Lafinau

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1 LAFINAU/LAPISUS
Laboratório destinado a pesquisas na área da física nuclear aplicada, com foco

em análise elemental, da qual permitem atuar nos seguintes temas de pesquisa:
a) utilização da técnica de tomografia computadorizada e atenuação de
radiação gama e raios X em estudos não destrutivos de materiais e sistemas
biológicos;
b) desenvolvimento de software e hardware relacionados à visualização de
dados;
c) processamento de sinais;
d) estudo das propriedades físico-químicas de formas farmacêuticas sólidas,
materiais metálicos, cerâmicos, vítreos, poliméricos e compósitos de origem natural e
sintética, utilizando técnicas de ensaios não destrutivos, tais como: Fluorescência de
Raios X, Tomografia Computadorizada e Microscopia Eletrônica de Varredura e
Transmissão.
1.1 Localização
Apoio 4 – Bloco de Odontologia

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2 EQUIPAMENTOS LAFINAU/LAPISUS
2.1 Tomografo
Equipamento: SKYSCAN 1174 da Bruker - MicroCT
Descrição:
Este scanner usa uma fonte de raios X com tensão ajustável e uma gama de
filtros para adaptação versátil a diferentes densidades de objetos. Uma câmera de
raio-x sensível de 1,3 megapixels permite a digitalização de todo o volume da amostra
em vários minutos. A ampliação variável (tamanho de pixel de 6-30 μm) é combinada
com o posicionamento do objeto para facilitar a seleção da parte do objeto a ser
digitalizada. A gama completa de software SkyScan é fornecida, incluindo
reconstrução volumétrica rápida, software para análise quantitativa 2D / 3D e para
visualização 3D realista.
• Fonte de raios X livre de manutenção de 50kV
• Câmera de raio-x de 1,3 megapixel refrigerada
• Resolução espacial 3D de até 6μm
• Varredura durante compressão, tensão, resfriamento
• Análise de imagens 2D/3D e visualização realística
Especificações:
20-50kV, potência máxima de 40W, suporte do filtro para

Fonte de raios X
seleção de energia
1.3Mp CCD acoplado ao cintilador por lente com faixa de
Detector de raios X
zoom 1:6
Resolução Tamanho de pixel de 6...30 μm, resolução de baixo contrato
Espacial de aproximadamente 10 μm
5 - 30mm de diâmetro, 50mm de comprimento (curso vertical
Tamanho do objeto
de 50mm)
Reconstrução volumétrica acelerada por GPU (algoritmo de
Reconstrução
Feldkamp)
microposicionamento, resfriamento, aquecimento,
Estágios opcionais
compressão/extensão
Segurança
<1 μSv/h a 10cm da superfície do instrumento
radiológica
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Valores de Utilização:
Equipamento Preço/Hora
SkyScan 1174 R$ 500,00
Valores referentes ao tempo de aquisição e tratamento das imagens.
2.2 M.E.V-EDS (Microscópio Eletrônico de Varredura) (Espectroscopia por

energia dispersiva)
Equipamento: Jeol IT200
Descrição:
JSM-IT200 é um M.E.V de fácil de manuseio focado no desempenho de custo
de altas funcionalidades do JSM-IT500 (modelo high-end) do InTouchScopeTM, com
taxa de transferência significativamente maior.
O Specimen Exchange Navi, uma função amigável para iniciantes, oferece
operação guiada desde o carregamento da amostra até a pesquisa na área e a
observação de imagens SEM. "Zeromag" para transição perfeita de imagens ópticas
para M.E.V, exibição em tempo real dos resultados da análise elementar, o SMILE
VIEW(TM) Lab para geração contínua de relatórios de observação e/ou resultados de
análise, etc., fornece análise rápida com transição integrada de OM para M.E.V.
Série JEOL InTouchScope™, a ferramenta analítica de alto desempenho com
três funções principais.
Specimen Exchange Navi: Operação guiada desde a introdução da

amostra até a observação
Um guia passo-a-passo para troca de amostras, ajuste de condição e geração
automática de imagens.
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Observação rápida! "Zeromag"

Você pode localizar a área da amostra ou especificar posições de análise com
gráficos de suporte ou imagem CCD óptica*１ exibido na tela principal.
Imagem Zeromag exibida na tela principal
Análise rápida! "Análise ao vivo"

O espectro de raios X característico da área de medição e os principais
elementos constituintes são exibidos durante a observação.
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Geração rápida de relatórios! SMILE VIEW™ Lab: gerenciamento

integrado de dados
Um único clique no botão de gerenciamento de dados exibe a tela
Gerenciamento de dados, permitindo gerar um relatório de todas as imagens e dados
de análise, bem como revisar ou reanalisar dados já adquiridos.
Especificações:
Tipo MEV-EDS-HV
Aplicações técnicas para análise
Tipo de detector CCD
Outras características automático, em tempo real
Equipamento Preço/Amostra
IT-200 R$ 500,00
Valor referente a amostra por hora, caso a amostra ultrapasse o tempo de 1 hora, será cobrado um
novo valor, caso necessite de metalização, será cobrado R$50,00 a mais do valor estipulado.
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2.3 Fluorescência de Raio-X
Equipamento: Epsilon 1
Descrição:
O Epsilon 1 é um analisador de FRX por energia dispersiva, totalmente
integrado, composto por um espectrômetro, computador embutido, tela sensível ao
toque e software de análise. Desenvolvido com os últimos avanços em tecnologia de
excitação e de detecção, o Epsilon 1 apresenta ótimo desempenho na categoria de
instrumentos de bancada de baixo custo. O Epsilon 1 produz dados rápidos,
econômicos e precisos, com o mínimo de dependência do operador e da preparação
de amostras. O custo total de operação é, portanto, muito menor que o de outras
técnicas analíticas, como AAS, ICP e métodos químicos úmidos, que são onerosos e
exigem também em operador qualificado e especializado. O Epsilon 1 é uma
alternativa portátil e segura a um analisador de FRX portátil ou pistola de FRX.
Visão geral
Quantificação robusta e flexível
O Epsilon 1 pode ser calibrado com materiais de referência que correspondem
à composição das amostras de rotina. Essas calibrações especiais geram dados com
alta precisão. O Epsilon 1 pode ser calibrado para uma grande variedade de
aplicações da indústria. O Epsilon 1 é um instrumento de XRF de bancada, com ótimo
desempenho, utilizado na análise de elementos primários e secundários e elementos-
traço da tabela periódica, desde o sódio até o amerício.
Periodic Table GENERIC MP

Segurança de dados aprimorada
A opção Enhanced Data Security (Segurança de dados aprimorada) para o
software do sistema Epsilon ajuda a reforçar a trilha de auditoria, a minimizar o risco
de erro e a provar que seu instrumento XRF está funcionando conforme o esperado.
As funções incluem gestão avançada de usuários, registro de ações e proteção de
dados.
Características
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Análise não destrutiva

As medições são realizadas diretamente na amostra praticamente sem a
necessidade de prepará-las. Como a FRX é uma técnica não destrutiva, outras
técnicas analíticas poderão ser usadas após a medição da amostra, se necessário.
Sensibilidade máxima
Ampola de raios X com ânodo de Ag e janela fina, projetado e fabricado pela
Malvern Panalytical, garante alta qualidade e sensibilidade. A ampola de raios X e o
gerador de 50 kV são ideais para a excitação de elementos mais pesados, resultando
em tempos de análise mais curtos e maior precisão.
Variações atmosféricas
Fótons de raios-x de baixa energia como os de sódio, magnésio, alumínio,
silício, fósforo e enxofre são sensíveis às variações da pressão do ar e da temperatura.
Sensores de temperatura e de pressão atmosférica incorporados para compensar a
interferência das variações atmosféricas, garantindo resultados excelentes
independentemente das condições climáticas.
Principais aplicações
Mineração e minérios
• Quantificação direta de rochas, minérios e núcleos de perfuração

• Rápida identificação positiva de material usando o software FingerPrint
• Análise sem padrões para quantificar uma ampla variedade de minerais sem
precisar de calibrações dedicadas
Metais
• Inspeção simples de revestimentos usando a solução de análise Stratos de

(multi) camada
• Pacote de identificação de material positivo para classificação rápida de metais
e relatórios de APROVAÇÃO/REPROVAÇÃO
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• Quantificação elementar de escórias

• Triagem rápida de metais ferrosos e não ferrosos
Alimentos
• Quantificação rápida de nutrientes em produtos alimentícios e rações para

animais
• Ciclo breve de feedback no controle de processos para alimentos e rações para
animais
• Quantificação robusta e precisa do leite em pó
Materiais de construção
• Controle de qualidade e processo no local de cimento, clínquer e matérias-

primas
• Triagem de uma ampla variedade de combustíveis alternativos e matérias-
primas (AFR) usando análise sem padrões
Acadêmico
• Um instrumento para qualquer tipo de amostra sem a necessidade de

calibrações dedicadas
• Ferramenta educacional ideal por meio de seu design seguro e baixas
necessidades de serviços públicos
• A solução Acadêmica pronta para uso é pré-calibrada com uma solução de
análise sem padrões Omnian
Farmacêutica
• Acelera o desenvolvimento de processos usando análise direta de elementos

residuais
• Em conformidade com a FDA 21 CFR Parte 11 com o software de Segurança
de Dados Aprimorada disponível
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• Inspeção eficiente de matérias-primas para identificar rapidamente as

mudanças de fornecimento
• Pacotes opcionais de quantificação de instalação e operação (IQ e OQ)
Ambiental
• Identificação no campo de solos contaminados

• Análise de compostos inorgânicos em filtros de ar no local do amostrador
• Análise rápida de água residual
Plásticos e polímeros
• Análise RoHS-3 com desempenho em conformidade com ASTM F2617

• Análise detalhada e direta de amostras heterogêneas com o Epsilon 1 para
análises pontuais pequenas
• Soluções exclusivas de CRM disponíveis para aditivos, elementos restritos e
tóxicos em polietileno
Equipamento Preço/Amostra
Epsilon 1 R$ 200,00
Valor referente a amostra

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Laboratório destinado a pesquisas na área da física nuclear aplicada, com foco

Apoio 4 – Bloco de Odontologia

Equipamento: SKYSCAN 1174 da Bruker - MicroCT

20-50kV, potência máxima de 40W, suporte do filtro para

2.2 M.E.V-EDS (Microscópio Eletrônico de Varredura) (Espectroscopia por

Equipamento: Jeol IT200

Specimen Exchange Navi: Operação guiada desde a introdução da

Observação rápida! "Zeromag"

Imagem Zeromag exibida na tela principal

Análise rápida! "Análise ao vivo"

Geração rápida de relatórios! SMILE VIEW™ Lab: gerenciamento

Tipo de detector CCD

Outras características automático, em tempo real

2.3 Fluorescência de Raio-X

Periodic Table GENERIC MP

Análise não destrutiva

• Quantificação direta de rochas, minérios e núcleos de perfuração

• Inspeção simples de revestimentos usando a solução de análise Stratos de

• Quantificação elementar de escórias

• Quantificação rápida de nutrientes em produtos alimentícios e rações para

• Controle de qualidade e processo no local de cimento, clínquer e matérias-

• Um instrumento para qualquer tipo de amostra sem a necessidade de

• Acelera o desenvolvimento de processos usando análise direta de elementos

• Inspeção eficiente de matérias-primas para identificar rapidamente as

• Identificação no campo de solos contaminados

• Análise RoHS-3 com desempenho em conformidade com ASTM F2617

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