Estereologia

CURSO DE
INTRODUO ESTEREOLOGIA
PPGECM
ANGELUS G. P. DA SILVA
MARO/2007
INTRODUO ESTEREOLOGIA
PROF. ANGELUS G.P. DA SILVA
PROGRAMA DE PS-GRADUAO EM ENGENHARIA E CINCIA DOS MATERIAIS UNIVERSIDADE ESTADUAL DO NORTE FLUMINENSE
MARO DE 2007
NDICE
Captulo 1- Introduo Captulo 2 Antecedendo a medio 2.2- Estruturas 2.2- Amostragem 2.3- Escolha da amostragem 2.3.1- A escolha dos planos de corte 2.3.2- A escolha de linhas de teste 2.3.3- A escolha de pontos 2.4- Outras consideraes sobre desvios de medio e softwares de medio estereolgica Captulo 3- Frao volumtrica 3.1- Frao de pontos 3.2- Frao linear 3.3- Frao de rea Captulo 4- Clculo de superfcie Superfcies internas de espessura finita Interfaces de partculas dispersas em uma matriz Equao de Tomkeief para objetos tridimensionais Mtodo de Saltikov para determinao da rea superficial especfica de partculas Captulo 5- Medidas de comprimento 5.1- Comprimento de linhas em planos 5.2- Permetro de curvas fechadas em planos 5.3- Comprimento de linhas no espao tridimensional 5.4- Livre caminho mdio em estrutura bifsica dispersa Captulo 6- Relaes gerais para corpos convexos 6.1- Consideraes preliminares 6.2- Definies bsicas 6.3- Penetrao por linhas de teste 6.4- Penetrao por planos 6.5- Relao entre rea transversal mdia e altura projetada mdia 6.6- Relao entre rea superficial e rea projetada mdia 6.7- Relao entre rea projetada mdia e intercepto linear mdio Captulo 7- O problema do unfolding Captulo 8- Contigidade 1 6 6 8 10 11 18 23 24 31 31 32 33 36 39 39 41 42 44 44 47 49 50 54 54 54 55 57 59 60 61 62 65
FUNDAMENTOS DE ESTEREOLOGIA
INTRODUO
INTRODUO
As propriedades dos materiais so influenciadas em grande medida por sua estrutura. A estrutura das rochas revela os mecanismos de sua formao. No campo da biologia, a estrutura de clulas, rgos e tecidos est intimamente relacionada a sua funcionalidade. bvio, pois, o interesse de engenheiros, gelogos e bilogos em investigar e caracterizar as estruturas de seus objetos de estudo. As estruturas so geralmente tridimensionais, opacas ou semitransparentes e microscpicas. Isto representa uma enorme dificuldade de observao. A opacidade impede a visualizao de seu interior. Estruturas transparentes permitem a visualizao do interior, porm a observao dificultada pelo ajuste do foco do microscpio. Adicionalmente, a medio de elementos estruturais interiores no possvel ou precisa a partir do exterior. Estruturas opacas devem ser observadas com uso de sees de corte ou por reconstruo a partir de fatias finas. O primeiro recurso o mais utilizado. Consiste em secionar a estrutura e prepar-la adequadamente para observao por microscpio. O que se v um plano de corte da estrutura, uma imagem bidimensional dos elementos tridimensionais reais da estrutura. O segundo mtodo consiste em fatiar finamente a estrutura e, observando os detalhes bidimensionais de cada lado da fatia, tentar reconstru-la tridimensionalmente. Esta uma tarefa rdua, de resultados por vezes insatisfatrios. Estruturas transparentes podem ser observadas dos modos descritos acima, ou podem ser observadas a partir de um plano de projeo. Isto consiste de iluminar a estrutura em uma determinada direo. A luz que transmitida atravs dela, interage diferentemente com os diversos elementos da estrutura, por possurem transparncias distintas. Estes elementos projetam sombras em um anteparo exterior estrutura. Este o plano de projeo. As imagens dos planos de corte e de projeo so as fontes de informao disponveis para caracterizar a estrutura tridimensional. Uma estrutura qualquer formada por elementos que podem ser classificados como volumosos, superficiais, lineares ou puntiformes. Quando a estrutura secionada, os elementos volumosos aparecem no plano de corte como uma rea bidimensional. Os elementos superficiais aparecem como uma linha. Os elementos lineares surgem como pontos e os puntiformes aparecem somente se estiverem na regio secionada. A dimenso das imagens dos elementos no plano de corte sempre uma unidade inferior dimenso real do elemento estrutural. Quando a estrutura vista a partir de um plano de projeo, os elementos volumosos projetam uma sombra bidimensional. Os elementos superficiais tambm projetam uma sombra bidimensional. Os elementos lineares projetam uma sombra tambm linear e os puntiformes projetam pontos sobre o plano de projeo. As Figuras 1.1 e 1.2 ilustram uma estrutura hipottica contendo os elementos estruturais fundamentais, vistos a partir de um plano de corte e de um plano de projeo, respectivamente.
INTRODUO
Os elementos estruturais citados de forma genrica correspondem nos casos reais a gros (elementos de volume), contornos de gros ou membranas (elementos superficiais) ou a linhas de discordncia (elementos lineares). Deve-se levar em conta que alguns elementos podem ser ou estar aproximados. Por exemplo, incluses muito finas podem ser consideradas pontos. Membranas finas, que so na verdade elementos de volume, podem ser consideradas elementos superficiais.
a b Figura 1.1: Estrutura tridimensional sendo secionada (a) e a visualizao dos diferentes elementos estruturais em um plano de corte (b).
a b Figura 1.2: Estrutura tridimensional (a), quando iluminada do topo, produz na face inferior a projeo dos elementos estruturais (b).
INTRODUO
A questo que emerge destes modos de observao de estruturas reais : como caracterizar uma estrutura tridimensional, se somente seus aspectos em duas dimenses so observados, seja em um plano de corte seja em um plano de projeo? A resposta para esta questo a seguinte: usando uma ferramenta que consiga transformar os aspectos em duas dimenses nos aspectos tridimensionais reais de interesse. Esta ferramenta denomina-se estereologia. A estereologia pode ainda ser definida como um conjunto de procedimentos baseados em geometria e probabilidade que, a partir de medies ou contagem de elementos estereolgicos de uma imagem plana de uma estrutura tridimensional, produz informaes sobre caractersticas da estrutura original. As caractersticas estruturais que podem ser determinadas pela estereologia so: volumes de certos elementos estruturais (o que pode representar a determinao de composio de materiais ou fraes de fases presentes), reas de elementos superficiais planos ou no, comprimentos de elementos lineares, nvel de vizinhana entre fases presentes em uma estrutura (denominada contigidade) e tamanhos de elementos volumtricos (como gros), entre outras. Por ser mais direcionado engenharia, este curso aborda somente os procedimentos para tratar imagens obtidas de estruturas secionadas. Um exemplo prtico de como a estereologia empregada para caracterizar uma estrutura mostrado a seguir. A Figura 1.3 exibe a seo de corte de uma estrutura hipottica de um material bifsico. Existe uma fase matriz, de colorao clara, da qual observam-se claramente seus contornos de gro, e uma fase cinza, cujos gros situam-se tanto nos contornos de gro quanto no interior dos gros da fase clara. Os gros a fase cinza encontram-se muitas vezes agrupados. Esta imagem nada mais pe de que uma seo de corte da estrutura real. As sees de cor cinza so sees dos gros da fase cinza. Sobre a imagem foi traada uma malha de linhas vermelhas paralelas. Estas linhas viabilizam a medio. O encontro destas linhas gera 56 pontos. Estes pontos tambm so usados na medio. O comprimento total das 15 linhas paralelas de 1106m. Isto depende da escala em que foi feita a imagem. A interface entre as fases branca e cinza uma superfcie. A estereologia pode determinar sua rea. possvel ainda determinar qual a frao volumtrica que a fase cinza ocupa na estrutura. Em trs dimenses, o encontro de trs gros da fase cinza uma linha. A estereologia permite determinar o comprimento total das linhas de encontro entre conjuntos de trs gros, denominadas linhas de ponto triplo. Os clculos so surpreendentemente simples. Contando-se quantos pontos de interseo das retas vermelhas coincidem com a fase cinza, indicados em azul na Figura 1.3, chega-se a 9. A frao volumtrica de uma fase dada pela expresso (1.1).
INTRODUO
Figura 1.3: Imagem de seo de corte de uma estrutura hipottica, contendo gros de duas fases (branca e cinza). Sobre a imagem est traada uma grade de linhas paralelas vermelhas. Os pontos azuis indicam a interseo das linhas vermelhas e a fase cinza. Os pontos verdes indicam a interseo das linhas vermelhas com a interface entre as fases branca e cinza e os pontos amarelos indicam a interseo entre as linhas de ponto triplo dos gros da fase cinza e o plano da imagem. (Russ, 1999)
VV = PP =
9 = 0.16 56
(1.1)
na qual PP a frao de pontos que coincide com a fase cinza em relao ao total de pontos e VV a frao de volume da fase cinza. A expresso (1.2) determina a rea da interface entre as duas fases. SV a rea da interface por unidade de rea, enquanto PL o nmero de pontos de interseo entre as linhas vermelhas e a interface entre as fases branca e cinza, por unidade de comprimento das linhas vermelhas. Estes pontos de interseo esto marcados em verde na Figura 1.3. Ao todo so 72 pontos.
SV = 2 PL = 2 72 m2 = 0.13 m3 1102
(1.2)
A expresso (1.3) determina o comprimento total das linhas triplas entre gros da fase cinza, por unidade de comprimento. PA o nmero de pontos triplos entre gros da fase cinza na imagem. Estes pontos esto identificados em amarelo na Figura 1.3. So ao todo 8 pontos. A rea total da imagem possui 5455m2. Practical Stereology. 2ndEdition, J.C. Russ, R.T Dehoff, Plenum Press, New York, NY, ISBN 0-306-46746-4 (1999). 4
FUNDAMENTOS DE ESTEREOLOGIA LV = 2 PA = 2
INTRODUO
8 m = 0.0029 m3 5455
(1.3)
A medio estereolgica apenas uma das fases de anlise de imagens. Para que ela posa ser realizada, outras etapas devem ser executadas anteriormente. A influncia destas etapas na qualidade dos resultados ser posteriormente discutida, porm esta influncia cumulativa em respeito s imperfeies. Ou seja, os maus resultados em cada etapa anterior so acumulados, de modo refletir no erro das medies estereolgicos. O fluxograma exibido na Figura 1.4 exibe a seqncia de etapas que antecedem a medio estereolgica. Estas etapas no sero objeto de estudo deste curso.
AMOSTRA
Preparao Metalogrfica, ceramogrfica, petrogrfica ou biolgica
MICROSCPIO
Observao e Tipificao da Estrutura Regras de Seleo
Procedimento de Seleo de Imagens
Registro da Imagem
Armazenamento da imagem
Processamento da Imagem
MEDIO ESTEREOLGICA
Figura 1.4: Fluxograma de etapas de preparao e caracterizao de imagens.
ANTECEDENDO A MEDIO
ANTECEDENDO A MEDIO.
2.1. ESTRUTURAS
As estruturas de interesse para a engenharia podem ser classificadas de diversos modos. Com respeito quantidade de fases presentes podem ser ditas monofsicas ou multifsicas. A Figura 2.1 ilustra uma estrutura monofsica vista em uma seo de corte. Note que os gros preenchem todo o espao. Nas multifsicas, o espao preenchido por duas ou mais fases. Uma das fases pode ser porosidade. Caso uma das fases esteja presente em pequena quantidade, ela dita estar dispersa entre as demais. Quanto maior a frao em volume desta fase, maior a probabilidade de seus gros estarem em contato, como primeiros vizinhos. A conexo entre gros de mesma fase pode ser caracterizada atravs de parmetros estruturais denominados contigidade e continuidade e est relacionada a propriedades dos materiais, como condutividade eltrica ou resistncia propagao de trincas. A estereologia reconhece as diferenas entre as estruturas mono e multifsicas atravs de equaes especficas. A Figura 2.2 ilustra uma seo de corte de uma estrutura bifsica na qual gros da fase dispersa esto em contato mtuo.
Figura 2.1: Seo de corte de uma estrutura monofsica. Em uma estrutura bifsica comum empregar para as fases os nomes de fase dispersa e de fase matriz. A fase matriz, em geral, a fase presente em maior frao volumtrica, de modo que ela envolve a outra fase, a fase dispersa. Contudo, existem casos em que a fase envolvente no a de maior frao volumtrica. A Figura 2.3 mostra uma seo transversal de uma estrutura de um metal duro contendo 16% em peso de cobalto. Durante a sinterizao, uma fase lquida rica em cobalto formada e envolve as partculas de carbeto. Esta fase une as partculas de carbeto e denominada de fase ligante. As estruturas podem ainda ser consideradas orientadas ou aleatrias. Isto diz respeito a uma possvel orientao espacial de todos ou de alguns elementos presentes na
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estrutura. A Figura 2.4 exibe uma estrutura hipottica monofsica orientada, em que os gros so alongados e orientados em uma direo definida. Estruturas assim podem ser obtidas por laminao. Os gros so orientados na direo de laminao. Estruturas orientadas exigem um tratamento estereolgico especfico. Este tratamento no ser apresentado no curso.
Figura 2.2: Plano de corte de uma estrutura bifsica de W-19%pesoCu. Os gros arredondados (fase mais clara) de tungstnio esto imersos em uma matriz de cobre. Existem gros de tungstnio isolados pela matriz e gros que se tocam.
Figura 2.3: Plano de corte da estrutura de uma liga de metal duro WC-16%pesoCo. A fase ligante, rica em Co, envolve os gros de WC, s vezes como uma fina camada.
ANTECEDENDO A MEDIO
Figura 2.4: Plano de corte de uma estrutura monofsica deformada. Na operao, os gros sofreram alongamento na direo horizontal. As estruturas podem ainda caracterizadas como homogneas ou como heterogneas. Nestas ltimas, alguma caracterstica estrutural varia espacialmente, configurando um gradiente. A caracterstica que varia pode ser a frao de uma determinada fase da estrutura ou o tamanho de gro, por exemplo. Esta caracterstica pode, mas no necessariamente, variar conforme um certo padro, como o tamanho de gro que varia conforme um gradiente linear de temperatura ao qual a estrutura possa ter sido submetida. A medio estereolgica de estruturas homogneas muito mais simples de que a de estruturas heterogneas, como ser visto a seguir.
2.2. AMOSTRAGEM
As equaes estereolgicas podem ser denominadas estatisticamente exatas. Isto porque a deduo destas equaes impe como condio que toda a estrutura seja medida. Isto pressupe um infinito nmero de medidas dos elementos estruturais. Nestas condies, o valor medido corresponde ao valor exato do parmetro estrutural que se est determinando, desconsiderando os erros prprios do ato de medir, como a preciso do instrumento usado na medio. Na prtica, as condies impostas para a deduo nunca so satisfeitas, pois um nmero finito de elementos estruturais medido. Isto significa que em situaes reais, as medies estereolgicas apresentam um desvio do valor real, cuja magnitude depende no apenas do nmero de elementos estruturais medidos, mas tambm do procedimento utilizado para determinar as regies empregadas na medida. Em um procedimento real de medio, somente os elementos estruturais de uma amostragem retirada da estrutura so medidos e no todos os elementos desta estrutura. Os valores medidos na amostragem representaro os valores da estrutura inteira. Deste modo, de suma importncia para a acurcia da medio que a amostragem sobre a qual so feitas as medidas espelhe o mais fielmente possvel as caractersticas da estrutura real. Toda a ateno deve ser dada escolha da amostragem a ser usada na medida. A este respeito, o seguinte lema deve ser observado: a amostragem deve ser representativa da estrutura e aleatoriamente determinada. Seguir este lema exige de quem est caracterizando a estrutura conhecimento prvio sobre ela. O operador deve
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ter em mente o que deseja caracterizar e usa isto para selecionar as regies da estrutura das quais ser obtida a amostragem. Por exemplo, se o operador deseja investigar propriedades volumtricas, ele deve eliminar as regies prximas superfcie da estrutura. Em muitos materiais, a estrutura superficial difere por diversas razes da estrutura volumtrica. A dificuldade de se medir estruturas heterogneas decorre exatamente de se obter amostragens que representem com fidelidade os gradientes presentes. A escolha da amostragem depende de que tipo de medida deseja-se realizar. A estereologia faz uso de diversas ferramentas (denominadas a partir de agora de ferramentas de medio estereolgica ou FME) para medir as imagens das estruturas. Estas ferramentas so pontos, linhas, planos e volumes. Somente os trs primeiros sero vistos neste curso. Quando as FMEs so empregadas, elas interagem com os elementos estruturais, gerando elementos ou eventos estereolgicos (EE). Por exemplo, um gro, que um elemento estrutural volumtrico, quando penetrado por uma linha (FME), d origem a um segmento que a interseo da linha com o gro. A penetrao do gro pela linha a interao mencionada e o segmento o elemento estereolgico. O mesmo ocorre quando uma linha cruza uma membrana. Um ponto gerado. Ou quando um plano intercepta um gro. Uma seo deste gro gerada. A medio dos elementos estereolgicos pode ser simplesmente a contagem dos pontos, o comprimento do segmento ou a rea da seo do gro. Dentre todos os procedimentos de medio utilizados pela estereologia, aqueles que lidam com a contagem de elementos so os preferidos seja por medio manual seja por medio automatizada. Isto se deve a maior simplicidade, facilidade de medio, rapidez e menores desvios de medida associados ao mtodo. Por isso, somente os procedimentos estereolgicos que utilizam a contagem de elementos sero considerados neste curso. A Figura 2.5 ilustra uma seo transversal de uma estrutura hipottica sobre a qual foram traados FMEs (pontos e linhas). O plano de corte em si tambm uma FME. Os EEs que podem ser medidos so: iNmero de gros interceptados pelo plano de corte: 52 iirea das sees dos gros interceptados pelo plano de corte: ? iiiNmero de gros interceptados pelas linhas de teste traadas sobre a imagem da estrutura: 47. ivNmero de contornos de sees de gros interceptados pelas linhas de teste: 91. vComprimento dos segmentos de interseo entre as sees dos gros e as linhas de teste: ? viNmero de pontos traados sobre as sees dos gros: 11. Os valores referentes contagem de eventos podem ser imediatamente determinados. Erros eventuais destas contagens resultam de desateno ou de medio no sistemtica. J as medies de comprimento e de rea so mais trabalhosas. As medidas de comprimento podem ser feitas manualmente, com o auxlio de uma rgua. As fontes de erro associadas medio de comprimento so mais numerosas e por isso os erros so mais significativos de que aqueles envolvidos em contagem de eventos. As medidas de rea necessitam do uso de equipamentos especialistas. Outras fontes de erro esto envolvidas e, novamente, estes erros so mais
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significativos de que aqueles de contagem. Programas de computador especialistas em estereologia podem ser usados para a determinao de comprimentos e reas. Atravs deste recurso, as medies de comprimento e de rea so muito mais rapidamente feitas, porm outras fontes de erro devem ser consideradas. Este assunto ser abordado adiante.
Figura 2.5: Estrutura bifsica hipottica sobre a qual foram traadas retas e pontos. Estas e o prprio plano de corte so as ferramentas de medio estereolgicas que podem ser usadas para medir.
2.3. ESCOLHA DA AMOSTRAGEM

As medies estereolgicas que sero tratadas aqui, conforme j mencionado, sero feitas sobre a imagem de um plano de corte da estrutura. Sobre esta imagem sero ento traadas linhas de teste ou uma malha de pontos. A primeira preocupao com respeito amostragem ser, portanto, a de se escolher um plano de corte que seja representativo da estrutura e aleatrio. A segunda a de escolher uma imagem deste plano que seja aleatria. Antes do incio da escolha da amostragem, deve-se saber se a estrutura heterognea e que parmetros estruturais sero medidos. Estruturas homogneas no requerem cuidados especiais, uma vez que todos os planos de corte e todas as regies de um dado plano de corte so equivalentes. Todavia, a escolha de planos de corte em estruturas heterogneas mais complicada. O tipo de parmetro a ser medido ir determinar o nmero de imagens usadas na medio. Existe uma relao entre o desvio de medida e o nmero de eventos contados para a determinao do parmetro estrutural. Considere o exemplo em que uma estrutura bifsica, a frao volumtrica de uma das fases, esteja sendo medida por meio da contagem de pontos coincidentes com a dada fase. Se N pontos foram traados sobre a imagem, mas somente n coincidiram sobre a dada fase, ento esta fase ocupa uma frao n/N do volume total da estrutura e o desvio relativo associado a esta medida
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n . Portanto, se a fase ocupar 25% do volume da estrutura e se 400 pontos forem n desenhados sobre a imagem da estrutura, cerca de 100 coincidiro com a fase medida. 100 = 0,1 . Ou seja, 10% de desvio O desvio relativo associado medio ser de 100 relativo.
de Para controlar o desvio de medio, necessrio prever o nmero de EEs a serem usados. Isto determinar o nmero de planos de corte e de imagens da estrutura que ser usado na medida. No recomendado aumentar o nmero de EEs, aumentando a densidade de pontos ou de linhas de teste traadas sobre a imagem. Isto poderia ser feito, por exemplo, diminuindo a distncia entre os pontos traados. Experimentos mostraram que assim a medio converge mais lentamente ao valor exato do parmetro sob medida. O ideal que a distncia entre dois pontos seja do tamanho dos gros da fase cuja frao volumtrica est sendo medida. Dito de uma forma mais geral, que abranja outros EEs, o ideal que poucos EEs sejam medidos em cada imagem da estrutura, e que muitas imagens sejam usadas na medio. O nmero de imagens usadas em uma medio estereolgica est diretamente relacionado ao nmero de planos de corte escolhidos. Sobre isto cabe uma observao de cunho prtico. A caracterizao estrutural pode ter como objetivo o controle de qualidade de peas em uma linha de produo, bem como pode dar-se para o conhecimento da estrutura de amostras produzidas em um trabalho de pesquisa e desenvolvimento. No primeiro caso, h disponibilidade de amostras suficientes, processadas sob as mesmas condies, para se realizar a medio com um desvio julgado razovel. No segundo caso, comum que as amostras sejam nicas e pequenas. Isto limita o nmero de secionamentos da estrutura e assim, o nmero de sees de corte usadas na medio. Com isto, o desvio de medio tende a ser maior ou pode no ser controlado. Caso a amostra seja nica, porm seja grande, possvel dividir a amostra em partes menores e proceder como se cada parte fosse uma amostra diferente.
2.3.1. A Escolha dos Planos de Corte

Em estruturas homogneas, todos os planos de corte so equivalentes. Portanto, para este tipo de estrutura suficiente secionar a estrutura em planos paralelos. Em estruturas heterogneas, outro procedimento deve ser usado. Existem duas formas de se proceder isto. Uma a escolha puramente aleatria. Outra a escolha sistemtica. Ambas so corretas, mas a segunda forma faz os valores medidos convergirem mais rapidamente para o valor verdadeiro. A escolha sistemtica de planos de corte consiste simplesmente de secionar a amostra em direes que so regularmente espaadas entre si. Para isto pode-se lanar mo de poliedros regulares. A Figura 2.6 ilustra o cubo (seis faces quadradas), o octaedro (oito faces triangulares), o dodecaedro (doze faces pentagonais) e o icosaedro (vinte faces triangulares). A cada face destes poliedros est associada uma direo que ortogonal face. As direes de cada face esto regularmente espaadas. Como estes poliedros possuem um par de faces paralelas (mesma direo), eles sero secionados ao meio, para eliminar esta duplicidade, e sero assim usados.
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a b c d Figura 2.6: poliedros regulares. a) cubo, b) octaedro, c) dodecaedro, d) icosaedro.
A escolha sistemtica dos planos de corte pode ser feita como descrito a seguir. Suponha que quatro planos de corte devem ser produzidos. Para tal nmero de planos de corte, a metade do octaedro ser usada. Quatro amostras devem ser usadas (ou uma amostra grande dividida em quatro partes). Passo 1: Uma direo natural ou caracterstica ser apontada na amostra. Esta direo pode ser uma direo de deformao, de um gradiente de temperatura no interior do forno no qual a amostra foi tratada ou de composio, ou simplesmente a direo da gravidade no momento em que a estrutura foi formada. Esta mesma direo ser identificada em cada amostra. Veja Figura 2.7.
Figura 2.7: Uma direo identificada na amostra. Neste caso, a direo vertical, indicada pela haste azul.
Passo 2: Uma amostra inserida na metade do octaedro. A direo de uma das faces identificada na amostra. Esta amostra ser secionada naquela direo. Veja Figura 2.8.
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ANTECEDENDO A MEDIO
Figura 2.8: A amostra inserida no slido e uma face aleatoriamente selecionada. A direo perpendicular a esta face indica a direo do corte da amostra. Neste caso, a face lateral direita foi escolhida, conforme indica a haste azul inclinada na direo perpendicular a esta face.
Passo 3: Aquela amostra secionada em fatias na direo perpendicular quela identificada no passo anterior. A espessura de cada fatia depende, em princpio, do nmero de imagens que necessrio para produzir o desvio planejado e, claro, das facilidades laboratoriais disponveis. Veja Figura 2.9.
Figura 2.9: A amostra ento secionada em fatias na direo indicada. Passo 4: Outra amostra colocada na metade do octaedro, na mesma orientao da anterior e uma face diferente escolhida. Passo 5: A segunda amostra secionada em fatias da mesma espessura do caso anterior. O nmero de fatias produzidas em cada direo do corte, em geral, diferente e depende da geometria da amostra. Passo 6: A terceira amostra colocada na mesma direo das anteriores, no interior do meio octaedro e uma direo diferente escolhida. A amostra depois fatiada naquela
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direo, tendo as fatias a espessura dos casos anteriores. A ltima amostra colocada e o procedimento repetido. A escolha aleatria de planos de corte um pouco mais trabalhosa. A um plano est associada uma direo perpendicular. Esta direo representada por um vetor e este vetor determinado por dois ngulos, conforme ilustra a Figura 2.10. A escolha da direo de corte consiste ento na determinao destes dois ngulos, que feita conforme descrio a seguir.
Figura 2.10: Uma direo sendo identificada por dois ngulos, o ngulo horizontal e o ngulo vertical .
Passo 1: A amostra colocada em uma posio com o seu eixo caracterstico na vertical, sobre um transferidor. Veja Figura 2.11. Passo 2: Um ngulo aleatoriamente escolhido entre 0 e 180. Este ser o ngulo horizontal . Figura 2.12. Passo 3: A amostra colocada agora ao lado de outro transferidor. Este transferidor possui ngulos senoidalmente espaados. Uma das marcas angulares do transferidor aleatoriamente escolhida. Isto determina o ngulo vertical . Com estes dois ngulos, a direo de corte da amostra est definida. Ver Figura 2.13. Passo 4: A amostra pode ser secionada nesta direo em fatias de espessura arbitrria. Se o objetivo secionar apenas uma vez, deve-se escolher aleatoriamente o ponto em que ser feito o corte. recomendvel no secionar passando sempre pela regio central da amostra, pois isto privilegia esta regio, no sendo representativo da estrutura. Ver Figura 2.14.
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ANTECEDENDO A MEDIO
(a) (b) Figura 2.11: (a) Amostra com direo caracterstica indicada por haste azul. (b) Vista de topo de amostra sobre um transferidor.
Figura 2.12: Vista de topo de amostra sobre um transferidor. Uma haste lateral identifica uma direo horizontal indicada por um ngulo aleatoriamente sorteado entre 0 e 180. Passo 5: Repetindo o mesmo procedimento para outra amostra, tem-se um novo plano de corte aleatrio. Lembrar de posicionar sempre a amostra na mesma posio inicial. O transferidor de ngulos senoidalmente espaados pode ser obtido gerando-se, por exemplo, noventa nmeros entre 1 e 1, igualmente espaados, e em seguida determinar o arcseno destes nmeros. Isto gera 90 ngulos senoidalmente espaados. A Figura 2.15 ilustra um transferidor assim gerado. Note que na proximidade dos plos, os ngulos so mais espaados de que prximo ao equador. Isto deve ser assim porque ngulos igualmente espaados privilegiam as direes mais prximas aos
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ANTECEDENDO A MEDIO
plos. Escolhendo aleatoriamente um nmero entre 1 e 90 gera um ngulo. Este ser o ngulo .
Figura 2.13: A amostra posicionada sobre um transferidor senoidal de modo que sua direo caracterstica coincida com o ngulo zero do transferidor (haste horizontal). Um ngulo aleatoriamente sorteado para identificar uma direo (indicada pela haste inclinada). A direo correspondente ao ngulo horizontal escolhido no passo anterior indicada pela haste azul vertical.
Figura 2.14: A amostra secionada perpendicularmente direo vertical sorteada. A amostra pode tambm ser fatiada.
Uma vez determinados os planos de corte, deve-se determinar, nestes planos, as imagens que sero utilizadas para as medidas. Isto feito sob microscpio (supondo o caso comum em que os traos estruturais so visveis apenas ao microscpio), aps as etapas de lixamento e polimento, e eventual ataque qumico. Uma vez que o plano de corte esteja devidamente preparado para observao, a amostra posicionada no
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ANTECEDENDO A MEDIO
microscpio e movida aleatoriamente sem que seja observada. Isto garante que o local em que ser registrada a imagem da estrutura aleatoriamente escolhido. Somente aps este local ter sido determinado, recomendado observ-lo e ajustar o foco para o registro fotogrfico. Outras imagens podem ser feitas sobre o mesmo plano de corte, deslocando a amostra lateralmente e/ou verticalmente de distncias iguais. Desta forma, uma matriz de imagens pode ser produzida de um nico plano de corte, como ilustra a Figura 2.16.
Figura 2.15: Transferidor com ngulos senoidalmente espaados entre 90 e 90.
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ANTECEDENDO A MEDIO
Figura 2.16: Uma primeira imagem feita sobre o plano de corte em um local aleatoriamente escolhido. As demais imagens so feitas deslocando-se a amostra regularmente lateral e verticalmente.
2.3.2. A Escolha de Linhas de Teste

Caso linhas de teste devam ser usadas como FMEs, estas devem interceptar a estrutura de modo que qualquer regio da estrutura tenha a mesma probabilidade de ser interceptada pelas linhas. Entretanto, tais linhas devem ser traadas sobre planos de corte. Se os planos de corte tiverem sido determinados conforme os procedimentos descritos na seo 2.3.1, as linhas de teste traadas sobre estes planos sero automaticamente tambm aleatrias. Basta colocar um transferidor sobre a imagem da estrutura e escolher aleatoriamente um ngulo entre 0 e 180C. Em seguida traar um feixe de retas paralelas igualmente distanciadas na direo escolhida. Veja Figura 2.17.
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ANTECEDENDO A MEDIO
Figura 2.17: Feixe de retas paralelas ortogonal a uma direo definida por um ngulo aleatrio com respeito a um eixo de referncia de direo arbitrria (DA). possvel traar linhas aleatrias sobre planos no aleatrios. Este procedimento adequado ao caso em que nenhum EE que requer planos aleatrios necessrio para a medio estereolgica em curso. Os passos para isto so descritos a seguir: Passo 1: A amostra posicionada com sua direo caracterstica na vertical sobre um transferidor. Um ngulo aleatoriamente escolhido. Este ngulo dar a direo horizontal do plano de corte. Veja Figura 2.18.
Figura 2.18: Vista de topo de amostra colocada sobre um transferidor. A direo caracterstica vertical e um ngulo aleatoriamente sorteado, correspondendo direo apontada pela haste azul inclinada.
Passo 2: A amostra secionada paralelo direo caracterstica (ngulo vertical de 0) e tambm ortogonal direo horizontal escolhida. A amostra pode ser fatiada ou um
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plano de corte apenas pode ser obtido secionando-se a amostra em um ponto aleatoriamente escolhido ao longo da direo escolhida. Veja Figura 2.19.
Figura 2.19: A amostra secionada em um plano ortogonal direo horizontal sorteada. A amostra poderia tambm ser fatiada. Note que o plano de corte paralelo direo caracterstica.
Passo 3: As imagens deste plano de corte podem ser tomadas conforme descrio no final da seo anterior. A direo caracterstica da amostra deve estar identificada em cada imagem. Uma matriz de ciclides traada sobre cada imagem, estando seus eixos paralelos entre si e perpendicular direo caracterstica. Ver Figura 2.20.
Figura 2.20: Matriz de ciclides traada sobre a imagem de um plano de corte. O eixo das ciclides deve ser ortogonal direo caracterstica da amostra.
20
ANTECEDENDO A MEDIO
Passo 4: Outra amostra deve ser posicionada da mesma forma que a primeira e um outro ngulo horizontal deve ser escolhido. Esta amostra deve ser secionada como descreve o passo 2. Isto deve ser repetido para tantas amostras quantas necessrias. Uma ciclide a curva descrita por um ponto no contorno de um disco que gira. Esta curva pode ser obtida traando-se, em um plano cartesiano, os pontos dados pelas seguintes equaes paramtricas:
x = R t R sin( t ) y = R R cos( t )
2.1 2.2
em que x e y so as coordenadas do ponto sobre a borda do disco no instante t, R o raio do disco e a velocidade angular do disco. Para um disco de raio unitrio que gira com velocidade angular unitria, a ciclide correspondente mostrada na Figura 2.22 para um giro completo. Conectando uma ciclide a outra e dispondo-as paralelamente, obtm-se uma matriz de ciclides, como mostra a Figura 2.23.
Figura 2.22: A ciclide uma curva que descreve a trajetria de um ponto desenhado sobre o contorno de um disco que gira. A curva mostrada na ilustra a trajetria ao longo de um giro completo do disco.
21
ANTECEDENDO A MEDIO
Figura 2.23: Matriz de ciclides. Estas curvas funcionam como linhas de teste em medies estereolgicas.
Caso deseje-se traar retas como linhas de teste e no ciclides, o procedimento deve ser alterado. Isto feito porque uma reta identificada por um vetor paralelo a ela. Tal vetor definido por dois ngulos, como ilustra a Figura 2.10. O ngulo horizontal pode ser aleatoriamente escolhido com a ajuda de um transferidor comum, mas o ngulo vertical deve ser escolhido com um transferidor de ngulos senoidalmente espaados. Isto deve ser assim, pois do contrrio retas de alta inclinao seriam preferencialmente escolhidas. Neste tipo de transferidor, os ngulos de alta inclinao esto mais distanciados entre si de que os de baixa inclinao, como j mencionado. O uso de ciclides elimina este problema, pois esta curva j senoidalmente calibrada. Note que as pores da curva com alta inclinao (prximas da vertical) so bem mais curtas de que as pores de baixa inclinao (prximas da horizontal). Por esta razo, o feixe de ciclides deve ser disposto com seu eixo ortogonal direo caracterstica da estrutura. O procedimento alterado a partir do terceiro passo: Passo 3 alterado: As imagens deste plano de corte podem ser tomadas conforme descrio no final da seo anterior. A direo caracterstica da amostra deve estar identificada em cada imagem. Cada imagem registrada deve ser colocada sobre um transferidor com ngulos senoidalmente espaados, como o mostrado na Figura 2.15. Um nmero entre 0 e 90 aleatoriamente escolhido. Isto gera o ngulo vertical da reta. Um feixe de retas paralelas traado sobre a imagem naquela direo. Assim, as retas traadas tero o ngulo horizontal do plano de corte e o ngulo vertical indicado pelo transferidor. Veja Figura 2.24. O mesmo deve ser feito para outras amostras.
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ANTECEDENDO A MEDIO
Figura 2.24: Feixe de retas paralelas traadas sobre o plano de observao com a ajuda de um transferidor senoidal. O transferidor posicionado em alinhamento com a direo caracterstica. Um ngulo aleatoriamente sorteado e o feixe de retas traado com a inclinao daquele ngulo. O feixe de retas possui direo aleatria.
2.3.3. A Escolha de Pontos

Pontos so os EEs mais fceis de serem traados sobre uma estrutura justamente por no possurem dimenso. Assim, no possuem tambm orientao, como planos e retas. Para traar pontos, deve-se apenas atentar para que eles sejam homogeneamente dispersos atravs da estrutura. Isto pode ser feito da seguinte maneira. Passo 1: A amostra secionada em fatias paralelas de espessura arbitrria (dependente apenas do nmero de imagens necessrias para se obter um desvio de magnitude desejada). Passo 2: Imagens de cada plano so tomadas conforme j descrito no final da seo 2.3.1 e pontos so traados sobre estas imagens. Como j mencionado, recomendado que a distncia mdia entre os pontos no seja inferior ao tamanho mdio dos elementos estruturais que se deseja medir, por exemplo, as sees dos gros secionados pelo plano de corte. Os pontos podem ser traados sobre a imagem de duas maneiras: de modo aleatrio ou de modo sistemtico. As duas maneiras so ilustradas na Figura 2.24. O modo sistemtico prefervel, pois o valor medido apresenta menor desvio para um dado nmero total de pontos traados. Isto deve-se ao fato de que no mtodo aleatrio aparecem pontos to prximos que coincidem sobre um mesmo elemento estrutural sendo medido.
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ANTECEDENDO A MEDIO
a b Figura 2.24: Malhas de pontos que se pode traar sobre as imagens para medir. (a) malha de pontos ordenados. (b) malha de pontos aleatrios.
2.4. OUTRAS CONSIDERAES SOBRE DESVIOS DE MEDIO E SOFTWARES DE MEDIO ESTEREOLGICA.

Um fator que afeta significativamente o erro de medio a qualidade das imagens da amostragem empregada na caracterizao estereolgica. Este fator altamente dependente da habilidade do operador e da qualidade do equipamento usado para a tomada das imagens da estrutura. A qualidade das imagens pode ser definida por dois parmetros: contraste e resoluo. Contraste definido como a diferena de cor ou de tom de cinza entre os elementos distintos da estrutura. Quanto maior esta diferena mais fcil ser identificar estes elementos e seus limites na estrutura. Resoluo definida como a distncia mnima entre dois pontos na estrutura em que possvel identifica-los como pontos distintos e no como um s ponto ou uma mancha. Isto significa que abaixo desta distncia no ser mais possvel discernir elementos da estrutura como sendo distintos. Quanto maior a resoluo, obviamente mais fielmente a imagem representar a estrutura real. Contraste e resoluo so altamente influenciados pelas diferentes etapas de registro das imagens e no apenas pela estrutura em si. Obviamente, existem estruturas em que o contraste natural entre seus elementos pobre. Isto estar refletido no contraste das imagens da estrutura. Medies estereolgicas em tais imagens resultaro em desvios maiores. O processo de registro das imagens envolve diversas etapas. A primeira a preparao adequada dos planos de corte. A segunda o uso do microscpio para a observao da estrutura. A terceira a captao das imagens e um eventual tratamento digital dela. A preparao dos planos de corte envolve procedimentos distintos, dependentes da natureza da estrutura. Amostras metlicas submetem-se a procedimento metalogrfico, cermicas a ceramogrfico e as geolgicas a petrogrfico. Resumidamente, estes procedimentos consistem de dar ao plano de corte um aspecto plano e livre de riscos e
24
ANTECEDENDO A MEDIO
ondulaes o mximo possvel para que as imagens destes elementos no se confundam com elementos estruturais verdadeiros e para que a intensidade do feixe de luz refletida seja aumentada, no caso especfico do uso de microscopia tica. As diferenas entre os procedimentos metalogrfico, ceramogrfico e petrogrfico referemse aos materiais, equipamentos e tempos usados para lixamento e polimento dos planos de corte. A preparao de amostras biolgicas segue um procedimento completamente diferente. A descrio da preparao das amostras no o escopo deste curso. Em muitos materiais, a superfcie polida deve ser quimicamente atacada e/ou sofrer um tratamento trmico. Isto feito com o objetivo de aumentar o contraste entre diferentes elementos estruturais. Por exemplo, o nital (soluo de cido ntrico e lcool etlico) um reagente usado em aos. Seu efeito revelar os contornos de gro e os gros perlticos. Os contornos de gro so revelados por serem mais reativos. Ento, eles reagem mais rapidamente com o agente qumico, originando um baixo relevo na superfcie. Isto facilita sua visualizao ao microscpio. Assim, os limites entre gros vizinhos de uma mesma fase podem ser identificados. A boa preparao do plano de corte uma condio necessria, mas no suficiente, para o registro de imagens de boa qualidade. Dito de outro modo: a m preparao do plano de corte, em geral, compromete definitivamente a qualidade da imagem. Procedimentos posteriores raramente conseguem revelar elementos estruturais no mostrados devido m preparao, ou recuperar distores de elementos estruturais introduzidas durante a preparao ou ainda eliminar totalmente elementos que no pertencem estrutura real. O sucesso da boa preparao resultado da disponibilidade de equipamentos adequados ao trabalho, da existncia de uma rotina de preparao especfica para o material sendo trabalhado e da experincia de quem prepara a amostra. Os recursos que possui o microscpio usado para a observao do plano de corte preparado e a habilidade com a qual manejado so outros fatores que definem a qualidade da imagem produzida. Recursos tais como ampliao usada na observao, intensidade de iluminao, ajuste fino de foco, uso de luz polarizada, campo escuro so opes e/ou cuidados a serem tomados para aumentar a qualidade das imagens. O equipamento usado para registrar a imagem outro fator a ser considerado. O caso mais comum registrar a imagem e depois executar o procedimento de medio. Em casos menos comuns, a medio feita diretamente ao microscpio. Isto exige um aparato adicional conectado ao microscpio. Este mtodo, porm, no permite a posterior repetio da medio. Os equipamentos mais comumente usados para o registro das imagens so a cmera fotogrfica com filme de celulide e a cmera digital. As do ltimo tipo esto sendo cada vez mais usadas, pois geram imagens em formato que pode ser usado em computadores e podem receber tratamento posterior em programas de edio de imagens. Entretanto, a resoluo de tais equipamentos ainda no comparvel quela das cmeras de filme de celulide. Em algumas ocasies, as imagens so registradas por uma cmera de celulide, so impressas em papel fotogrfico e so ento convertidas ao formato digital por meio de
25
ANTECEDENDO A MEDIO
um scanner. Este procedimento equivalente ao registro diretamente por cmera digital e vem acompanhado de perda de qualidade de imagem. No raro que antes de se proceder a medio, as imagens sofram um retoque em programas de edio de imagens. Os objetivos de tais tratamentos so: tentar eliminar traos das imagens sabidamente no pertencentes estrutura, aumentar o contraste entre os elementos estruturais, reforar traos estruturais no muito ntidos, eliminar gradientes de luminosidade na imagem, etc. importante salientar que qualquer interveno que se faa sobre a imagem, no importando com qual objetivo, alterar traos verdadeiros da estrutura que foram registrados sobre a imagem. E isto resultar em desvio do valor medido. Deve-se, portanto, considerar a razo custo/benefcio dessas intervenes. A Figura 2.25 esquematiza as opes de registro e tratamento de imagens.
Figura 2.25: O registro da imagem para medio pode ser feito de vrias formas diferentes.
Considerando que as imagens da amostragem foram feitas e esto com qualidade aceitvel, a medio pode ser realizada. A medio estereolgica pode ser executada manualmente, automaticamente ou de modo semi-automtico. No primeiro modo, todo o trabalho realizado pelo operador. Ele traa as FMEs sobre as imagens e procede a contagem de EEs, a medio de comprimentos e de reas que forem necessrias. neste modo de medio que os procedimentos de contagem de eventos mostram sua vantagem sobre aqueles que envolvem medidas de comprimento e de rea. Medies manuais podem durar horas de trabalho contnuo.
26
ANTECEDENDO A MEDIO
A medio automtica envolve a utilizao de programas de computador que realizam todo o procedimento de medida (contagem, comprimento e rea) sem a assistncia do operador, que apenas indica que medies sero feitas em quais imagens. O programa realiza as medidas e fornece um relatrio com os resultados estatisticamente tratados. Os programas mais modernos e robustos trazem embutidos recursos de edio de imagens. Assim, as imagens podem ser trabalhadas tambm por rotinas automticas e logo em seguida medidas pelo mesmo programa. Dezenas de imagens podem ser tratadas e medidas em questo de segundos. No entanto, nem tudo funciona maravilhosamente como as sentenas anteriores induzem a pensar. O ponto fraco destes programas o reconhecimento dos elementos estruturais e dos elementos estereolgicos a serem medidos. Com respeito a isto, o olho humano muito superior aos algoritmos de reconhecimento empregados pelos programas de computador. O desempenho dos programas de medio estereolgica altamente dependente da qualidade e da complexidade da estrutura. Suponha que um determinado programa est sendo empregado para a determinao da quantidade de uma certa fase em uma estrutura multifsica, atravs da contagem de pontos coincidentes com a fase cuja frao se quer determinar. O programa deve reconhecer perfeitamente toda a extenso e os contornos daquela fase para que pontos traados sobre ela possam ser corretamente contabilizados.
a b Figura 2.26: (a) Imagem de microscopia eletrnica (modo ERE) de uma estrutura de metal duro. (b) Zoom de uma interface carbeto/metal/carbeto. Nota-se que os gros de carbeto apresentam diversas tonalidades de cinza e que a fronteira da camada de metal ligante no est nitidamente identificada.
Os algoritmos de reconhecimento baseiam-se principalmente nas caractersticas dos pixels de um dado elemento estrutural. Pixels de caractersticas semelhante so associados a um tipo de elemento estrutural. Caso elementos diferentes possuam pixels de caractersticas parecidas, estes elementos podem ser reconhecidos como elementos idnticos, provocando erros de medio. Estruturas naturalmente complexas e/ou mal preparadas apresentam elementos estruturais de aparncia semelhante. Isto
27
ANTECEDENDO A MEDIO
confunde o programa. A Figura 2.26(a) exibe a estrutura de uma liga de metal duro, registrada no modo de eltrons retro-espalhados de um microscpio eletrnico de varredura. Os gros de carbeto de tungstnio (mais claros) esto dispersos em uma matriz rica em cobalto. A Figura 2.26(b) exibe um zoom da mesma estrutura, destacando a interface de dois gros de carbeto com a fase ligante. Perceba que o tom de cinza dos pixels no varia bruscamente, marcando a fronteira gro/matriz. Ao invs disso, h uma variao gradual. Em que ponto ir o programa reconhecer o contorno de gro? A Figura 2.27 ilustra a mesma imagem mostrada na Figura 2.26(b), porm com uma alterao. Pixels de vrios tons claros de cinza foram coloridos. Caso o programa reconhea a regio colorida como os gros de carbeto, outras regies que poderiam pertencer aos gros de carbeto no seriam contabilizadas, resultando em erros.
Figura 2.27: Regio ampliada da Fig.2.26(a) que sofreu colorao de pixels de alguns tons de cinza. Um programa que use este algoritmo de reconhecimento trabalha com imprecises para identificar os limites das fases.
Erros de medio de comprimento e de rea tambm so cometidos por programas de computador. A Figura 2.28(a,b) ilustra ambos os casos. O programa mede a rea de uma regio multiplicando o nmero de pixels da regio pela rea do pixel, que fixa. E mede o comprimento de uma linha, somando o comprimento das arestas dos pixels que compem a linha. A Figura 2.28(a) mostra que no possvel ajustar, com pixels retangulares, contornos curvos. Assim, partes da regio no tero a rea computada, enquanto que partes no pertencentes regio podem ter a rea computada como pertencente regio. A Figura 2.28(b) mostra que medindo comprimentos atravs da soma das arestas resulta em valores maiores de que o real. Obviamente, a medio manual possui tambm suas fontes de erro. Porm a maior diferena entre os mtodos manual e automtico diz respeito eficincia de reconhecimento dos elementos estruturais. O julgamento humano ainda superior.
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ANTECEDENDO A MEDIO
A escolha do procedimento manual ou automtico para a execuo da medida deve ser resultado da anlise da relao custo/benefcio. O mtodo automtico leva vantagem em rotinas de controle de qualidade em estruturas. Nestes casos, o mesmo tipo de estrutura, de peas fabricadas quase que da mesma maneira, so examinadas. A amostragem segue uma rotina pr-estabelecida. A preparao do plano de corte feita de um mesmo modo. As imagens so registradas segundo o mesmo procedimento e eventualmente editadas semelhantemente. O resultado a medio de imagens de qualidade uniforme, de estruturas que possuem praticamente os mesmos elementos. Nestas condies, possvel desenvolver um mtodo de reconhecimento dos elementos estruturais que apresente desempenho comparvel ao do olho humano e que este desempenho se mantenha imagem aps imagem. Em situaes como esta, a medio automtica incomparavelmente superior.
b Figura 2.28: (a) Representao de uma regio preenchida por pixels. Os pixels no conseguem preencher os contornos curvos. Multiplicar o nmero de pixels por sua rea no iguala a rea da regio. (b) Uma reta inclinada representada em nvel de pixels. A soma das arestas dos pixels no igual ao comprimento da reta. sempre maior.
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ANTECEDENDO A MEDIO
Por outro lado, quando se trabalha com amostras produzidas em um trabalho de pesquisa e desenvolvimento, tem-se uma situao distinta. Geralmente h poucas amostras e suas estruturas possuem caractersticas variveis. No compensa o trabalho de otimizar um mtodo de preparao da superfcie de corte, de edio das imagens, nem de desenvolvimento de uma rotina de reconhecimento. Para estes casos, a medio manual mais eficiente. A medio semi-automtica uma forma hbrida. Ela une a capacidade de reconhecimento do crebro humano, via ao do operador, com as facilidades de medio da mquina.
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FRAO VOLUMTRICA
FRAO VOLUMTRICA
A determinao de fraes volumtricas de fases em uma estrutura a medio mais conhecida e mais fcil de fazer em estereologia. Esta determinao pode ser feita de trs maneiras distintas: frao de pontos, frao linear e frao de rea. As frmulas ser a seguir demonstradas, e seu uso descrito. As relaes so: VV = PP VV = LL VV = AA Em que VV a frao volumtrica AA a frao de rea LL a frao linear e PP a frao de pontos. Estes parmetros sero definidos adiante. (3.1) (3.2) (3.3)
3.1- FRAO DE PONTOS

Considere uma estrutura hipottica contida em um volume teste V cbico de arestas l, como ilustrado na Fig. 3.1. Esta estrutura bifsica, havendo gros de fase (o gro) imerso em uma fase matriz .
Figura 3.1: fase , gros vermelhos, imersos em uma fase matriz. Volume teste cbico. Se colocarmos um ponto aleatrio em qualquer posio do volume teste, a probabilidade de que este ponto atinja a fase , P, dada por (3.4)
31
FRAO VOLUMTRICA
P=
em que V o volume da fase .
V V
(3.4)
Se N pontos forem colocados aleatoriamente no volume teste, espera-se que um V nmero NS deles atinja a fase , sendo N S = NP = N . Manipulando esta expresso, V N V chegamos a S = . O lado esquerdo representa a frao dos pontos que coincide N V com a fase , (PP), e o lado direito representa a frao volumtrica da fase , (VV). Chega-se, portanto a (3.5). (VV ) = ( PP ) Eliminando a referncia fase , a expresso equivale a (3.1). A utilizao prtica desta expresso descrita a seguir. Supondo que as imagens da estrutura foram selecionadas de acordo com o procedimento explicado na seo (2.3.3), Uma grade de N pontos regularmente espaados, ou aleatoriamente determinados, traada sobre a imagem. O nmero de pontos utilizados depende do desvio que se deseja ter. Isto influi no nmero de imagens a ser feito. Deve-se observar a distncia entre os pontos, a qual no deve ser inferior ao tamanho caracterstico da fase (tamanho de gros, por exemplo). Uma vez traada a grade de pontos, procedese uma contagem de quantos dos pontos traados esto sobre a fase . Isto NS. Dividindo NS pelo nmero total de pontos, tem-se a frao volumtrica da fase . (3.5)
3.2- FRAO LINEAR

Considere a estrutura e o arranjo ilustrados na Fig. 3.2. Seja l a aresta do cubo. Suponha um elemento de volume V = l x y cruzando verticalmente a estrutura, V conforme ilustrado na Fig. 3.2, em posio aleatria no plano X-Y. Seja (VV ) = a V frao da fase na estrutura. Sendo assim, espera-se que o volume da fase , V, contida no elemento de volume V seja V = (VV ) V . Suponha uma reta no interior do elemento de volume paralela a seu eixo principal e localizada no centro de sua base. Se as arestas x e y tenderem a zero, o elemento de volume tende reta. Esta reta pode interceptar gros da fase . Seja L(x,y) o comprimento da interseo da fase com a reta localizada no ponto (x,y) do plano de base do volume teste. O volume da fase contida no elemento de volume descrita por (3.6)
V = L ( x, y ) x y
O volume da fase pode ento ser calculado por (3.7)
(3.6)
32
FRAO VOLUMTRICA
V =
0
L ( x, y)dxdy
0
(3.7)
O valor mdio de L(x,y) dado por 1 L = 2 l
L ( x, y)dxdy = l
b
1
2
(3.8)
Figura 3.2: Volume teste cbico da estrutura sendo interceptado por elemento de volume vertical dentro da qual h uma reta teste. Observe que integral dupla o volume da fase . Manipulando esta expresso, chegase a V = l 2 L . Dividindo ambos os lados pelo volume do cubo teste, obtm-se finalmente V L L = l2 3 = V l l O termo da esquerda a frao volumtrica da fase e o termo da direita definido como a frao linear da fase . Chega-se, portanto, expresso seguinte, a qual, eliminando-se o ndice referente fase , torna-se igual expresso (3.2). (VV ) = ( LL ) (3.9) Na prtica, esta expresso usada da seguinte maneira: supe-se inicialmente que as imagens e a grade de linhas paralelas foram selecionadas e traadas conforme o procedimento descrito na seo 2.3.2. Mede-se o comprimento dos segmentos das retas de teste que interceptaram a fase . Estes comprimentos so somados, sendo L. Divide-se isto pelo comprimento total de todas as retas de teste. Este o resultado final. A Fig. 3.3 ilustra o procedimento.
3.3. FRAO DE REA

A Fig. 3.4 descreve um volume teste de uma estrutura bifsica sendo interceptada por um elemento de volume na forma de fatia fina de espessura y. Seja l a aresta do cubo. O volume do elemento dado por V = l 2 y . Esta fatia contm um plano paralelo
33
FRAO VOLUMTRICA
sua face maior e que passa no centro de sua espessura. Seja (VV ) = volumtrica da fase na estrutura.
V a frao V
Figura 3.3: segmentos de interseo entre as retas de teste e as sees dos gros.
Figura 3.4: volume teste sendo interceptado por uma fatia vertical na qual passa um plano paralelo. O volume da fase contida no elemento de volume dado por
V = (VV ) V = (VV ) l 2 y
Seja A(y) uma funo que d o valor da rea da fase que interceptada pelo elemento de volume que corta o cubo teste na coordenada y, ento o volume da fase alfa dentro do cubo teste
34
FRAO VOLUMTRICA
l
V = A ( y )dy
0
(3.10)
e seu valor mdio dado por
A =
1 A ( y )dy l 0
(3.11)
Como a integral corresponde ao volume da fase , ento temos A = escrevemos esta expresso e dividimos ambos os lados pelo volume teste V l A = A = V V A
V . Rel
O lado esquerdo a frao volumtrica da fase e o lado direito a frao de rea desta fase. Assim, a expresso toma a forma seguinte, (VV ) = ( AA ) (3.12) Que equivalente expresso (3.3), se retirarmos o ndice da fase . Na prtica esta expresso aplicada do seguinte modo: supondo que o plano teste e suas imagens foram obtidos segundo o procedimento descrito na seo (2.3.1), emprega-se um programa que mea a rea das sees dos gros da fase e divide-se este valor pela rea da imagem. O resultado o valor desejado. Note que dos trs mtodos equivalentes descritos, o de contagem de pontos o mais simples, fcil e preciso. Simples porque o procedimento de escolha das imagens e da grade de pontos o menos complicado de todos. Fcil porque o procedimento envolve apenas a contagem e no medidas de comprimento ou de rea. Preciso porque os erros envolvidos em contagem so sempre inferiores aos envolvidos em medidas de comprimento e de rea.
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CLCULO DE SUPERFCIE
CLCULO DE SUPERFCIE
De modo bastante simples, possvel determinar reas de superfcies em estruturas. Superfcies podem ser contornos de gros, interfaces ou membranas. Considere a Figura 4.1. Trata-se de um volume teste de volume V e de arestas l, dentro do qual h um elemento de superfcie de rea A. Suponha que este volume teste seja interceptado por uma reta paralela ao eixo Z, de posio arbitrria no plano X-Y. A probabilidade P1 deste elemento de volume ser interceptado pela reta vertical dada por
P 1 =
A cos
l2
(4.1)
em que o numerador a rea da sombra que o elemento de superfcie projeta sobre o plano X-Y e o ngulo entre uma reta perpendicular reta teste e a linha ortogonal ao elemento de superfcie.
Figura 4.1: elemento de superfcie inclinado de sendo interceptado por reta teste. Se mudarmos a orientao do cubo, preservando a estrutura, o ngulo ir mudar. Se procedermos ao mesmo clculo de P1 para diversas orientaes do cubo teste, a probabilidade de a reta interceptar o elemento de superfcie na j-sima posio dada por
j P 1 =
A cos j
l2
(4.2)
Se calcularmos a probabilidade mdia para todas as orientaes, encontramos
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CLCULO DE SUPERFCIE
P 1 =
A cos j
l
2
A
l2
cos j
(4.3)
mas cos j =
1 , logo a expresso (4.3) torna-se 2
P 1 =
1A 2 l2
(4.4)
Suponha agora que uma superfcie de rea A est inserida no volume de teste. Dividimos a superfcie em n segmentos de superfcie de mesma rea A. Como a superfcie pode ter qualquer forma, podemos mesmo ser descontnua, fechada ou aberta, o vetor perpendicular a cada segmento ter ngulos diferentes com respeito direo Z. A probabilidade de uma reta de teste interceptar a superfcie inteira dada por
A P 1 = P 1 = n 1 n
A
2l
2
(n A) A = 2 2 2l 2l
(4.5)
Note que o termo entre parntesis a rea total da superfcie. Agora, se ao invs de uma, traarmos N retas de teste verticais e paralelas atravs do cubo de teste, espera-se que um nmero NC delas intercepte a superfcie, que dado por
A N C = NP 1 =
NA 2l 2
(4.6)
Considerando que o comprimento total das N linhas L = Nl , ento multiplicando numerador e denominador do lado direito de (4.6) por l, temos
NC =
Re-escrevendo (4.7), chegamos a
NA l L A = 2l 2 l V 2
(4.7)
2 NC A A = . Definimos como sendo a rea de V L V NC superfcie por unidade de volume da estrutura, SV. Enquanto que tem um L significado especial. Ele representa o nmero de vezes que as retas de teste interceptaram a superfcie por unidade de comprimento de reta de teste, denotado por PL. Podemos finalmente escrever SV = 2 PL
Na prtica, esta expresso usada da seguinte maneira: 1. As imagens e as retas de teste so produzidas segundo o procedimento descrito na seo (2.3.2). 2. Medimos o comprimento total das linhas de teste e contamos o nmero de vezes que as linhas de teste interceptam a superfcie. Como foi dito, no importa se a (4.8)
37
CLCULO DE SUPERFCIE
superfcie seja aberta, fechada, contnua ou descontnua. A superfcie vista na imagem como uma linha. 3. Dividimos este nmero pelo comprimento total das linhas e empregamos em (4.8). Esta ser a rea por unidade de volume da estrutura. 4. Para determinar a rea da superfcie basta multiplicar o valor encontrado no item anterior pelo volume de teste.
Figura 4.2: Corte de estrutura contendo dois tipos de superfcies: interface dos gros e membranas descontnuas (vistas apenas como linhas). As reas de ambas podem ser determinadas. As retas de teste cortam 24 vezes as interfaces dos gros e 4 vezes as membranas.
1 . Para isso considere a Fig. 4.3. Trata-se 2 de um hemisfrio e um eixo vertical. Um anel de largura angular d est destacado. Qualquer segmento de superfcie deste anel ter o vetor perpendicular a ele inclinado em com respeito ao eixo vertical. Se dividirmos este hemisfrio em segmentos de rea igual, vemos que a probabilidade de termos um segmento inclinado com ngulo depende da rea de cada anel. A rea de cada anel varia em funo de . Sendo assim, a probabilidade de uma reta interceptar um segmento inclinado em depende deste ngulo, sendo menor para ngulos menores, ou seja, para segmentos mais prximos do topo do hemisfrio.
Temos agora que demonstrar que cos j = A probabilidade de termos um segmento com inclinao entre e +d dada por
P ( )d =
rea do anel (2 rsen )(rd ) = = sen d rea do hemisfrio 2 r 2
(4.9)
sendo r o raio do hemisfrio. O valor mdio de cos , portanto,
cos = P ( ) cos d = sen cos d =

0 0
1 2
(4.10)
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CLCULO DE SUPERFCIE
Figura 4.3: Hemisfrio com anel de largura angular d, posicionado em uma inclinao . Sua rea varia conforme a inclinao. O nmero de segmentos de rea igual em cada segmento depende da rea do respectivo segmento. Superfcies internas de espessura finita. Em muitas ocasies, o que est sendo tratado como uma superfcie possui espessura finita, ou seja, trata-se de fato de um corpo tridimensional. Neste caso, existem duas alternativas. 1- Pode ser interessante considerar o corpo como uma verdadeira superfcie. Assim, o tratamento segue aquele descrito no item anterior. 2- Pode ser mais conveniente tratar o corpo como tridimensional. Neste caso, sua superfcie passa a ser o dobro maior. Assim, ao contarmos o nmero de vezes que as retas de teste interceptam a superfcie, multiplicamos este valor por dois. Deste modo, consideramos a rea das superfcies da frente e de trs. Interfaces de partculas dispersas em uma matriz Neste ponto, importante salientar uma diferena entre contagens que podem ser feitas em uma estrutura. Na seo anterior, introduziu-se o parmetro PL como sendo o nmero de vezes que retas de teste cruzavam a interface, dividido pelo comprimento da linha de teste. Vamos considerar o caso de uma estrutura binria de partculas de uma fase imersa em uma matriz, conforme as situaes ilustradas na Fig. 4.4. Supomos que estamos contando o nmero de vezes que a linha teste cruza a interface entre um gro da fase e a fase matriz. No caso ilustrado em (a), temos que todos os gros de esto totalmente dispersos na matriz, alm disso, todos os gros so convexos. A contagem 6 (pontos azuis). Uma outra forma de contagem a do nmero de gros interceptados pela linha teste, ou ainda o nmero de interceptos entre os gros e a linha teste (segmentos vermelhos cheios), por unidade de comprimento, denotado por NL. Esta contagem 3. Para este caso, temos que PL = 2 N L . No caso visto em (b), v-se que a linha teste intercepta tangencialmente um dos gros de . Quando isto ocorre, o intercepto contado como . Assim, a contagem de intercepto ser 4,5. No caso de estarmos contando quantos interceptos foram gerados, situaes de tangncia so tambm contadas como . Contudo, quando o nmero de tangentes muito elevado, a relao PL = 2 N L no vale. Nestes casos, PL e NL devem ser contados separadamente, ao invs obtidos a partir do outro.
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CLCULO DE SUPERFCIE
Na situao (c), tem-se que existe um gro cncavo. Este tipo de gros pode ser interceptado pelas retas de teste mais de uma vez. O nmero de interceptos da reta com a interface de 8. O nmero de interceptos de 4. Note aqui a diferena entre contar gros e contar interceptos. Para este caso, vlida a relao PL = 2 N L . Na situao (d), tem-se que dois gros da fase possuem uma interface comum. Para este caso, a interface comum contada apenas uma vez. No caso, a contagem 7, sendo seis de interfaces -matriz e uma da interface -. J a contagem do nmero de segmentos de interceptos 4. Em casos assim, usamos a relao
( N L )
2( PL ) + ( PL ) M 2
em que (NL) a contagem do nmero de interceptos com a fase por unidade de comprimento.
Figura 4.4: situaes em que se deseja calcular a contagem de segmentos de interceptos e o nmero de interceptos da linha teste com a interface dos gros. A situao (e) representa o caso em que se deseja determinar o nmero de gros que foram interceptados pelo plano de corte na rea delimitada retangular. Os gros totalmente no interior do retngulo so contados integralmente. Os gros que so cortados pelo contorno so contados parcialmente (1/2). Assim, o resultado 4. Digno de observao ainda a diferenciao entre estruturas do tipo dispersa, como aquelas mostradas na Fig. 4.4 e a estrutura monofsica, conforme ilustrada na Fig. 4.5. Neste tipo de estrutura, os gros pertencem a uma fase somente. Eles se tocam sem deixar vazios. Para casos assim, PL = N L . Note que cada segmento de intercepto de gro no totalmente includo no campo contado como .
Figura 4.5: contagem de interceptos em estruturas monofsicas.
40
CLCULO DE SUPERFCIE
Em casos como aqueles representados por (a) e (c), a expresso (4.8) pode ser reescrita como
( SV ) = 4( N L )
Equao de Tomkeief para objetos tridimensionais.
(4.11)
Podemos usar a expresso (4.8) para demonstrar um resultado um resultado interessante que define um comprimento caracterstico de objetos tridimensionais. Primeiramente suponha uma esfera. intuitivo propor que seu tamanho o dimetro. No entanto, quando se trata de geometria no regular, definir um tamanho caracterstico no nada bvio. Uma das maneiras de se definir isto usando o conceito de intercepto linear mdio. Suponha um objeto interceptado por um nmero muito grande de retas aleatoriamente orientadas. Medindo o comprimento do segmento de interseo entre cada reta e o objeto (intercepto linear) e fazendo a mdia aritmtica, tem-se o intercepto linear mdio
L3 =
1 N
(L )
i =1
3 i
(4.12)
Em que o ndice 3 significa que se trata de um comprimento caracterstico do espao tridimensional. Esta medio pode ser feita da seguinte maneira: objetos iguais so embutidos em uma resina. Supe-se que estes objetos esto aleatoriamente orientados no espao e homogeneamente dispersos na resina. Fazemos um corte nessa estrutura. Os objetos so secionados. Uma grade de retas traada sobre o plano de corte. Medimos o comprimento total dos segmentos e dividimos pelo comprimento total das retas de teste. Isto LL. Contamos o nmero de segmentos de interceptos lineares e dividimos pelo comprimento total de retas de teste. Isto NL. O intercepto linear mdio dado por
L3 =
LL NL
(4.13)
As expresses (4.12) e (4.13) so equivalentes, se um nmero elevado de segmentos aleatoriamente escolhidos medido. Sabemos que VV = LL e que ( SV ) = 4( N L ) . Substituindo as duas expresses em (4.13), temos
L3 =
(V ) LL (VV ) = =4 V N L ( SV ) ( SV ) 4
(4.14)
Se for considerada uma nica partcula dentro de um volume de teste, tem-se que (VV) o prprio volume da partcula e (SV) sua superfcie. Assim, (4.14) torna-se
L3 = 4
V S
(4.15)
Isto significa que o intercepto linear mdio de uma esfera de raio R
41
CLCULO DE SUPERFCIE
4 R 3 4 L3 = 4 3 2 = R 4 R 3
Considerando agora um conjunto de partculas de diferentes formas e tamanhos, mas todas convexas, a expresso (4.14) continua vlida. Dividindo numerador e denominador pelo nmero de partculas por unidade de volume NV, tem-se
(VV ) NV V L3 = 4 =4 S ( SV ) NV
(4.16)
Em que o numerador o volume mdio de partcula e o denominador a rea superficial mdia das partculas. Esta expresso pode ser rearranjada para determinar a superfcie especfica mdia das partculas a partir da medio do intercepto linear mdio. Isto d indicao da reatividade qumica e da sinterabilidade de um p.
S 4 = V L3
(4.17)
Mtodo de Saltikov para determinao da rea superficial especfica de partculas. Saltikov props um mtodo para determinar a rea superficial especfica de um p ou de gros de uma fase dispersa. Para o caso de um p, deve-se embutir uma poro representativa de partculas em uma resina. Prepara-se adequadamente uma seo de corte. Partculas do p sero secionadas. Para o caso de uma estrutura com gros dispersos em uma matriz, seciona-se a estrutura e prepara-se o plano de corte adequadamente. Uma grade de linhas traada sobre a imagem, como ilustra a Fig. 4.6. Os pontos de encontro entre as linhas de teste formam a grade de pontos. Assim, a grade de retas gera tambm a grade de pontos. Seja Si a rea superficial da i-sima partcula e Vi seu volume. A rea total ser a somatria das reas individuais e o volume total ser o somatrio dos volumes. Dividindo a rea total pelo volume total tem-se a rea superficial especfica do p. Dividindo-se agora a rea total pelo volume da estrutura, tem-se a rea total por unidade de volume. Dividindo-se o volume total das partculas, ou gros, pelo volume da estrutura, tem-se a frao volumtrica das partculas ou dos gros dispersos na estrutura.
S V
S
i
S V = T = V Vi VV VT
Sabe-se, contudo que SV = 2 PL e que VV = PP . Logo, temos finalmente
42
CLCULO DE SUPERFCIE
SV 2 PL = VV PP
(4.18)
O uso desta expresso muito simples. Na Fig. 4.5, o nmero de vezes que as retas de teste cruzam a interface das partculas ou gros 10. Dividindo-se isto pelo comprimento total das linhas de teste, obtm-se PL. O nmero de pontos da grade que cai dentro das partculas ou gros 4. Dividindo-se isto pelo total de pontos da grade de pontos, 6, tem-se PP.
Figura 4.6: ilustrao de aplicao do mtodo de Saltikov para determinao da rea superficial especfica.
43
MEDIDAS DE COMPRIMENTO
Existem dois clculos de comprimento em estruturas que interessam. Um o do comprimento de linhas em um plano. Este o caso de se calcular o comprimento de linhas de contorno de gro em uma imagem de plano de corte, ou o de calcular o comprimento de trincas no plano de corte. O outro tipo de clculo refere-se ao comprimento de uma linha no espao tridimensional. Um exemplo tpico o comprimento de linhas de discordncias.
5.1- Comprimento de linhas em planos.

Suponha um segmento pequeno de uma linha em um plano cartesiano, conforme mostra a Fig. 5.1. De to pequeno, o segmento aproximado por um segmento de reta. Suponha tambm que o quadrado teste interceptado por uma reta vertical que corta o eixo X em um ponto aleatrio. O ngulo de inclinao do segmento em relao reta vertical .
Figura 5.1: Segmento de comprimento L interceptado por uma reta de teste. A inclinao entre o segmento e a reta de teste de . Se o comprimento do segmento , ento sua sombra projetada sobre o eixo X Lsen. Seja l a aresta do quadrado teste, a probabilidade P1 deste segmento ser interceptado pela reta
P 1 =
Lsen
l
(5.1)
Obviamente, o ngulo de inclinao depende da orientao dada aos eixos cartesianos. Mudando a orientao dos eixos, muda o ngulo de inclinao e, por conseguinte a probabilidade P1. Escolhendo um nmero muito grande de eixos com diferentes orientaes, a probabilidade de o segmento ser interceptado pela reta teste para a j-sima orientao
j P 1 =
Lsen j
l
(5.2)
Como no podemos ficar medindo o ngulo de inclinao de cada segmento de reta com a reta de teste utilizada, razovel trabalhar com a probabilidade mdia, ao invs
44
CLCULO DE SUPERFCIE
de com a probabilidade de cada caso. Assim, para um dado segmento, a probabilidade mdia dele ser interceptado por uma reta teste dada por
P 1 =
Lsen j
l
L
l
sen j
(5.3)
Porm, sen j =
, ento (5.3) torna-se
P 1 =
2 L l
(5.4)
Suponha agora uma linha qualquer, contnua ou descontnua, de comprimento total L. Dividimos esta linha em n segmentos iguais de comprimento L. A probabilidade PT desta linha ser interceptada pela reta de teste
n 2 L 2 (n L) 2 L PT = P = 1 i = n = l l l i =1
(5.5)
Suponha que temos agora N retas de teste verticais. Espera-se que o nmero de retas que interceptaram a linha seja
N C = NPT =
2 NL l
(5.6)
O comprimento total das N retas de teste LT = Nl . Sendo assim, as igualdades a seguir so vlidas
N Nl LT = 2 = l l AT
em que AT a rea do quadrado teste. Substituindo a expresso acima em (5.6), temos
NC =
ou ainda
2 LT AT
(5.7)
L NC = AT 2 LT
(5.8)
O termo da esquerda o comprimento da linha por unidade de rea teste, enquanto N que a razo C o nmero de vezes que a linha foi interceptada pelas linhas de teste LT por unidade de linha teste. A expresso (5.8) pode ser re-escrita como
LA =
PL
(5.9)
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Esta expresso continua vlida mesmo se forem usadas ciclides ou crculos ao invs de retas de teste. Na prtica, esta expresso usada da maneira ilustrada na Fig. 5.2. Uma grade de retas traada sobre a imagem. Calcula-se o comprimento total das retas de teste. Conta-se quantas vezes a linha foi interceptada pelas retas de teste. Divide-se este valor pelo comprimento total das retas de teste. Este PL. Substitui-se na expresso (5.9) para determinar LA. Multiplicando-se este valor pela rea do quadrado teste, temse o comprimento da linha.
Figura 5.2: Determinao de comprimento de linha atravs da contagem de interceptos dela por retas de teste. Resta demonstrar que
sen =
segmento de comprimento L na origem, inclinado de um ngulo em relao ao eixo vertical. A probabilidade de ocorrer um segmento como este, cuja inclinao varia entre d d e + definida como P()d. Note que tal situao produz uma projeo 2 2 sobre o crculo de comprimento Rd, sendo R o raio do crculo. Assim, a probabilidade mencionada escrita por
. Para isto considere a Fig. 5.3 ilustrando um
P ( )d =
Rd 2 = d R 2
(5.10)
Ou seja, a razo entre a projeo mencionada e o comprimento de um quadrante do crculo. O quadrante foi usado por questo de simetria, uma vez que os demais eram redundantes. Continuando

sen = P ( )sen d =
0
sen d =
0
(5.11)
46
CLCULO DE SUPERFCIE
Figura 5.3: A probabilidade de um segmento ter angulao em certo intervalo proporcional projeo deste intervalo angular sobre o permetro do crculo.
5.2- Permetro de curvas fechadas em planos.

Suponha um gro sendo secionado por um plano teste. H uma seo dele no plano. Esta seo uma curva fechada, podendo ser cncava ou convexa. Suponha ainda que esta seo interceptada por uma reta. Isto dar origem a um segmento de interseo entre a reta e a seo, denominado intercepto linear e representado como L2, em que o ndice 2 indica que trata-se de um intercepto obtido de uma seo planar, e no de um intercepto de um gro tridimensional. Utilizando um nmero muito grande de retas aleatoriamente orientadas que cortam a seo, haver muitos interceptos lineares. A mdia aritmtica destes interceptos definido como o intercepto linear mdio
L2 =
1 N
(L )
1
2 i
(5.12)
Uma forma equivalente de definio e de medio deste intercepto mdio pegar o grande nmero de sees exatamente iguais aleatoriamente orientadas sobre um plano e traar sobre elas uma grade de retas de teste. Haver muitos interceptos entre as retas e as sees. Definindo LL como sendo o comprimento de todos os interceptos por unidade de reta de teste e NL como sendo o nmero de interceptos por unidade de reta de teste, o intercepto linear mdio pode ser definido equivalentemente por
L2 =
Sabemos que LL = AA e que N L =
LL NL
(5.13)
PL . A expresso (5.13) pode ser re-escrita como 2 L2 = 2 AA PL

(5.14)
Supondo agora que todas as sees so convexas, o permetro mdio das sees dado por
47
LP =
LA NA
(5.15)
em que LA o comprimento total dos permetros (comprimento de linha) por unidade de rea teste e NA o nmero de sees (e no de interceptos lineares por isso a suposio de sees puramente convexas) por unidade de rea teste. Utilizando a expresso (5.9), obtemos
LP =
PL
2 NA
(5.16)
Esta expresso permite o clculo do permetro mdio de seo atravs da contagem de pontos e da contagem de sees. Veja na Fig. 5.4 o procedimento ilustrado. Uma grade de retas de teste traada sobre as sees convexas existentes em uma rea de teste de rea conhecida. O comprimento total das retas de teste medido. Contamos o nmero de intersees entre o permetro das sees e as retas de teste dividimos pelo comprimento total das retas de teste. Este PL. Contamos o nmero de sees existentes na rea teste e dividimos por sua rea. Este NA. Aplicando a expresso (5.16), chega-se ao permetro mdio.
Figura 5.4: Contagens utilizadas para determinao de permetro mdio de seo. H 16 intersees e 4 sees. A rea mdia de seo dada por
A=
AA NA
(5.17)
Em que NA o nmero de sees por unidade de rea teste e AA a rea de todas as sees dividida pela rea do quadrado teste. Substituindo (5.16) e (5.17) em (5.14), obtemos
L2 = 2
AN A 2
N A LP
A LP
(5.18)
Esta expresso relaciona o intercepto linear mdio, o permetro mdio e a rea mdia de seo. Ela equivalente duas dimenses expresso (4.14) em trs dimenses.
48
CLCULO DE SUPERFCIE
Para uma nica seo, a rea mdia a rea da prpria seo e o permetro mdio o permetro da prpria seo. Portanto, temos para uma nica seo
L2 =
A LP
(5.19)
Esta expresso pode ser empregada no espao tridimensional, caso uma condio especial seja atendida. Isto significa que a expresso pode relacionar o permetro de seo de gro, que um parmetro bidimensional, a um parmetro tridimensional. Se existem muitas sees de gros no plano de corte examinado, ento a rea mdia de seo no plano de corte converge para a rea mdia de seo dos gros. Da mesma forma, a medida de intercepto mdio nas sees do plano de corte, L2 , converge para o valor do intercepto linear do gro, L3 , possibilitando o uso do permetro mdio de seo e rea mdia de seo, os quais podem ser determinados em sees de corte por softwares analisadores, ao intercepto linear mdio do gro. Para uma estrutura monofsica, tem-se que PL = N L e LL = AA = 1 . Supondo que todos os gros so convexos, a expresso (5.13) torna-se
L2 =
e a expresso (5.17) torna-se
1 1 = PL N L
(5.20)
A=
1 NA
(5.21)
Considerando a expresso (5.9) que d o comprimento de uma linha e lembrando que em uma estrutura monofsica o permetro deve ser contado em dobro, pois cada contorno de gros representa o permetro de cada gro em contato, o permetro mdio de gro
PL LA A 2 LP = 2 =2 = APL = 1 NA L2 A
Ou ainda
LP = A L2
(5.22)
(5.23)
5.3- Comprimento de linhas do espao tridimensional.

Suponha um segmento de linha com comprimento L dentro de um volume de teste cbico de aresta l. Este segmento est inclinado de um ngulo em relao ao eixo Y, como ilustra a Fig. 5.5. O segmento projeta sobre o eixo Y uma sombra de comprimento Lcos.
49
Figura 5.5: Segmento de linha interceptado por plano vertical. O segmento faz um ngulo com o eixo Y. Um plano paralelo ao plano X-Z corta o cubo de teste cortando o eixo Y em um ponto qualquer. A probabilidade de o segmento ser interceptado pelo plano dada por
P 1 =
L cos
l
(5.24)
Se mudarmos a direo do cubo de teste, o ngulo de inclinao muda e com isso muda a probabilidade. Como das outras vezes, mudamos a orientao do volume de teste e tiramos a probabilidade mdia de um plano interceptar o segmento. Ela dada por
P 1 =
L cos j
l
L
l
cos j =
1 L 2 l
(5.25)
pois, como vimos, o valor mdio do cosseno meio. Suponha agora uma linha e no mais um segmento de linha. Esta linha tem comprimento L e pode ser dividida em n segmentos de comprimento L. A probabilidade de um plano cortar esta linha dada por
PT =
i =1
1 L 1 n L 1 L = = 2 l 2 l 2l
(5.26)
Se N planos paralelos ao primeiro forem colocados no cubo. Espera-se que um nmero deles intercepte a linha. Este nmero dado por
N C = NPT =
NL NL l 2 L Nl 2 L AT = = = 2l 2l l 2 2 l 3 2 VT
(5.27)
em que AT a rea de todos os N planos de teste e VT o volume do cubo teste. A expresso (5.27) pode ser rearranjada para
N L =2 C VT AT
(5.28)
O termo da esquerda o comprimento da linha por unidade de volume. O termo da direita o nmero de intersees entre os N planos e a linha teste. Contudo, N planos
50
CLCULO DE SUPERFCIE
interceptar uma s linha estatisticamente equivalente a N linhas iguais interceptarem um plano. A expresso pode ser finalmente escrita como
LV = 2 PA
(5.29)
Na prtica, esta expresso pode ser usada da seguinte maneira. Um plano, ou diversos planos aleatrios, selecionado conforme o procedimento descrito na seo (2.3.1) e imagens so registradas. A interseo deste plano com a linha so pontos. Determinamos a rea em que estes pontos so contados e contamos os pontos. Dividindo o resultado da contagem com a rea da regio, determinamos PA. A demonstrao de
1 segue o mesmo raciocnio usado no captulo 4. 2 Devemos apenas adaptar o procedimento para um segmento linear e no de siperfcie. cos j =
Segundo a Fig. 5.6, a probabilidade de ocorrer um segmento com inclinao entre d d e + igual rea do anel projetado pela variao angular d sobre a 2 2 casca esfrica, dividida pela rea do hemisfrio, pois todos os segmentos existentes naquele anel possuem a inclinao mencionada.
Figura 5.6: o segmento colocado na origem possui a mesma inclinao de qualquer segmento no anel. A probabilidade de encontrarmos um segmento com esta inclinao proporcional rea do anel.
P ( )d = sen d
O valor mdio , portanto, determinado do mesmo modo que no captulo 4.
(5.30)
5.4- Livre caminho mdio em estrutura bifsica dispersa.

A Fig. 5.7 exibe uma imagem de uma estrutura bifsica hipottica, constituda de gros esfricos de uma fase dispersos em uma matriz de fase . Traando uma grade de linhas sobre a imagem, possvel determinar o intercepto linear mdio dos gros da fase , medindo o comprimento total dos interceptos dos gros e dividindo-o pelo nmero destes interceptos. Igualmente, medindo-se o comprimento total dos interceptos com a fase e dividindo pelo nmero de interceptos, determina-se o intercepto linear mdio da fase . Este parmetro recebe o nome alternativo de livre caminho mdio por ser a fase a matriz da estrutura.
51
O livre caminho mdio ganha um significado especial, pois em alguns materiais compsitos a fase matriz desempenha um papel de aglutinante da fase dispersa, sendo responsvel pela condutividade eltrica, ou pela tenacidade do material. Neste ltimo caso, o livre caminho mdio est relacionado dureza e tenacidade do material. O livre caminho mdio da fase matriz definido como
( L3 ) =
( LL ) ( N L )
(5.31)
Porm, ( LL ) = (VV ) . Considerando ainda que como a estrutura binria, ento
(VV ) = 1 (VV ) . Adicionalmente, ( N L ) = ( N L ) , pois sendo a estrutura dispersa, sobre

uma linha, gros e fase matriz esto alternadas. Com isso, a expresso (5.31) torna-se
1 (VV ) ( N L )
(5.32)
Figura 5.7: Plano de corte de uma estrutura binria constituda de fase matriz e fase dispersa de sees circulares. Sobre a imagem est traada uma grade de retas de teste com as quais se pode medir o intercepto linear e o livre caminho mdio. Ao contrrio do que afirmado por alguns autores de que o livre caminho mdio representa um parmetro bidimensional, ele um parmetro tridimensional, pois a definio de livre caminho mdio (5.31) vlida em 2D e 3D. Manipulando adequadamente a expresso (5.32)
1 (VV )
( N L )
(VV ) 1 = ( L3 ) ( N L ) ( N L )
(5.33)
Podemos encontrar o significado do termo . Veja na Fig. 5.8, uma linha de crculos representando sees mdias de gros. Seja o dimetro destes gros L3 e a distncia
52
CLCULO DE SUPERFCIE
entre os contornos de dois gros prximos , ento pode ser interpretado como a distncia mdia entre os centros de gros vizinhos.
Figura 5.8: O termo significa a distncia entre os centros de gros vizinhos de tamanho caracterstico sendo o intercepto linear mdio. O intercepto mdio e o livre caminho mdio podem ser escritos como na equao (4.14)
L3 = 4
e
(VV ) ( SV )
(5.34)
=4
(VV ) ( SV )
(5.35)
como (VV ) = 1 (VV ) e ( SV ) = ( SV ) , ento (5.35) torna-se
=4
4 ( SV )
1 (VV )
( SV )
( SV )
4 (VV )
( SV )
( SV )
L3
(5.36)
Porm,
L3 . Assim, podemos re-escrever (5.36) finalmente como (VV )
= L3
1 (VV ) (VV )
(5.37)
Nesta expressa, nota-se que mantendo a frao volumtrica da fase constante, aumentando o tamanho dos gros de , o livre caminho mdio da matriz aumenta. deste artifcio que se vale alguns compsitos de fase dispersa dura para aumentar a tenacidade de um material mantendo inalterada sua composio.
53
CORPOS CONVEXOS
RELAES GERAIS PARA CORPOS CONVEXOS

Existe uma srie de expresses matemticas simples que relacionam importantes parmetros geomtricos de corpos convexos de qualquer forma. Em seguida essas relaes sero apresentadas e deduzidas. Elas so teis quando se est trabalhando com gros convexos e se deseja explorar alguma de suas propriedades geomtricas. Estas relaes esto limitadas a um corpo s. Elas no so apropriadas para se trabalhar com conjunto de corpos. Algumas delas so teis de fato apenas se certas propriedades tais como rea superficial, volume etc so perfeitamente conhecidas.
6.1- Consideraes preliminares.

Para a derivao das relaes a seguir, alguns pontos descritos a seguir so supostos verdadeiros: 1- A rea projetada mdia calculada tomando todas as orientaes possveis da partcula igual rea projetada mdia de muitas partculas de mesma forma e tamanho, aleatoriamente distribudas no espao. 2- Um plano ou linha de teste que intercepta um corpo n vezes estatisticamente equivalente a n planos ou linhas de teste aleatrias interceptando o corpo uma nica vez cada. 3- A frao de linhas paralelas e uniformemente espaadas que interceptam um corpo dentro de um volume teste igual razo entre a rea projetada do corpo e a do volume teste. A frao de planos paralelos e uniformemente espaados que interceptam um corpo dentro de um volume teste igual razo entre a altura projetada do corpo e do volume teste.
6.2- Definies bsicas.

Antes de iniciar as demonstraes faz-se necessrio uma descrio dos diversos parmetros geomtricos relacionados aos corpos. 1- Volume do corpo, V. 2- rea superficial do corpo convexo, S. 3- Intercepto de um corpo convexo, L3. O segmento formado pela interceptao do corpo convexo por uma reta. 4- Intercepto mdio de um corpo convexo, L3 : calculado tomando-se a mdia aritmtica de uma grande quantidade representativa de interceptos do corpo. 5- rea de seo de um corpo convexo, A. A rea da seo formada pelo corte do corpo por um corpo convexo. Esta seo ser obrigatoriamente convexa.
54
CLCULO DE SUPERFCIE
6- rea mdia de seo de um corpo convexo, A : calculada tomando-se a mdia aritmtica de uma grande quantidade representativa de reas de seo do corpo. 7- rea projetada de um corpo convexo, A. A Fig. 6.1 ilustra o que a rea projetada de um corpo. Iluminando um corpo em dada direo, uma sombra do corpo ser projetada naquela direo. A rea da sombra definida como a rea projetada do corpo naquela direo. equivalente seo de choque do corpo. Obviamente, este parmetro depende do tamanho e da forma do corpo e da direo tomada. 8- rea projetada mdia de um corpo convexo, A ' : a mdia aritmtica das reas projetadas tomadas em muitas direes estatisticamente representativas de todas as direes possveis. 9- Altura projetada de um corpo convexo, H. A Fig. 6.1 tambm ilustra o significado deste parmetro. Ele a altura da sombra projetada do corpo. Portanto tambm depende da direo. Pode tambm ser denominada distncia efetiva de corte, pois o corpo ser necessariamente cortado ao menos uma vez por planos paralelos com distncia menor do que essa. 10- Altura projetada mdia de um corpo convexo, H ' : a mdia aritmtica das alturas projetadas tomadas em um grande conjunto representativo de direes.
Figura 6.1: Corpo convexo prismtico em um volume teste cbico. H trs projees do corpo nas trs direes principais. A rea de cada sombra a rea projetada. Em cada sombra projetada h uma linha indicando a altura projetada do corpo.
6.3- Penetrao por linhas de teste.

Suponha um corpo convexo no interior de um volume cbico teste de aresta l. Uma reta de comprimento l intercepta o volume teste na direo Z, mas em um ponto (x,y) aleatrio. A probabilidade de ocorre a interceptao do corpo pela reta dada por
55
CORPOS CONVEXOS
P 1 =
A' l2
(6.1)
em que A a rea projetada do corpo naquela direo e o denominador a rea da face do cubo. Se N retas paralelas interceptarem o volume teste em posies (x,y) aleatrias (veja Fig. 6.2), espera-se que um certo nmero n delas intercepte o corpo
n=P 1N =
A' N l2
(6.2)
Figura 6.2: Conjunto de retas verticais interceptando volume teste no qual existe um corpo convexo. Um nmero de linhas proporcional rea projetada do corpo na direo Z ir interceptar o corpo. O comprimento total das linhas de teste
LT = Nl
Dividindo (6.2) por (6.3), tem-se
(6.3)
n A' N A' A' = = = = N1L LT Nll 2 l 3 V
(6.4)
Em que N1L o nmero de vezes que o corpo foi interceptado pelas retas por unidade de comprimento das retas. Suponha que sejam colocados agora no cubo teste corpos convexos iguais, porm aleatria e independentemente orientados. Cada corpo ter uma rea projetada na direo das retas. Os valores das reas projetadas variam desde um valor mnimo a um valor mximo. Dividindo este intervalo de reas projetadas em classes, para um corpo com rea projetada da i-sima classe, vale a seguinte expresso para o nmero de retas que interceptam o corpo
N1iL =
Ai' V
(6.5)
56
CLCULO DE SUPERFCIE
Supondo que h i partculas com esta classe de rea projetada, ento o nmero de vezes que as N retas interceptam essas i partculas por unidade de comprimento A' i NL = i i (6.6) V Considerando agora todas as classes de rea projetada, o nmero de vezes que as N retas interceptam o conjunto de partculas A' 1 i NL = NL (6.7) = i i = 1 A1' + ... +i Ai' + ... V V Dividindo isto pelo nmero total de partculas , tem-se N L 1 1 A1' + ... +i Ai' + ... A ' = = V V
(6.8)
Pois o termo entre colchetes a mdia ponderada da rea projetada do corpo, tendo o nmero de partculas em cada classe de rea projetada como peso. A expresso (6.8) pode ainda ser re-escrita como N L = A ' = A 'V (6.9) V Em que NL o nmero de vezes que as partculas so interceptadas por unidade de comprimento, e V a densidade volumtrica de partculas. Esta expresso relaciona o nmero de partculas existentes no espao ao nmero dessas partculas que so atingidas por uma reta de teste que atravessa este espao.
6.4- Penetrao por planos.

Suponha um corpo convexo dentro de um volume teste cbico de aresta l, conforme mostra a Fig. 6.3. Este volume teste interceptado por um plano paralelo a X-Y em algum ponto Z aleatrio. A probabilidade deste plano interceptar o corpo convexo dada por
P 1 =
H' l
(6.10)
sendo H a altura projetada do corpo na direo Z. Caso N planos paralelos ao mostrado na Fig. 6.3 cortarem o volume, um certo nmero deles cortar o corpo H' (6.11) n=P 1N = N l A rea total dos N planos AT = Nl 2 . Dividindo o nmero de vezes que o corpo interceptado pelos N planos pela rea total dos planos, encontra-se n NH ' H ' = = = N1 A (6.12) AT lNl 2 V Suponha agora que corpos idnticos, mas aleatoriamente orientados so colocados no cubo. O nmero de corpos tal que o universo das orientaes possveis esteja
57
CORPOS CONVEXOS
representado. Cada orientao possui uma altura projetada. Haver uma altura projetada mnima e outra mxima. Este intervalo de alturas projetadas dividido em classes. Para corpos com a i-sima classe de altura projetada, a expresso (6.12) passa a ser escrita como H' N1i A = i (6.13) V Suponha agora que corpos idnticos, mas aleatria e independentemente orientados, so colocados no volume teste. Se, destes corpos idnticos, i tiverem altura projetada na i-sima classe, ento, o nmero de vezes que estes corpos sero interceptados H' i NA = i i (6.14) V
Figura 6.3: Corpo convexo em um volume teste cbico sendo interceptado por um plano de corte. A probabilidade disso ocorre proporcional altura projetada do corpo na direo ortogonal ao plano de corte. O nmero de interceptaes com todo o conjunto de prismas ser
H i' 1 N A = i = i H i' V V
Dividindo isto pelo total de corpos
(6.15)
N A 1 i H i' H ' = = V V
(6.16)
Como o somatrio representa a mdia ponderada da altura projetada, tendo o nmero de corpos em cada classe de altura projetada como peso, pode-se finalmente escrever
NA = H '
= H 'V V
(6.17)
Esta expresso relaciona o nmero de corpos existentes no espao ao nmero destes corpos que so interceptados pelo plano de corte.
58
CLCULO DE SUPERFCIE
6.5- Relao entre rea transversal mdia e altura projetada mdia.

Suponha um corpo convexo de volume V e sua altura projetada H na direo Z. Para calcular a altura projetada mdia do corpo, deve-se fazer a mdia aritmtica das alturas projetadas do corpo na direo Z em um conjunto representativo do universo de orientaes possveis. Suponha o corpo em uma dada posio, sendo sua altura projetada no eixo Z de H. O corpo fatiado ortogonalmente ao eixo Z em fatias de espessura z bem pequena. O volume de cada fatia dada por
V = A z
(6.18)
sendo A a rea da seo transversal daquela fatia correspondente. O volume do corpo dado por
V = V = Ai z
i i
(6.19)
sendo Ai a rea da i-sima fatia. Esta fatia corresponde a uma coordenada z. A rea transversal mdia do corpo calculada em uma dada posio j do corpo
Aj =
A
i
i j
Nj
(6.20)
na qual Nj o nmero de fatias em que o corpo foi fatiado na j-sima posio. A altura projetada do corpo varia conforme a posio em que ele se encontra. Para um nmero representativo de posies do corpo, NP, tem-se que a altura projetada mdia do corpo
H'=
Para uma dada posio j, tem-se
H
j
' j
NP
(6.21)
Aj =
A z A z V
i i
Nj z
N j z
' j
V H ij
(6.22)
Considerando agora todas as diferentes e representativas posies do corpo, a rea mdia de seo transversal do corpo pode ser determinada por
A N A= N
j j j j
(6.23)
59
CORPOS CONVEXOS
Onde o denominador o nmero total de fatias (sees consideradas), o que inclui todas as posies j e o nmero de sees em cada posio, Nj. O somatrio do numerador inclui a rea mdia de seo para uma dada posio j e o peso daquela posio no conjunto total das posies. Multiplicando numerador e denominador por z, tem-se
A N z A H A= = N z H
j j j j j j ' j j j
' j
V = H
j j
j ' j
(6.24)
Mas o volume do corpo independe da posio, ento (6.24), tem-se finalmente que
V
j
= N PV . Substituindo isso em
V=A
H
j
' j
NP
= AH '
(6.25)
6.6- Relao entre rea superficial e rea projetada mdia.

Suponha um corpo convexo no interior de um cubo teste de aresta l, como o mostrado na Fig. 6.4. Suponha que este corpo iluminado na direo Z de cima para baixo. Ele projetar uma sombra sobre o plano X-Y. A superfcie do corpo dividida em duas. A parte superior iluminada. A parte inferior fica na sombra. Se o corpo fosse dividido em duas partes, segundo o critrio das superfcies iluminada e sombreada, ambas as pores projetariam a mesma sombra.
Figura 6.4: Corpo convexo projetando uma sombra no plano X-Y. As superfcies superior e inferior do corpo projetam sombras semelhantes. Se a superfcie dividida em n segmentos de rea Si, ento cada segmento projetar sobre o plano X-Y uma rea
60
CLCULO DE SUPERFCIE (6.26)
Ai' = Si cos i
Sendo i o ngulo entre o eixo Z, de iluminao, e o vetor normal ao segmento Si. Assim, a seguinte expresso verdadeira, sendo o fator dois no lado direito referente ao fato de que as superfcies (iluminada e sombreada) projetam sombras (sobrepostas) idnticas (mesma rea)
S cos
i =1 i
=2 A '
(6.27)
Para aquela direo de iluminao particular. Fazendo o mesmo para muitas diferentes posies, pode-se determinar a rea projetada mdia
2A' =
S cos
i =1 i
= Si cos i =
i =1
1 n Si = 2 A ' = 2 A 2 i =1
(6.28)
A mdia do cosseno j foi calculada anteriormente (Captulo 4) e o somatrio de Si a rea total da superfcie, ento
S = 4A'
(6.29)
6.7- Relao entre rea projetada mdia e intercepto linear mdio.

Manipulando adequadamente as expresses S = 4 A ' e L3 = 4
V , chega-se a S
(6.30)
V = A ' L3
61
UNFOLDING
O PROBLEMA DO UNFOLDING
Conforme visto no captulo anterior, pelas relaes (6.9) e (6.17), possvel relacionar o nmero de gros existentes no espao ao nmero desses gros que esto presentes em retas traadas atravs da estrutura para medidas estereolgicas e ao nmero de gros presentes em planos de corte que secionam a estrutura para medidas estereolgicas. Isto importante, como mostra o exemplo a seguir. Suponha que em uma estrutura existem gros de mesma forma, mas de volumes ' ' ' as reas projetadas mdias de cada um deles e H1 e H2 suas distintos. Sejam A1' e A2 alturas projetadas mdias. A populao de cada tipo de gro 1 e 2, sendo 1 =2.
Traando retas de teste atravs da estrutura, certa quantidade de gros ser interceptada pelas retas. Esta quantidade dada pela expresso (6.9). Supondo que ' A1' = 2 A2 , ento
1 2 2 NL = 2 A1'V = 2NL
(7.1)
1 2 = V . Esta relao significa que a populao de gros do tipo 1 interceptada pois V pelas retas de teste o dobro da populao de gros do tipo 2, embora elas sejam iguais no espao. Algum que estivesse realizando uma medida estereolgica usando linhas de teste e pudesse diferenciar entre os dois tipos de gros da estrutura poderia erroneamente afirmar que os gros do tipo 1 so mais numerosos.
Em um plano de corte da estrutura, sees de gros de ambos os tipos esto ' ' presentes. Supondo que H1 = 2H2 , ento, segundo (6.17)
1 ' 1 ' 2 2 NA = H1 V = 2H2 V = 2N A
(7.2)
Do mesmo modo, v-se que esta expresso indica a presena maior de gros de maior altura projetada mdia no plano de corte. Isto pode conduzir falsa idia de que a populao daquele tipo de gros maior. Contudo, tendo este detalhe em mente, possvel usar as expresses (6.9) e (6.17) para retirar informaes acerca da verdadeira populao de gros da estrutura a partir de contagem de populaes feitas com uso de retas de teste e de planos de teste. A este procedimento d-se o nome de unfolding. Ser demonstrado em seguida o fundamento do procedimento de unfolding a partir de contagem de gros em linhas de teste. Suponha que uma estrutura possua uma populao de gros de tamanhos que varia em certo intervalo. Este intervalo de tamanho de gro dividido em R classes, em que a quantidade de gros pertencentes a cada classe de tamanho de gro por unidade de 1 i R ,...,V ,...,V volume dada por {V }.
62
CLCULO DE SUPERFCIE
Quando uma grade e linhas de teste traada atravs da estrutura, gros de cada classe de tamanho so interceptados. Para a i-sima classe de tamanho, a quantidade de gros interceptados por unidade de comprimento da linha teste de
i i NL = Ai'V
(7.3)
Sendo Ai' a rea projetada mdia dos gros da i-sima classe. O nmero total de gros interceptados pelas retas de teste por unidade de comprimento
i i NL = NL = Ai'V i =1 i =1 R R
(7.4)
Cada encontro entre gro e reta de teste gera um intercepto linear, cujo comprimento varia em determinado intervalo. Este intervalo de interceptos lineares pode ser dividido j o nmero de interceptos lineares da j-sima classe por unidade em S classes. Seja N L de comprimento. Um gro da i-sima classe de tamanho tem probabilidade Pi,j de produzir um intercepto linear da j-sima classe. Com isso, o nmero de interceptos lineares da j-sima classe por unidade de comprimento produzidos por gros da isima classe de tamanho dado por
i , j = P N i = P A'i N L i,j L i, j i V
(7.5)
Depois de considerada a expresso (7.3). O nmero de interceptos lineares da j-sima classe por unidade de comprimento pode ser escrito como
i j = N N Li , j = Pi , j Ai'V L i =1 i =1 R R
(7.6)
Esta a expresso bsica. Suponha agora que retas so traadas sobre imagens da estrutura e que os interceptos entre as retas e as sees dos gros so medidos e, em j o nmero de interceptos lineares da j-sima classe, seguida, classificados. Seja N L ento a diferena entre este valor medido experimentalmente e o estimado pela expresso (7.6) dada por
j N j =N L L
(7.7)
O chi-quadrado definido como sendo
= = (
S S 2 2 j =1 j =1
j N j N L L
R i j = Pi , j Ai'V NL j =1 i =1
S
(7.8)
Esta expresso tem que ser minimizada, mantendo como vnculo que os valores i V nunca podem ser negativos. Estes valores correspondem verdadeira (estimada) populao de gros da estrutura, determinada a partir da populao de gros interceptados por retas de teste. possvel deduzir expresso equivalente para a populao de gros interceptada por planos de corte.
63
UNFOLDING
Resta ainda falar sobre a determinao da probabilidade Pi,j e da rea projetada mdia. Elas devem ser determinadas numericamente. A probabilidade Pi,j pode ser determinada atravs de simulao computacional. O gro com a geometria e tamanho desejados definido e executa-se a interceptaes deste gro por N retas aleatoriamente orientadas, sendo N um valor satisfatoriamente elevado. Os interceptos lineares so medidos e classificados. Seja Nj o nmero de interceptos da j-sima classe, ento a probabilidade de um gros daquela classe de tamanho produzir um intercepto da j-sima classe dada por
Pi , j =
Nj N
(7.9)
Repetindo este procedimento para gros de todas as classes de tamanho, determinase todos os valores de Pi,j. A determinao da rea projetada mais complicada. Isto requer o uso de expresses como algumas introduzidas no captulo 6, envolvendo volume e rea superficial de corpos convexos.
64
CLCULO DE SUPERFCIE
CONTIGIDADE
Muitas das estruturas aqui exibidas e trabalhadas so bifsicas cujos da fase dispersa encontram-se completamente separados entre si. Na maioria das estruturas, contudo, isto no se verifica, havendo uma frao considervel de gros da fase dispersa em contato mtuo. Isto tanto mais comum quanto maior for o teor da fase dispersa e quanto maior a tendncia de aglomerao dos gros desta fase. Outras razes existem para se ter estruturas em que os gros da fase dispersa no estejam completamente separados. A existncia de tais contatos pode influenciar certas propriedades do material. Caso a fase dispersa seja condutora eltrica e a fase matriz seja isolante. A ocorrncia de contatos entre gros da fase matriz afeta a condutividade eltrica do compsito. Outro exemplo o de uma fase matriz dctil e uma fase dispersa frgil. Os contatos afetam a tenacidade fratura, uma vez que eles funcionam como caminhos de propagao de trincas.
Figura 8.1: Gros esfricos de fase em uma matriz . Os gros de mantm contato. A estrutura cortado por um plano. Existe um parmetro estereolgico relacionado a contatos entre gros da mesma fase. a contigidade. Veja a Fig. 8.1. So gros de uma fase com certo nvel de contato. Eles possuem uma interface. A contigidade definida como a razo entre a rea desta interface e rea superficial total dos gros, contabilizando aqui a rea da interface. Denominando a fase dispersa de e a fase matriz de , a interface entre a fase e a fase de - e a interface entre dois gros da fase de -, a contigidade pode ser matematicamente definida como
C =
2 ( SV ) + ( SV )
2 ( SV )
(8.1)
(SV)- a rea da interface entre gros da fase por unidade de volume. Esta interface contada em dobro uma vez que so duas superfcies de gro juntas. (SV)- a rea da interface entre a fase e a fase por unidade de volume.
65
CONTIGIDADE
A rea de uma interface pode ser medida a partir da contagem de interceptos entre a interface e linhas de teste atravs de
SV = 2PL
(8.2)
Sendo PL o nmero de vezes que a interface foi interceptada pelas linhas de teste por unidade de comprimento. Substituindo (8.2) em (8.1), tem-se
C =
4 ( PL ) + 2 ( PL )
4 ( PL )
(8.3)
A Fig. 8.2 ilustra o processo de medio da contigidade. A grade de linhas de teste intercepta as interfaces e so contabilizadas estas intersees.
Figura 8.2: Imagem do plano de corte mostrado na figura 8.1. Uma grade de retas de medio traada sobre a imagem. H 6 intersees entre as retas e a interface - e uma interseo entre as linhas e a interface -.
66

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CURSO DE

Preparao Metalogrfica, ceramogrfica, petrogrfica ou biolgica

Procedimento de Seleo de Imagens

2.3. ESCOLHA DA AMOSTRAGEM

2.3.1. A Escolha dos Planos de Corte

a b c d Figura 2.6: poliedros regulares. a) cubo, b) octaedro, c) dodecaedro, d) icosaedro.

Figura 2.15: Transferidor com ngulos senoidalmente espaados entre 90 e 90.

2.3.2. A Escolha de Linhas de Teste

2.3.3. A Escolha de Pontos

2.4. OUTRAS CONSIDERAES SOBRE DESVIOS DE MEDIO E SOFTWARES DE MEDIO ESTEREOLGICA.

3.1- FRAO DE PONTOS

3.2- FRAO LINEAR

O valor mdio de L(x,y) dado por 1 L = 2 l

3.3. FRAO DE REA

e seu valor mdio dado por

Se calcularmos a probabilidade mdia para todas as orientaes, encontramos

1 , logo a expresso (4.3) torna-se 2

rea do anel (2 rsen )(rd ) = = sen d rea do hemisfrio 2 r 2

sendo r o raio do hemisfrio. O valor mdio de cos , portanto,

cos = P ( ) cos d = sen cos d =

Figura 4.5: contagem de interceptos em estruturas monofsicas.

Isto significa que o intercepto linear mdio de uma esfera de raio R

Sabe-se, contudo que SV = 2 PL e que VV = PP . Logo, temos finalmente

5.1- Comprimento de linhas em planos.

, ento (5.3) torna-se

. Para isto considere a Fig. 5.3 ilustrando um

5.2- Permetro de curvas fechadas em planos.

PL . A expresso (5.13) pode ser re-escrita como 2 L2 = 2 AA PL

5.3- Comprimento de linhas do espao tridimensional.

5.4- Livre caminho mdio em estrutura bifsica dispersa.

Porm, ( LL ) = (VV ) . Considerando ainda que como a estrutura binria, ento

(VV ) = 1 (VV ) . Adicionalmente, ( N L ) = ( N L ) , pois sendo a estrutura dispersa, sobre

como (VV ) = 1 (VV ) e ( SV ) = ( SV ) , ento (5.35) torna-se

L3 . Assim, podemos re-escrever (5.36) finalmente como (VV )

RELAES GERAIS PARA CORPOS CONVEXOS

6.1- Consideraes preliminares.

6.2- Definies bsicas.

6.3- Penetrao por linhas de teste.

n A' N A' A' = = = = N1L LT Nll 2 l 3 V

6.4- Penetrao por planos.

6.5- Relao entre rea transversal mdia e altura projetada mdia.

6.6- Relao entre rea superficial e rea projetada mdia.

CLCULO DE SUPERFCIE (6.26)

6.7- Relao entre rea projetada mdia e intercepto linear mdio.

O chi-quadrado definido como sendo

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