabla A.1, en la Fig. A.1. La denici on
de estos requerimientos puede hallarse en [40].
Tabla A.1: Diadas del banco de ltros en paralelo propuesto en el captulo 3. Cada ltro est a basado
en el polinomio descrito por la ecuaci on A.1, para
1
= 2
3
3
= 2
4
4
= 2
5
5
= 14000rad/s
Coeciente n Banda de Frec. (Hz)
3 875-437.5
4 437.5-218.75
5 218.75-128.375
147
0 1 2 3 4 5
x 10
3
2000
1000
0
1000
2000
0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01
1000
500
0
500
1000
0 0.005 0.01 0.015 0.02
500
0
500
A
m
p
l
i
t
u
d
A
m
p
l
i
t
u
d
A
m
p
l
i
t
u
d
t(segundos)
t(segundos)
t(segundos)
Respuesta impulsiva de 3er coef.
Respuesta impulsiva de 4to coef.
Respuesta impulsiva de 5to coef.
Fig. A.1: Respuesta al impulso para los coecientes 3, 4, 5. Frecuencia
1
= 14000rad/s
A.2. Integraci on a cero en tiempo innito
La primera condici on a cumplir es que la ondita tenga un valor medio nulo en el tiempo.
Formalmente, hay que vericar que
_
+
0
(t)dt = 2
1
_
+
[(1 +
1
t)e
1
t
e
1
t/2
]u(t)dt
= 2
1
_
+
0
[(1 +
1
t)e
1
t
e
1
t/2
]dt
= 2
1
_
_
+
0
(1 +
1
t)e
1
t
dt
_
+
0
e
1
t/2
dt
_
(A.3)
148
Resolviendo las integrales por separado
_
+
0
(1 +
1
t)e
1
t
dt =
_
+
1
e
1
ue
u
du
1
con u = 1 +
1
t
=
e
1
1
lm
M+
_
M
1
ue
u
du
=
e
1
1
lm
M+
[e
u
(u + 1)]
M
1
=
e
1
1
lm
M+
_
ue
u
M
1
+e
u
M
1
_
=
e
1
1
_
0 e
1
+ 0 e
1
_
=
2
1
(A.4)
y
_
+
0
e
1
t/2
dt = lm
M+
_
M
0
e
1
t/2
dt
= lm
M+
2
1
e
1
t/2
M
0
=
2
1
(A.5)
por lo que
_
+
0
(t)dt = 2
1
_
2
1
_
= 0 (A.6)
Es decir, que la funci on cumple este requisito.
A.3. Pertenencia de (t) a L
2
(R) (energa nita)
Se tiene una funci on del tipo
(t) = 2
1
(1 +
1
t)e
1
t
2
1
e
1
t/2
Puede verse que
|(t)| 2
1
|1 +
1
t|e
1
t
+ 2
1
e
1
t/2
2
1
(1 +
1
t)e
1
t/2
+ 2
1
e
1
t/2
, pues
1
2
<
1
e
1
2
t
> e
1
t
= 4
1
(1 +
1
t
2
)e
1
t/2
(A.7)
Entonces
|(t)|
2
16
2
1
(1 +
1
t
2
)
2
e
1
t
(A.8)
149
y por lo tanto
_
+
0
|(t)|
2
dt 16
2
1
_
+
0
_
1 +
1
t
2
_
2
e
1
t
dt
= 32
1
e
1
1
lm
M
_
M
1
u
2
e
u
du, con u = 1 +
1
t
2
= 32
1
e
1
1
lm
M
(u
2
e
u
2ue
u
2e
u
)
M
1
= 32
1
e
1
1
_
lm
M
(M
2
e
M
2Me
M
2e
M
) + (1 + 2 + 2)e
1
_
= 160
1
(A.9)
y por lo tanto (t) L
2
(R).
A.4. Pertenencia de
() a L
2
(R)
|()|
2
= |
1
|
4
2
(
2
1
+
2
)
2
(
2
1
+ 4
2
)
|
1
|
4
2
(
2
1
+
2
)
3
(A.10)
Entonces:
_
+
|()|
2
d |
1
|
4
_
+
2
(
2
1
+
2
)
3
d
= 2|
1
|
4
_
+
0
2
(
2
1
+
2
)
3
d
= 2|
1
|
4
_
_
1
0
2
(
2
1
+
2
)
3
d +
_
+
1
2
(
2
1
+
2
)
3
d
_
(A.11)
Si se llaman a estos t erminos
I
1
=
_
1
0
2
(
2
1
+
2
)
3
d (A.12)
e
I
2
=
_
+
1
2
(
2
1
+
2
)
3
d (A.13)
Como la funci on
h() =
2
(
2
1
+
2
)
3
(A.14)
es una funci on continua en [0, 1] entonces es integrable en dichos intervalo; luego resulta que
I
1
existe.
150
V ease entonces si I
2
es convergente. En este caso, > 1. Y adem as,
2
1
+
2
2
(A.15)
Entonces:
2
(
2
1
+
2
)
3
2
6
1
4
(A.16)
Luego,
_
+
1
2
(
2
1
+
2
)
3
d
_
+
1
1
4
d (A.17)
y se sabe que la integral del miembro derecho es convergente.
Por lo tanto
() L
2
(R)
A.5. Condici on de admisibilidad
Hay que vericar que
_
+
1
|
()|
2
||
d < (A.18)
() =
j
1
(1 +
j
1
)
2
(1 +
2j
1
)
=
2
1
j
(
1
+ j)
2
(
1
+ 2j)
(A.19)
|
()| =
2
1
||
(
2
1
+
2
)
_
(
2
1
+ 4
2
)
(A.20)
Entonces:
|
()|
2
=
4
1
||
2
(
2
1
+
2
)
2
(
2
1
+ 4
2
)
(A.21)
y
_
+
()|
2
||
d = 2
4
1
_
+
0
||
(
2
1
+
2
)
2
(
2
1
+ 4
2
)
d (A.22)
Hay que ver si esta integral es convergente.
2
1
+ 4
2
2
1
+
2
, (A.23)
por lo tanto
1
2
1
+ 4
2
1
2
1
+
2
(A.24)
151
entonces
||
(
2
1
+
2
)
2
(
2
1
+ 4
2
)
||
(
2
1
+
2
)
3
(A.25)
Si se prueba que
_
+
0
||
(
2
1
+
2
)
3
=
_
+
0
(
2
1
+
2
)
3
< (A.26)
resulta que
_
+
()|
2
||
d = 2
4
1
_
+
0
||
(
2
1
+
2
)
2
(
2
1
+ 4
2
)
d < (A.27)
_
+
0
(
2
1
+
2
)
3
d = lm
M
_
M
0
(
2
1
+
2
)
3
d
= lm
M
1
4(
2
1
+
2
)
2
M
0
=
1
4
1
< (A.28)
A.6. Localizaci on en tiempo y frecuencia
Se tiene que vericar si existe un tal que
|(t)| C(1 +|t|)
1
, > 0 (A.29)
|
()| C(1 +||)
1
, > 0 (A.30)
para una funci on
(t) = 2
1
(1 +
1
t)e
1
t
2
1
e
1
t/2
(A.31)
Se vio en la secci on A.3 que
| (t)| 4
1
_
1 +
1
t
2
_
e
1
t/2
. (A.32)
Entonces, si probamos que existe > 0 tal que
4
1
_
1 +
1
t
2
_
e
1
t/2
C (1 +t)
1
, t 0, (A.33)
queda demostrada la desigualdad (A.32).
Ahora bien, probar la desigualdad (A.33) es equivalente a probar que existe > 0 tal que
4
1
(1 +t)
1+
_
1 +
1
t
2
_
e
1
t/2
C, t 0. (A.34)
Dado que lm
t+
4
1
(1 +t)
1+
_
1 +
1
t
2
_
e
1
t/2
= 0, dado
0
> 0 jo, existe T > 0
tal que
152
4
1
(1 +t)
1+
_
1 +
1
t
2
_
e
1
t/2
<
0
, t > T, (A.35)
cualquiera sea > 0.
Por otra parte, la funci on h (t) = 4
1
(1 +t)
1+
_
1 +
1
t
2
_
e
1
t/2
es continua en el inter-
valo [0, M]; luego alcanza los extremos absolutos en ese intervalo, es decir existe t
M
[0, T]
tal que
h (t) h (t
M
) , t [0, T] . (A.36)
Si tomamos ahora C = max {
0
, h (t
M
)}, resulta la desigualdad (A.34) cualquiera sea
> 0. Hemos probado entonces (A.33), cualquiera sea > 0, t [0, +).
Probemos ahora la desigualdad (A.33). En este caso,
()
=
2
1
||
(
2
1
+
2
) (
2
1
+ 4
2
)
1/2
2
1
||
(
2
1
+
2
) (
2
1
+
2
)
1/2
(A.37)
2
1
||
(1 +
2
)
3/2
, pues
1
> 1.
Demostraremos entonces que existe > 0 tal que
2
1
||
(1 +
2
)
3/2
K
(1 +||)
1+
, R. (A.38)
Probar la desigualdad (A.38) es equivalente a probar que existe > 0 tal que
(1 +||)
1+
2
1
||
(1 +
2
)
3/2
K, R. (A.39)
Ahora bien, el lm
||
(1 +||)
1+
2
1
||
(1+
2
)
3/2
= 0 si 1 + < 2, es decir cualquiera sea
, 0 < < 1.
Entonces, si jamos
1
> 0, existe > 0 tal que
(1 +||)
1+
2
1
||
(1 +
2
)
3/2
<
1
, si || > . (A.40)
Por otra parte, la funci on g () = (1 +||)
1+
2
1
||
(1+
2
)
3/2
es continua en [, ]. Por lo
tanto, existe
M
tal que
g (w) g (
M
) , [, ] . (A.41)
Tomando K = max {
1
, g (
M
)}, queda probada la desigualdad (A.39) y, por lo tanto,
la desigualdad (A.38), cualquiera sea R y (0, 1).
Ap endice B
An alisis de ltros sim etricos de
diferenciado y de promedio deslizantes,
construidos con ltros balanceados a
capacitores conmutados.
153
154
En este ap endice se presenta con detalle el an alisis de dos de las estructuras de capacitores
conmutados que realizan las operaciones discretas descritas en el Cap. 4, para una escalera
de ltros de Haar.
B.1. An alisis de un circuito de promedio deslizante
La Ec. 4.24 describe la obtenci on del coeciente 2 de aproximaci on para la escalera
de ltros propuesta en el Cap. 4. Se muestra con detalle el an alisis de c omo realizar esta
ecuaci on con un ltro de capacitores conmutados.
Se tiene el circuito ya propuesto en el Cap. 4 que se repite por comodidad en la Fig. B.1,
al que se excita con una secuencia de relojes como la descrita en la Fig. B.2. Se realiza el
an alisis para cuatro ciclos de
1
. Se consideran relojes ideales:
1
=
1e
, 4X
1
= 4X
1e
,
2
=
1
y 4X
2
= 4X
1
.
V
in
P
V
in
N
V
mid
V
mid
Vos
2
2
1e
1e
4X
1e
4X
1e
4X
1
4X
1
4X
2
4X
2
C
2
C
2
C
1
VoutN
VoutP
Fig. B.1: Circuito que realiza un ltrado por aproximaci on en dos niveles, para obtener el coeciente
CA
2
. El diagrama de tiempos de los relojes necesarios se muestra en la Fig. B.2. La relaci on de
capacitores de este circuito es de (C
1
/C
2
=0.5).
155
2
4X
1
4X
2
Fig. B.2: Secuencia ideal de relojes para conmutaci on del circuito de la Fig. B.1.
Primer ciclo:
1
,
2
, 4X
1
, 4X
2
=1010
En este ciclo de conmutaci on, la rama superior del circuito hace un primer muestreo de
la se nal de entrada en el capacitor C
1
, mientras que la segunda carga un valor CD en el
capacitor C
1
. Los capacitores C
2
y C
2
se limpian a un valor CD conocido, tal como se
muestra en la Fig. B.3.
VoutN
VoutP
V
in
P
V
mid
V
mid
V
mid
Vos
Vos
C
2
C
1
C
2
C
1
Fig. B.3: Circuito equivalente para el primer ciclo, con
1
,
2
, 4X
1
, 4X
2
=1010
As,
q
C
1
= (V
in
P
1
V
os
)C
1
q
C
1
= (V
mid
V
os
)C
1
(B.1)
mientras que
q
C
2
= (V
mid
V
os
)C
2
q
C
2
= (V
mid
V
os
)C
2
(B.2)
156
donde V
os
es la tensi on a la salida del Operacional inversor con su salida y entrada cortocir-
cuitadas, V
mid
es el valor de CD en que vienen montadas las se nales a procesar (tpicamente
V DD/2).
Segundo ciclo:
1
,
2
, 4X
1
, 4X
2
=0101
En el segundo ciclo, el circuito resultante es el que se aprecia en la Fig. B.4. Para este
circuito, la tensi on en el nodo intermedio de cada rama queda clavada en V
os
, y en la rama
superior
q
C
1
= (V
mid
V
os
)C
1
(B.3)
lo que signica que se produce una transferencia o d ecit de carga en este capacitor con
respecto a la carga que tena en el ciclo anterior, igual a
q
C
1
= (V
in
P
1
V
mid
)C
1
(B.4)
Este d ecit de carga en C
1
implica que el mismo ha sido absorbido por C
2
, as que ahora
q
C
2
= (V
mid
V
os
)C
2
+ (V
in
P
1
V
mid
)C
1
(B.5)
VoutN
VoutP
V
in
N
V
mid
C
2
C
1
C
2
C
1
Fig. B.4: Circuito equivalente para el segundo ciclo, con
1
,
2
, 4X
1
, 4X
2
=0101
Entretanto, en la rama inferior, se toma una segunda muestra de la se nal de entrada
q
C
1
= (V
in
N
2
V
os
)C
1
(B.6)
lo que signica que se produce un cambio de carga en este capacitor
q
C
1
= (V
mid
V
in
N
2
)C
1
(B.7)
Este cambio de carga en C
1
ha sido entonces absorbido por C
2
, as que ahora
q
C
2
= (V
mid
V
in
N
2
)C
1
+ (V
mid
V
os
)C
2
(B.8)
157
Tercer ciclo:
1
,
2
, 4X
1
, 4X
2
=1001
El circuito conmuta y se transforma ahora en el que se aprecia en la Fig. B.5. N otese que
C
2
y C
2
no se limpian, sino que mantienen la carga del ciclo anterior, mientras que C
1
toma una tercera muestra de la tensi on de entrada y C
1
se carga a un valor CD conocido. As
q
C
1
= (V
in
P
3
V
os
)C
1
q
C
1
= (V
mid
V
os
)C
1
(B.9)
VoutN
VoutP
V
in
P
V
mid
Vos
Vos
C
2
C
1
C
2
C
1
Fig. B.5: Circuito equivalente para el tercer ciclo, con
1
,
2
, 4X
1
, 4X
2
=1001
Cuarto ciclo:
1
,
2
, 4X
1
, 4X
2
=0101
De nuevo, el circuito conmuta a la conguraci on de la Fig. B.4. En este ciclo, en la rama
superior
q
C
1
= (V
mid
V
os
)C
1
(B.10)
lo que signica que hay un cambio de carga en este capacitor
q
C
1
= (V
in
P
3
V
mid
)C
1
(B.11)
Esta diferencia de carga se aloja en C
2
, por lo que
q
C
2
= (V
mid
V
os
)C
2
+ (V
in
P
1
V
mid
+ V
in
P
3
V
mid
)C
1
= (V
mid
V
os
)C
2
+ (
V
in
P
1
+
V
in
P
3
)C
1
(B.12)
donde
V
in
P
x
es la muestra de la tensi on de entrada desprovista de su valor de tensi on CD
V
mid
.
Por un an alisis similar, puede comprobarse que en la rama inferior, para este ciclo
q
C
2
= (V
mid
V
os
)C
2
+ (V
mid
V
in
N
2
+ V
mid
V
in
N
4
)C
1
= (V
mid
V
os
)C
2
(
V
in
N
2
+
V
in
N
4
)C
1
(B.13)
158
Sabiendo que C
1
= C
1
y C
2
= C
2
, y que
V
C
2
= V
out
P V
os
=
q
C
2
C
2
V
C
2
= V
out
N V
os
=
q
C
2
C
2
(B.14)
se tiene a las respectivas salidas de cada rama
V
out
P V
os
= V
mid
V
os
+ (
V
in
P
1
+
V
in
P
2
)(C
1
/C
2
)
V
out
P = V
mid
+ (
V
in
P
1
+
V
in
P
2
)(C
1
/C
2
) (B.15)
y
V
out
N = V
mid
(+
V
in
N
2
+
V
in
N
4
)(C
1
/C
2
) (B.16)
Puesto que la salida es balanceada
V
out
= V
out
P V
out
N = (
V
in
P
1
+
V
in
P
3
+
V
in
N
2
+
V
in
N
4
)(C
1
/C
2
) (B.17)
y si se cortocircuitan V
in
P y V
in
N a una misma tensi on V
in
, entonces
V
out
= V
out
P V
out
N = (
V
in1
+
V
in2
+
V
in3
+
V
in4
)(C
1
/C
2
) (B.18)
que es equivalente a la Ec. 4.24, cuando (C
1
/C
2
)=0.5.
B.2. An alisis de un circuito de diferenciado deslizante
La Ec. 4.33 describe la obtenci on del coeciente 4 de detalle para la escalera de ltros
propuesta en el Cap. 4. Se muestra con detalle el an alisis de c omo realizar esta ecuaci on con
un ltro de capacitores conmutados.
Se tiene el circuito ya propuesto en el Cap. 4 que se repite por comodidad en la Fig. B.6,
al que se excita con una secuencia de relojes como la descrita en la Fig. B.7. Se realiza el
an alisis para ocho ciclos de
1
. Se consideran relojes ideales:
1
=
1e
, 4X
1
= 4X
1e
.
Puesto que
2
=
1
y 4X
2
= 4X
1
, los mismos no se muestran en la tabla de conmutacio-
nes por comodidad de notaci on. Las tensiones de entrada se suponen balanceadas. Es decir:
V
in
= V
in
P V
in
N
Primer ciclo:
1
, 4X
1
,
1
+,
1
=1110
Se realiza el an alisis sobre la rama positiva o superior. La rama inferior sigue un proceso
id entico. El valor de los relojes del primer ciclo transforma el circuito en el que se observa
en la Fig. B.8. Este circuito realiza un primer muestreo de la tensi on de entrada, a la vez que
limpia el capacitor C
2
de valores anteriores de c alculo que se hayan acumulado en el. Se
159
V
in
P
V
in
P
V
in
N
V
in
N
V
mid
V
mid
Vos
1
+
1
+
1e
1e
4X
1e
4X
1e
4X
1
4X
1
4X
2
4X
2
C
2
C
2
C
1
VoutN
VoutP
Fig. B.6: Circuito que realiza un ltrado por detalle de dos niveles, para obtener el coeciente cD
4
.
La relaci on de capacitores es C
1
/C
2
=0.5 y el diagrama de tiempos de los relojes necesarios se muestra
en la Fig. B.7.
2
4X
1
4X
2
1
+
Fig. B.7: Secuencia ideal de relojes para conmutaci on del circuito de la Fig. B.6.
hallan para este ciclo las siguientes relaciones de transferencia de carga q en los capacitores
C
1
y C
2
de la rama superior:
q
C
1
= (V
in
P
1
V
os
)C
1
q
C
2
= (V
mid
V
os
)C
2
(B.19)
donde V
os
es la tensi on a la salida del Operacional inversor con su salida y entrada cortocir-
cuitadas, V
mid
es el valor de CD en que vienen montadas las se nales a procesar (tpicamente
V DD/2). Se observa como se toma una primera muestra de V
in
P, mientras que el valor de
160
carga en C
2
queda determinado por dos valores de tensi on constantes. Lo mismo ocurre en
la rama sim etrica inferior, con la diferencia de que la tensi on muestreada en C
1
es V
in
N
1
.
VoutP
V
in
P
V
mid
Vos
C
2
C
1
Fig. B.8: Circuito equivalente para el primer ciclo, con
1
, 4X
1
,
1
+,
1
=1110.
Segundo ciclo:
1
, 4X
1
,
1
+,
1
=0000
El circuito conmuta a su modo de evaluaci on y se transforma en el de la Fig. B.9. La
tensi on en el nodo intermedio queda clavada en V
os
. En C
1
entonces
q
C
1
= (V
mid
V
os
)C
1
(B.20)
VoutP
V
mid
C
2
C
1
Fig. B.9: Circuito equivalente para el segundo ciclo, con
1
, 4X
1
,
1
+,
1
=0000.
Lo anterior signica que se ha producido una transferencia o diferencia de carga
q
C
1
= (V
in
P
1
V
os
V
mid
+ V
os
)C
1
=
V
in
P
1
C
1
(B.21)
donde
V
in
P
1
es la tensi on de entrada desprovista de su valor de tensi on CD V
mid
. Esta dife-
rencia de carga ha tenido que alojarse en el capacitor C
2
, por lo que ahora su carga es
q
C
2
= (V
mid
V
os
)C
2
+
V
in
P
1
C
1
(B.22)
As, la tensi on en C
2
es en este ciclo de conmutaci on
V
C
2
= V
out
P V
os
=
q
C
2
C
2
= V
mid
V
os
+
V
in
P
1
(C
1
/C
2
) (B.23)
y por lo tanto
V
out
P = V
mid
+
V
in
P
1
(C
1
/C
2
) (B.24)
Un an alisis similar, en la parte inferior del circuito, conduce igualmente a que
V
out
N = V
mid
+
V
in
N
1
(C
1
/C
2
) (B.25)
en este ciclo de conmutaci on.
161
Tercer ciclo:
1
, 4X
1
,
1
+,
1
=1010
El circuito conmuta al de la Fig. B.10. Aqu C
2
no se limpia sino que mantiene la carga
acumulada en el ciclo anterior. En C
1
se tiene ahora
q
C
1
= (V
in
P
2
V
os
)C
1
(B.26)
es decir, se toma una segunda muestra de la tensi on V
in
P. Entretanto, la rama inferior toma
una segunda muestra de V
in
N.
VoutP
V
in
P Vos
C
2
C
1
Fig. B.10: Circuito equivalente para el tercer ciclo, con
1
, 4X
1
,
1
+,
1
=1010.
Cuarto ciclo:
1
, 4X
1
,
1
+,
1
=0000
El circuito de nuevo conmuta al estado de evaluaci on de la Fig. B.9. Puesto que se en el
ciclo anterior se ha mantenido el valor de carga en C
2
, y ahora por la rama superior
q
C
1
= (V
in
P
2
V
os
V
mid
+ V
os
)C
1
=
V
in
P
2
C
1
(B.27)
entonces
q
C
2
= (V
mid
V
os
)C
2
+ (
V
in
P
1
+
V
in
P
2
)C
1
(B.28)
y la tensi on en C
2
es
V
C
2
= V
out
P V
os
=
q
C
2
C
2
= V
mid
V
os
+ (
V
in
P
1
+
V
in
P
2
)(C
1
/C
2
) (B.29)
y por lo tanto
V
out
P = V
mid
+ (
V
in
P
1
+
V
in
P
2
)(C
1
/C
2
) (B.30)
mientras que, por un proceso similar, para la rama inferior
V
out
N = V
mid
+ (
V
in
N
1
+
V
in
N
2
)(C
1
/C
2
) (B.31)
en este ciclo de conmutaci on.
162
Quinto ciclo:
1
, 4X
1
,
1
+,
1
=1001
Se vuelve al estado de muestreo en C
1
y de mantenimiento en C
2
. N otese, sin embargo,
que ahora es
1
el que conmuta. Esto signica que en este ciclo las muestras negativas
se toman por la rama superior, mientras que por la rama inferior se toman las positivas. Es
decir, el circuito resultante para la rama superior es el mismo de la B.8, pero la tensi on de
entrada es ahora V
in
N. As, se tiene que
q
C
1
= (V
in
N
3
V
os
)C
1
(B.32)
o sea, le tercera muestra de V
in
N, mientras que en la rama inferior se toma la tercera muestra
de V
in
P.
Sexto ciclo:
1
, 4X
1
,
1
+,
1
=1001
Se eval ua de nuevo. As, para la rama superior
q
C
1
= (V
in
N
3
V
os
V
mid
+ V
os
)C
1
=
V
in
N
3
C
1
(B.33)
por lo que ahora
q
C
2
= (V
mid
V
os
)C
2
+ (
V
in
P
1
+
V
in
P
2
+
V
in
N
3
)C
1
(B.34)
y por lo tanto
V
out
P = V
mid
+ (
V
in
P
1
+
V
in
P
2
+
V
in
N
3
)(C
1
/C
2
) (B.35)
mientras que en la rama inferior
V
out
N = V
mid
+
V
in
N
1
+
V
in
N
2
+
V
in
P
3
)(C
1
/C
2
) (B.36)
Ciclos s eptimo y octavo
Se repiten los ciclos quinto y sexto, con el mismo procedimiento. Al nal de los mismos,
en la rama superior
V
out
P = V
mid
+ (
V
in
P
1
+
V
in
P
2
+
V
in
N
3
+
V
in
N
4
)(C
1
/C
2
) (B.37)
mientras que en la rama inferior
V
out
N = V
m
id +
V
in
N
1
+
V
in
N
2
+
V
in
P
3
+
V
in
P
4
)(C
1
/C
2
) (B.38)
En este instante, la tensi on de salida
V
out
= V
out
P V
out
N
= (
V
in
P
1
+
V
in
P
2
+
V
in
N
3
+
V
in
N
4
V
in
N
1
V
in
N
2
V
in
P
3
V
in
P
4
)(C
1
/C
2
)
= (V
in1
+ V
in2
V
in3
V
in4
)(C
1
/C
2
) (B.39)
163
que es equivalente a la Ec. 4.33, cuando (C
1
/C
2
)=0.5.
De la misma manera, pueden analizarse los circuitos para los coecientes 3 y 5. La se-
cuencia ser a producto unicamente de los diferentes diagramas de tiempos de los relojes apli-
cados (Fig. 4.52), con las diferencias de escala ya indicadas en el Cap. 4, para las relaciones
de capacitores usadas.
Bibliografa
[1] N. Hern andez, P. Alvarado, and M. G. S aenz. Collection of gun and chainsaw sounds
in a tropical forest. CD-ROM. Escuela de Ingeniera Electr onica, Instituto Tecnol ogico
de Costa Rica., Agosto 2006.
[2] M. G. S aenz Meza. Reconocimiento de patrones ac usticos para la protecci on del am-
biente utilizando wavelets y modelos ocultos de Markov. Informe de Proyecto de Gra-
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