Clase 1 - Metrologia Dimensional - UNSAM - 2022

Cátedra de Metrología
METROLOGÍA DIMENSIONAL
Es la parte de la Metrología que se encarga de estudiar las magnitudes geométricas: lineales y

angulares, las unidades de medida y los métodos de medición que determinan estas magnitudes.
¿por qué es importante el estudio y aplicación de la Metrología Dimensional?
Metrologia Legal Intercompatibilidad Intercompatibilidad

(Cúbito egipcio) (autopartes) (SAOCOM 1ª - INVAP)
CONTROL DE CALIDAD EN LA FABRICACIÓN MECÁNICA

Permite:
▪ Garantizar el aseguramiento metrológico de los instrumentos y sistemas de medición
que intervienen en el proceso productivo. TRAZABILIDAD
▪ Comprobar dimensiones y forma geométrica y acabado superficial de las piezas.
▪ Comprobar posiciones relativas entre las superficies y la calidad en la terminación de los
componentes mecánicos, cuyos valores se expresan en unidades de longitud y ángulos.
▪ Espesor
Longitud ▪ Profundidad
▪ Altura
Dimensiones
▪ Interiores
Ángulo
▪ Exteriores
Macrogeometría Formas ▪ Rectitud
▪ Redondez/Cilindridad
Magnitudes Físicas ▪ Paralelismo

Posición
▪ Perpendicularidad
Geometría de la pieza
(medición y verificación)
Acabado superficial ▪ Planitud
Micro y Nanogeometría ▪ Rugosidad
▪ Ondulación
Nanometrología
DEFINICIÓN UNIDAD DE LONGITUD
Promulgada el 20 de mayo de 2019
El metro, cuyo símbolo es m, es la unidad de longitud del SI. Se

lo define estableciendo el valor numérico fijo de la velocidad de
la luz en el vacío, c, igual a 299 792 458 cuando es expresada en
unidades de m s-1, donde el segundo es definido en términos de
la frecuencia del cesio ΔνCs.
26° CGPM (Nov. 2018)

Un recorrido por la
historia de la definición
UNIDAD DE LONGITUD
PATRONES MATERIALES PATRONES INMATERIALES
~ 100 años ~ 100 años
longitud de onda, 
Cuadrante del Metres des Barra de

meridiano Archives (platino) Kr86 Mise en Pratique
platino-iridio
terrestre ( 60 µm) ( 2 µm) ( 1 nm) ( 0,1 nm) ( 0,02 nm)
)
Patrones diversos 1791 1792 1799 1875 1889 1983
1960 1975 1983 2019
Expedición de Convención del metro Constantes

Sin patrón
definido Dalambre y Mechain fundamentales
c = 299 792 458 m/s
Cabello humano  80 µm = 80 000 nm

Cada definición está redactada cuidadosamente de forma que
DEFINICIÓN resulte única, comprensible y proporcione una base teórica sólida
para realizar medidas con exactitud y reproducibilidad máximas.
CONCEPTOS IMPORTANTES
La realización práctica de la definición de la unidad es el

REALIZACIÓN
procedimiento experimental que permite establecer el valor y
la incertidumbre asociada a dicha unidad.
REALIZACIÓN UNIDAD DE LONGITUD
Métodos primarios para la realización práctica de la definición del metro

Mise en Pratique-metre (MeP)-Appendix 2-Si Brochure
𝟏
Existen dos rangos: 𝝀=𝒄𝑻=𝒄
𝝂
Grandes distancias Distancias cortas
Esto requiere de un principio de medición que establezca una relación entre el tiempo de recorrido de la luz en
el vacío y la longitud a medir. Para ello existen básicamente tres métodos:
a) Método 1: la medición directa de una diferencia de tiempo recorrido (tiempo de vuelo)
b1) Método 2: la determinación de una longitud de onda (), conociendo la frecuencia *
b2) Método 3: la medición indirecta de una diferencia de tiempo recorrido (interferometría óptica) *
Nota *: usando láseres y radiaciones recomendadas por MeP.

REALIZACIÓN UNIDAD DE LONGITUD GRANDES DISTANCIAS ( l > 1 m)
a) Método 1: medición directa de una diferencia de tiempo recorrido, tiempo de vuelo (MeP - Appendix 2)
l = distancia que se desea medir

c: velocidad de la luz en el vacío
t: diferencia de tiempo recorrido
Aplicaciones espaciales
Realización entre una longitud y la diferencia

de tiempo en que la luz la recorre. t es aproximadamente 2,6 segundos
De esta forma se pudo comprobar, que la distancia media entre la
Luna y la Tierra aumenta anualmente en aproximadamente 3,8 cm
https://www.bipm.org/utils/en/pdf/si-mep/SI-App2-metre.pdf
https://www.nist.gov/nist-time-capsule/any-object-any-need-call-nist/moon-and-back-25-seconds
REALIZACIÓN UNIDAD DE LONGITUD GRANDES DISTANCIAS ( l > 1 m)
a) Método 1: medición directa de una diferencia de tiempo recorrido, tiempo de vuelo (MeP - Appendix 2)
Otras aplicaciones
❑ Geodesia
Taquímetros
GNSS
❑ Medidores comerciales de longitud
IMPORTANTE: corrección por índice de refracción, (presión, temperautura, humedad)

Si no se tiene en cuenta, se tiene un aumento de unos 300 µm/m
https://www.bipm.org/utils/en/pdf/si-mep/SI-App2-metre.pdf/
https://www.ptb.de/cms/fileadmin/internet/publikationen/ptb_mitteilungen/mitt2016/Heft2/Experimentos_para_el_nuevo_SI.pdf
REALIZACIÓN UNIDAD DE LONGITUD DISTANCIAS CORTAS (z < 1 m)
b1) Método 2: determinación de una longitud de onda (), conociendo la frecuencia (MeP - Appendix 2)
Esta es la realización del metro más común utilizada por los Institutos Nacionales de Metrología
Patrón Nacional
Láser de He-Ne estabilizado por
de Longitud
absorción saturada con celda de I2
f = (473 612 353,60 ± 0,01) MHz

= (632,991 212 58 ± 0,000 000 01) nm (rojo)
Exactitud ~ 2 x 10-11
Comparación Internacional,
MANTENIMIENTO
(CCL-K11, NRC, 2009.)
b2) Método 3: medición indirecta de tiempo recorrido usando interferometría (MeP - Appendix 2)
Interferometría
Breve reseña del experimento de Michelson y Morley
Interferencia
https://www.youtube.com/watch?v=uawZjrU3d1M
Ondas de luz
UNIDAD DE LONGITUD
LUZ: onda electromagnética
El campo eléctrico
La intensidad
c: velocidad de la luz en el vacío

1 : longitude de onda
Teoría de ondas 𝜆=𝑐𝑇=𝑐 : frecuencia de la onda de luz
𝜈 T: período de la onda de luz
b2) Método 3: medición indirecta de tiempo recorrido usando interferometría (MeP - Appendix 2)
Teoría de ondas
Se mide el tiempo en forma indirecta a
partir del desfasaje de ondas de luz.
: desfasaje entre ondas
N: número de franjas de interf.

Grandes distancias ( l > 1 m) 𝚫 ∝ 𝑵 Conteo de franjas
𝒄
𝝀=
𝝂
𝝀𝒂𝒊𝒓𝒆 Medición indirecta
𝒄
∆𝒛 = 𝑵 del tiempo ∆𝒛 = 𝑵
𝟐𝝂
𝟐
Patrones de interferencia
(reglas de luz) Resultado de la medición
por interferometría
1 = 644 nm
INTERFERÓMETROS 
2= 508 nm
También se debe corregir por índice de refracción
(láseres) https://www.bipm.org/utils/en/pdf/si-mep/SI-App2-metre.pdf/
ÍNDICE DE REFRACCIÓN
Correcciones usando ecuaciones empíricas
Es una propiedad del medio, que enlentece la velocidad Ecuación de Edlén acrualizada
de la luz, y en consecuencia afecta a la longitud de onda. (Birch & Downs (1998))
Dispersión,  es el número de onda en µm-1 (=1/)
𝜆𝑣𝑎𝑐𝑖𝑜 Adimensional
𝜆𝑎𝑖𝑟𝑒 = n(, p, T, Hr, CO2)
𝑛
Fracción molar de CO2
Parámetro Variación Cambio en índice de Temperatura t/°C & presión p/Pa

refracción
Presión (1013 ± 25) hPa 6,75 x 10-6
Temperatura (20 ± 2) °C 1,84 x 10-6
Humedad (50 ± 15) % 1,5 x 10-7 Humedad, presión parcial de vapor f/Pa
L=5 mm => 33 nm
L=100 mm => ~ 0,7 µm
DISEMINACIÓN
DISEMINACIÓN DE FRECUENCIAS
Láseres patrón
He-Ne estabilizado por
absorción saturada con
celda de I2
CALIBRACIÓN DE LÁSERES
Láseres secundarios
He-Ne estabilizado por

efecto Zeeman (633 nm)
f  10-9
He-Ne estabilizado por efecto

Zeeman (543 nm)
  10-8
DISEMINACIÓN PATRÓN NACIONAL DE TIEMPO
CALIBRACIÓN DE LÁSERES
Aspectos Frecuencia Longitud de onda

Método Batidos interferométrico Reloj atómico
de Cesio
Alcance solo láseres rojos (633 nm) espectro visible
Incertidumbre relativa 10-10 10-8
Corrección índice de refracción No Si
Montaje Sencillo Más complejo
Método por batidos Método interferométrico

DISEMINACIÓN
DISEMINACIÓN DE FRECUENCIAS
PEINE DE FRECUENCIAS ÓPTICAS
Láser de
bombeo
532 nm
Láser pulsos
ultracortos Fibra
FFT Frecuencias visibles estables

trazables al reloj de Cs
El peine de frecuencias, un láser de pulsos ultra cortos me sirve para trasferir la exactitud en
frecuencia del reloj de Cs, (patrón de tiempo) a las frecuencias ópticas recomendadas para la
realización del metro.
REALIZACIÓN REALIZACIÓN SECUNDARIA DEL METRO
Recomendaciones del CCL NANOESCALA y SUBNANOMÉTRICA
✓ A partir del parámetro de red del silicio e interferometría de rayos X.
https://www.bipm.org/utils/common/pdf/CC/CCL/CCL-GD-MeP-1.pdf
✓ A partir del parámetro de red del silicio y micrsocopia de transmisión

de electrones (TEM)
✓ A partir de escalones monoatómicos de superficies de silicio cristalino
¿CÓMO SE PASA DE LA DEFINICIÓN DEL
METRO A MEDICIONES
DIMENSIONALES?
PATRONES MATERIALIZADOS
PATRONES LINEALES
ÍNDICE
❑ Bloques patrón
Inventados en 1896 por el Ing. Sueco Carl Edward Johansson (1864-1943)
Cuerpos prismáticos macizo de precisión. Superficies lapeadas (calidad
espejo). Juegos de dimensiones escalonadas.
Materiales: acero, cerámica, carburo de tungteno
Uso: calibración de instrumentos, calibre, micrómetro, barra de seno,
máquinas herramientas, etc
Presentación
Longitud nominal < 100 mm
❑ 11 piezas (10 BP + plano óptico; especial p/ micrómetros)

❑ 43 piezas
❑ 86 piezas
❑ 112 piezas
❑ 122 piezas
Longitud nominal > 100 mm
❑ 125 mm ❑ 500 mm
❑ 150 mm ❑ 600 mm
❑ 175 mm ❑ 700 mm
❑ 200 mm ❑ 800 mm
❑ 250 mm ❑ 900mm
❑ 300 mm ❑ 1000 mm
❑ 400 mm
ISO 3650:1998, Geometrical Product Specification-Length Standard-Gauge Block
1. Alcance
2. Referencias Normativas
3. Definiciones
4. Nomenclatura de las caras
5. Base de medida, trazabilidad, condiciones de referencia Cara de medición
6. Dimensiones generales, propiedades del material, marcado

7. Requisitos metrológicos
8. Calibración de bloques de medida
PATRONES MATERIALIZADOS CTE: coeficiente de expansión térmica
BLOQUES PATRON: Propiedades según material constructivo

Material Ventaja Desventaja
Acero
CET (α) similar al acero de partes metalmecánicas Dureza media (se daña fácilmente)
(~11,5 x 10-6 °C-1) Sensible a corrosión
Costo-prestación adecuada Requiere mantenimiento
Cerámica
Muy duro CET (α) muy distinto al acero de partes metalmecánicas (~9,7 x 10-6 °C-1)
No requiere mantenimiento Difícil adherencia
Resistente a la corrosión Altamente quebradizo
Carburo de tungsteno
Muy duro
CET (α) muy distinto al acero de partes metalmecánicas (~4,3 x 10-6 °C-1)
Resistente a la corrosión
Alta densidad
Excelente adherencia
Altamente quebradizo
Carburo de cromo
Extremadamente duro CET (α) muy distinto al acero de partes metalmecánicas (~8,4 x 10-6 °C-1)
Resistente a la corrosión Altamente quebradizo
Excelente adherencia Precio elevado
BLOQUES PATRÓN
Adherencia
Propiedad de las caras de medida de los BP de pegarse ¿Cómo armar pilas de bloques patrón?
a otras caras de medida o superficies auxiliares de
1) Evitar el uso de los bloques patrón más delgados
acabado superficial similar (fuerzas moleculares)
(para evitar su deterioro)
2) Procurar emplear no más de cinco bloques patrón
3) Orden de selección: 1° los valores más pequeños:
milésimas -> centésimas -> décimas….
Buena planitud de las
caras de medida 4) Colocar los bloques patrón más delgados del grupo
en el medio y los más grandes en los extremos.
Es posible combinarlos de tal forma

de conseguir cualquier longitud
para calibrar o medir otros objetos
BLOQUES PATRÓN
Adherencia: armado de pila de bloques
Poner en contacto las caras de

medición de los BP a adherir
formando un ángulo recto
Se aplica una pequeña fuerza

mientras se gira suavemente uno
sobre otro
Se desliza suavemente
uno sobre otro hasta
hacerlos coincidir
BLOQUES PATRÓN
Armado de pila de bloques
Ejemplo: queremos materializar 55,826 mm y contamos con un juego de bloques patrón de 112 piezas.
1) 55,826 mm 0,006 mm
1,006 mm
2) 55,826 mm
1,32 mm
n° L (mm)
3) 55,826 mm 1 1,006
1,5 mm
2 1,32
3 1,5
4) 55,826 mm 4 2
2 mm
5 20
50
6 30
5) 55,826 mm TOTAL 55,826 mm

50 mm ó (20 + 30) mm
BLOQUES PATRÓN
Cuidados
➢ Evitar dejar los BP en atmósferas húmedas, ácida o con polvo abrasivo.

➢ No usar los BP con las manos sucias o húmedas
➢ Antes de utilizarlos, limpiarlos cuidadosamente
➢ Después de limpiarlas debe quedar una ligerísima capa de lubricante, que facilita la
adherencia entre BP
➢ Limpiar cuidadosamente las piezas a verificar que tendrán contacto con los BP
➢ No forzar la combinación de BP
➢ Evitar choques, caídas y cualquier otro mal trato
➢ Las mediciones deben hacerse lo más próximas posible a la temperatura de
referencia 20 °C y 50 % de humedad relativa
➢ Después de su uso se deben limpiar cuidadosamente
➢ Engrasar cuidadosamente y perfectamente con un lubricante neutro
BLOQUES PATRÓN
Características metrológicas
ÍNDICE
Grado Uso Desviación max
(µm) (L en mm) 
Bloques patrón grado K
K Trabajo científico (INM, laboratorios (0,05+0,001 L) (calibración interferométrica)
acreditados)
0 Control de instrumentos (patrón de (0,10+0,002 L)
referencia, empresas)
1 Control de piezas de calidad (patrón de (0,20+0,004 L)
transferencia)
2 Control de piezas en el taller (patrón de (0,40+0,008 L)
trabajo)
Otros grados por comparación mecánica

BLOQUES PATRÓN
Calibración Parámetros ISO 3650

fo
Interferometría óptica: Generalmente te
tv
este tipo de calibraciones las realizan fu v
te
Institutos Nacionales de Metrología o
laboratorios de muy alto nivel
lmáx
metrológico. En Argentina: INTI lC
Ln lmín
Comparación mecánica: Consiste en

la comparación de un BP con otro de
referencia de longitud conocida y con Ln: longitud nominal
trazabilidad al patrón nacional de
longitud. te: error límite de longitud desde cualquier punto al Ln
lC: longitud al centro (calibración)
fo & fu: variación de longitud, v (calibración mecánica)

La calibración periódica asegura la confiabilidad
tv: tolerancia de variación
PAUSA
VOLVEMOS EN 15 min
FENÓMENO DE INTERFERENCIA
Teoría de ondas. Superposición de ondas
Superposición
de ondas
mecánicas
UNIDAD DE LONGITUD:
FENÓMENO DE INTERFERENCIA
METRO
Teoría de ondas. Superposición de ondas
Con la luz ocurre lo mismo.

Ejemplos de fenómenos de interferencia Lo que se observa es una variación en intensidad
∆𝜑 = 2 𝑛𝜋
Zonas brillantes
∆𝜑 = 2 𝑛 + 1 𝜋
Zonas oscuras
Lámina de caras paralelas
Luz monocromática
Luz blanca
(bajo ciertas condiciones)
INTERFERÓMETROS
REGLAS DE LUZ: escala /2 INTERFERÓMETROS:
Son arreglos experimentales de componentes ópticas,

Luz monocromática que permiten medir longitudes con mucha precisión.
Funcionan con luz monocromática y coherente (láser)
Luz blanca
(bajo ciertas condiciones)
La interferometría mide
distancias en unidades de
longitud de onda
INTERFERÓMETROS
MONTAJE BÁSICO: INTERFERÓMETRO DE MICHELSON
❑ Haz láser.
❑ División de amplitud.
❑ Haz de referencia y haz de medición
❑ La variación de intensidad se registra con un detector
❑ La geometría del patron de interferencia depende de la
configuración del arreglo experimental
❑ Configuración de doble paso: mejora la sensibilidad
❑ Se puede determinar longitudes contando órdenes de interferencia
K: número entero
𝜆0
∆𝑧 = 𝐾+𝑓 f: fracción de franja
Reglas de luz 2𝑛
(escala /2) 0: longitud de onda en el vacío
n: índice de refracción
CALIBRACIÓN INTERFEROMÉTRICA DE BLOQUES CORTOS
láseres
Para poder determinar el desvío es

lente necesario entonces conocer a priori,
semi-espejo
la longitud nominal del bloque, y
medir con al menos dos longitudes
de onda distintas
espejo de referencia
bloque patrón
longitud del 𝜆1 𝜆2
𝑙 = 𝐾1 + 𝑓1 = 𝐾2 + 𝑓2
bloque patrón 2 2
superficie de
referencia K: número entero
f: fracción de franja <1
En rigor, no se mide la longitud del

bloques. Se mide el desvío
respecto de la longitud nominal.
Para ello se mide la fracción, f, de
desplazamiento entre franjas.
láseres INTERFEROGRAMA
a: desplamiento
lente b: interfranja en
semi-espejo
superficie auxiliar
a
𝑓=
espejo de referencia b
bloque patrón
longitud del
bloque patrón MÉTODO DE LOS EXCEDENTES FRACCIONARIOS
superficie de
referencia
1) Se determina la fracción de franja para cada longitud de onda.
2) La evaluación de la longitud se realiza buscando coincidencias
entre las soluciones posibles para las longitudes de onda
𝜆𝑖
𝑙 = 𝐾𝑖 + 𝑓𝑖
2
Ejemplo: un bloque de longitud nominal de 10 mm
Longitud de onda Fracción medida
 (nm) f Se mide en el interferómetro
1°Paso: medir las fracciones de franja a partir de los
interferogramas 632 0,5
543 0,2 i
l = ( i + f i )
2°Paso: la primera iteración determina el orden de interferncia 2
Se estima de la longitud nominal para rojo
entero para la longitud nominal
2L =  
2 10 x 106 nm
3°Paso: evaluar (K+f) para la segunda longitud de onda = = 31645 INICIO
632 nm
𝜆1 𝜆2
𝑙 = 𝐾1 + 𝑓1 = 𝐾2 + 𝑓2
2 2
Órdenes
Órdenesde
deinterferencia
interferencia Longitud
ROJO (mm) 4°Paso: busco el mejor acuerdo dentro de un
VERDE
𝜆1 𝜆2
31642,5 36828,8 9,99903 rango <
2 𝜆1 −𝜆2
Se varía el orden
31643,5 36830,0 9,99935

K1 en ± 3
31644,5 36831,2 9,99967

INICIO 31645,5 36832,4 10,00031
31646,5 36833,6 10,00064
Resultado: -330 nm
31657,5
31657,5 36834,8 10,00096
Dic. 2010
Incertidumbre Factor Coeficiente ui | ci | u(xi)
Fuente ui | ci | u(xi)
Componente estándar Cobertura de sensibilidad† (nm)
xi (nm)
u(xi) k† | ci | l/xi
(21) + (0,51) (L/mm )

1 Calibración 5,08 x 10-7 nm 2 L/(21) 0,0018 (L/mm) 0,0018 (L/mm)
U= nm (k = 2)
2 2 2
Método (rojo) Drift 2,26 x 10-6 nm -
Excedentes 2 Calibración 1,00 x 10-5 nm 2 L/(22) 0,0497 (L/mm) 0,0118 (L/mm)
Fraccionarios (verde) Drift -5,31 x 10-5 nm -
Fi Fracción franja 0,0173 fringe i/4 3,61 3
Calibración 0,005 ºC 2
Efectos tg Resolución 0,00058 ºC † L 0,11 (L/mm) 0,249 (L/mm)
Apéndice C – BIPM Térmicos

en BP
Drift
Gradiente
0,00577 ºC
0,00577 ºC
Rango: (0,5 – 300) mm  Dilatación 6,64 x 10-7 ºC-1 máx L 0,02 (L/mm) 0,01 (L/mm)
u() u() Orden superior 6,37 x 10-9 - L 0,0064 (L/mm) -

Incertidumbre: 21 nm – 156 nm Pegado lw Película pegado 6,928 nm 1 6,928 6,9
lA Frente onda 3,64 nm 1 3,64 3,4
Óptica Tamaño fuente 14,4 m S L/(8*f2) 0,0028 (L/mm) 0,0028 (L/mm)
https://www.bipm.org/kcdb/ l
desalineación 0,05 mm - (1/2)1/2 (L/f2) † 0,011 (L/mm) 0,0058 (L/mm)
Índice de taire Resolución 0,00058 ºC † 0,0076 (L/mm) 0,0194 (L/mm)
refracción Drift 0 ºC
Calibración 0,07 mbar 2
paire Resolución 0,0029 mbar † 0,0282 (L/mm) 0,0370 (L/mm)
Drift -0,08 mbar
trocío Resolución 0,0028 ºC † 0,0023 (L/mm) 0,0038 (L/mm)
Drift -0,20 ºC
1 Longitud onda 2,36 x 10-8 nm - 3,06 x 10-8(L/mm) -
n(p,T,f, 1) Edlén 1 x 10-8 1 L 0,01 (L/mm) 0,01 (L/mm)
Geometría lG Planit./parallel. 3 nm - 1 3 nm 1,4
Fi Fracción franja 3,6 nm -
Problemas de pegado Salto de lw Película pegado 6,928 nm - (m+1)/(m-1)2 6,80 6,3
fase lA Frente onda 3,64 nm -
lG Planit./parallel. 3 nm -
Términos dependientes de L Términos independientes de L

Apéndice C – BIPM
Rango: (0,5 – 300) mm
(21)2 + (0,51)2 (L/mm )2 nm (k = 2)

INTERFERÓMETROS DE INTI
Calibración interferométrica de bloques cortos Calibración interferométrica de bloques largos
Interferómetro TESA-NPL Rango: 0,5 mm – 300 mm Interferómetro Köster Rango: 100 mm – 1000 mm
Cd-644 nm Cd-508 nm Cd-480 nm Luz blanca

550 nm
COMPARACIÓN MECÁNICA
Calibración mecánica de bloques cortos <125 mm)
❑ Comparador mecánico
❑ Se compara un BP con otro de referencia de longitud conocida y trazable al patrón
nacional. La referencia fue calibrada interferométricamente.
❑ Palpadores de tipo inductivo, con resolución de 10 nm.
Calibración mecánica de bloques cortos (<125 mm)
Referencia Bajo calibración

3 2
4 5
Bloque A Bloque B
PROTOCOLO DE MEDICIÓN 𝑈= 48 2 + 1,447 2 𝐿/mm 2 nm (𝑘 = 2)

❑ Medición del punto medio del bloque A (establecer a 0,00 m)
❑ Las mediciones en los punto 2, 3, 4 y 5 deben realizarse al menos tres veces
Rango: (0,5 – 100) mm
❑ Repetir el punto medio del bloque A. Cerrar medición si el desvío es menor Incertidumbre: 48 nm – 152 nm
a 0,02 micrómetros (de lo contrario repetir) https://www.bipm.org/kcdb/
Calibración mecánica de bloques largos (>100 mm)

❑ Se emplean comparadores que combinan normalmente
la interferometría con el uso de palpadores inductivos.
❑ Las piezas se ubican sobre apoyos localizados a 0,211 L
de cada extremo (puntos de Airy), a fin de minimizar la
flexión del bloque bajo su propio peso.
𝑈= 150 2 + 1,1 2 𝐿/mm 2 nm (𝑘 = 2)
Rango: (125 – 1000) mm
Principio de operación del láser interferométrico
1: haz de salida; 2: haz de referencia; Incertidumbre: 203 nm – 1110 nm
3: haz de medición; 4: recombinación https://www.bipm.org/kcdb/
TRAZABILIDAD
Propiedad de un resultado de medida por el cual un resultado puede relacionarse con una referencia mediante una
cadena ininterrumpida y documentada de calibraciones cada una de las cuales contribuye a la incertidumbre de medida
Definiciones
TRAZABILIDAD
DISEMINACIÓN
INM1 intercomparaciones intercomparaciones INMn
Patrón Primario Nacional
Patrón de Referencia
Patrón de Trabajo
Instrumentos/Equipos
INDUSTRIA Mediciones CONSUMIDORES

TRAZABILIDAD
Cadena de trazabilidad en longitud
DISEMINACIÓN
TRAZABILIDAD
PLANOS ÓPTICOS Y PARALELAS ÓPTICAS
Cuerpos cilíndricos rectificados y lapeados de manera que sus

caras se usan como planos de referencia.
Materiales: vidrio, cuarzo, pirex o zerodur libre de tensiones
Uso: calibración micrométricos, inspección de bloques patrón,
verificación de componentes ópticas, etc.
Las especificaciones de las referencias presentan planitud  < /20.
Las dimensiones varían de (25 – 300)

mm de diámetro y de (12 - 25) mm
de espesor.
CONTROL DE PLANITUD
Método interferométrico (contacto) /2
Cuando un plano óptico se apoya sobre una superficie

reflectante, éste se orienta con cierto ángulo  debido a la
presencia de una película de aire entre ambas superficies
(gradiente de espesor o cuña de aire).
La forma del patrón de franjas depende de la forma de la
superficie. Describe la topografía de la superficie y se
cuantifica contando franjas por /2.
Superficie con dos inclinaciones Pieza de ensayo Superficie rayada

(mayor inclinación = franjas mas apretadas) curvada
Interferómetro de Newton
CONTROL DE PLANITUD
Ensayo de concavidad-convexidad
(a) Presionando en el borde del cristal se puede ensayar la concavidad o convexidad de la pieza.
Si la superficie es convexa el centro de las franjas Si la superficie es cóncava el centro de las franjas
se mueve hacia el punto donde se aplica la fuerza. se aleja del punto donde se aplica la fuerza.
(b) Presionando en el centro del sistema de anillos
Si la superficie es convexa el Si la superficie es cóncava

centro de las franjas no se el diámetro de los anillos
desplaza, pero el diámetro se achica
de los anillos se agranda
CONTROL DE PLANITUD
Método interferométrico (contacto)

Ejemplo:
Luz incidente: λ = 550nm → λ/2 = 275 nm
Número de franjas: N=3
→ Separación = N* λ/2
=3 . λ/2 = 825 nm = 0,83 µm
λ/2
Esto se aplica a la calibración de micrómetros

Defecto de planitud máximo admisible DPL= 0,001 mm
0,83 µm ¿es posible utilizar luz blanca?

CONTROL DE PLANITUD
Método interferométrico (contacto)
¿es posible utilizar luz blanca? ¿Por qué hay franjas de colores?
CONTROL DE PLANITUD
Método interferométrico (SIN contacto entre los planos)
láser
Interferómetro de Fizeau
Desviación de
franjas
Espaciado de
franjas (/2)
Desvío de planitud = B/A

TRAZABILIDAD
Cadena de trazabilidad en planitud
DISEMINACIÓN
TRAZABILIDAD
Láseres de trabajo
= 633 nm (1,6 x 10-6)
Planos ópticos patrón

/20 (20 nm)
Planos ópticos
paralelas ópticas
(30 nm)
Micrómetros
LABORATORIO de METROLOGÍA
Condiciones ambientales
TERMPERATURA
❑ Control de la temperatura ambiente
❑ Verificar la temperatura de las piezas a medir.
❑ Variación horaria de temperatura
HUMEDAD RELATIVA
❑ Inferior al 60 %, para evitar la oxidación.
VIBRACIONES
❑ Usar sistemas de aislación.
LIMPIEZA
❑ Evitar polvos o suciedad.
❑ Respetar las recomendaciones de cuidado de piezas y
patrones.
ERRORES EN METROLOGÍA DIMENSIONAL
Principales causas
1) Temperatura
2) Errores por falta de alineación
3) Errores de paralaje
4) Defectos de rectitud y de forma
5) Puntos de apoyo
6) Deformaciones
1) Efectos térmicos
𝐿𝑡 = 𝐿20 1 + 𝛼 𝑡 − 20 °C
∆𝐿 = 𝐿20 𝛼 ∆𝑡 = 𝐿20 𝛼 𝑡 − 20 °C
donde:
∆𝐿 = variación de longitud
L20 = longitud a 20 °C REFERENCIA
Lt = longitud a la temperatura t
∆t = variación de temperatura (t0 = 20 °C)
α = coeficiente de expansión térmica (CET)
1) Efectos térmicos
Correción a 20 °C 𝐿20 = 𝐿𝑡 1 + 𝛼 20 °C − t
Algunas consideraciones a tener en cuenta

▪ Mediciones en laboratorios o cabinas con ambiente
controlado.
▪ Procurar utilizar materiales con CET similar entre si
(acero)
▪ Mediciones rápidas para evitar derivas.
Si tp = tc = 20 °C L=0
2) Errores por falta de alineación

Error del coseno.
Entre la escala y la dirección de medida
𝐿𝑚 cos 𝛼 = 𝐿𝑣 + 𝜙 sen 𝛼
Lv
Lv = longitud verdadera
Lm = longitud medida
E = error
3) Errores de paralaje
Observador
Ocurre debido a la posición incorrecta del operador con

respecto a la escala graduada del instrumento de medición, la
cual está en un plano diferente. Se corrige mirando
perpendicularmente el plano de la medición
Instrumental
Se corrige colocando a un
mismo nivel las graduaciones
de las escalas.
Principio de Abbe “La máxima exactitud puede obtenerse únicamente cuando el eje del
instrumento está alineado con el eje de la pieza que está siendo medida”
Ernest Abbe (1890)
NO CUMPLE CUMPLE
Falta de paralelismo en las puntas de contacto (yunque y husillo).

Esto resulta en un error periódico.
5) Puntos de apoyo
Puntos de Airy Puntos de Bessel
Se usan especialmente en instrumentos de gran longitud. Se utilizan para soportar una barra y minimizan la deformación.
Puntos de apoyo que permiten que los dos extremos
queden paralelos el uno con el otro.
Ejemplo: las reglas y mármoles
de referencia deben apoyarse

Ejemplo: Se utilizan para soportar patrones (bloques en puntos de Bessel
patrón o barras patrón) en medición interferométrica.
6) Deformaciones
Deformación local o de Hertz
Las fórmulas de Hertz son empíricas (microdeformaciones)

Dan la cantidad de superficie deformada dentro del límite
elástico cuando dos superficies están presionadas una
contra otra por una cierta fuerza. Contacto plano Contacto lineal Contacto puntual
Se aplican a combinaciones específicas de superficies. depende del estado
de las superficies.
Fotoelasticidad de tensiones
de contacto de rodadura
debido a un cilindro de rueda
sobre una superficie plana.
Bibliografía recomendada
http://www.e-medida.com/hemerotecan6
https://www.nist.gov/sites/default/files/documents/calibrations/mono180.pdf
https://www.npl.co.uk/special-pages/guides/gpg80_metrology.pdf?ext=.
https://www.inti.gob.ar/areas/metrologia-y-calidad/si
https://www.bipm.org/utils/en/pdf/si-mep/SI-App2-metre.pdf
Referencias
Realising the metre . A Lewis. Varenna Summer School 2019
http://www.npl.co.uk/publications/guides/fundamental-good-practice-in-dimensional-metrology
http://www.bipm.org/
MUCHAS GRACIAS!
Liliana Álvarez Jorge Campbell

[email protected] [email protected]

Clase 1 - Metrologia Dimensional - UNSAM - 2022

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Cátedra de Metrología

Es la parte de la Metrología que se encarga de estudiar las magnitudes geométricas: lineales y

¿por qué es importante el estudio y aplicación de la Metrología Dimensional?

Metrologia Legal Intercompatibilidad Intercompatibilidad

CONTROL DE CALIDAD EN LA FABRICACIÓN MECÁNICA

Magnitudes Físicas ▪ Paralelismo

Promulgada el 20 de mayo de 2019

El metro, cuyo símbolo es m, es la unidad de longitud del SI. Se

26° CGPM (Nov. 2018)

Cuadrante del Metres des Barra de

Expedición de Convención del metro Constantes

Cabello humano  80 µm = 80 000 nm

La realización práctica de la definición de la unidad es el

Métodos primarios para la realización práctica de la definición del metro

a) Método 1: la medición directa de una diferencia de tiempo recorrido (tiempo de vuelo)

b1) Método 2: la determinación de una longitud de onda (), conociendo la frecuencia *

Nota *: usando láseres y radiaciones recomendadas por MeP.

l = distancia que se desea medir

Realización entre una longitud y la diferencia

❑ Medidores comerciales de longitud

IMPORTANTE: corrección por índice de refracción, (presión, temperautura, humedad)

f = (473 612 353,60 ± 0,01) MHz

c: velocidad de la luz en el vacío

N: número de franjas de interf.

Parámetro Variación Cambio en índice de Temperatura t/°C & presión p/Pa

Temperatura (20 ± 2) °C 1,84 x 10-6

He-Ne estabilizado por

He-Ne estabilizado por efecto

Aspectos Frecuencia Longitud de onda

Método por batidos Método interferométrico

FFT Frecuencias visibles estables

✓ A partir del parámetro de red del silicio e interferometría de rayos X.

✓ A partir del parámetro de red del silicio y micrsocopia de transmisión

✓ A partir de escalones monoatómicos de superficies de silicio cristalino

Longitud nominal < 100 mm

❑ 11 piezas (10 BP + plano óptico; especial p/ micrómetros)

6. Dimensiones generales, propiedades del material, marcado

BLOQUES PATRON: Propiedades según material constructivo

Es posible combinarlos de tal forma

Adherencia: armado de pila de bloques

Poner en contacto las caras de

Se aplica una pequeña fuerza

5) 55,826 mm TOTAL 55,826 mm

➢ Evitar dejar los BP en atmósferas húmedas, ácida o con polvo abrasivo.

Otros grados por comparación mecánica

Calibración Parámetros ISO 3650

Comparación mecánica: Consiste en

fo & fu: variación de longitud, v (calibración mecánica)

Teoría de ondas. Superposición de ondas

Teoría de ondas. Superposición de ondas

Con la luz ocurre lo mismo.

REGLAS DE LUZ: escala /2 INTERFERÓMETROS:

Son arreglos experimentales de componentes ópticas,

Para poder determinar el desvío es

En rigor, no se mide la longitud del

31643,5 36830,0 9,99935

31644,5 36831,2 9,99967

(21) + (0,51) (L/mm )