Difracción Por Rejillas

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DIFRACCIÓN POR REJILLA

OBJETIVOS
1. Observar el principio de interferencia en ondas electromagnéticas
2. Observar e interpretar el fenómeno de la difracción.
3. Medir el la distancia de separación para las ranuras de varias rejillas de difracción.
4. Medir el grosor de un cabello humano.

MATERIAL
1. Láser de He-Ne,
2. Porta rejillas.
3. Rejillas de difracción mono dimensional y bidimensional.
4. Cinta métrica.

Fig. Nº1.Láser de He-Ne. Fig,Nº2. Porta rejillas y Fig,Nº3. Cinta métrica.


Rejillas de difracción.

MARCO TEÓRICO

La difracción se refiere a diversos fenómenos que se producen cuando una onda encuentra
un obstáculo con tamaño del orden de la longitud de onda. Los puntos del objeto se
convierten en fuentes de ondas con las mismas características de la incidente, pero con
propagación en todas direcciones y luego se produce superposición o interferencia de tales
ondas, formando un patrón de difracción con máximos y mínimos de intensidad. Este
efecto, se observa por ejemplo cuando ondas de luz pasan por pequeñas aberturas.

Difracción por doble rejilla

En el experimento de la doble rendija (a menudo denominado experimento de Young, fue


observado por primera vez por Thomas Young en 1801), una fuente de luz coherente ilumina una placa
delgada con dos ranuras paralelas. La luz que pasa a través de las ranuras choca contra una
pantalla. Las ondas de luz que salen por las dos rendijas crean un patrón de interferencia
con bandas claras y oscuras en la pantalla.

(a) (b)

Figura 4: Patrón de difracción por dos rejillas.

La ubicación de los máximos en la pantalla cumple con la condición

𝒅 𝒔𝒆𝒏 𝜽 = 𝒏𝝀 (𝒏 = 𝟏, 𝟐, 𝟑. . . )

Donde 𝑑 es la distancia entre las rejillas, 𝜆 es la longitud de onda de la luz.

Otros temas que deben estudiarse para realizar la práctica


 INTERFERENCIA
 DIFRACCIÓN
 REJILLAS DE DIFRACCIÓN
 EMISIÓN LASER

 Experimento de Young: El fenómeno de interferencia con ondas de luz emitidas por dos
fuentes fue observado por primera vez por Thomas Young en 1801. En la figura 4 (a) S 1 y
S2 actúan como dos fuentes de luz coherentes ya que las ondas que salen de ellas son
producidas por el mismo frente de ondas, por lo que tienen una relación de fase constante.
El patrón de interferencia se observa en la pantalla, figura 4(b). Las franjas brillantes
corresponden a interferencia constructiva y se forman cuando las ondas luminosas llegan
en fase a la pantalla. Las franjas oscuras a interferencia destructiva, cuando las ondas
luminosas llegan en desfase.
En la figura 4.2(a) se muestra una geometría que permite dar una descripción cuantitativa
del experimento de Young, que se emplea para medir la longitud de onda de la luz.

 Difracción de la luz
 La luz se puede desviar de su trayectoria rectilínea normal, tanto por reflexión como por
refracción. A toda desviación de la luz por otro mecanismo que no sea reflexión o refracción
se le llama difracción. Cuando la luz pasa por una abertura grande en comparación con la
longitud de onda de la luz, forma una sombra casi nítida. Pero si se hace pasar luz a través
de una rendija delgada, se ve que la luz se difracta. Desaparece entonces la frontera nítida
entre las áreas iluminadas y la sombra, y la luz se propaga como en abanico, produciendo
un área iluminada que se debilita hasta llegar a la oscuridad, sin
 bordes bien definidos, como en la figura 5(a)

. (a) (b)

Figura 5: Patrón de difracción por una rejilla.


 En la figura 5(a) se muestra una gráfica de la distribución de la intensidad de la luz
difractada por una sola rendija delgada. Debido a la difracción, hay un aumento gradual de
la intensidad luminosa, en vez de un cambio abrupto de sombra a luz. Una fotocelda que
recorriera la pantalla sentiría un cambio gradual desde falta de luz hasta luz máxima, figura
5(b). Hay unas franjas débiles de intensidad a ambos lados de la franja principal, prueba de
que la interferencia es más pronunciada con doble rendija o con varias rendijas.

PROCEDIMIENTO

1. Realizar el montaje del equipo como se observa en la FiguraNº6.


2. Registrar la distancia pantalla-rejilla y la distancia rejilla-laser.
3. Registrar las distancias desde el máximo de orden cero a cada uno de los máximos de las
diferentes intensidades ubicados a lado y lado de este; para determinar la distancia entre las
rejillas utilizar: d sin   n (n=1, 2, 3...)
4. Cambiar a cada una de las diferentes rejillas de difracción y realizar las mismas medidas del
punto 3 determinando la distancia entre ranuras.

Figura 6. Montaje del equipo para interferencia y difracción.

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