Iec 61000-4-20-2022

IEC 61000-4-20
®
Edition 3.0 2022-02
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE colour
inside
BASIC EMC PUBLICATION

PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
Electromagnetic compatibility (EMC) –

Part 4-20: Testing and measurement techniques – Emission and immunity
testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides
Compatibilité électromagnétique (CEM) –

Partie 4-20: Techniques d’essai et de mesure – Essais d’émission et d’immunité
dans les guides d’onde TEM
IEC 61000-4-20:2022-02(en-fr)
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IEC 61000-4-20
®
Edition 3.0 2022-02
INTERNATIONAL
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BASIC EMC PUBLICATION

PUBLICATION FONDAMENTALE EN CEM
Electromagnetic compatibility (EMC) –

Part 4-20: Testing and measurement techniques – Emission and immunity
testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides
Compatibilité électromagnétique (CEM) –

Partie 4-20: Techniques d’essai et de mesure – Essais d’émission et d’immunité
dans les guides d’onde TEM
INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
INTERNATIONALE
ICS 33.100.10; 33.100.20 ISBN 978-2-8322-1083-0
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Marque déposée de la Commission Electrotechnique Internationale
–2– IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
CONTENTS
FOREWORD ........................................................................................................................... 7
INTRODUCTION ..................................................................................................................... 9
1 Scope ............................................................................................................................ 10
2 Normative references .................................................................................................... 11
3 Terms, definitions and abbreviated terms ...................................................................... 11
3.1 Terms and definitions ............................................................................................ 11
3.2 Abbreviated terms ................................................................................................. 14
4 General ......................................................................................................................... 15
5 TEM waveguide requirements ........................................................................................ 15
5.1 General ................................................................................................................. 15
5.2 General requirements for the use of TEM waveguides .......................................... 16
5.2.1 Test volume and maximum EUT size ............................................................. 16
5.2.2 Validation of usable test volume .................................................................... 16
5.3 Special requirements and recommendations for certain types of TEM
waveguides ........................................................................................................... 23
5.3.1 Set-up of open TEM waveguides ................................................................... 23
5.3.2 Alternative TEM mode verification for a two-port TEM waveguide .................. 23
5.3.3 TEM mode generation for a four-port TEM waveguide ................................... 23
5.4 Figures for Clause 5 ............................................................................................. 24
6 Overview of EUT types .................................................................................................. 26
6.1 General ................................................................................................................. 26
6.2 Small EUT ............................................................................................................ 26
6.3 Large EUT ............................................................................................................ 26
7 Laboratory test conditions.............................................................................................. 26
7.1 General ................................................................................................................. 26
7.2 Climatic conditions ................................................................................................ 26
7.3 Electromagnetic conditions ................................................................................... 26
8 Evaluation and reporting of test results .......................................................................... 27
Annex A (normative) Emission measurements in TEM waveguides ...................................... 28
A.1 Overview............................................................................................................... 28
A.2 Test equipment ..................................................................................................... 28
A.3 Correlating TEM waveguide voltages to electric field strength data ....................... 28
A.3.1 General ......................................................................................................... 28
A.3.2 Correlation algorithms ................................................................................... 29
A.4 Emission measurement correction factors ............................................................. 33
A.4.1 Reference emission sources .......................................................................... 33
A.4.2 Arrangement of small EUTs ........................................................................... 34
A.4.3 Calculation of the small EUT correction factor ............................................... 34
A.5 Emission measurement procedures in TEM waveguides ....................................... 37
A.5.1 EUT types...................................................................................................... 37
A.5.2 EUT arrangement .......................................................................................... 37
A.6 Test report ............................................................................................................ 38
A.7 Figures for Annex A .............................................................................................. 39
Annex B (normative) Immunity testing in TEM waveguides ................................................... 44
B.1 Overview............................................................................................................... 44
B.2 Test equipment ..................................................................................................... 44
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 –3–
B.2.1 General ......................................................................................................... 44

B.2.2 Description of the test facility ......................................................................... 44
B.3 Field uniformity area calibration ............................................................................ 45
B.4 Test levels ............................................................................................................ 45
B.5 Test set-up ........................................................................................................... 45
B.5.1 Arrangement of table-top equipment .............................................................. 45
B.5.2 Arrangement of floor-standing equipment ...................................................... 46
B.5.3 Arrangement of wiring .................................................................................... 46
B.6 Test procedures .................................................................................................... 46
B.7 Test results and test report ................................................................................... 46
B.8 Figures for Annex B .............................................................................................. 47
Annex C (normative) HEMP transient testing in TEM waveguides ........................................ 49
C.1 Overview............................................................................................................... 49
C.2 Immunity tests ...................................................................................................... 49
C.2.1 General ......................................................................................................... 49
C.2.2 Radiated test facilities ................................................................................... 50
C.2.3 Frequency domain spectrum requirements ..................................................... 51
C.3 Test equipment ..................................................................................................... 51
C.4 Test set-up ........................................................................................................... 52
C.5 Test procedure ...................................................................................................... 52
C.5.1 General ......................................................................................................... 52
C.5.2 Severity level and test exposures .................................................................. 53
C.5.3 Test procedure .............................................................................................. 53
C.5.4 Test execution ............................................................................................... 54
C.5.5 Execution of the radiated immunity test ......................................................... 54
C.6 Figure for Annex C ................................................................................................ 55
Annex D (informative) TEM waveguide characterization ....................................................... 56
D.1 Overview............................................................................................................... 56
D.2 Distinction between wave impedance and characteristic impedance...................... 56
D.3 TEM wave ............................................................................................................. 57
D.3.1 General ......................................................................................................... 57
D.3.2 Free-space TEM mode .................................................................................. 57
D.3.3 Waveguides ................................................................................................... 57
D.4 Wave propagation ................................................................................................. 58
D.4.1 General ......................................................................................................... 58
D.4.2 Spherical propagation .................................................................................... 58
D.4.3 Plane wave propagation in free space ........................................................... 58
D.4.4 Velocity of propagation .................................................................................. 58
D.5 Polarization ........................................................................................................... 58
D.6 Types of TEM waveguides .................................................................................... 59
D.6.1 General ......................................................................................................... 59
D.6.2 Open TEM waveguides (striplines, etc.) ......................................................... 60
D.6.3 Closed TEM waveguides (TEM cells) ............................................................. 60
D.7 Frequency limitations ............................................................................................ 60
D.8 Figures for Annex D .............................................................................................. 61
Annex E (informative) Calibration method for E-field probes in TEM waveguides ................. 69
E.1 Overview............................................................................................................... 69
E.2 Probe calibration requirements ............................................................................. 69
E.2.1 General ......................................................................................................... 69
–4– IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
E.2.2 Calibration frequency range ........................................................................... 69

E.2.3 Calibration volume ......................................................................................... 70
E.2.4 Probe dimensions .......................................................................................... 70
E.2.5 Perturbations of TEM waveguide fields due to the probe ................................ 70
E.2.6 Frequency steps ............................................................................................ 71
E.2.7 Field strength ................................................................................................ 71
E.3 Requirements for calibration instrumentation ........................................................ 71
E.3.1 Specifications of TEM waveguide .................................................................. 71
E.3.2 Harmonics and spurious signals .................................................................... 72
E.3.3 Probe fixture .................................................................................................. 72
E.3.4 Measuring net power to a transmitting device using directional couplers ........ 72
E.4 E-field probe calibration ........................................................................................ 73
E.4.1 Calibration methods ....................................................................................... 73
E.4.2 Calibration procedure using a two-port TEM waveguide ................................. 73
E.4.3 Calibration procedure using one-port TEM waveguide ................................... 74
E.5 Figures for Annex E .............................................................................................. 77
Annex F (informative) Instrumentation uncertainty of emission measurement results ........... 79
F.1 Radiated disturbance measurements using a TEM waveguide .............................. 79
F.1.1 Measurand for radiated disturbance measurements using a TEM
waveguide ..................................................................................................... 79
F.1.2 Symbols of input quantities common to all disturbance measurements .......... 79
F.1.3 Symbols of input quantities specific to TEM waveguide measurements .......... 79
F.2 Input quantities to be considered for radiated disturbance measurements
using a TEM waveguide ........................................................................................ 79
F.3 Uncertainty budget and rationale for the input quantities for radiated
disturbance measurements using a TEM waveguide ............................................. 80
F.3.1 Uncertainty budget for radiated disturbance measurements using a TEM
waveguide ..................................................................................................... 80
F.3.2 Rationale for the estimates of input quantities for radiated disturbance
measurements using a TEM waveguide ......................................................... 81
F.4 Figures for Annex F .............................................................................................. 87
Annex G (informative) Measurement uncertainty of immunity testing due to test
instrumentation ..................................................................................................................... 89
G.1 General symbols ................................................................................................... 89
G.2 Symbol and definition of the measurand ................................................................ 89
G.3 Symbols for input quantities .................................................................................. 89
G.4 Example: Uncertainty budget for immunity test ...................................................... 89
G.5 Rationale for the estimates of input quantities ....................................................... 90
Annex H (informative) Correlation of emission and immunity limits between EMC test
facilities ................................................................................................................................ 93
H.1 Overview............................................................................................................... 93
H.2 Dipole in free space (representing FAR set-up) ..................................................... 93
H.3 Dipole in half space (representing OATS or SAC set-up)....................................... 95
H.4 Dipole in a TEM-mode transmission line ............................................................... 96
H.5 Dipole in a reverberation chamber ........................................................................ 97
H.6 Correlation ............................................................................................................ 98
H.7 Example of emission limits .................................................................................... 99
H.8 Figures for Annex H ............................................................................................ 100
Annex I (informative) TEM waveguide transient characterization ........................................ 103
I.1 Overview............................................................................................................. 103
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 –5–
I.2 Test equipment ................................................................................................... 103

I.3 Test set-up ......................................................................................................... 103
I.4 TEM waveguide characterization by correlation .................................................. 104
I.5 Quantification of the Pcc ..................................................................................... 105
I.6 Performable transient test signals ....................................................................... 105
I.7 Figures for Annex I ............................................................................................. 106
Bibliography ........................................................................................................................ 108
Figure 1 – Flowchart of TEM mode and field uniformity verification procedure with the
“constant forward power” method (see 5.2.2.4.1) .................................................................. 24
Figure 2 – Flowchart of TEM mode and field uniformity verification procedure with the
“constant field strength” method (see 5.2.2.4.2) .................................................................... 25
Figure A.1 – Routing the exit cable to the corner at the ortho-angle and the lower edge
of the test volume in a TEM waveguide (see A.5.2) ............................................................... 39
Figure A.2 – Basic ortho-axis EUT positioner or manipulator (see 3.1.13, A.4.2,
A.5.1.2, A.5.2) ...................................................................................................................... 40
Figure A.3 – Die pattern and axis alignment for an EUT [26] (see A.3.2.3.2) ......................... 41
Figure A.4 – Non-redundant twelve-face and axis orientations for a typical EUT [26]
(see A.3.2.3.2) ...................................................................................................................... 42
Figure A.5 – Open-area test site (OATS) emission measurements geometry (see
A.3.2.4) ................................................................................................................................. 43
Figure B.1 – Example of test set-up for single-polarization TEM waveguide
(see Clause B.5) ................................................................................................................... 47
Figure B.2 – Uniform area calibration points in a TEM waveguide (see Clause B.3) .............. 48
Figure C.1 – Pulse waveform frequency domain spectral magnitude between 100 kHz
and 300 MHz (see C.2.1) ...................................................................................................... 55
Figure D.1 – Simple waveguide (no TEM mode) (see D.3.3) ................................................. 61
Figure D.2 – Example of waveguides supporting TEM-mode propagation (see D.3.3) ........... 61
Figure D.3 – E-field polarization vector (see Clause D.5) ...................................................... 61
Figure D.4 – Simple transmission line model for TEM mode propagation (see D.6.1) ............ 62
Figure D.5 – One- and two-port TEM waveguide concepts (see D.6.1) .................................. 62
Figure D.6 – Operation of four-port TEM waveguides (see D.6.1) ......................................... 62
Figure D.7 – Two-port TEM cell (symmetric septum) (see D.6.1 and D.6.3) ........................... 63
Figure D.8 – One-port TEM cell (asymmetric septum) (see D.6.1 and D.6.3) ......................... 64
Figure D.9 – Stripline (two plates) (see D.6.1 and D.6.2) ...................................................... 66
Figure D.10 – Stripline (four plates, balanced feed) (see D.6.1) ............................................ 67
Figure D.11 – Four-port TEM waveguide (symmetric parallel septa) (see D.6.1 and
D.6.3) ................................................................................................................................... 68
Figure E.1 – Example of test points for calibration volume validation (see E.2.3) .................. 77
Figure E.2 – Set-up for validation of probe perturbation (see E.2.5) ...................................... 77
Figure E.3 – Set-up for measuring net power to a transmitting device (not to scale)
(see E.3.4) ............................................................................................................................ 77
Figure E.4 – Example set-up for E-field probe calibration with two-port TEM waveguide
(see E.4.2) ............................................................................................................................ 78
Figure E.5 – Example set-up for E-field probe calibration with one-port TEM waveguide
and alternative method (see E.4.3.2) .................................................................................... 78
Figure E.6 – Equivalent circuit of monopole antenna and measuring apparatus (see
E.4.3.3) ................................................................................................................................. 78
–6– IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
Figure F.1 – Deviation of the QP detector level indication from the signal level at
receiver input for two cases, a sine-wave signal and an impulsive signal with a pulse
repetition frequency of 100 Hz .............................................................................................. 87
Figure F.2 – Deviation of the peak detector level indication from the signal level at
repetition frequency of 100 Hz .............................................................................................. 88
Figure H.1 – Representation of a short centre-fed dipole and a more general source
representing an EUT (see Clause H.2) ................................................................................ 100
Figure H.2 – Vertical source and receiving dipoles located over a perfectly-conducting
ground plane of infinite extent (see Clause H.3) .................................................................. 100
Figure H.3 – Two types of TEM cells with a vertically polarized dipole source and the
source to receive port geometry defined (see Clause H.4) .................................................. 101
Figure H.4 – Reverberation chamber with a source dipole, a stirrer to randomize the
fields, and a general receive antenna (see Clause H.5) ...................................................... 101
Figure H.5 – TEM waveguide Class A and Class B emission limits correlated from
CISPR 32 [68] (see Clause H.7) .......................................................................................... 102
Figure I.1 – Test set-up ....................................................................................................... 106
Figure I.2 – Signal windowing ............................................................................................. 107
Figure I.3 – Example of a heatmap – Pcc for a test point in the uniform area ...................... 107
Table 1 – Values k for expanded uncertainty with normal distribution .................................... 18

Table B.1 – Uniform area calibration points ........................................................................... 45
Table B.2 – Test levels ......................................................................................................... 45
Table C.1 – Radiated immunity test levels defined for this document .................................... 50
Table E.1 – Calibration frequencies ...................................................................................... 71
Table E.2 – Calibration field strength level ............................................................................ 71
Table F.1 – Uncertainty budget for radiated disturbance measurement results using a
TEM waveguide from 30 MHz to 1 000 MHz (example) ......................................................... 80
Table F.2 – Uncertainty budget for radiated disturbance measurement results using a
TEM waveguide from 1 GHz to 6 GHz (example) .................................................................. 81
Table F.3 – Values of S lim for 30 MHz to 1 000 MHz ............................................................. 83
Table F.4 – Values of S lim for 1 GHz to 6 GHz ...................................................................... 84
Table G.1 – Example uncertainty budget of the immunity test level ....................................... 90
Table H.1 – Summary of the emission correlation parameters ............................................... 99
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 –7–
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION

____________
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –
Part 4-20: Testing and measurement techniques –

Emission and immunity testing in transverse
electromagnetic (TEM) waveguides
FOREWORD
1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote international
co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and
in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications, Technical Reports,
Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC Publication(s)”). Their
preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with
may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely with the International Organization for
Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations.
2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international
consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all
interested IEC National Committees.
3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National
Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IEC
Publications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for any
misinterpretation by any end user.
4) In order to promote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publications
transparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergence between
any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indicated in the latter.
5) IEC itself does not provide any attestation of conformity. Independent certification bodies provide conformity
assessment services and, in some areas, access to IEC marks of conformity. IEC is not responsible for any
services carried out by independent certification bodies.
6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.
7) No liability shall attach to IEC or its directors, employees, servants or agents including individual experts and
members of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage or
other damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) and
expenses arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IEC
Publications.
8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications is
indispensable for the correct application of this publication.
9) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this IEC Publication may be the subject of patent
rights. IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
International Standard IEC 61000-4-20 has been prepared by subcommittee 77B: High
frequency phenomena, of IEC technical committee 77: Electromagnetic compatibility, in
cooperation with CISPR (International Special Committee on Radio Interference)
subcommittee A: Radio-interference measurements and statistical methods.
It forms Part 4-20 of IEC 61000. It has the status of a basic EMC publication in accordance with
IEC Guide 107.
This third edition cancels and replaces the second edition published in 2010. This edition
constitutes a technical revision.
This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous
edition:
a) provide information on the testing of large EUTs (including cables);

–8– IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
b) apply the work on measurement uncertainties by adapting the work completed in CISPR and
TC 77 (for emissions and immunity);
c) update the validation procedure for the test volume regarding field uniformity and TEM mode
verification;
d) provide information concerning two-port and four-port TEM waveguides;
e) add a new informative annex (Annex I) dealing with transient TEM waveguide
characterization; and
f) add information dealing with dielectric test stands for EUTs.
The text of this International Standard is based on the following documents:
Draft Report on voting

77B/853/FDIS 77B/855/RVD
Full information on the voting for its approval can be found in the report on voting indicated in
the above table.
The language used for the development of this International Standard is English.
This document was drafted in accordance with ISO/IEC Directives, Part 2, and developed in
accordance with ISO/IEC Directives, Part 1 and ISO/IEC Directives, IEC Supplement, available
at www.iec.ch/members_experts/refdocs. The main document types developed by IEC are
described in greater detail at www.iec.ch/standardsdev/publications.
A list of all parts of the IEC 61000 series, published under the general title Electromagnetic
compatibility (EMC), can be found on the IEC website.
The committee has decided that the contents of this document will remain unchanged until the
stability date indicated on the IEC website under webstore.iec.ch in the data related to the
specific document. At this date, the document will be
• reconfirmed,
• withdrawn,
• replaced by a revised edition, or
• amended.
IMPORTANT – The 'colour inside' logo on the cover page of this publication indicates that it
contains colours which are considered to be useful for the correct understanding of its
contents. Users should therefore print this document using a colour printer.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 –9–
INTRODUCTION
IEC 61000 is published in separate parts according to the following structure:
Part 1: General
General considerations (introduction, fundamental principles)

Definitions, terminology
Part 2: Environment
Description of the environment

Classification of the environment
Compatibility levels
Part 3: Limits
Emission limits
Immunity limits (in so far as they do not fall under the responsibility of the product
committees)
Part 4: Testing and measurement techniques
Measurement techniques
Testing techniques
Part 5: Installation and mitigation guidelines
Installation guidelines
Mitigation methods and devices
Part 6: Generic standards
Part 9: Miscellaneous
Each part is further subdivided into several parts, published either as International Standards,
Technical Specifications or Technical Reports, some of which have already been published as
sections. Others are and will be published with the part number followed by a dash and a second
number identifying the subdivision (example: IEC 61000-6-1).
This part is an International Standard which gives emission, immunity and HEMP and IEMI
transient testing requirements.
– 10 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –
Part 4-20: Testing and measurement techniques –

Emission and immunity testing in transverse
electromagnetic (TEM) waveguides
1 Scope
This part of IEC 61000 focuses on emission and immunity test methods for electrical and
electronic equipment using various types of transverse electromagnetic (TEM) waveguides.
These types include open structures (for example striplines and electromagnetic pulse
simulators) and closed structures (for example TEM cells). These structures can be further
classified as one-port, two-port, or multi-port TEM waveguides. The frequency range depends
on the specific testing requirements and the specific TEM waveguide type.
The object of this document is to describe
– TEM waveguide characteristics, including typical frequency ranges and equipment-under-

test (EUT) size limitations;
– TEM waveguide validation methods for electromagnetic compatibility (EMC) tests;
– the EUT (i.e. EUT cabinet and cabling) definition;
– test set-ups, procedures, and requirements for radiated emission measurements in TEM
waveguides; and
– test set-ups, procedures, and requirements for radiated immunity testing in TEM
waveguides.
NOTE Test methods are defined in this document to measure the effects of electromagnetic radiation on equipment
and the electromagnetic emissions from the equipment concerned. The simulation and measurement of
electromagnetic radiation is not adequately exact for the quantitative determination of effects for all end-use
installations. The test methods defined are structured for a primary objective of establishing adequate reproducibility
of results at various test facilities for qualitative analysis of effects.
This document does not intend to specify the tests to be applied to any particular apparatus or
system(s). The main intention of this document is to provide a general basic reference for all
interested product committees of the IEC. For radiated emission measurements, product
committees select emission limits and measurement methods in consultation with CISPR
standards. For radiated immunity testing, product committees remain responsible for the
appropriate choice of immunity tests and immunity test limits to be applied to equipment within
their scope. This document describes test methods that are separate from those of
IEC 61000‑4‑3 [34]. 1
___________
1 Numbers in square brackets refer to the Bibliography.
These other distinct test methods may be used when so specified by product committees, in consultation with CISPR
and TC 77.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 11 –
2 Normative references
The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content
constitutes requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies.
For undated references, the latest edition of the referenced document (including any
amendments) applies.
IEC 60050-161, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Part 161: Electromagnetic

compatibility
CISPR 16-1-1, Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and
methods – Part 1-1: Radio disturbance and immunity measuring apparatus – Measuring
apparatus
CISPR 16-1-4, Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and
methods – Part 1-4: Radio disturbance and immunity measuring apparatus – Antennas and test
sites for radiated disturbance measurements
3 Terms, definitions and abbreviated terms
3.1 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in IEC 60050-161and the
following apply.
ISO and IEC maintain terminological databases for use in standardization at the following
addresses:
• IEC Electropedia: available at http://www.electropedia.org/

• ISO Online browsing platform: available at http://www.iso.org/obp
3.1.1
anechoic material
material that exhibits the property of absorbing, or otherwise reducing, the level of
electromagnetic energy reflected from that material
3.1.2
broadband transmission-line termination
termination which combines a low-frequency discrete-component load, to match the
characteristic impedance of the TEM waveguides (typically 50 Ω), and a volume of high-
frequency anechoic material
3.1.3
characteristic impedance
for any constant phase wave-front, magnitude of the ratio of the voltage between the inner
conductor and the outer conductor to the current on either conductor and which is independent
of the voltage/current magnitudes and depends only on the cross-sectional geometry of the
transmission line
Note 1 to entry: TEM waveguides are typically designed to have a characteristic impedance of 50 Ω. TEM
waveguides with a characteristic impedance of 100 Ω are often used for transient testing.
3.1.4
correlation algorithm
mathematical routine for converting TEM waveguide voltage measurements to open-area test
sites (OATS), semi-anechoic chamber (SAC), or free space field strength levels
– 12 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
3.1.5
EUT type
grouping of products with sufficient similarity in electromagnetic characteristics to allow testing
with the same test installation and the same test protocol
3.1.6
exit cable
cable that connects the EUT to equipment external to the TEM waveguide or cable exiting the
usable test volume
Note 1 to entry: The usable test volume is specified in 5.2.1.
3.1.7
forward power
P fwd
power that is applied to the port of the waveguide
3.1.8
forward power for immunity testing
P test
forward power required to establish the test field strength E test during immunity testing
Note 1 to entry: See Equation (16) and Equation (17) for the constant forward power (5.2.2.4.1) and constant field
strength (5.2.2.4.2) methods, respectively.
3.1.9
four-port TEM waveguide
TEM waveguide with two input/output ports at each end
3.1.10
hyper-rotated TEM waveguide
TEM waveguide that has been reoriented such that its ortho-axis is normal to the surface of the
Earth
Note 1 to entry: Additional details are given in [6].
3.1.11
inner conductor
septum
inner conductor of a coaxial transmission-line system, often flat in the case of a rectangular
cross-section, and which can be positioned symmetrically or asymmetrically with respect to the
outer conductor
3.1.12
interconnecting cable
cable that connects subcomponents of the EUT within the test volume but does not exit the test
volume
3.1.13
manipulator
any type of manual or automatic non-metallic test set-up support similar to a turntable, and
capable of supporting an affixed EUT throughout numerous positions as required by a
correlation algorithm or test protocol
Note 1 to entry: An example of a manipulator design is shown in Figure A.2 in Clause A.7.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 13 –
3.1.14
one-port TEM waveguide
TEM waveguide with a single input/output port
Note 1 to entry: Such TEM waveguides typically feature a broadband transmission-line termination at the non-port
end.
3.1.15
ortho-angle
angle that the diagonal of a cube makes to each side face at the trihedral corners of the cube
Note 1 to entry: Assuming that the cube is aligned with the TEM waveguide cartesian coordinate system, the
azimuth and elevation angles of the projection of the cube diagonal are 45°, and the angles to the face edges are
54,7°.
Note 2 to entry: Figure A.2 a) in Clause A.7 shows a diagram of the ortho-angle.
Note 3 to entry: When associated with the EUT, this angle is usually referred to as the ortho-axis.
3.1.16
outer conductor
outer conductor of a coaxial transmission line system, often having a rectangular cross-section
3.1.17
primary field component
primary component
electric field component aligned with the intended test polarization
Note 1 to entry: In conventional two-port TEM cells, the septum is parallel to the horizontal floor, and the primary
mode electric field vector is vertical at the transverse centre of the TEM cell.
3.1.18
resultant field
amplitude
root-sum-squared values in V/m of the primary and the two secondary electric field components
3.1.19
secondary field component
secondary component
in a cartesian coordinate system, either of the two electric field components orthogonal to the
primary field component and orthogonal to each other
3.1.20
stripline
terminated transmission line consisting of two or more parallel plates between which a wave is
propagated in the transverse electromagnetic mode to produce a specific field for testing
purposes
Note 1 to entry: Striplines usually have open sides for EUT access and monitoring.
3.1.21
TEM cell
closed TEM waveguide, often a rectangular coaxial transmission line, in which a wave is
propagated in the transverse electromagnetic mode to produce a specific field for testing
purposes and with an outer conductor completely enclosing an inner conductor
3.1.22
TEM waveguide
open or closed transmission line system, in which a wave is propagated in the transverse
electromagnetic mode to produce a specific field for testing purposes
– 14 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
3.1.23
test field strength
E test
field strength of the primary field component in V/m that is used for immunity testing
Note 1 to entry: Different levels of E test are given in Annex B.
3.1.24
test set-up support
non-reflecting, non-conducting, low-permittivity support and positioning reference that allows
for precise rotations of the EUT as required by a correlation algorithm or test protocol
Note 1 to entry: A typical material is foamed polystyrene. Wooden supports are not recommended (see [4]).
3.1.25
transverse electromagnetic mode
TEM mode
waveguide mode in which the components of the electric and magnetic fields in the propagation
direction are much less than the primary field components across any transverse cross-section
3.1.26
two-port TEM waveguide
TEM waveguide with an input/output port at each end
3.1.27
verification field strength
E verification
field strength used for verification of the uniform area
Note 1 to entry: This field strength should be the field strength at which the field probe has been calibrated, to
reduce uncertainties due to the nonlinearity of the field probe.
3.2 Abbreviated terms

BALUN balanced-to-unbalanced
DFT discrete Fourier transform
E-field electric field strength
EUT equipment under test
FAR fully anechoic room
FFT fast Fourier transform
FS free space
FSOATS free space open-area test site
GTEM gigahertz transverse electromagnetic
HEMP high-altitude electromagnetic pulse
HS half space
IEMI intentional electromagnetic interference
OATS open-area test site
Pcc Pearson correlation coefficient
PDF probability density function
RC reverberation chamber
RF radio frequency
SAC semi-anechoic chamber
S/N signal-to-noise
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 15 –
SPD surge protective device

TDR time-domain reflectometer
TE transverse electric (mode), (H-mode)
TEM transverse electromagnetic
TL transmission line
TM transverse magnetic (mode), (E-mode)
UFA uniform field area
VSWR voltage standing wave ratio
4 General
This document describes the basic characteristics and limitations of TEM waveguides, namely
test volume, field uniformity, purity of the TEM mode, and frequency ranges. Various general
properties of TEM waveguides are described in Annex D.
Radiated emission measurements in a TEM waveguide are usually correlated with the open-
area test site (OATS) and semi-anechoic chamber (SAC) methods, which provide valid and
repeatable measurement results of disturbance field strength from equipment. In this case so-
called correlation algorithms are used to convert TEM waveguide measurement results to
OATS-equivalent data, as described in Annex A.
TEM waveguides can also be used as field generators for testing the immunity of equipment to
electromagnetic fields. Details are given in Annex B and Annex C. Immunity testing in TEM
waveguides is cited in several other documents listed in the Bibliography. Field generation
properties can also be used for measuring field strength; see other publications listed in the
Bibliography.
Additional information for TEM waveguide characterization, electric field strength (E-field) probe
calibration, measurement uncertainty, and the time domain characterization of TEM waveguides
is given in Annex D, Annex E, Annex F, Annex G, Annex H, and Annex I respectively.
TEM waveguide tests are not restricted to radiated measurements on fully assembled
equipment; they may also be applied to the testing of components, integrated circuits, and the
shielding effectiveness of gasket materials and cables. For further information see other
publications listed in the Bibliography.
In this document, CW measurements of electric field strength are expressed in terms of RMS
values, while transient measurements are expressed in peak values.
5 TEM waveguide requirements
5.1 General
TEM waveguides can be used for emission measurements and immunity tests when certain
requirements are met. For the validation of a TEM waveguide the methods described in
Clause 5 shall be applied.
Clause 5 focuses on general validation aspects such as the dominant TEM mode and field
homogeneity. Specific validation requirements for emission measurements, immunity testing,
and transient testing are given in Annex A, Annex B, and Annex C, respectively.
– 16 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
5.2 General requirements for the use of TEM waveguides
5.2.1 Test volume and maximum EUT size
The maximum size of an EUT is related to the size of the usable test volume in a TEM waveguide.
The usable test volume of a TEM waveguide depends on its size, geometry, and the spatial
distribution of the electromagnetic fields.
The usable test volume of a TEM waveguide (see Figure D.6 to Figure D.11 in Clause D.8) is
established by the “uniform area” as defined in 5.2.2. The propagation direction of the
waveguide TEM mode (typically the z-axis) is perpendicular to a uniform area (in a transverse
plane, typically the xy-plane). In the xy-plane the entire cross-section of the usable test volume
shall fulfil the requirements of the uniform area specified in 5.2.2. The minimum value for the
distance h EUT between the EUT and each conductor or absorber of the waveguide (see
Figure D.7 to Figure D.11) is given by the distance between the boundary of the uniform area
(see 5.2.2) and the conductor. However, h EUT should not be zero, to avoid possible changes in
the EUT operational condition due to close coupling between the EUT and the conducting
structures of the TEM waveguide (h EUT should be larger than 0,05 h, h being the spacing
between conducting structures). Along the z-axis (propagation direction) the usable test volume
is limited by zmin ≤ z ≤ zmax , where z min and z max are established using the methods of Clause 5.
The length of the test volume is= L zmax − zmin . The TEM mode requirements of a uniform area
shall be validated for cross-sections at each EUT test point z used with zmin ≤ z ≤ zmax .
Alternately, it can be assumed that the TEM mode requirements are fulfilled for any z in the
range zmin ≤ z ≤ zmax under the following conditions:
a) if the TEM mode requirements are fulfilled at the position zmax , and the geometry of the
waveguide is similar to one of the types shown in Figure D.6 to Figure D.11 with a constant
aspect ratio of h to w (inherent shape) for 0 ≤ z ≤ z max , or,
b) if the TEM mode requirements are fulfilled at the positions zmin and zmax , and the
waveguide cross-section is constant or uniformly tapered for zmin ≤ z ≤ zmax , and the
derivatives dh/dz and dw/dz are a smooth function for zmin ≤ z ≤ zmax (no kinks or steps in the
conductor geometries).
The maximum size of an EUT is related to the size of the usable test volume. The EUT shall be
verified to be not larger than 0,6 w × 0,6 L (see Figure D.7 to Figure D.11).
NOTE ISO 11452-3 [37] defines an EUT size of 0,33 w × 0,6 L, and MIL-STD-461G [47] recommends 0,5 w × 0,5 L.
The maximum usable EUT height should be 0,33 h, with h equal to the distance between the
inner and outer conductors (conductor spacing) at the centre of the EUT in the test volume (for
example, between the septum and the floor in a typical TEM cell). For all TEM waveguides, the
EUT shall fit within the usable test volume for all of its rotation positions.
Most documents restrict the EUT size to 0,33 h. The maximum usable EUT height may be larger
than 0,33 h if the manufacturer or the user documents information about the measurement
uncertainty for larger EUTs. More information about loaded waveguide effects is given in [39]
and [40].
5.2.2 Validation of usable test volume
5.2.2.1 General
Subclause 5.2.2 uses the concept of a "uniform area," which is a hypothetical area in which
variations of the field magnitude are acceptably small (see [18]). The physical dimensions of a
TEM waveguide determine the size of this uniform (plane) area. Unless the EUT can be fully
illuminated in a smaller surface, the maximum size of an EUT is also related to the size of the
usable test volume (see 5.2.1).
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 17 –
If no other definition is given in a product standard or by the manufacturer of the TEM waveguide,
the uniform area should be a vertical plane orthogonal to the propagation direction of the field.
The uniform area should be a single plane coincident with the front face of the EUT. Use of a
vertical plane in this description assumes that the direction of the TEM mode propagation is
near horizontal (oriented along the z-axis) and the plane wave propagation is given. If the TEM
mode propagation direction is in some other direction, the uniform area plane may be re-
orientated accordingly.
NOTE 1 In general, the exact shape and the location of the uniform area are not specified but are determined using
the procedures of this document.
Use of the transmission line configuration of the TEM waveguide avoids perturbation due to
ground-reflected fields as in a semi-anechoic chamber test set-up; thus, uniform fields may be
established in the proximity of the inner and outer conductors (in the normal direction only).
In principle, the uniform area may be located at any distance from the input port of a TEM
waveguide; the location will depend on the specific geometry. The uniform area is valid only for
that distance from the input port at which it is validated. To allow EUT rotation, the uniform area
shall be spaced at a distance at least greater than the largest EUT-enclosure dimension away
from the end of the usable test volume zmax defined in 5.2.1.
The uniform area shall be validated in the empty enclosure. The frequency range is from the
lowest to the highest frequency of intended use of the TEM waveguide. When the frequencies
are swept, the first frequency step shall not exceed 1 % of the fundamental frequency, and
thereafter 1 % of the preceding frequency in the entire frequency range. One constraint on the
sweep speed is the response time of the field probe. The validation of the usable test volume
shall be performed with a non-modulated signal.
NOTE 2 The TEM field is the dominant mode and the cavities are low Q values, therefore resonances are not
expected to be narrow. For this reason the use of logarithmic frequencies is acceptable for the validation of the
usable test volume.
Depending on the size of the uniform area, it shall be validated at least at five test points (four
at the corners and one at the centre). The spacing between two test points shall be less than
or equal to 50 cm.
NOTE 3 Choosing a larger number of test points results in a better outcome of the testing of the field homogeneity.
Using more test points also results in a more accurate estimation of the overall field homogeneity.
5.2.2.2 Field uniformity verification
5.2.2.2.1 General
The field uniformity may be verified by the constant forward power method (5.2.2.2.2) or the
constant field strength method (5.2.2.2.3). With the constant forward power method the forward
power is kept constant for all grid points and all test frequencies. With the constant field strength
method, the primary component of the electric field strength is kept constant for all grid points
and all test frequencies. While the constant field strength method is more laborious it is also
more accurate, since the linearity of the power meter is usually better than the linearity of the
field probe and the field probe is always operated at the field strength that it has been calibrated
for.
5.2.2.2.2 Constant forward power method
The field is considered to be sufficiently homogeneous, if statistically at least 75 % of the

measured primary electric field components E i are within a 6 dB range. A primary electric field
component tolerance greater than 6 dB but less than 10 dB is allowed for a maximum of 5 % of
the test frequencies (minimum of one frequency), provided that the actual tolerance and
frequencies are stated in the test report. The statistical approach is based on the mean value
and standard deviation of the primary field component as defined in Equation (1) and Equation
(2) to assess the variation of the primary field component over the uniform area.
– 18 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
At test point i the measured primary field component is given as E i . The mean value E and the
standard deviation σ E are calculated for N test points in logarithmic values.
1
E= ∑ Ei
N (N)
(1)
1
( )
2
=σE ∑ Ei − E
N − 1( N )
(2)
The assumption of a normal distribution for the samples of the primary field component leads
to Equation (3) for the probability that 75 % of the measurement results will fall in the range
2·k·σ E .
E − k ⋅ σ E ≤ Ei ≤ E + k ⋅ σ E (3)
where the factor k is chosen to be 1,15 (see Table 1).
In case of immunity testing, besides proving that the field is homogeneous, it is also required
that a given percentage of the test points result in a field strength that is greater than or equal
to the test-level field strength E test . The combination of these conditions leads to Equation (4).
E test ≤ Ei ≤ E test + Emargin (4)
Comparing the range in Equation (4) with Equation (3) gives Equation (5) and Equation (6) with
the requirement for field homogeneity.
E test ≤ Ei ≤ E test + 2 ⋅ k ⋅ σ E (5)
margin
σE = (6)
2⋅k
For 75 % probability, ( k = 1,15 ) and a margin of 6 dB, the standard deviation shall be
6 dB
σE ≤ ≈ 2,61 dB .
2 ⋅ 1,15
10 dB
σE ≤ ≈ 4,35 dB .
2 ⋅ 1,15
Table 1 – Values k for expanded uncertainty with normal distribution
Factor
1 1,15 1,3 1,5 2 3
k
Probability
68,3 75,0 80,6 86,6 95,5 99,7
%
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 19 –
5.2.2.2.3 Constant field strength method
At test point i the measured forward power is given as P fwd,i . The mean value Pfwd and the
standard deviation σ P are calculated for N test points in logarithmic values using Equation (7)
and Equation (8).
1
Pfwd = ∑ Pfwd,i
N (N)
(7)
1
( )
2
=σP ∑ Pfwd,i − Pfwd
N - 1( N )
(8)
The assumption of a normal distribution for the samples of the primary field component leads
to Equation (9) for the probability that 75 % of the test results P fwd,i will fall in the range of
2·k·σ P
P fwd − k ⋅ σ P ≤ Pfwd,i ≤ P fwd + k ⋅ σ P (9)
where the factor k is chosen to be 1,15 (see Table 1).
The field is considered to be sufficiently homogeneous in the constant field strength method, if
statistically at least 75 % of the measured forward powers P fwd,i are within the tolerance of 0 dB
to 6 dB above the minimum value P test . This results in Equation (10).
Ptest ≤ Pfwd,i ≤ Ptest + 6 dB (10)
Comparing the range in Equation (10) with Equation (9) gives Equation (11) and Equation (12)
with the requirement for field homogeneity.
2 ⋅ k ⋅ σ P ≤ 6 dB (11)
6 dB
σP ≤ (12)
2⋅k
A forward power tolerance greater than 6 dB but less than 10 dB is allowed for a maximum of
5 % of the test frequencies (minimum of one frequency), provided that the actual tolerance and
frequencies are stated in the test report.
The statistical approach is based on the assumption of normal distribution and the calculation
of the mean value and the standard deviation of the forward power.
6 dB
σP ≤ ≈ 2,61 dB .
2 ⋅ 1,15
– 20 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
10 dB
σP ≤ ≈ 4,35 dB .
2 ⋅ 1,15
5.2.2.3 TEM mode verification
TEM waveguides can exhibit resonances above a certain cut-off frequency that is determined
by the cross-sectional dimensions and/or the waveguide length. For practical use, the field in a
TEM waveguide is considered to propagate in a TEM mode when the following requirements
are met. This verification of the TEM mode applies to waveguides used either for immunity
testing or emission measurements. The TEM mode behaviour shall be confirmed at regular
intervals (see 5.2.2.4).
NOTE 1 Generally, a TEM waveguide manufacturer provides documentation on the TEM mode behaviour.
The TEM mode is considered to be dominant if statistically at least 75 % of the measured

secondary (unintended) electric field components are at least 6 dB less than the primary
component of the electric field. Secondary electric field components at levels up to −2 dB of the
primary field component are allowed for a maximum of 5 % of the test frequencies (minimum of
one frequency), provided that the actual tolerance and frequencies are stated in the test report.
NOTE 2 The 6 dB criterion of 5.2.2.3 describes the dominant TEM mode rather than the field uniformity, and is
separate from and will not be confused with the field uniformity requirements of 5.2.2.2.
The statistical description of the ratio of the secondary and primary electric field component is
based on the assumption of a Rayleigh distribution. For a Rayleigh-distributed measurand, the
75 % quantile Q 75 % can be calculated analytically. It can be assumed that 75 % of the test
points have a ratio lower than the quantile Q 75 % .
At test point i the measured primary field component is given as E prim,i and the secondary field
component as E sec,i . E sec,i is the larger one of the two secondary field components. Both values
are to be expressed for N test points in linear values. As given in Equation (13), the parameter
s R of the Rayleigh distribution can be estimated from the measured field components.
2
1  Esec,i 
sR ≈ ∑ 
2 ⋅ N ( N )  Eprim,i


(13)

The P-quantile of the Rayleigh distribution can be calculated by Equation (14).
QP = −2 ⋅ sR2 ⋅ ln (1 − P ) (14)
For P = 0,75 the 75 % quantile Q 75 % is determined according to Equation (15):
Q75% = −2 ⋅ sR2 ⋅ ln (1 − 0,75 ) = sR ⋅ 1,6651 (15)
For Q 75 % < 0,5 it can be assumed that statistically 75 % of the test points have a secondary
field component that is at least 6 dB less than the primary field component. For Q 75 % < 0,794
it can be assumed that statistically 75 % of the test points have a secondary field component
that is at least 2 dB less than the primary field component.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 21 –
5.2.2.4 Field uniformity and TEM mode measurement procedure
5.2.2.4.1 Constant forward power method
The procedure for carrying out the validation is known as the "constant forward power" method
and is as follows.
a) Position the three-axis probe at one of the points in the grid.

b) Apply a forward power P fwd to the TEM waveguide input port so that the primary component
of electric field strength is to be E verification through the frequency range with the frequency
steps specified in 5.2.2.1, and record the readings of all the forward powers and primary
and secondary component field strengths.
c) With the same forward power, measure and record the primary and secondary field strengths
at the other test points.
d) Calculate the standard deviation σ E according to Equation (2) of 5.2.2.2.2. All measurement
results are expressed in dB(V/m).
e) Calculate the 75 % quantile Q 75 % of the ratio of the secondary to the primary field
component according to Equation (15) of 5.2.2.3. The calculation shall be performed using
linear values.
f) The standard deviation σ E shall be less than 2,61 dB. It may be in the range of
2,61 dB ≤ σ E ≤ 4,35 dB for a maximum of 5 % of the test frequencies (minimum of one
frequency), provided that the actual values and frequencies are stated in the test report.
g) The 75 % quantile Q 75 % shall be less than 0,5. It may be in the range of 0,5 ≤ Q 75 % ≤ 0,794
for a maximum of 5 % of the test frequencies (minimum of one frequency), provided that the
actual values and frequencies are stated in the test report.
h) Knowing the forward power P fwd , the mean value of the primary field component and the
standard deviation of the primary field component, the required forward power P test for
immunity testing (see Annex B) with the test field strength E test can be calculated using
Equation (16). The calculation shall be performed using linear values. The coverage factor
k shall be chosen according to Table 1. In general, k shall be 1,15. The forward power shall
be recorded.
2
Etest
=Ptest ⋅ Pfwd (16)
( E − k ⋅ σ E )2
i) Confirm that the test system (e.g. the power amplifier) is not in saturation. Assuming that
E test has been chosen as 1,8 times a required test level of electric field strength, perform
the following procedure over the frequency range:
1) decrease the output from the signal generator by 5,1 dB from the level needed to
establish a forward power of P test , as determined in the preceding step;
2) record the new forward power delivered to the TEM waveguide;
3) subtract the forward power measured in step 2) from P test . If the difference in power is
between 3,1 dB and 5,1 dB, then the amplifier is not saturated and is adequate for use.
If the difference is less than 3,1 dB, then the amplifier is saturated and is not suitable
for use.
A flowchart of the procedure is shown in Figure 1 (see 5.4).
EXAMPLE If at a given test point 81 W gives a denominator in Equation (16) of 9 V/m, then 9 W is used for a test
field strength of 3 V/m.
– 22 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
5.2.2.4.2 Constant field strength method
The procedure for carrying out the validation is known as the "constant field strength" method
and is as follows.
a) Position the three-axis probe at one of the points in the grid.

b) Apply a forward power P fwd to the TEM waveguide input port so that the primary component
of electric field strength is to be E verification through the frequency range with the frequency
steps specified in 5.2.2.1, and record the readings of all the forward powers and primary
and secondary components of the field strengths.
c) With the same field strength E verification , measure and record the readings of all the forward
powers and the primary and secondary field components of the field strengths at the other
grid points.
d) For field uniformity verification, calculate the standard deviation σ P for all the forward powers
measured at the points according to Equation (8) of 5.2.2.2.3. All measurement results are
expressed in dBm.
e) The standard deviation σ P shall be smaller than 2,61 dB.
A maximum of 5 % of the test frequencies (at least one frequency) may be in the range of
2,61dB ≤ σ E ≤ 4,35 dB . The actual values and frequencies shall be stated in the test reports.
f) For TEM mode verification, calculate the 75 % quantile Q 75 % of the ratio of the secondary
to the primary field component according to Equation (15) of 5.2.2.3. The calculation shall
be performed in linear values.
g) The 75 % quantile Q 75 % shall be smaller than 0,5. It may be in the range of
0,5 ≤ Q75% ≤ 0,794 for a maximum of 5 % of the test frequencies (minimum of one
frequency), provided that the actual values and frequencies are stated in the test reports.
h) For immunity tests (see Annex B), knowing the forward power and the field strength
Everification , the necessary forward power Ptest for the required test-field strength Etest can
be calculated using Equation (17). The forward power shall be recorded.
2
 Etest 
=Ptest   ⋅ ( Pfwd + k ⋅ σ P ) (17)
 Everification 
i) Confirm that the test system (e.g. the power amplifier) is not in saturation. Assuming that
Etest has been chosen as 1,8 times a required test level of electric field strength, perform
the following procedure in the frequency range:
1) decrease the output from the signal generator by 5,1 dB from the level needed to
establish a forward power of Ptest , as determined in the above steps;
2) record the new forward power delivered to the TEM waveguide;
3) subtract the forward power measured in step b) from Ptest . If the difference in power is
between 3,1 dB and 5,1 dB, then the amplifier is not saturated and is adequate for use.
If the difference is less than 3,1 dB, then the amplifier is saturated and is not suitable
for use.
A flowchart of the procedure is shown in Figure 2 (see 5.4).
The uniformity validation is applicable for all EUTs whose individual faces (including any cabling)
can be fully enclosed by the "uniform area". It is intended that the full uniform area validation is
carried out annually or when changes have been made to the enclosure configuration (e.g. TEM
cell or stripline within a shielded enclosure).
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 23 –
5.3 Special requirements and recommendations for certain types of TEM waveguides
5.3.1 Set-up of open TEM waveguides
To minimize ambient effects, open TEM waveguides should be installed inside a shielded room
where practical.
NOTE 1 Ambient signal levels are defined in Annex A, Annex B, and Annex C and strongly depend on the test
objectives.
A minimum distance of one plate spacing h from the open TEM waveguide to the shielded-room
floor, walls, and ceiling is recommended. Additional anechoic material can be placed
appropriately in the shielded room to minimize reflections. These distances are given for
guidance only. Note that it is possible to construct an open TEM waveguide where one plate
consists of the floor of the shielded room and the other is an installed septum.
NOTE 2 MIL-STD-461G [47] requires open TEM waveguides to be positioned in a shielded room. MIL-STD-461G
[47] sets a minimum required distance to the walls in relation to the size of the waveguide. CISPR 20 [69] requires a
minimum distance of 800 mm from walls, floor, and ceiling, corresponding to 1 h.
5.3.2 Alternative TEM mode verification for a two-port TEM waveguide
As an alternative to the provisions in 5.2.2, the usable frequency range of a two-port TEM
waveguide can be established using the following verification method.
Before testing the EUT, the TEM waveguide resonances shall be determined for two-port TEM
devices with the test set-up and EUT installed, with EUT power off. In this case, the transmission
loss of the TEM waveguide in the usable frequency range shall fulfil Equation (18):
 Poutput 
=Atloss 10 lg   ≤ 1dB (18)
 Pfwd − Prefl 
where
A tloss is the transmission loss of the loaded waveguide;

P refl is the reflected power measured at the input port;
P fwd is the forward power measured at the input port;
P output is the output power measured at the second (output) port.
NOTE 1 The reflected, forward and backward (output) powers are measured with respect to the characteristic
impedance of the TEM waveguide. An impedance transformer is not used. Equation (18) is valid for a characteristic
impedance of 50 Ω.
NOTE 2 This is an alternative verification method for a two-port TEM waveguide of the type described in
ISO 11452-3 [37], and is based on the assumption that resonating higher order modes will extract energy from the
TEM mode.
5.3.3 TEM mode generation for a four-port TEM waveguide
In order to generate a TEM mode, input signals shall be applied into ports 1 and 2 with the
same amplitude and reversed phase as is shown in Figure D.6 (see Clause D.8). Ports 3 and 4
shall be terminated with 50 Ω lumped loads (see [38] and [63]).
– 24 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
5.4 Figures for Clause 5
Figure 1 – Flowchart of TEM mode and field uniformity verification procedure

with the “constant forward power” method (see 5.2.2.4.1)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 25 –
Figure 2 – Flowchart of TEM mode and field uniformity verification procedure

with the “constant field strength” method (see 5.2.2.4.2)
– 26 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
6 Overview of EUT types
6.1 General
An EUT type is a group of products with sufficient similarity in electromagnetic characteristics

or mechanical dimensions such that testing with the same test installation and the same test
protocol is allowable. The EUT type and its configuration are valid for immunity testing and
emission measurements, to allow a uniform arrangement in the test volume.
6.2 Small EUT
An EUT is defined as a small EUT if the largest dimension of the enclosure is smaller than one
wavelength at the highest test frequency (for example at 1 GHz, λ = 300 mm), and without any
cables connected to the EUT.
6.3 Large EUT
An EUT is defined as a large EUT if it is
a) an EUT with one or more exit cables,

b) an EUT with one or more interconnecting cables,
c) an EUT with or without cable(s) that has a dimension larger than one wavelength at the
highest test frequency,
d) a group of small EUTs arranged in a test set-up with interconnecting cables, and with or
without exit cables.
However, a single EUT with interconnecting cables being part of that EUT, and with a cable
routing that is not changed during the test, is considered to be a small EUT if the overall EUT
dimensions meet the requirement specified in 6.2.
7 Laboratory test conditions
7.1 General
In order to minimize the effect of environmental parameters on test results, the test shall be
carried out in climatic and electromagnetic reference conditions as specified in 7.2 and 7.3.
7.2 Climatic conditions
Unless otherwise specified by the committee responsible for the generic or product standard,
the climatic conditions at the test site shall be within any limits specified for the operation of the
EUT and the test equipment by their respective manufacturers.
Tests shall not be performed if the relative humidity is so high as to cause condensation on the
EUT or the test equipment.
Where there is evidence that the measurements covered by this document are influenced by
climatic conditions, this shall be noted in the test report.
7.3 Electromagnetic conditions
The electromagnetic conditions at the test site shall be such as to guarantee the correct
operation of the EUT in order not to influence the test results.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 27 –
8 Evaluation and reporting of test results
Testing shall be performed according to a test plan which shall be included in the test report.
Test results and reporting requirements are dependent upon the type of test being performed.
The test report shall contain all the information necessary to reproduce the test. In particular,
the following shall be recorded:
a) the items specified in the test plan;

b) identification of the EUT and any associated equipment, for example, brand name, product
type, serial number;
c) identification of the test equipment, for example, brand name, product type, serial number;
d) any special environmental conditions in which the test was performed;
e) any specific conditions necessary to enable the test to be performed;
f) performance level defined by the manufacturer, requestor or purchaser;
g) for immunity, performance criterion specified in the generic, product or product-family
standard;
h) for immunity, any effects on the EUT observed during or after the application of the test
disturbance, and the duration for which these effects persist;
i) for immunity, the rationale for the pass/fail decision (based on the performance criterion
specified in the generic, product or product-family standard, or agreed between the
manufacturer and the purchaser);
j) any specific conditions of use, for example cable length or type, shielding or grounding, or
EUT operating conditions, which are required to achieve compliance;
k) drawing and/or pictures of the test set-up and EUT arrangement.
– 28 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
Annex A
(normative)
Emission measurements in TEM waveguides
A.1 Overview
Annex A describes emission measurements in TEM waveguides.
The results of emission measurements made in TEM waveguides may be compared with limits
derived in one of two ways:
a) TEM waveguide-based limits

This approach has been applied to specific product families (for example, procedures for
integrated circuits, military devices, vehicle components and modules, etc.), as described
in the references listed in the Bibliography. In this case, TEM waveguide emission
measurement results are used and compared directly to an independent disturbance limit
or guideline, usually developed specifically for one type of TEM waveguide. In some cases,
the TEM waveguide limits may be derived from limit values used in other test facilities
(see [54]).
b) OATS-based limits
This approach is applicable for EUTs that are subject to disturbance limits given in terms of
field strength at an OATS. A correlation algorithm is used to derive the open-area test site
(OATS) field strength levels from TEM waveguide measurement results.
Only case b) is described in detail in Annex A. Emission measurements using TEM waveguides
requires a validation in order to demonstrate the suitability of the TEM waveguide being used.
For each EUT type a validation procedure shall be carried out as described in Clause 5. In
cases where only relative comparison is made within the same EUT product family, then
correlation to OATS or other test sites is not required. In that case, product committees shall
supply specific limits to determine the compliance of the measurement data.
Correlation algorithms are described in Clause A.3. Correlation algorithms use TEM waveguide
voltage measurements to estimate equivalent OATS field strengths. Free-space field strength
levels may also be estimated. These field strength levels, along with measurement results from
the EUT type validation procedure, may then be compared to the requirements in documents.
A.2 Test equipment
The test equipment shall comply with the relevant requirements of CISPR 16-1-1.
NOTE An isotropic field sensor can be seen as an antenna (see CISPR 16-1-4 for antenna requirements). The
calibration procedures of isotropic field probes and their specifications are described in Annex E and [35].
A.3 Correlating TEM waveguide voltages to electric field strength data
A.3.1 General
This procedure is intended to establish an alternative to OATS emission measurement methods.

The TEM waveguide results are converted to equivalent OATS electric field strength (E-field)
data. Clause A.3 describes an algorithm based on the assumption that the radiated power, as
derived from a TEM waveguide measurement, is radiated by a dipole positioned above a
perfectly conducting ground plane.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 29 –
Correlation algorithms include in the calculation the distance between the EUT and each TEM
waveguide conductor, h EUT , and the conductor spacing h (or plate separation) at the centre of
the EUT (see Figure D.7 to Figure D.11, in Clause D.8). The voltages measured with the EUT
placed in the TEM waveguide are generated by the EUT emissions. After rotation (repositioning)
of the EUT according to the requirements of the correlation algorithm, further voltage
measurements are taken until all required positions have been tested. The correlation algorithm
then uses these data to simulate an OATS test.
NOTE Information about correlation methods and example correlation data for emission measurements can be
found in [5], [9], [22], [30], [52], [54], [59], and [60].
Subclause A.3.2 describes an algorithm based on a three-position test. Other algorithms have
been proposed that can be useful for some EUTs (see [47] and [60]).
A.3.2 Correlation algorithms
A.3.2.1 General
Subclauses A.3.2.2 and A.3.2.3 show independent correlation approaches. Subclause A.3.2.2
describes the basic approach of correlation algorithms using the "multipole model", which uses
a set of TEM waveguide tests to determine the equivalent multipole moments. Subclause
A.3.2.3 describes another correlation algorithm that uses only the three voltage measurements;
this latter procedure is often referred to as the "total radiated power method."
A.3.2.2 Multipole model
Any radiation source of finite size may be replaced by an equivalent multipole expansion which
gives the same radiation pattern outside a volume encompassing the source. If the source is
electrically small (characteristic dimensions less than 0,1 times the wavelength), then the initial
multipole expansion terms, effectively electric and magnetic dipoles, will yield an accurate
simulation of the source. The preceding statement holds for an arbitrary source. If the source
itself consists of electric and magnetic dipole-like elements only, then the size restriction with
respect to the wavelength may be relaxed.
The basic approach of correlation algorithms between TEM waveguides and OATS or free
space data is to use a set of TEM waveguide tests to determine the multipole moments. Usually
three complex-valued orthogonal dipole moments are used, requiring six or more
measurements. With the basic three-orientation method, radiated power is estimated, but not
the individual multipole moments. Once the radiated power is estimated, radiated fields either
in free space or over an infinite ground plane may be derived numerically. In this way, it is
possible to simulate the various source-to-receiver antenna configurations required by OATS
emission standards.
For two-port TEM waveguides, measurements at both ports yield both amplitude and relative
phase information (see [17], [44], [46], [53], and [56]). In this manner both the magnitude and
the phase of the multipole moments may be determined and the radiation pattern accurately
simulated, including possible nulls due to phase cancellation. For one-port TEM waveguides no
relative phase information is available; thus, it is only possible to determine the magnitudes of
the multipole moments (see [54], [59], and [60]). Because relative phase information is not
known, one-port TEM waveguide correlation routines assume that all of the multipole moments
radiate in phase. This yields an upper bound estimate only (see [13], [43], and [57]). Detailed
radiation patterns cannot be simulated. The upper bound estimate is valid for comparison to
standard limits. In [47] and [49] it was shown that cross-polar coupling does occur in TEM
waveguides. The influences on emission measurements data have also been shown in those
references.
– 30 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
A.3.2.3 One-port TEM waveguide correlation algorithm
A.3.2.3.1 General
The one-port correlation algorithm is based on three voltage measurements made in a TEM
waveguide, from which the total radiated power of the EUT may be calculated. The individual
dipole moments are not separately determined. The total radiated power is then used to
simulate the maximum EUT fields over a ground plane based on a model of parallel dipoles
(source dipole and receive dipole) transmitting the same total power.
A.3.2.3.2 TEM waveguide voltage measurements
The voltages are measured at the TEM waveguide coaxial connector for three orientations of
the EUT that are specified as follows. An (x,y,z) axis system is assigned to the TEM waveguide
according to Figure D.7 to Figure D.11 (see Clause D.8). A standard choice is to align the z-
axis in the direction of propagation, the y-axis parallel to the electric field vector (vertical) and
the x-axis parallel to the magnetic field vector. The centre of the EUT is placed at (x = 0, y, z),
with x = 0 in the middle of the septum. A local "primed" coordinate system (x', y', z') is assigned
to the EUT. For example, position 65 aligns x' with x, y' with y, and z' with z, as indicated in
Figure A.4. The triplets (65, 41, 24), (45, 21, 14), (15, 31, 54), and (35, 51, 64) form a set of
three orthogonal orientations that can be used for the three-orientation correlation algorithm.
Designating the three voltage measurements by V p1 , V p2 , V p3 , it can be shown (see [47] and
[60]) that the total radiated power P0 due to the EUT is given by Equation (A.1)
η k2
P0 =0 ⋅ 0 ⋅ S 2 (A.1)
2
3 π e0y Zc
where the S factor is given by Equation (A.2) or Equation (A.3)
2 2 2
S= Vp1 + Vp2 + Vp3 (A.2)
Vp1 −120 Vp2 −120 Vp3 −120

dB dB dB
S= 10 10 + 10 10 + 10 10 (A.3)
and where
V p1 , V p2 , V p3 are the voltage measurements from three EUT positions;

S is the root-sum-square of measured voltages;
2π
k0 = is the wave number;
λ
µ0
=
η0 ≈ 120 π Ω ≈ 377 Ω is the free space wave impedance;
ε0
Zc is the characteristic impedance of the TEM waveguide in Ω (typically

50 Ω);
e0y is the TEM mode field factor: the normalized y-component of the electric
field at the EUT location (for Equation (A.1): (x = 0, y, z)).
For some EUTs, it can be necessary to test three orthogonal orientations at each of four start
orientations (start orientations 65, 45, 15, and 35 in Figure A.4) for a total of 12 canonical
orientations. The maximum voltage measurement and the voltage measurements from the two
corresponding orthogonal orientations are then used in the usual three-orientation method [29].
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 31 –
A.3.2.3.3 Determining the field factor

a) The algorithm described here requires the primary y-component TEM mode electric field.
Higher order field modes are not directly coupled to the voltage at the port. The field factor
e 0y is the normalized y-component of the electric field of the TEM mode at a given test
location of the EUT. Two possible procedures to derive the field factor e 0y are as follows.
The e 0y field factor for each specific type and size of TEM waveguide shall be provided by
the manufacturer.
b) Experimental procedure
The field factor can be determined experimentally via a measurement of the y-component
of the electric field E y in V/m (for an empty cell) at the location (x, y, z) of the EUT centre
with a known input power P i in watts according to Equation (A.4)
E y ( x, y )
e0 y = (A.4)
Pi
c) Analytical procedure
For a TEM cell with a rectangular cross-section as shown in [60] the normalized TEM mode
component can be analytically approximated with Equation (A.5)
4 ∞  cosh ( M ⋅ y )  a 
e=
0y Zc ⋅ ∑  ⋅ cos ( M ⋅ x ) ⋅ sin  M ⋅  ⋅ J 0 ( M ⋅ g )  (A.5)
a  sinh ( M ⋅ h )  2  
m =1,3,5  
where
π
M =m , m = 1, 3, 5,...,∞;
a
a is the cell width (see Figure D.7 to Figure D.11 in Clause D.8) at z;
h is the septum height at z;
g is the gap width at z;
x, y, z is the location of the EUT centre;
J0 is the zero-order Bessel function.
Only a few terms of this series need to be retained for a good approximation of e0y . Field
factor results for a variety of geometries are given in [43].
A.3.2.4 Correlation to OATS
EUT emissions over an OATS are simulated by assuming that the EUT’s total radiated power,
as estimated by the TEM waveguide tests, is the same as that emitted by a dipole (replacing
the EUT) over an ideal perfectly conducting half-space.
The equations for the fields from a dipole are well known and the ideal ground plane is
accounted for by introducing an image dipole. The fields are calculated over the equivalent
height scan of the receive antenna as required by the OATS method. The simulated maximum
received signal for two polarizations (horizontal, vertical) then gives the estimated maximum
field strength Emax . Using the geometry factor gmax determined by the height-scan of the
receiving dipole, Emax is given by Equation (A.6) and Equation (A.7)
3η0
E=
max gmax ⋅ P0 (A.6)
4π
– 32 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
η0 k0 S
Emax =gmax ⋅ ⋅ (A.7)
2π ⋅ e0 y Zc
where
S is the root-sum-square of measured voltages, defined by Equation

(A.2);
2π
k0 = is the wave number;
λ
µ0 is the free-space impedance;
=
η0 ≈ 120πΩ ≈ 377 Ω
ε0
Zc is the characteristic impedance of the TEM waveguide in Ω (typically

50 Ω);
e0y is the TEM-mode field factor: the normalized y-component of the electric
field at the EUT location (for Equation (A.1): (x = 0, y, z));
and g max is according to Equation (A.8).
 e − jk0 r1 e − jk0 r2
 − =
 r1 r2
max horizontal polarization

 1  2 12
 r2 + r12 − 2r1r2 cos ( k0 ( r2 − r1 ) ) 
r r  

 12 max
gmax =  (A.8)
2 − jk0 r1 2 − jk0 r2
 s e s e
 2 +
 r1
r1 r22 r2
max
 vertical polarization
2 12
 s  r 6 + r 6 + 2r 3 r 3 cos ( k ( r − r ) ) 
=  3 3  2 1 1 2 0 2 1 
 r1 r2
 max
with the following parameters as shown in Figure A.5 (see Clause A.7):
where
2
r1 = (
s 2 + RH − hg ) is the distance source dipole to the receiving dipole;
2
r2 = (
s 2 + RH − hg ) is the distance image dipole to the receiving dipole;
s is the receiving dipole to the source dipole horizontal distance as

designated in normative standards. Normally this value is 30 m, 10 m or
3 m;
hg is the height of the EUT above the ground plane;
RH is the height of the receiving dipole above the ground plane.
Normally this parameter is varied over the range 1 m to 4 m.

IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 33 –
1 η0
The maximum free-space, far-zone electric field at a distance r is given by Emax = Dmax P0 ,
r 4π
where Dmax is the maximum directivity of the antenna. Equation (A.6) follows from setting
Dmax equal to 3 and accounting for the image antenna and distance r via the geometry factor
gmax . The value D max = 3 is an upper limit for an electrically small antenna and follows from the
presence of an electric and a magnetic dipole both orientated and phased for maximum
directivity. For an electric or magnetic dipole alone Dmax = 1,5 . This is the more likely case for
an unintentional radiator since one source type should be dominant. In this sense, Equation
(A.6) can be viewed as the “worst case” condition.
Generally, the directivity D is given by either an assumed value, or a value known a priori, or
the measured directivity of the EUT. The one-port TEM waveguide correlation algorithm has
always assumed a "worst-case" estimate based on a) total radiated power versus the OATS
scanning volume or cone, and b) the implicit worst-case directivity choice. For comparison with
other total radiated power emission measurement methods, for example, in reverberation
chambers, directivities of D = 1,5 or D = 1,7 may be used. For the purposes of this document,
the "worst-case" small-EUT directivity of D = 3 is used.
This correlation method is valid for small EUTs as defined in 6.2.
NOTE For product classes having approximately the same size (form factor) and functionality, a full TEM waveguide
to OATS comparison is made using a representative product from that class. This comparison forms a reference so
that only TEM waveguide testing is needed for other products within that specific product class.
Another correlation method is from TEM waveguide measurement results to free space field
strength levels. For the free space case (or equivalently, fully anechoic chamber), the reflection
terms caused by the ground plane (terms with subscript 2 in Equation (A.8)) are omitted.
Alternately, Emax may be expressed in dB(μV/m) as Equation (A.9):
g   P0 
Emax = 20 lg  max  + 10 lg   + 139,5 (A.9)
 m−1  1W 
The factor 20 ⋅ lg( gmax ⋅ 1 m) can be calculated with each measurement, or interpolated from pre-
calculated look-up tables for standard geometries.
Emax can also be expressed as a function of the measured voltages. The insertion of P0 from
Equation (A.1) and S from Equation (A.2) into Equation (A.6) and conversion to dB(μV/m) leads
to Equation (A.10)
g  η0 k0   2 
Emax =

20 lg  max  + 20 lg   + 10 lg  S  + 120 (A.10)
 m−1   2π ⋅ e0 y ⋅ Ω   Zc ⋅ 1 W 
   
A.4 Emission measurement correction factors
A.4.1 Reference emission sources
Correction factors can be determined using a set of reference emission sources with well-
characterized OATS-method emission responses. The reference sources are selected on the
basis of the types of EUTs that will be tested in the TEM waveguide. The following five types of
reference sources are recommended to represent general EMC applications; these represent
variations of table-top equipment as defined in CISPR 32 [68].
– 34 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
a) A battery-powered comb generator with a broadband antenna, which is an example of a

small EUT. The largest dimension of the comb generator should be smaller than 0,1 h, where
h is the conductor spacing. If there is no comb generator available on the market that fulfils
the size requirement, a comb generator with size up to 0,35 h may be used. In this case the
size and type of the used comb generator and the regularly allowed size (0,1 h) are stated
at the same clause in the test protocol and marked specially. The EUT enclosure should be
smaller than one wavelength at the highest frequency tested (see 6.2).
b) A battery-powered comb generator with a wire attached, which is an example of a large EUT
without exit cables (see 6.3). The attached wire should extend to the edge of, but remain
within, the usable test volume.
c) A battery-powered comb generator with an attached exit cable, which is an example of a
large EUT with exit cables. The attached wire runs to and through a ferrite clamp.
d) A 480 mm rack-mount enclosure with a built-in comb generator, with at least two exit cables,
intended to be an example of a large EUT with exit cables.
e) An EUT with any of the form factors of a) to d), with a built-in broadband noise source (rather
than a comb generator).
For examples a) to d), the comb generator should produce spectral lines every 10 MHz or less
over the entire frequency range of interest. For example e), the broadband source should cover
the entire frequency range of interest.
The output spectrum should be stable with variations of less than 1 dB during the test duration.
NOTE If the largest dimension of the source is smaller than 0,1 h, minimal perturbation of the TEM mode can be
assumed.
For manufacturers of specific TEM waveguide types and sizes, it is recommended that emission
measurements be performed using the examples of EUTs in four or more TEM waveguides of
the same type and size, and four or more different OATS. The results are valid for all TEM
waveguides of the same type and size. An identical EUT arrangement, receiver detector
function, dwell time, and bandwidth should be used at all frequencies and at each test site. The
three-orientation correlation algorithm should be applied to convert the TEM waveguide-
measured voltages into OATS field strength values.
A.4.2 Arrangement of small EUTs
Tests are performed using a specific test sequence with an example of a small EUT in a TEM
waveguide. The EUT is placed in the centre of the test volume, for example on a test set-up
support, and turned to a minimum of three orthogonal orientations around the ortho-axis
(see Figure A.1 and Figure A.2 in Clause A.7). In some cases, the use of a non-conductive
cube to enclose the affixed EUT, or use of a manipulator, can assist with the rotations.
A.4.3 Calculation of the small EUT correction factor
In the case of the example of a small EUT, a statistical correction factor has been seen to
improve the agreement between OATS and three-orientation correlation algorithm TEM
waveguide field strengths.
The emission measurement in TEM waveguides is based on the total radiated power method.
Therefore, all possible orientations are considered. When comparing OATS data with TEM
waveguide measurements, the operator should select the orientation of the EUT on the OATS
with the maximum emission.
The correction factor calculation is based on the differences of the average and standard
deviation of both the TEM waveguide-correlated and the OATS-measured field strengths at
each frequency. An additional radiation pattern correction factor has also been seen to improve
agreement between OATS and TEM waveguide results for the small EUT. The correction factor
c f at each frequency f is calculated using Equation (A.11):
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 35 –
c f =x f − d s, f − t (A.11)
where
xf is the average difference between TEM waveguide and OATS field strength results;
d s,f is the difference of the standard deviations of multiple TEM waveguide and OATS
readings according to Equation (A.13);
t is the radiation pattern uncertainty factor according to Equation (A.19).
A small EUT might not have an omnidirectional radiation pattern; this difference should be taken
into account by the factor t in Equation (A.11). Measurements on different OATS and in different
TEM waveguides can result in deviations also. This is taken into account by d s,f in
Equation (A.11). The typical order of magnitude of t and d s,f is 1 dB.
The difference of the averages of the field strength results at each frequency is given by
Equation (A.12)
1 n 1 m 
=x f  ∑ gi, f − ∑ ok , f  (A.12)
n mk 1 
=  i 1= 
where
g i,f is the TEM waveguide electric field strength correlated with free space (according to
A.3.2.4);
i = 1...n n is the number of TEM waveguide measurements;
o k,f is the OATS electric field strength;
k = 1...m m is the number of OATS measurements;
f is the frequency;
g i,f are the correlated field strength results from i = 1…n measurements using one or
more TEM waveguides of a specific type and size; and
o k,f are the results from k = 1…m measurements using one or more different OATS.
NOTE 1 The quantities g i,f and o k,f follow a log-normal distribution and therefore Equation (A.12) can be expressed
using a logarithmic scale.
The difference of the standard deviations of the multiple TEM waveguide and OATS readings
is given by Equation (A.13)
d s, f sTEM, f − sOATS, f
= (A.13)
Here sTEM,f is the standard deviation of the TEM waveguide multiple field strength values, given
by Equation (A.14)
n
∑ ( gi, f )
2
−gf
i =1 (A.14)
sTEM, f =
n −1
– 36 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
and sOATS,f is the standard deviation of the results from one or multiple OATS, given by
Equation (A.15)
m
∑ ( ok, f )
2
−of
k =1 (A.15)
sOATS,f =
m −1
In these standard deviation equations, the mean of each TEM waveguide and the OATS levels
are given by Equation (A.16) and Equation (A.17)
1 n
gf = ∑ gi, f , for the TEM waveguide
n i =1
(A.16)
1 m
of = ∑ ok, f , for OATS
m k =1
(A.17)
If the TEM waveguide is unique ( n =1) , for example built for experimental use in a single
laboratory, then sTEM, f 0
= for the determination of the correction factor of this specific
waveguide. Therefore, results from a unique TEM waveguide cannot be used for the validation
of any other TEM waveguides, even of the same type and size.
For each specific TEM waveguide, the radiation pattern uncertainty factor t is derived from a
series of three-position correlation tests made at eight starting positions; for example, 0°, 45°,
90°, 135°, 180°, 225°, 270°, and 315°. For instance, with start position 65 of Figure A.4 (xx’yy’zz’)
(see Clause A.7), the EUT is rotated to those angles around the y-axis. At each start position,
the three-position correlation method is used to yield, in sum, a series of eight correlated field
strength values designated Eα ( 8 × 3 = 24 voltage readings). Eα is the mean value of the
electric field strength, specifically, E0°
= ( E0° + E90° ) 2 ,…, =
E225° ( E225° + E315° ) / 2 . A
maximum field strength, Eα,max , is obtained as the highest field strength for each pair of values
separated by 90°. Specifically,
max ( E0° E90° ) ,, E225°,max =

E0°,max =+ max ( E225° + E315° )
A standard deviation factor is calculated using Equation (A.18).
225°315°
2
∑ ( Eα,max − Eα )
0°90°
α=
t90°, f = (A.18)
l −1
where l is the number of start positions (eight in the above example).
The final radiation pattern uncertainty factor t is obtained as the average of these according to
Equation (A.19)
1 n
t= (
∑ t90°, f .
n i =1
) (A.19)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 37 –
NOTE 2 Instead of the t-factor approach, the six-position method [42] or the twelve-position method [55] can be
considered; the key condition is that the maximum radiated power value is captured. Comparison data are shown in
[28] and [29].
A.5 Emission measurement procedures in TEM waveguides
A.5.1 EUT types
A.5.1.1 Small EUTs
A small EUT shall be tested using two start orientations in a TEM waveguide. The first start
orientation is arbitrary, while the second start orientation is the first start orientation rotated as
shown in Figure A.4 (see Clause A.7). For each start orientation, the applicable correlation
algorithm EUT rotations are performed. For example, the three-orientation method of A.3.2.3.2
requires that three orientations be tested. This procedure shall be carried out with start
orientation 65 and 15, or 45 and 35, of Figure A.4 (a total of 2 × 3 = 6 orientations). The highest
correlated field strength from these two data sets shall be reported at each frequency.
NOTE The frequency range is determined by the applicable emission limit or test objective, usually 30 MHz to
1 GHz for small EUTs. The usable frequency range is determined by the TEM mode verification tests (see 5.2.2).
A.5.1.2 Large EUTs
Large EUTs can be tested using twelve orientations, as depicted in Figure A.4 (see Clause A.7).
For each EUT orientation, exit cables shall be aligned as closely as possible with the primary
TEM mode electric field component (e.g. the y-axis in Figure D.7; see Clause D.8) until the
outer wall is reached. The cables then shall be routed along the outer wall to the exit point.
Interconnecting cables shall be arranged in a manner consistent with typical EUT usage.
The maximum received voltage over the twelve orientations shall be found and converted to an
electric field strength Emax,TL according to Equation (A.20) using an equivalent antenna factor
for the TEM waveguide Fa,TL given by Equation (A.21)
Emax,TL
= Vmax ⋅ Fa,TL (A.20)
η0 h 1
Fa,TL = (A.21)
Zc rTL λ
where rTL is the distance from the TEM waveguide measurement port to the EUT position.
This TEM waveguide maximum electric field strength can be compared to OATS-based
emission limits Emax (see Clause A.1) by normalizing it to the OATS test separation distance s
according to Equation (A.22)
rTL (A.22)
Emax
= Emax,TL ⋅ 2 ⋅
s
A.5.2 EUT arrangement
The following information is given for guidance purposes.
The EUT is placed in the centre of the usable test volume (see 5.2.2) on a manipulator
(see 3.1.13, and Figure A.1, Figure A.2b), and Figure A.2c) in Clause A.7), or on a test set-up
support (see 3.1.24).
– 38 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
EUTs without any cables should be fixed in the rotation centre of the manipulator. Using the
manipulator, the EUT is rotated around its electrical centre (which can be assumed to be
identical with the geometrical centre of the EUT).
For EUTs with cable(s), the following cable routing applies. Long cables should be bundled
according to the requirements stated in CISPR 16-2-3:2016 and
CISPR 16-2-3:2016/AMD1:2019, 6.4 and 7.5.4 [67]. The interconnecting cable(s) should be
routed perpendicularly from each case. In order to obtain repeatable measurement results, the
relative positions of the interconnecting cable(s) and of the EUT should not change throughout
the three-orientation correlation algorithm. If the cable(s) are too long, the interconnecting
cable(s) can be bundled according to CISPR 16-2-3:2016 and CISPR 16-2-3:2016/AMD1:2019,
6.4 [67].
The exit cable(s) should be routed perpendicularly from each EUT enclosure to the boundary
of the usable test volume. The cable is then routed along the border of the usable test volume
to the corner at the ortho-angle and the lower edge of the test volume (Figure A.1). Using a
positioner as shown in Figure A.2b), the exit cable(s) should be routed along the ortho-axis.
The cable position should be restrained, for example, by non-conductive clamps. The exit
cable(s) are routed from the lower corner of the usable test volume at the ortho-angle to the
absorbing clamp(s) at the TEM waveguide ground plane. Multiple cables should be separated
by approximately 100 mm. At the TEM waveguide ground plane, each cable is terminated by
separate absorbing clamps or by clip-on ferrites (see [1]). The insertion loss of the clamp (or
clip-on ferrite) should be greater than 15 dB for the frequency range of 30 MHz to 1 000 MHz.
The connection cable should not touch the inner or outer conductor of the TEM waveguide
before the cable is terminated by the absorbing clamp or clip-on ferrite. Up to 1,3 m of cable
precedes the clamp location. If the cable is shorter than 1,3 m, then all of the cable precedes
the clamp location. If the cable is longer than 1,3 m, then at least 1,3 m of cable should precede
the clamp location (see Figure A.1). Exit cables are routed from the absorbing clamps to
connectors on the floor or wall, and then connected to associated equipment outside the TEM
waveguide.
A.6 Test report
The test report shall include both the corrected (E) and uncorrected (E max ) field strength results,
as determined according to Equation (A.23)
=E Emax − c f (A.23)
with E max in V/m from Equation (A.6) and c f in V/m from Equation (A.11), or with Equation (A.24)
(in dB)
 cf 
E dB =
Emax dB
− 20 lg   − 120 (A.24)
 1 V/m 
with Emax in dB(μV/m) from Equation (A.9) and c f in V/m from Equation (A.11).
dB
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 39 –
A.7 Figures for Annex A
a) Side view
b) Top view
The length of the connection cable between the EUT case and the termination shall be approximately 1,3 m.
Figure A.1 – Routing the exit cable to the corner at the ortho-angle
and the lower edge of the test volume in a TEM waveguide (see A.5.2)
– 40 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
a) Ortho-axis and ortho-angle (see A.5.2)
b) Side view
c) Top view
NOTE Analogous to the set-up of Figure A.1, this positioner gives three orthogonal positions by means of three
120° rotations around the ortho-axis.
Figure A.2 – Basic ortho-axis EUT positioner or manipulator

(see 3.1.13, A.4.2, A.5.1.2, A.5.2)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 41 –
a) Die net for the EUT b) Axis alignment in position 65
NOTE 1 The axes x, y, z represent the TEM waveguide’s coordinate axes, where z is the direction of propagation,
and the primary field component is polarized along the y-axis. Each EUT position consists of two numbers: the
number in the positive z-direction and the number in the positive y-direction. Therefore Figure A.3b) displays the EUT
in position 65 as shown in Figure A.4.
NOTE 2 For most EUTs position 65 is redundant with position 62. Generally speaking, each position has a redundant
position for which the sum of the second digits of the position name is seven (e.g. 46 and 41, 64 and 63).
Figure A.3 – Die pattern and axis alignment for an EUT [26] (see A.3.2.3.2)
– 42 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
Position 65 Position 45 Position 15 Position 35

xxýy´zz´ x(-z´) yy´zx´ x(-x´) yy´z(-z´) xzýy´z(-x´)

xyý(-z´) z(-x´) xxý(-z´) zy´ x(-y´) y(-z´)zx´ x(-x´) y(-z´)z(-y´)

x(-z´) yx´z(-y´) xyýx´z(-z´) xzýx´zy´ x(-y´) yx´zz´
NOTE 1 In this figure, x, y, z refer to the TEM waveguide coordinate axes, x´, y´, z´ are the EUT coordinate axes,
and the field is polarized along the y-axis and propagating along the z-axis. The virtual (or geometric or phase) centre
of the EUT remains at the same position relative to the TEM waveguide conductors.
NOTE 2 These twelve positions can be obtained by rotating the EUT three times by −90° around the y-axis of the
TEM waveguide (65, 45 15, 35), then tilting the EUT by −90° around the z-axis of the TEM waveguide. Another three
rotations around the y-axis (31, 51, 41, 21), followed by another tilt around the z-axis, and the last three rotations
around the y-axis (24, 14, 54, 64), provide the required twelve non-redundant measurement positions.
NOTE 3 The triplets (65, 41, 24), (45, 21, 14), (15, 31, 54), and (35, 51, 64) form a set of three orthogonal
orientations that can be used for the three-orientation correlation algorithm. Similarly, in an immunity test, the
minimum eight faces are given by, for example, the two sets of four orientations (24, 14 54, 64) and (65, 45, 15, 35)
in the first and the third rows of this figure.
Figure A.4 – Non-redundant twelve-face and axis orientations

for a typical EUT [26] (see A.3.2.3.2)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 43 –
NOTE The z-axis is horizontal like the ground plane and is aligned with the propagation direction. This is consistent
with the coordinate system of TEM waveguides, where the z-axis is parallel to the conductor and aligned with the
propagation direction.
Figure A.5 – Open-area test site (OATS) emission measurements geometry (see A.3.2.4)
– 44 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
Annex B
(normative)
Immunity testing in TEM waveguides
B.1 Overview
Annex B describes immunity testing in TEM waveguides. The intention is to enable the testing
of electrical and electronic equipment for immunity to an incident electromagnetic field.
The test is performed with a specific arrangement of the EUT. This requires that the test set-up
and the test limits or levels are defined by specific product or product family standards.
B.2 Test equipment
B.2.1 General
The following types of test equipment are recommended:
a) TEM waveguide: of a size adequate to maintain a uniform field of sufficient dimensions to

contain the intended equipment under test (EUT);
b) electromagnetic interference (EMI) filters;
c) RF signal generator(s): it is often useful to monitor the forward and backward power into the
TEM waveguide when establishing field levels. A directional coupler along with an RF
voltmeter or power meter allows the measurement of actual forward power to a TEM
waveguide (as opposed to nominal power of the RF signal generator). Both shall cover the
intended bandwidth;
d) power amplifiers;
e) field sensors, capable of separately monitoring the electric field along all three orthogonal
axes. Any probe-head and opto-electronics circuitry shall have adequate immunity to the
field strength to be measured and a fibre-optic link to the indicator outside the TEM
waveguide. An adequately filtered signal line may also be used. TEM waveguides require a
field probe that allows the electric field to be measured individually along all three orthogonal
axes. If a small single-axis antenna is used, it shall be repositioned to measure each field
component separately;
f) associated equipment to record the power levels.
B.2.2 Description of the test facility
For TEM waveguides, the TEM mode is equivalent to an incident plane wave for the purposes
of immunity testing. Whereas an ideal plane wave is invariant over any constant phase front,
the TEM mode fields in a transmission line will vary over a constant phase front in accordance
with the particulars of the cross-section geometry. Both the anechoic chamber and TEM
waveguide methods are based on a plane wave field distribution before the EUT is inserted.
A TEM mode-field pattern is more similar to vertical polarization in an anechoic chamber, while
in a chamber the field pattern in horizontal polarization is more prone to distortion caused by
ground plane reflections.
NOTE A TEM cell itself acts as a shielded enclosure. Open striplines are typically located in a larger shielded
enclosure to ensure isolation. Absorbing material can be used in the larger enclosure to improve field uniformity.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 45 –
B.3 Field uniformity area calibration
Areas not listed in Table B.1 shall be calibrated using a grid number defined by the smallest
0,5 m grid fully containing the proposed area. Grid spacing shall be uniform along each side. In
the test set-up, the EUT shall have its face illuminated coincident with this plane (see Figure B.2
in Clause B.8).
Table B.1 – Uniform area calibration points
Layout and number

Dimensions
of test points
1,5 m × 1,5 m 4 × 4 = 16
1,0 m × 1,5 m 3 × 4 = 12
1,0 m × 1,0 m 3×3=9
0,5 m × 1,0 m 2×3=6
0,5 m × 0,5 m 4 + 1 (centre) = 5
0,25 m × 0,25 m 4 + 1 (centre) = 5
EXAMPLE 1 A 20 cm × 20 cm area using 4 + 1 [centre] = 5 points, a 80 cm × 80 cm area using 3 × 3 = 9 points,

and a 1,2 m × 0,6 m area using 4 × 3 = 12 points.
EXAMPLE 2 A 1,2 m × 0,6 m uniform area uses a 0,4 m × 0,3 m basic grid size.
The requirement of a uniform area is based on the TEM mode verification method of 5.2.2.3. In
principle, the field uniformity is verified in terms of the primary TEM mode field component. If
the resultant field strength is used instead, all above-mentioned requirements have to be
fulfilled, and it shall be shown that the requirements on the secondary components of 5.2.2.3
are fulfilled. Further information about field homogeneity is given in [22].
B.4 Test levels
The test levels are given for guidance in Table B.2.
Table B.2 – Test levels
Test level Test-field strength

V/m
1 1
2 3
3 10
X Special
NOTE X is an open test level. This level is given in the

product specification.
B.5 Test set-up
B.5.1 Arrangement of table-top equipment
For TEM waveguides, rather than using a 0,8 m high non-conducting table as typical for some
immunity test set-ups, the equipment shall be placed on a test set-up support (see 3.1.24) or
manipulator (see 3.1.13) of a proper shape and size such that the front face lies within the
uniform field area in each position. A typical EUT set-up is shown in Figure B.1 (see Clause B.8).
– 46 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
B.5.2 Arrangement of floor-standing equipment
For TEM waveguides, the equipment shall be placed on a test set-up support in such a way that
the front face lies within the uniform field area. The use of non-conducting test set-up support
prevents accidental earthing (grounding) of the EUT and distortion of the field. The test set-up
support shall be bulk non-conducting, rather than an insulating coating on a metallic structure.
B.5.3 Arrangement of wiring
Wiring shall be left exposed to the electromagnetic field for a distance of 1 m from the EUT and
shall be routed above the floor, at either EUT level or along a diagonal in the xy-plane, to the
exit point in the TEM waveguide outer conductor (e.g. wall or floor in a TEM cell). Routing the
cable in the z-direction along the outer or inner conductor shall be avoided. Cables routed
parallel to the inner or outer conductor of the TEM waveguide shall be spaced a minimum of
0,1 m away from the conductor surface. Exit cables shall be terminated by absorbing clamps
(see A.5.2). The termination of the exit cable shall be placed at the borderline of the uniform
area. For guidance on absorbing clamp characteristics, see the descriptions in CISPR 16-1-4.
B.6 Test procedures
The test shall normally be performed with each of the four sides of the EUT facing the generator
port.
For TEM waveguides, the electric field is polarized in a single direction (typically vertically).
Thus, to ensure that the EUT is fully exposed to the equivalent of both the horizontal and vertical
polarization it is necessary to rotate the EUT. For example, for a vertically polarized electric
field the equivalent horizontal polarization exposures are achieved by first rotating the EUT 90°
around the axis perpendicular to the uniform area (direction of TEM mode propagation) to
reorient the first EUT face, followed by three rotations about the horizontal axis aligned with the
uniform area to expose the other EUT faces (Figure B.1 in Clause B.8). This can preclude the
testing in some TEM waveguides of an EUT which is orientation dependent.
Alternatively, the TEM waveguide may be rotated around the EUT or a multiple-polarization
TEM waveguide (see Figure D.10 in Clause D.8) may be used in such a manner as to achieve
the same polarization.
The frequency step size shall be 1 % of the previous frequency. The dwell time at each
frequency shall not be less than the time necessary for the EUT to be exercised and to respond,
but shall in no case be less than 0,5 s. However, a dwell time of 1 s is advisable.
The frequency ranges to be considered shall be covered in frequency steps, according to the
above requirement, with the signal 80 % amplitude modulated with a 1 kHz sine wave, pausing
to adjust the RF signal level or to switch oscillators as necessary.
If an EUT consists of several components, care should be taken that the relative component
positions are preserved during rotations. This can require careful restraint of the EUT and the
fastening of its components and cables to a test set-up support or manipulator.
B.7 Test results and test report
In addition to the usual radiated immunity test report contents, details about the TEM waveguide
size, type, and verification methods shall be reported.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 47 –
B.8 Figures for Annex B
a) Vertical polarization
b) Horizontal polarization
Key:
E Primary electric field component

H Magnetic field
k Propagation direction (wave vector)
The cable layout on the filter side of the pivot point shall remain stationary. The test set-up supports (3.1.24) may be
repositioned as necessary during rotations. The test set-up supports should be 0,1 m thick. Multiple-unit EUTs shall
be affixed to a test set-up support or an equivalent platform and rotated in the same manner. Manipulators and
rotatable (see [6]) or multiple-polarization TEM waveguides (Figure D.10; see Clause D.8) which achieve the same
set of EUT to incident field polarizations may be used.
Figure B.1 – Example of test set-up for single-polarization TEM waveguide

(see Clause B.5)
– 48 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
a) Side view
b) Cross-section view
NOTE Example for a uniform area with 3 × 3 calibration points in a GTEM cell according to 5.2.2.1. Figure B.2b)
shows the maximum possible size of the uniform area. The boundary of the uniform area (plane) is given by the outer
calibration points. The calibration points are not outside the usable test volume (see 5.2.1 and Figure D.7 to
Figure D.11 in Clause D.8). See also 5.2.1 for descriptions of L and h EUT .
Figure B.2 – Uniform area calibration points in a TEM waveguide (see Clause B.3)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 49 –
Annex C
(normative)
HEMP transient testing in TEM waveguides
C.1 Overview
Annex C has been developed to specify the high-altitude electromagnetic pulse (HEMP)
immunity test for electrical or electronic equipment and systems. The intent is to allow
manufacturers to qualify equipment and small systems and to use many of the same
IEC laboratory immunity tests that are already specified for other EMC purposes.
In the HEMP community the term "simulator" is often used to describe many different types of
test facilities that can generate the correct incident HEMP environment (see IEC 61000-4-32
[66]). In Annex C, the term is understood to refer only to TEM waveguides that can produce the
required HEMP waveform in the defined EUT test volume.
While Annex C is intended to describe the HEMP testing requirements in TEM waveguides in a
consistent fashion with other types of testing performed in TEM waveguides, Annex C covers
transient testing that by its nature differs from continuous wave testing in important ways. When
HEMP test requirements in Annex C differ from those described in the main body of this
document, the HEMP requirements shall supersede all others.
C.2 Immunity tests
C.2.1 General
HEMP immunity tests consist of two major types: radiated immunity tests and conducted
immunity tests. Annex C deals only with radiated immunity testing. For the purpose of this
document, the term "electronic equipment" denotes an apparatus that performs a specific
function. For example, this could be a small computer or a telephone. Some equipment (for
example, a computer connected to additional peripherals such as control boards to monitor
processes in a factory) can be considered as part of a larger system. Often, electronic
equipment is relatively small – of the order of 1 m × 1 m × 1 m or smaller.
In the absence of an object in the simulator, the electric field strength in the test volume is a
wave comparable to a plane wave, with a double exponential pulse time history described by a
2,5/25 ns wave, i.e. a unipolar wave with a 10 % to 90 % rise time of 2,5 ns and a pulse width
equal to 25 ns. This waveform is given by Equation (C.1).
(
E(t ) = Epeak ⋅ k e− βt − e−αt ) (C.1)
where
α = 6,0 × 10 8 s –1 ;
β = 4,0 × 10 7 s –1 ;
k = 1,3;
E is the primary component of the electric field;
t is the time;
E peak is the severity test level selected from Table C.1.
– 50 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
Table C.1 – Radiated immunity test levels defined

for this document
E-field peak value

Test required for equipment and b
Test level a E peak
systems with the following protection
kV/m
R1 Concept 4 0,5
R2 Intermediate value 1
R4 Concepts 2A, 2B, 3 5
R7 Concepts 1A, 1B 50
RX Special applications X
a The protection concepts are described in IEC TR 61000-5-3.
b According to IEC 61000-2-11:1999, Table 2.
The frequency-domain spectral magnitude for Equation (C.1) is given by Equation (C.2):
Epeak ⋅ k ⋅ (α − β )
E( f ) = (C.2)
( ( 2πf )2 + α 2 )( 2
⋅ ( 2πf ) + β 2 )
where f is the frequency.
For the waveform parameters given above, the frequency-domain spectral magnitude of
Equation (C.2) is shown in Figure C.1 (see Clause C.6).
NOTE For additional details see [33].
C.2.2 Radiated test facilities
Small test facilities can more easily meet the desired field specifications with smaller tolerances
in parameter variations compared to large simulators. These small facilities are used primarily
to test relatively small equipment. Tolerances for the early-time HEMP pulse waveform over the
entire test volume of the small test facility shall be as follows.
a) The ratio of the peak electric field strength to the peak magnetic field strength shall be equal
to η 0 = 377 Ω ± 75 Ω.
b) The rise time between 10 % to 90 % of the peak value shall be 2,5 ns ± 0,5 ns.
c) The electric field strength shall be continuously increasing during the 10 % to 90 % rise
time.
d) The pulse width (the time duration between points on the leading and trailing edges of the
pulse at 50 % of E peak ) shall be 23 ns ± 5 ns.
e) The magnitude of any pre-pulse of the electric field strength shall be equal to, or less than,
7 % of the magnitude of the peak field.
f) Electric field reflections from the terminator of the simulator shall be less than 10 % of the
magnitude of the peak field.
g) Fluctuations in the smoothed frequency spectrum of the electric field strength at the centre
of the test volume shall not be larger than ±3,0 dB compared to the theoretical spectrum in
the bandwidth between 100 kHz and 300 MHz.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 51 –
h) At the time of the peak value of the primary field, other secondary electromagnetic
components (see 3.1.19) shall be less than 10 % of the peak value of the primary field. It is
recognized that this requirement is more severe than that given in 5.2.2.
i) The peak electric field strength shall be uniform in the test volume to within the following
criteria: the peak electric field strength within the test volume shall be within the range of
E peak and 2·E peak in the time domain.
j) To evaluate the field tolerances, electric and magnetic field strength measurements at the
centre and the eight corners of the test volume shall be performed in the absence of the
EUT.
C.2.3 Frequency domain spectrum requirements
In addition to the requirements on the transient fields of the HEMP simulator, the following
requirements shall apply for the frequency domain spectrum of the simulator fields.
a) The frequency spectrum shall be computed using a uniformly sampled transient waveform
having 4 096 samples between the starting time of 0 μs and the ending time of 2 μs.
A 4 096-point complex-valued frequency spectrum shall be calculated using an FFT (fast
Fourier transform) or a discrete Fourier transform (DFT) with a frequency sampling interval
of 0,5 MHz, and a maximum frequency of 1,0 GHz.
b) The frequency domain spectrum shall be smoothed using a five-point windowing average
(i.e. the spectrum is to be averaged over a 2 MHz window).
c) The resulting magnitude of the smoothed spectrum shall lie within the specified dB level of
the spectrum of the specified waveform of Equation (C.2) and is shown in Figure C.1.
NOTE Most measured frequency spectra have occasional nulls (or "drop-outs"), which do not significantly alter the
overall behaviour of the transient waveform. The requirement that the smoothed frequency domain spectrum of small
and large simulators lie within ±3 dB and ±10 dB, respectively, is made in recognition of this fact, and with the aim
of permitting an occasional null in the spectrum. The spectral limits of ±3 dB and ±10 dB are different because smaller
simulators generally have stricter tolerances and higher accuracy of the simulated fields.
C.3 Test equipment
The measurement method shall involve the use of a fibre optic transmission link that permits
signals to be measured and transmitted to a data processing system without disturbing the
ambient EM field. The measuring system shall be intrinsically insensitive to electromagnetic
radiation emitted by the simulator. The purposes of the measuring system are
– to provide reference field measurements,

– to synchronize the simulated HEMP with the operational modes of the EUT as required by
the user, and
– to provide EUT current and voltage measurements, as required by the user.
The required overall measuring system accuracy should be within ±3,0 dB over a frequency
range of 50 kHz to 1 GHz, and its overall instantaneous dynamic range should be at least 40 dB.
It is recommended that the measuring system have the following characteristics:
a) the data transmission system should have a minimum of 3 dB bandwidth of 50 kHz to 1 GHz;
b) the digitizer or oscilloscope should have a minimum bandwidth of 500 MHz and a minimum
sampling rate of two gigasamples per second with a minimum data resolution of 8 bits;
c) the electric and magnetic field sensors should have a minimum of 3 dB bandwidth of 50 kHz
to 1 GHz. See IEC 61000-4-23 [65] for further information concerning appropriate sensor
designs.
The reference field measurement shall consist of the three orthogonal electric and three
orthogonal magnetic field strength components to permit an assessment of the electric to
magnetic field strength ratio, as well as the spurious electromagnetic field components. The
user may also specify other field measurements in the test volume.
– 52 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
C.4 Test set-up
The test volume of a simulator depends on its physical size and on the characteristics of the
TEM waveguide structure. The test volume is defined as the volume in which the incident
electromagnetic fields meet, or exceed, the field strength and field uniformity requirements, as
specified for a simulated HEMP test. If the EUT is too large in relation to the test volume, the
induced response will deviate from that of an incident plane wave illumination, and the results
of the test will be questionable.
To maximize the accuracy of the waveform simulation, it is necessary to minimize the EUT-
simulator interaction by locating the EUT far enough from the radiating or wave-guiding
elements of the simulator. The EUT shall be located no closer than 0,3 times its overall
transverse dimension to the conductors of the TEM waveguide. If the EUT is to be tested while
resting on a ground plane, it shall be located no closer than 0,6 times its transverse dimension
away from the septum.
The EUT is described generally as a finite volume with dimensions determined by its largest
orthogonal dimensions in height, width, and length. The EUT shall fit within the simulator test
volume as defined in the preceding paragraphs. If the EUT is to be tested in a free-space mode,
that is to say, not resting on a ground plane, then it shall be placed on a dielectric stand
(e.g. see 3.1.24) within the simulator.
C.5 Test procedure
C.5.1 General
Tests for conducted and radiated disturbance immunity may be performed separately. There
are no requirements for testing both types of stresses simultaneously.
If the entire system including all "short" external conductors can be illuminated in a realistic
manner in a radiated test, then the early-time conducted tests may not be required on those
cables. Moreover, conducted tests may not be necessary for antenna ports, if the antenna can
be tested to the simulated HEMP stress with the antenna oriented for a maximum response.
However, all ports connected to power, telecommunications, or other long lines shall have
conducted immunity tests.
HEMP immunity tests shall be performed in accordance with a test plan that describes the
equipment to be tested, the severity test level and waveforms, climatic conditions, major
operational modes, and the criteria for passing the immunity requirements. The ambient
environment (both climatic and electromagnetic) of the HEMP test facility should be consistent
with the permissible environmental conditions for the specified EUT. During the testing, it is
important to monitor the equipment to classify its performance as specified. If equipment
receives and sends data to other equipment in a system, an effort shall be made to send and
receive the same or simulated data to the equipment being tested. This shall allow an evaluation
of the equipment performance during the test.
If the EUT does not pass the test requirements and if diagnostic measurements were made
within the system or equipment, these probes and cables shall be removed, and the test shall
be performed again to ensure that the added instrumentation is not the cause of the test failure.
The test report shall clearly identify the presence of all external cables connected to the EUT,
and whether those are part of the equipment or are part of a measuring system.
The EUT shall be tested in each major operational mode that is specified in the test plan. For
conducted immunity tests, both positive and negative waveforms shall be used. For radiated
immunity tests, only one polarity of the waveform is required.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 53 –
Laboratory tests shall be conducted with the ambient environmental conditions identified in 7.2.
On-site tests are not suitable for immunity acceptance tests, but these tests may be used to
verify installed equipment immunity as well as system immunity. For on-site tests, ambient
conditions described in 7.2 are desirable, but not required.
C.5.2 Severity level and test exposures
It is important to perform some test exposures below the voltage protection level of surge
protective devices (SPDs) and also at a voltage level low enough to avoid arcing within the
system, since damage can occur. Thus, each severity level shall consist of three actual test
amplitudes, starting two levels below the specified severity level, which is assumed to be below
the voltage protection level provided by SPDs and the arcing threshold. Each test pulse shall
use the same waveform as that of the specified severity level.
For radiated immunity tests, a severity level shall be specified. At least two test exposures shall
be performed at each of the three test amplitudes for each orientation (see Clause B.6) and
major operational mode of the EUT. If a test facility is available that includes the capability of
hyper-rotation (see [6]) for the EUT, the facility may be used for HEMP testing.
C.5.3 Test procedure
C.5.3.1 Test parameter measurements
The climate parameters defined in 7.2 shall be measured by the test operator and documented.
The characteristics of the test facility consisting of a series of measurements of the
electromagnetic field waveforms within the test volume without the EUT present shall be made
available to the test operator. This information shall also include an evaluation that indicates
that the requirements for the field uniformity and waveform characteristics stated in C.2.2 and
C.2.3 have been met. A reference electric field strength measurement shall be recorded for
each pulse of field illumination.
C.5.3.2 Radiated test procedure
A small radiated test facility can be used to test equipment; however, conducted immunity tests
on all cable ports are also required. A small system may be tested in a large HEMP simulator
and can possibly meet the conducted immunity requirements for many cable ports. However,
long lines such as AC power and telecommunication lines cannot be adequately tested in any
HEMP simulator. Consequently, conducted immunity tests are always required for these ports.
It is recognized that a large HEMP simulator is better suited for performing system-level tests
where multiple pieces of equipment can be operating together. However, it is not a requirement
of this document that system level testing be performed in such a simulator.
Each immunity test at a specified severity level consists of exposures at three exposure levels:
the specified severity level and the next two lower levels. If only one lower level is defined by
this document, then only one level shall be used. If the lowest severity level is specified, then
only that level of exposure is necessary for the immunity test. A minimum of two pulses of the
field illumination shall be performed for each exposure level.
C.5.3.3 Small radiated test facility
The basic approach used in this procedure is to test equipment and small systems in a
laboratory test facility, such as a TEM waveguide. The EUT shall be placed on a dielectric stand
at a height of 0,1 m ± 0,01 m above the ground plane within the test volume, and all equipment
cables shall be used in a manner consistent with the normal operation of the equipment. A
ground connection shall be made between the ground plane and the EUT, according to the
manufacturer’s specifications. It is necessary to control and document the lengths and positions
of the cables associated with the EUT. Orientate the cabling for minimum coupling to the electric
and magnetic field components in the test facility. Additional conducted immunity tests shall be
performed separately to account for the coupling to these cables.
– 54 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
The EUT shall be rotated to expose all sides (typically six sides) to the incident pulsed fields,
although practical considerations can limit the number of rotations. In addition, both
polarizations shall be applied.
If the method of monitoring involves measurements within the EUT, the probes and cables
involved shall be carefully positioned, so as to minimize adverse effects on the measurements.
In particular, fibre optic cables without metal material are recommended for such measurements.
C.5.4 Test execution
The test shall be performed in accordance with a test plan. Test exposures shall be applied
when the EUT is in each of its major operating modes under normal operating conditions, as
defined in the test plan. For each test exposure level, the pulses shall be applied with sufficient
time between pulses to check for system degradation or damage. After each exposure level,
the operational performance of the EUT shall be determined.
C.5.5 Execution of the radiated immunity test
The radiated immunity test shall be carried out on the basis of a test plan, including the
verification of the performances of the EUT, as defined in the product standard, or in its absence,
by the technical specification.
The EUT shall be in the normal operating condition. A test configuration matrix consisting of
the EUT operational configurations, major functional states, and orientations relative to the
direction of wave propagation shall be developed. For each test configuration, the test plan
shall specify:
a) test exposure levels: the selected severity level, plus the next two lower levels;
b) the number of exposures at each level (at least two are required);
c) the points of entry or ports to be evaluated;
d) a description of the positions of the cables and measurements to be made;
e) the required auxiliary equipment;
f) the polarity and angle of incidence of the simulated fields;
g) the details of the test set-up, whenever it is different from that specified in Clause C.4;
h) the pass/fail criteria.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 55 –
C.6 Figure for Annex C
NOTE Spectral magnitude is determined using the parameters listed after Equation (C.1) in Equation (C.2).
Figure C.1 – Pulse waveform frequency domain spectral magnitude

between 100 kHz and 300 MHz (see C.2.1)
– 56 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
Annex D
(informative)
TEM waveguide characterization
D.1 Overview
Annex D describes the basic characteristics of a TEM wave, including the propagation and
polarization aspects. Different categories of TEM waveguides are also presented, along with
the limitations relative to test volumes and frequencies of operation.
D.2 Distinction between wave impedance and characteristic impedance
A TEM waveguide is a form of transmission line. The wave impedance and characteristic
impedance of a loss-less transmission line are defined in [51] as follows.
The wave impedance η is defined as the ratio of the transverse field components, which can be
calculated assuming an e −jβz dependence according to Equation (D.1)
Eρ ωμ μ
η
= = = (D.1)
Hφ β ε
where
η is the wave impedance;

Eρ is the transverse component of the electric field;
H φ is the transverse component of the magnetic field;
µ is the permeability of the transmission line dielectric (typically air);
ε is the permittivity of the transmission line dielectric (typically air);
β is the propagation constant (real part);
ω is the radiant frequency.
This wave impedance is then seen to be identical to the intrinsic impedance of the medium and
is a general result for TEM transmission lines.
The characteristic impedance of a circular-cylindrical coaxial line is defined as
2h 2h 2h
V0 E ρ ln a ln
a μ
ln
Zc == η⋅
= =⋅ a (D.2)
I0 2π H φ 2π ε 2π
where
Zc is the characteristic impedance of the coaxial line;

V0 is the voltage of the coaxial line;
I0 is the current of the coaxial line;
Eρ is the transverse component of the electric field;
H φ is the transverse component of the magnetic field;
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 57 –
h 2h = r i , r i : radius of inner conductor;

a a = r a , r a : radius of outer conductor.
The forms for E ρ and H φ from [8] have been used. The characteristic impedance is geometry-
dependent, and it will be different for other transmission line configurations.
Equations (D.1) and (D.2) show that in general the wave impedance and the characteristic
impedance are not equal. Since TEM and gigahertz-TEM cells and two-plate and three-plate
striplines are basically two-conductor TEM-mode transmission lines, in general the wave
impedance and the characteristic impedance in those devices will also not be equal.
D.3 TEM wave
D.3.1 General
TEM waves are most easily described in terms of their behaviour in free space. Subclauses
D.3.2 and D.3.3 present several equations and criteria for both the free-space and waveguide
cases.
D.3.2 Free-space TEM mode
In a TEM mode both the electric and magnetic field vectors are entirely transverse to the

direction of energy propagation (Poynting vector S , according to Equation (D.3)). There is no
 
component of either E or H in the direction of transmission.
  
S= E × H (D.3)
 
For “free space” the ratio between E and H is given by

E µ0
η=
0 =
 ≈ 120π Ω (D.4)
H ε0
The essential properties of the TEM mode are
– no field component in the direction of transmission;

 
– the ratio between E and H is nearly 120 π Ω .
NOTE Far away from a transmitting antenna, the preceding situation exists; therefore, the TEM mode is often called
the “far-field condition” of an antenna.
D.3.3 Waveguides
A classical waveguide for RF applications consists of only one closed conducting surface. It
can be shown that a TEM mode cannot propagate within such a waveguide (see Figure D.1 in
Clause D.8). Only TE and/or TM modes are possible. Because TE or TM modes have a specific
cut-off frequency, wave propagation is possible only above this frequency. A double- or multi-
connected cross-section is necessary to propagate a TEM mode within a waveguide (multi-
conductor transmission line, like TEM cell, stripline or open TEM waveguide). Each pair of two
conductors creates a system for a possible specific TEM-mode propagation. For the example
shown in Figure D.2, propagation of two separate TEM modes is possible. Each of these TEM
modes has the same properties as the free-space TEM mode.
– 58 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
NOTE Each pair of conductors forms a TEM-mode transmission system. Inside a coaxial line the signal energy is
transported via the TEM mode.
D.4 Wave propagation
D.4.1 General
Wave propagation describes the shape of the equiphase lines and surfaces of the field.
D.4.2 Spherical propagation
This type of propagation is the most common one in free-space far-field conditions. Normally it
is caused by a point source like a single antenna. The field amplitude decreases with increasing
distance to the source.
D.4.3 Plane wave propagation in free space
Very far away from an antenna, the wave front can be considered as planar. This kind of
propagation will be observed within a parallel plate waveguide where the field amplitude is
constant and independent of the distance to the source.
D.4.4 Velocity of propagation
The phase velocity of the TEM mode for propagation in free space and TEM waveguides is
always equal to the speed of light c0 . It only depends on the permittivity ε and the permeability
µ of the space.
D.5 Polarization
The electric field vector direction represents the polarization vector.
In general, the direction of the polarization vector changes with time. The curve traced out by
the tip of the polarization vector, shown in Figure D.3 (see Clause D.8), defines the type of
polarization.
From [8], the shape of the polarization curve can be calculated by the following procedure. The

transverse electric field vector Etr is given by Equation (D.5)
  ∞  
jωt 
E=tr ( t ) Re  ∑ V i ⋅ etr,i ⋅ e  (D.5)
i =0 
where
Vi is the voltage of the complex phasor of mode i;


etr ,i is the eigenvector of mode i.
The first term of the series represents the TEM mode, so a complex phasor can be written as
Equation (D.6)
  
ATEM =V 1 ⋅ etr,i =V TEM ⋅ etr,TEM (D.6)
The phasor can be separated into its real and imaginary parts
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 59 –
  
ATEM= ar + jai (D.7)
  
The vectors ar and ai define a fixed plane. In general the tip of vector E moves in an ellipse.
  
If ar and ai are parallel, E moves on a fixed line; this case is called linearly polarized. Any
individual modes are inherently linearly polarized. Only superposition with other modes results
in circular polarization. The intentional TEM mode for testing purposes in TEM waveguides is
usually linearly polarized.
D.6 Types of TEM waveguides
D.6.1 General
The simplest version of a TEM waveguide is a two-conductor transmission line as shown in

Figure D.4 (see Clause D.8).
The complete transmission line can be described in terms of three physical sections.
a) Feed section: This is the measurement or test port where a signal generator or receiver is
connected to the TEM waveguide.
b) TEM-waveguide section: Usually contains the test volume.
c) Termination section: Normally the termination represents an actual or equivalent resistor
which is equal to the characteristic impedance of the transmission line (= TEM waveguide).
For most two-port TEM waveguides, the feed and termination sections are geometrically
identical and therefore interchangeable. A coaxial connector is used at both ports. Some TEM
waveguides are based on a balanced transmission-line system, in which case a balun
transformer is needed.
Firstly, TEM waveguides can be classified into closed and open geometries. A TEM waveguide
structure is called "closed" when one conductor fully surrounds the other conductor. In these
cases, the outer conductor also acts as an electromagnetic shield.
Secondly, there are one-port, two-port, and four-port TEM waveguides (Figure D.5 to
Figure D.11). This classification defines the termination of a TEM waveguide. Normally the TEM
waveguide is used under impedance-matched termination conditions. The simplest way to
match a two-port or a four-port TEM waveguide is to put a lumped termination equal to the
characteristic impedance at one port. In this case, it is assumed that the TEM line geometry
close to the ports (tapered section) is well designed for wide-band matching.
For a one-port TEM waveguide, the termination is made with distributed resistors or a
combination of anechoic absorbers or both. TEM waveguides with this type of termination can
be used up to several GHz with some geometries. For a two-port TEM waveguide, rather than
a wide frequency range it has the advantage of allowing measurements of reflected and
transmitted powers at either port.
Septum conductors can either be single or multiple wires connected in parallel, or single or
multiple plates connected in parallel. For multiple-conductor systems, the excitation amplitude
and phase can be intentionally changed to vary the dominant polarization within the test volume.
The septum can be installed either symmetrically or asymmetrically relative to the outer
conductor. The advantage of an asymmetrical TEM waveguide is a larger test volume.
– 60 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
D.6.2 Open TEM waveguides (striplines, etc.)
A simple open TEM waveguide can be built using a plate installed over a conducting ground
plane. A generator or receiver (typical impedance 50 Ω) is connected at one port, and the other
port is matched to the transmission line characteristic impedance. A constant voltage/current
distribution along the structure is achieved with proper impedance matching. This geometry is
called an open two-port TEM waveguide.
The main disadvantage of open waveguides is energy lost to radiation. This unwanted radiation
can cause interference to the test equipment system. Particularly for continuous-wave immunity
testing, a shielded room for the open waveguide is absolutely necessary.
D.6.3 Closed TEM waveguides (TEM cells)
The main advantage of the closed TEM waveguide configurations is the inherent shielding. All
immunity tests can be performed without generating any disturbance to the environment.
Another advantage is that a closed TEM waveguide is an unbalanced system, so a balun is not
needed. Lastly, in general a closed TEM waveguide has no low-frequency limit. For that reason,
transient tests can be performed with closed TEM waveguides.
NOTE For a symmetrical-feed TEM waveguide, a low-frequency limitation is typically introduced by the balun.
D.7 Frequency limitations
The operation of a TEM waveguide is predicated on the assumption that the TEM mode has an
identical field structure to that of a plane wave in free space over a defined portion of the cross-
section of the cell. Therefore, using a TEM waveguide in emission measurements or immunity
tests requires the propagation of the TEM mode over the usable frequency range.
For a given frequency within the operating range of the empty waveguide, the EM wave will
encounter a cross-section of a dimension that will allow propagating modes other than TEM to
be established. For a given non-TEM mode, the point along the TEM waveguide’s length at
which the mode can propagate is dependent on frequency, and moves back towards the feed
point with increasing frequency. The lowest order non-TEM mode (typically TE 10 ) is able to
propagate when one cross-sectional dimension of the waveguide exceeds one-half of the free-
space wavelength at that frequency. Higher order modes are launched initially by mode
conversion from the TEM mode. Energy conversion between two modes is caused by
irregularities in the waveguide structure that can couple to both modes.
In practice, many open and closed TEM waveguides include some type of foam or ferrite
anechoic absorbers to minimize or remove the higher order modes and non-propagating
resonant field distributions. If installed in the proper locations relative to the modal field
distribution, the TEM mode characteristics can be essentially preserved. Generally, with the
proper combination of absorber loading and input/output conductor tapering, many TEM
waveguides will operate in a TEM mode up to frequencies of several GHz or higher. Proper
absorber placement is determined by the shapes of the input/output tapers and the test-volume
section. The disadvantage for many TEM waveguides with absorber lining in the test volume
section is that the field factor e0y (see A.3.2.3.3) used in the emissions correlation algorithm
can no longer be calculated analytically. This can lead to higher measurement uncertainties.
For any TEM waveguide with or without absorber, the valid frequency range shall be established
using the methods described in this document (see 5.2.2).
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 61 –
For TEM waveguides without absorber, resonant frequencies depend on the geometry of the
TEM waveguide. In a two-port TEM cell they occur between a certain cross-section of the feed
section and the termination section, called the cut-off positions zc . Each higher order mode
can have a different cut-off position depending on the mode type. In between the feed and the
cut-off position, the field mode is not able to propagate. A resonance occurs if the distance
between the two cut-off positions is a multiple of one half wavelength. For symmetrical reasons,
the resonant field will have a maximum or be zero in the middle of the cell at z = zsym . Further
information about field homogeneity and resonant frequency is given in [22], [23], [24] and [50].
D.8 Figures for Annex D
Figure D.1 – Simple waveguide (no TEM mode) (see D.3.3)
Figure D.2 – Example of waveguides supporting TEM-mode propagation (see D.3.3)
Figure D.3 – E-field polarization vector (see Clause D.5)

– 62 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
Figure D.4 – Simple transmission line model for TEM mode propagation (see D.6.1)
Figure D.5 – One- and two-port TEM waveguide concepts (see D.6.1)
Figure D.6 – Operation of four-port TEM waveguides (see D.6.1)

IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 63 –
a) Side view
NOTE h EUT is the minimum distance between the EUT and each conductor or absorber of the waveguide.
Figure D.7 – Two-port TEM cell (symmetric septum) (see D.6.1 and D.6.3)
– 64 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
a) Side view
Figure D.8 – One-port TEM cell (asymmetric septum) (see D.6.1 and D.6.3)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 65 –
a) Side view (one-port)
NOTE A tri-plate stripline with centre-line side view like that of Figure D.7a) is obtained using the Figure D.9b)
geometry and image theory.
b) Side view (basically similar to a two-port TEM waveguide, but

some versions have a distributed load at the output port)
– 66 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
c) Cross-section view
Figure D.9 – Stripline (two plates) (see D.6.1 and D.6.2)

IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 67 –
a) Side view
NOTE The entire TEM waveguide configuration typically is surrounded by a fully anechoic enclosure. For symmetry
purposes the restriction of the maximum usable EUT height changes from 0,33 h to 0,6 h (see 5.2.1).
Figure D.10 – Stripline (four plates, balanced feed) (see D.6.1)

– 68 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
a) Side view
c) Top view of septum
Figure D.11 – Four-port TEM waveguide (symmetric parallel septa) (see D.6.1 and D.6.3)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 69 –
Annex E
(informative)
Calibration method for E-field probes in TEM waveguides
E.1 Overview
Electric field strength (E-field) probes with a broad frequency range and large dynamic response
are extensively used in the field uniformity validation procedures in accordance with this
document. Among other aspects, the quality of the field probe calibration directly impacts the
uncertainty budget of a radiated immunity test.
Generally, depending on the radiated immunity test performed, probes can be subject to field
strength levels up to 200 V/m or even more, during the field uniformity validation in accordance
with this document. Therefore, a calibration of the E-field probes used within this document
should take the intended frequency and dynamic ranges into consideration.
Probe calibration results have shown differences when the probe is calibrated in different
calibration laboratories. Therefore, the environment and method for field probe calibration are
specified. Annex E gives the TEM waveguide validation procedures to be used for probe
calibration, and provides relevant information on calibration of probes to be used for field
uniformity measurements in accordance with this document in order to limit differences in
validation results.
E.2 Probe calibration requirements
E.2.1 General
The calibration of E-field probes intended to be used for uniform field area (UFA) validation
procedures as defined in this document should satisfy the following requirements. A UFA is a
hypothetical vertical plane of the field calibration in which variations are acceptably small.
E.2.2 Calibration frequency range
The frequency range should normally include the highest frequency that is specified by the size
and the structure of the TEM waveguide. The largest dimension of the probe head of an E-field
probe, lp max , should be smaller than one quarter wavelength at the highest calibration
frequency, fc max , to avoid approaching resonance. Therefore, the highest frequency is given
by the dimension of the probe head according to Equation (E.1)
c0
fmax ≤ (E.1)
4 lp max
where, c 0 is the speed of the light.
For example, when the largest dimension of the probe head of an E-field probe, lp max , is 2,5 cm,
the highest frequency according to Equation (E.1) is 3 GHz. If the frequency exceeds the
highest frequency that is determined by the TEM mode verification described in 5.2.2.3, the
calibration is carried out up to the highest frequency determined by the TEM mode verification.
– 70 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
E.2.3 Calibration volume
The dimensions of the calibration volume, which should be as regular as possible, for example
cubic or parallelepiped, should be smaller than 20 % of the distance between the inner and
outer conductors (septum height). The centre of the volume where an E-field probe can be
calibrated should be positioned in the centre of the septum height.
The validation of the volume should be performed at the grid points of the cube. A grid interval
between two calibration points is selected at about 10 % of the septum height. An E-field probe
or sensor for the validation should be as small as possible. The probe or the sensor need not
necessarily be calibrated.
NOTE 1 When the dimensions of the calibration volume are a 20 cm cube for example, the grid interval is 10 cm
and the number of the test points is 27, as shown in Figure E.1 (see Clause E.5).
The validation procedure for the calibration volume is as follows:
a) the electric fields are measured at all points using the constant forward power method
described in 5.2.2.4.1. Frequencies should be selected as described in E.2.6;
b) a standard deviation for the measured electric fields is calculated;
c) the standard deviation should be smaller than about 1 dB for a one-port TEM waveguide,
and 0,6 dB for a two-port TEM waveguide.
NOTE 2 The basis for the preceding standard deviation values is described in [36].
E.2.4 Probe dimensions
The probe-head dimensions should be smaller than 10 % of the distance between the inner and
outer conductors (septum height), h (see 5.2.1). The probe dimensions should also be smaller
than the calibration volume (see E.2.3).
E.2.5 Perturbations of TEM waveguide fields due to the probe
The perturbation of the TEM waveguide field distribution due to the probe, including the
measuring apparatus, should be validated with and without the probe.
NOTE 1 Probe perturbation depends not only on perturbations caused by the measuring apparatus but also the
linearity of the TEM waveguide.
An example of the measurement set-up for perturbation validation is shown in Figure E.2
(see Clause E.5). A power amplifier, a signal generator, a directional coupler, and a power
meter should be connected to a TEM waveguide, like the set-up for the probe calibration. A
monopole antenna is used for electric field sensing. A small hole is made in the ground plate of
the TEM waveguide, and then the antenna is attached to the ground plate. A less-invasive E-
field sensor, for example an optical E-field sensor using LiNbO 3 electro-optic crystal, is also
available instead of a monopole antenna. An access hole in the TEM waveguide is not needed
when an electro-optic sensor is used. The antenna/sensor need not necessarily be calibrated.
The monopole antenna is connected to a spectrum analyzer to measure the antenna output. A
metallic cube that has the dimensions of the calibration volume can be used to represent a field
probe for this perturbations check test.
The perturbations validation procedure is as follows:
a) set a frequency without a probe and apply the forward power to a TEM waveguide;
b) measure the level of the power and the reading of the spectrum analyzer;
c) increase the power and repeat b);
d) change the frequency (see E.2.6) and repeat steps a) to c);
e) when all frequencies have been measured, add the probe and repeat steps a) to d);
f) check the perturbation of the input power reading.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 71 –
The difference between the perturbation with the probe and that without the probe should be
less than the measurement uncertainty of the power meter and the spectrum analyzer.
NOTE 2 See [7] and [58] for methods to determine the measurement uncertainty. Some manufacturers of measuring
apparatus provide the measurement uncertainty of results obtainable with the apparatus.
E.2.6 Frequency steps
To be able to compare test results between different calibration laboratories, it is necessary to

use specific frequencies for the calibration (see Table E.1).
Table E.1 – Calibration frequencies
Frequency range Typical calibration frequencies

MHz
f 0 to 1 GHz f 0 , 50, 100, 150, 200, …, 950, 1 000
Above 1 GHz 1 000, 1 200, 1 400, …
NOTE f 0 is the lowest frequency of the probe under calibration.
E.2.7 Field strength
The field strength at which a probe is calibrated should be based on the field strength required
for the subsequent immunity test. Because the preferred method for uniformity field validation
is carried out at a field strength of at least 1,8 times the field strength to be applied to the EUT,
it is recommended that the probe calibration is carried out at twice the test field strength, as
shown in Table E.2.
NOTE This also covers the 1 dB compression requirement of the power amplifier.
Table E.2 – Calibration field strength level
Calibration level Calibration field strength

V/m
1 2
2 6
3 20
4 60
X Y
NOTE X, Y are an open calibration level. This level is

given in the product specification or by the test
laboratory.
E.3 Requirements for calibration instrumentation
E.3.1 Specifications of TEM waveguide
A TEM waveguide can be used to establish standard fields for field probe calibrations. The field
at the centre of a TEM cell between the septum and the top or bottom plate is calculated from
Equation (E.2):
Z0 Pnet
Eapprox = (E.2)
h
– 72 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
where
Z0 is the characteristic impedance of the TEM cell (typically 50 Ω),
Pnet is the net power in watts, determined according to E.3.4,

h is the separation distance between the septum and the top or bottom plate (in m).
NOTE 1 The field at the mid-point between two conductors is approximated by Equation (E.2).
NOTE 2 Equation (E.2) is only valid for the TEM mode.
The VSWR of the TEM cell should be kept small, for example less than 1,3:1, to minimize the
measurement uncertainties.
An alternative method of measuring Pnet is to use a calibrated, low VSWR attenuator and power
sensor connected to the output port of the TEM waveguide (two-port TEM waveguide only).
E.3.2 Harmonics and spurious signals
Any harmonics or spurious signals from power amplifiers should be at least 20 dB below the
level at the carrier frequency. This is required for all field strength levels used during the
calibration and linearity check. Since the harmonic content of power amplifiers is usually worse
at higher power levels, the harmonic measurement may be performed only at the highest
calibration field strength. The harmonic measurement can be performed using a calibrated
spectrum analyzer which is connected to the amplifier output through an attenuator, or through
a directional coupler.
Calibration laboratories should perform a measurement to validate that the harmonic and/or
spurious signals from the amplifier satisfy the requirements for all measurement set-ups. This
may be done by connecting a spectrum analyzer to Port 3 of the directional coupler (replacing
the power meter sensor with the spectrum analyzer input; see Figure E.3 in Clause E.5).
NOTE 1 It is understood that the power level does not exceed the maximum allowable input power of the spectrum
analyzer. An attenuator is used to reduce the power level in this case.
The frequency span should cover at least the third harmonic of the intended frequency. The
validation measurement should be performed at the power level that will generate the highest
intended field strength. Harmonic suppression filters may be used to improve the spectrum
purity of the power amplifier(s).
NOTE 2 "Intended frequency" in the preceding paragraph means the highest frequency used for probe calibration.
E.3.3 Probe fixture
The probe mounting fixture in a TEM waveguide can cause reflections of electromagnetic fields
during probe calibration. The fixture should be made of a material with a relative permittivity of
less than 1,2 and a dielectric loss (tan δ) less than 0,005.
E.3.4 Measuring net power to a transmitting device using directional couplers
Net power delivered to a transmitting device can be measured with a four-port bi-directional
coupler, or two three-port single directional couplers connected back-to-back (forming a
so-called "dual directional coupler"). A common set-up using a bi-directional coupler to measure
the net power to a transmitting device is shown in Figure E.3. The forward coupling and reverse
coupling are defined by Equation (E.3) and Equation (E.4), where each port is connected with
a matched load and a matched source:
P3
cfwd = (E.3)
P1
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 73 –
P4
crev = (E.4)
P2
where P 1 , P 2 , P 3 , and P 4 are the respective powers at each port of the directional coupler.
The net power delivered to the transmitting device is then according to Equation (E.5):
PPM1M 1 PPM2
Pnet
= − (E.5)
cfwd crev
where P PM1 and P PM2 are the power meter readings in linear units.
Where the VSWR of the TEM waveguide is known, then a single three-port coupler can be used.
For example, when the TEM waveguide has a VSWR of 1,5:1 this is equivalent to a voltage
reflection coefficient (ρ volt ) of 0,2.
The accuracy is affected by the directivity of the coupler. The directivity is a measure of the
coupler’s ability to isolate the forward and the reverse signals. For a well-matched transmitting
device, the reverse power is much smaller than the forward power. The effect of the directivity
is therefore less important than in a reflectivity application. For example, when the TEM
waveguide has a VSWR of 1,5:1 and the coupler has a directivity of 20 dB, the absolute
maximum uncertainty in the net power due to the finite directivity is
0,22 dB − 0,18 dB = 0,04 dB, with a U-shaped distribution (where 0,22 dB is the loss of the
incident power from VSWR = 1,5:1).
The net power delivered to the transmitting device is then according to Equation (E.6):
P ⋅ (1 − ρvolt 2 )
Pnet = PM1 (E.6)
cfwd
E.4 E-field probe calibration
E.4.1 Calibration methods
Although three calibration methods are provided in [19], two methods are typically employed.
The standard field method using calculated field strengths is used for a two-port TEM waveguide
(see E.4.2). The calibration method using a transfer standard (i.e. a field sensor or probe similar
to the one being calibrated) is used for a one-port TEM waveguide.
E.4.2 Calibration procedure using a two-port TEM waveguide
The standard field method can be applied for probe calibration with use of a two-port TEM
waveguide. Figure E.4 (see Clause E.5) shows an example of the set-up for the calibration of
an E-field probe. If the E-field level and the forward and reverse powers are read manually, a
computer need not necessarily be used. The procedure for carrying out the calibration with a
two-port TEM waveguide is as follows:
a) position the isotropic electric field strength sensor at the centre of the septum height;
b) apply a forward power to the TEM waveguide input port so that the electric field strength of
the primary field component is in the range of 6 V/m to 20 V/m, through the frequency range
specified in E.2.2, in frequency steps specified in E.2.6, and record all the forward and
reverse powers, and the primary and secondary components field strength readings;
– 74 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
c) calculate the net power, Pnet , with Equation (E.5) or Equation (E.6) (see E.3.4) and the
measured powers;
d) calculate the nominal primary electric field strength with Equation (E.2) (see E.3.1) as
E approx .
NOTE The calibration factor changes depending on how the probe is installed. There also is a method to insert
only a probe head from the upper part of the TEM waveguide to remove the influence from any parts other than
the probe head.
The calibration factor, FP , can be obtained according to Equation (E.7)
Em
Fp = or F=
p Em − Eapprox (E.7)
Eapprox
where Em is the measured primary field strength.
E.4.3 Calibration procedure using one-port TEM waveguide
E.4.3.1 Transfer method
Generally, deviations of the measured electric field strength from the field strength given by
Equation (E.2) (see E.3.1) are within ±0,5 dB for all frequencies with a two-port TEM waveguide.
However, the deviations can be ±3 dB or ±4 dB in a case of a one-port TEM waveguide.
Therefore, the calibration method described in E.4.2 should not be used in a one-port TEM
waveguide. Instead, probe calibration with a one-port TEM waveguide can be performed by
using a transfer method.
A transfer probe can be used to establish standard fields in a field-generating device (called a
working standard device). The transfer probe response may be determined either by theoretical
computations (for probes such as dipoles) or by calibrations performed according to other
methods (e.g. a three-antenna method in an anechoic chamber can be used). Another method
is the use of a small (to allow a high upper frequency) two-port TEM cell. Use of a small TEM
cell also requires that the transfer probe is sufficiently small. After the transfer function of the
working standard device is known, probe calibration can be performed at other power levels
provided that the working standard device response is linear. Possible additional errors due to
the difference in calibration environments (e.g. calibration site, size, orientation) for transfer
standards as well as differences in shapes between the transfer standard and the probe under
calibration should be documented in the calibration test report.
The procedure for carrying out probe calibration using the transfer method is as follows:
a) position the transfer probe at the centre of the septum height in the TEM waveguide to be
used for probe calibration;
b) apply a forward power to the TEM waveguide input port through the frequency range
reverse powers and the primary field strength readings (the output voltage of the transfer
probe should be converted to electric field strength);
c) calculate the net power, Pnet , with Equation (E.5) or Equation (E.6) (see E.3.4) and the
measured powers;
d) replace the transfer probe by the isotropic electric field strength sensor or probe to be
calibrated;
e) apply a forward power to the TEM waveguide so that the net power is the same as the power
in step b), and record the primary field strength readings.
The calibration factor, FP , is obtained according to Equation (E.8)

IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 75 –
Em
Fp = or F
=p Em − ET (E.8)
ET
where ET is the primary field strength obtained by the transfer probe.
The transfer method is accurate if the following conditions are met:
– the set-up does not change between the transfer and calibration procedures;
– the probe position during measurements is reproduced;
– the transmitted power remains the same;
– the probe under test is similar in construction (size and element design) to the transfer
probe;
– the cables connecting the sensor head and readout do not disturb or pick up the field;
– the working standard device is largely anechoic.
References [19], [20], and [21] have more information on this method.
E.4.3.2 Method of E-field estimation at the calibration position
If the transfer probe is not available, a probe can be calibrated by the alternative method of
E.4.3.2. A monopole antenna as described in E.2.5 is used (see Figure E.5 in Clause E.5). The
probe calibration procedure is as follows:
a) position the monopole antenna at the ground plate of the TEM waveguide;
b) apply the forward power to the TEM waveguide input port through the frequency range
reverse powers, and the spectrum analyzer readings, Pmono ;
c) calculate the electric field strength at the position of the monopole, Emono , using the antenna
factor of the monopole antenna (see E.4.3.3);
d) calculate the net power, Pnet , with Equation (E.5) or Equation (E.6) (see E.3.4) and the
measured powers;
e) remove the monopole, and then position a small E-field sensor (e.g. optical electric field
sensor) where the monopole had been positioned;
f) apply a forward power so that the net power is the same as the power in step b), and record
the primary field strength or the spectrum analyzer readings from the E-field sensor ( EM or
PM );
NOTE The small E-field sensor is not necessarily calibrated. Although an E-field probe can be used, the probe to
be calibrated will not be used.
g) position the small E-field sensor or probe at the position to be calibrated (normally, at the
centre point of the septum height);
h) apply a forward power so that the net power is the same as the power in step b), and record
the primary field strength or the spectrum analyzer readings from the E-field sensor or probe
( EC or PC ).
The reference electric field strength can be calculated using Equation (E.9).
Emono PC Emono EC
Eref = or Eref = (E.9)
PM EM
The calibration factor, Fp , can be obtained as

– 76 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
Em
Fp = or F
=p Em − Eref (E.10)
Eref
where Em is the primary field strength obtained by the probe under test.
The antenna factor of the monopole antenna is obtained using the method of E.4.3.3.
E.4.3.3 Calculation of the monopole antenna factor from the antenna impedance
using equivalent length
Antenna impedance can be obtained by measuring the reflection coefficient of the antenna
using a network analyzer, or by a calculation using Labus’s Equation [45], or by other numerical
methods such as the method of moments.
The equivalent circuit of a receive antenna and a measuring apparatus is shown in Figure E.6
(see Clause E.5). The terminal voltage of the antenna, V0 , is obtained according to Equation
(E.11):
Z0V Z l E
V0 = = − 0e (E.11)
Z0 + Zant Z0 + Zant
where Z0 and Z ant are the characteristic impedance of the measuring apparatus and the
antenna impedance, respectively; E is the electric field strength at the location where the
element of the antenna is positioned; le is the effective length of the antenna, which is
calculated using Equation (E.12):
 1 l  2π x  λ   2πl    λ
= 
 2 πl  ∫0
sin 
 λ 
 dx
 2 πl 
1– cos 
 λ 
 l ≤ 4 
 
 sin
   2 π sin  λ 
le =   λ    (E.12)
 λ 
 1– cos  2πl   λ λ

4 ≤ l < 2
 2π 
  λ   
where l and λ are the element length of the antenna and the wavelength, respectively.
The antenna factor, F a , is expressed by the electric field strength and the terminal voltage, and
is determined by Equation (E.13).
E
Fa = (E.13)
V0
The antenna factor is obtained from Equation (E.11) and Equation (E.13) as Equation (E.14)
Z0 + Zant
Fa = (E.14)
Z0le
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 77 –
E.5 Figures for Annex E
Figure E.1 – Example of test points for calibration volume validation (see E.2.3)
Figure E.2 – Set-up for validation of probe perturbation (see E.2.5)
Figure E.3 – Set-up for measuring net power to

a transmitting device (not to scale) (see E.3.4)
– 78 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
Figure E.4 – Example set-up for E-field probe

calibration with two-port TEM waveguide (see E.4.2)
a) Use of a monopole antenna
b) Use of a small electric field sensor
Figure E.5 – Example set-up for E-field probe calibration with

one-port TEM waveguide and alternative method (see E.4.3.2)
Figure E.6 – Equivalent circuit of monopole antenna

and measuring apparatus (see E.4.3.3)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 79 –
Annex F
(informative)
Instrumentation uncertainty of emission measurement results
F.1 Radiated disturbance measurements using a TEM waveguide
F.1.1 Measurand for radiated disturbance measurements using a TEM waveguide

E disturbance field strength, in dB(µV/m), measured at a 10 m OATS/SAC for 30 MHz to
1 000 MHz, and measured at a 3 m FAR (FSOATS) for 1 GHz to 18 GHz
NOTE It is assumed that measurement results taken in a TEM waveguide are converted to field strength for
comparison with OATS-based limits at a 10 m distance up to 1 GHz and to FAR-based limits at a 3 m distance above
1 GHz.
F.1.2 Symbols of input quantities common to all disturbance measurements

ac attenuation of the connection between the receiver and the TEM waveguide, in dB
δM correction for the error caused by mismatch, in dB
Vr receiver voltage reading, in dB(μV)
δV SW correction for receiver sine wave voltage inaccuracy, in dB
δV pa correction for imperfect receiver pulse amplitude response, in dB
δV pr correction for imperfect receiver pulse repetition rate response, in dB
δV nf correction for the effect of the receiver noise floor, in dB
F.1.3 Symbols of input quantities specific to TEM waveguide measurements

F convTEM conversion factor for field-strength measurements in TEM waveguide, in dB(1/m)
δS uni correction factor for field non-uniformity in EUT volume, in dB
δS d correction factor for separation distance between waveguide port and EUT, in dB
δS EUTdir correction factor for the effect of EUT directivity, in dB
δS tt correction factor for the effect of turntable/manipulator material, in dB
F.2 Input quantities to be considered for radiated disturbance measurements

using a TEM waveguide
a) receiver reading
b) cable attenuation between TEM waveguide and measuring receiver
c) conversion factor for field-strength measurements using the TEM waveguide
d) receiver related input quantities
1) sine wave voltage accuracy
2) pulse amplitude response
3) pulse repetition rate response
4) noise floor proximity
e) mismatch effects between TEM waveguide receiver port and measuring receiver
f) effect of field non-uniformity
– 80 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
g) effect of separation distance between EUT and waveguide port

h) effect of EUT directivity
i) effect of EUT turntable/manipulator material
F.3 Uncertainty budget and rationale for the input quantities for radiated
disturbance measurements using a TEM waveguide
F.3.1 Uncertainty budget for radiated disturbance measurements using a TEM

waveguide
The measurand E is calculated using the model equation in Equation (F.1):
E = Vr + ac + Fconv TEM + δVsw + δVpa + δVpr + δVnf + δM + δSuni + δSd + δSEUT dir + δSTT (F.1)
Table F.1 – Uncertainty budget for radiated disturbance measurement results

using a TEM waveguide from 30 MHz to 1 000 MHz (example)
Uncertainty of x i b
c i u(x i )
Input quantity a Xi Probability

dB distribution dB
function
Receiver reading F1) Vr ± 0,1 k=1 0,10
Attenuation: TEMwg-receiver F2) ac ± 0,2 k=2 0,10
TEM conversion factor F7) F conv TEM ± 0,0 - 0,0
Receiver corrections:
Sine wave voltage F3) δV sw ± 1,0 k=2 0,50
Pulse amplitude response F4) δVpa ± 1,5 Rectangular 0,87
Pulse repetition rate response F4) δV pr ± 1,5 Rectangular 0,87
Noise floor proximity F5) δV nf ± 0,3 Rectangular 0,17
Mismatch: TEMwg-receiver F6) δM +0,64/−0,69 U-shaped 0,47
Field non-uniformity F8) δS uni ± 2,61 k=1 2,61
Separation distance F9) δS d ± 0,19 Rectangular 0,11
Effect of EUT directivity F10) δS EUT dir −1,5/0 Rectangular 1,2
Effect of EUT manipulator F11) δSTT ± 2,0 Rectangular 1,16
The distribution function is normal, unless otherwise expressed in the table.
a F1) )
Superscripts (e.g. correspond to the list items in F.3.2.
b All c i = 1
Hence, the expanded uncertainty according to Equation (F.2) is U(E) = 2u c (E) = 6,82 dB.
uc ( y ) = ∑ ci2 u 2 ( xi ) (F.2)
i
NOTE Equation (F.1) and Equation (F.2) can also be used for the three-position algorithm (see A.3.2.3) because
the same uncertainty applies to each of the three voltages when the same instrumentation is used.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 81 –
Table F.2 – Uncertainty budget for radiated disturbance measurement results

using a TEM waveguide from 1 GHz to 6 GHz (example)
Uncertainty of x i c i u(x i ) b
Input quantity a Xi Probability

dB distribution dB
function
Receiver reading F1) Vr ± 0,1 k=1 0,10
Attenuation: TEMwg-receiver F2) ac ± 0,3 k=2 0,15
TEM conversion factor F7) F conv TEM ± 0,0 - 0,0
Receiver corrections:
Sine wave voltage F3) δV sw ± 1,5 k=2 0,75
Noise floor proximity F5) δV nf + 0,2/0,0 Rectangular 0,12
Mismatch: TEMwg-receiver F6) δM +0,51/−0,54 U-shaped 0,37
Field non-uniformity F8) δS uni ± 2,61 k=1 2,61
Separation distance F9) δS d ± 0,19 Rectangular 0,11
Effect of EUT directivity δS EUT dir - - 0
Effect of EUT manipulator F11) δSTT ± 2,0 Rectangular 1,16
The distribution function is normal, unless otherwise expressed in the table.

a F1) )
Superscripts (e.g. correspond to the list items in F.3.2.
b All c i = 1
Hence, the expanded uncertainty according to Equation (F.2) is U(E) = 2u c (E) = 5,97 dB.
F.3.2 Rationale for the estimates of input quantities for radiated disturbance
measurements using a TEM waveguide
NOTE 1 Comments F1) through F8) are adapted from CISPR 16-4-2 [15].
NOTE 2 General background on measurement uncertainty for radiated disturbance measurements is provided in
[30].
F1) Receiver readings will vary for reasons that include measuring system instability and
meter scale interpolation errors. The estimate of Vr is the mean of many readings
(sample size larger than 10) of a stable signal, with a standard uncertainty given by the
experimental standard deviation of the mean (k = 1).
F2) An estimate of the attenuation ac of the connection between the receiver and the TEM
waveguide is assumed to be available from a calibration report, along with an expanded
uncertainty and a coverage factor.
NOTE 3 If the estimate of attenuation a c is obtained from manufacturer’s data for a cable or attenuator, a
rectangular probability distribution having a half-width equal to the manufacturer’s specified tolerance on
the attenuation can be assumed. If the connection is a cable and attenuator in tandem, with the
manufacturer’s data available on each, a c has two components, each with its own rectangular probability
distribution.
NOTE 4 In the frequency range below 30 MHz, the estimate of the expanded uncertainty is 0,1 dB, from
30 MHz to 1 000 MHz it is 0,2 dB, from 1 GHz to 6 GHz it is 0,3 dB and from 6 GHz to 18 GHz it is 0,6 dB
with a coverage factor of 2. A lower estimate for this uncertainty contribution can be achieved using a vector
network analyzer for the cable calibration.
– 82 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
F3) An estimate of the correction δ Vsw for receiver sine-wave voltage accuracy is assumed
to be available from a calibration report, along with an expanded uncertainty and a
coverage factor.
NOTE 5 If a calibration report states only that the receiver sine-wave voltage accuracy is within the
CISPR 16-1-1 tolerance (±2 dB), then the estimate of the correction δV sw is taken as zero with a rectangular
probability distribution having a half-width of 2 dB. If the calibration report states a value less than the CISPR
16-1-1 tolerance (e.g. ±1 dB), then this value is to be used in the uncertainty calculation, not the stated
uncertainty value of the calibration process. If the calibration report provides detailed deviations from
reference values, then the reported deviations and the uncertainties of the calibration laboratory are used
to determine the uncertainties of the measuring receiver.
F4) In general, it is impractical to correct for imperfect receiver pulse response
characteristics.
A verification report stating that the receiver pulse amplitude response complies with the
CISPR 16-1-1 tolerance of ±1,5 dB for peak, quasi-peak, average, or RMS-average
detection is assumed to be available. The correction δ Vpa is estimated to be zero with a
rectangular probability distribution having a half-width of 1,5 dB.
The CISPR 16-1-1 tolerance for pulse repetition rate response varies with repetition rate
and detector type. A verification report stating that the receiver pulse repetition rate
responses comply with the CISPR 16-1-1 tolerances is assumed to be available. The
correction δ Vpr is estimated to be zero with a rectangular probability distribution having
a half-width of 1,5 dB, a value considered to be representative of the various
CISPR 16-1-1 tolerances.
NOTE 6 If the pulse amplitude response or the pulse repetition rate response is verified to be within ± α dB
of the CISPR specification (α ≤ 1,5), the correction for that response is estimated to be zero with a
rectangular probability distribution having a half-width of α dB.
NOTE 7 If a disturbance produces a continuous wave signal at the detector, pulse response corrections
are not considered.
F5) The noise floor of a CISPR receiver is compared with the TEM waveguide output voltage
level Slim corresponding to the OATS-based field-strength limit Elim at 10 m distance
below 1 GHz and corresponding to the FAR (FSOATS) based field-strength limit Elim at
a 3 m distance above 1 GHz to determine the signal-to-noise ratio.
Combining Equation (A.1) and Equation (A.6) gives Equation (F.3):
Dmax η02 k02 η k Dmax

=Emax gmax = ⋅ S gmax 0 0 ⋅S , (F.3)
2 2 2πe0 y 3 Zc
12π e0y Z c
2π
with k0 = , η0 ≈ 377 Ω , Z=
c 50 Ω .
λ
Ey 10 V/m Ω
A manufacturer’s manual gives e0=
y= = 8,16 for a TEM waveguide septum
Pi 1,5 W m
height h = 0,8 m .
NOTE 8 For larger septum heights, e0 y will be proportionally lower.
2
a) For the OATS-based field strength (below 1 GHz) the approximation gmax = is
r
used, where r = 10 m and Dmax = 1,5 , to calculate Slim .
1
From Equation (F.3) Emax =Elim =⋅ 0,92 ⋅ Slim or Slim = λ ⋅ 1,08 Elim , respectively in dB:
λ
S=
lim λ / dB(m) + 0,68 + Elim / dB(μV/m)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 83 –
The preceding Equation allows calculation of Slim in Table F.3.
Table F.3 – Values of S lim for 30 MHz to 1 000 MHz
Frequency/MHz E lim /dB(µV/m) S lim /dB(µV)
30 30 50,7
100 30 40,2
230 30 33,0
230 37 40,0
300 37 37,7
1 000 37 27,2
For radiated disturbance measurement using the TEM waveguide below 1 GHz, the
deviation δ Vnf is estimated to be between 0 dB and +0,3 dB. The correction is estimated
to be zero as if the deviation were symmetric around the value to be measured with a
rectangular probability distribution having a half-width of 0,3 dB. Any correction for the
effect of the noise floor depends on the signal type (e.g. impulsive or unmodulated sine
wave) and the signal-to-noise (S/N) ratio, and would change the noise level indication.
The value of 0,3 dB is taken from Figure F.1 (see Clause F.4) for a S/N = 28 dB. The
S/N has been obtained for a noise figure of 6 dB, using Equation (F.4)
ENQP= SNQP + Fconv TEM + ac=

(F.4)
− 67 + 10 lg FN + 10 lg BN + wNQP + Fconv TEM + ac
where
E NQP is the equivalent field strength of the quasi-peak noise floor, in dB(μV/m);
S NQP is the receiver quasi-peak noise floor, in dB(μV);
F conv TEM is the TEM conversion factor at the receive frequency, in dB(1/m);
ac is the attenuation of the antenna connecting cable, in dB;
FN is the noise factor of the measuring receiver, i.e. a number;
10·lg·F N is the noise figure of the measuring receiver, in dB;
BN is the noise bandwidth of the measuring receiver, in Hz;
W NQP is the quasi-peak weighting factor of noise, in dB;
-67 ( )
is 10 ⋅ lg kT0 ⋅ 1 Hz / P1μV , the absolute noise level in dB(μV) in 1 Hz bandwidth,
with k = Boltzmann’s Constant, T 0 = 293,15 K, and P 1μV is the power
generated by 1 μV across 50 Ω.
The worst-case S/N is obtained near 1 000 MHz. With 10 ⋅ lg ( FN ) =
6 , 10 ⋅ lg (BN ) 50,8
=
(for 120 kHz), the weighting factor w NQP being 7 dB, the TEM conversion factor of
F conv TEM = 9,8 dB(m −1 ) for 1 000 MHz and the cable attenuation a c = 2 dB, the
quasi-peak noise indication in terms of field strength is E NQP = 9 dB(μV/m). This is
compared to a disturbance level at the emission limit of 37 dB(μV/m) at 10 m distance
to give an S/N of 28 dB. In the frequency range below 1 000 MHz, the S/N is higher,
hence an S/N > 30 dB can be assumed.
– 84 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
b) For the FAR (FSOATS) based field strength (above 1 GHz) the approximation g max = 1/r
is used, where r = 3 m and D max = 1,5, to calculate S lim .
From Equation (F.3) E max = E lim = 1/λ 1,54 S lim , where λ is expressed in m or S lim = λ
0,65 E lim , then respectively in dB: S lim = λ/dB(m) − 3,75 + E lim /dB(μV/m).
The preceding equation allows the calculation of S lim in Table F.4 (see F.3.2).
Table F.4 – Values of S lim for 1 GHz to 6 GHz
Frequency/GHz E lim pk /dB(µV/m) S lim pk /dB(µV)
1 70 55,8
3 70 46,2
3 74 50,2
6 74 44,2
For radiated disturbance measurements above 1 GHz, the limits apply for average
detector and peak detector measured results. Similar considerations for the noise floor
below 1 GHz apply. The stronger influence of noise and higher uncertainty caused by
noise are with the peak detector.
Figure F.2 (see Clause F.4) provides graphs for the deviation from the signal level as a
function of S/N.
The worst-case S/N is obtained near 6 GHz. With 10 ⋅ lg (FN) =
6 , 10 ⋅ lg (BN) =
58,2
(corresponding to 0,66 MHz), the weighting factor w NPk being 11 dB, the TEM
conversion factor of F conv TEM = 29,8 dB(m −1 ) for 6 GHz and the cable attenuation
a c = 2 dB, the peak noise indication in terms of field strength is E NQP = 40 dB(μV/m).
This is compared to a disturbance level at the emission limit of 74 dB(μV/m) at a 3 m
distance to give an S/N of 34 dB. In the frequency range below 6 GHz, the S/N is higher,
hence an S/N > 34 dB can be assumed. Figure F.2 shows a maximum deviation for sine
waves of 0,2 dB.
F6) Mismatch uncertainty
a) General
In general, the receiver port of a TEM waveguide will be connected to port 1 of a two-
port network whose port 2 is terminated by a receiver of reflection coefficient Γr . The
two-port network, which might be a cable, attenuator, attenuator and cable in tandem,
or some other combination of components, can be represented by its S-parameters.
The mismatch correction is then according to Equation (F.5)
δM
= 2
20 lg (1 − Γ e S11 )(1 − Γr S22 ) − S21 Γ e Γr  (F.5)
 
where Γ e is the reflection coefficient looking into the receiver port of the TEM
waveguide with the EUT inserted when it is set up for disturbance measurement. All
parameters are referenced to 50 Ω.
When only the magnitudes, or extremes of the magnitudes, of the parameters are
known, it is not possible to calculate δM, but its extreme values δM ± are not greater
than according to Equation (F.6)
δM ± 20 lg  1 ±
=
 (Γ e S11 + Γr S22 + Γe Γr S11 S22 + Γe Γr S21
2
)  (F.6)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 85 –
The probability distribution of δM is approximately U-shaped, with a width not greater

(
than δM + )
− δM − and standard deviation not greater than the half-width divided
by 2.
b) Radiated disturbance measurement using a TEM waveguide
For radiated disturbance measurements below 1 GHz, a VSWR specification of the
TEM waveguide of s wr ≤ 1,6:1 is assumed, implying |Γ e | ≤ 0,23. For radiated
disturbance measurements above 1 GHz, a VSWR specification of s wr ≤ 1,45:1 is
assumed, implying |Γ e | ≤ 0,18. It is also assumed that the connection to the receiver
is made using a well-matched cable (|S 11 | << 1, |S 22 | << 1) of negligible attenuation
(|S 21 | ≈ 1) and that the receiver RF attenuation is 0 dB, for which the CISPR 16-1-1
tolerance of s wr ≤ 2,0:1 implies |Γ r | ≤ 0,33.
The estimate of the correction δ M is zero with a U-shaped probability distribution
having width equal to the difference δ M + (
−δ M − . )
NOTE 9 The expressions for δM and δM ± show that mismatch error can be reduced by increasing the
attenuation of the well-matched two-port network preceding the receiver. The penalty is a reduction in
measurement sensitivity.
NOTE 10 Additional considerations related to Equation (F.3): a) due to non-existing or only weak
correlation of the addends (summands, or terms in the sum), the linear addition can be replaced by the root
sum square rule; b) due to the usually small magnitude of the addends, a further approximation (where δM ±
is the half width of a U-shaped distribution) is applicable, yielding finally:
δM ± ≈ 8,7 ( Γe 2
S11 ) + ( Γr S22 )2 + ( Γ e Γr S21 )
2 2
dB
F7) Conversion factor for radiated disturbance measurements using a TEM waveguide
The conversion factor can be seen as a frequency-dependent antenna factor that
converts the disturbance voltage measured by the measuring receiver at the output of
the TEM waveguide to an equivalent OATS-based (or FAR-based) field strength. The
conversion factor will usually be different for horizontal and vertical polarization of the
calculated field strength. It depends on OATS/SAC measurement distance, septum
height, and some further parameters. A rough approximation is calculated in list item
F5). It is assumed that the conversion is performed using algorithms, for example as
described in Clause A.3, or other more sophisticated algorithms following an exact
theory and using computations that do not produce an uncertainty contribution. Any
uncertainty caused, for example by the unpredictable EUT directivity, is covered by other
influence quantities.
F8) Field non-uniformity
For the usable test volume, the requirements in 5.2.2 apply. In 5.2.2.2.2 and 5.2.2.2.3
the mean value and standard deviation of the primary field component or the forward
power are calculated for N test points. Normal distribution is assumed for the
measurands. The standard deviation of either the primary field component for the
constant forward power method or the forward power for the constant field strength
method shall be below 2,61 dB according to Equation (1) through Equation (6), and
respectively Equation (7) through Equation (12). From that verification requirement, it
can be concluded that the field non-uniformity uncertainty contribution is 2,61 dB or
better. The actual value of the standard deviation of the primary electric field strength or
the forward power may be used as an estimate of the standard uncertainty of this input
quantity for the determination of the expanded uncertainty U lab of a test lab and its TEM
waveguide.
However, especially for large uniform areas, many TEM waveguides will result in a lower
uncertainty. If it is vital to determine a more accurate estimate for the uncertainty of field
non-uniformity, this can be done with a more complex evaluation of the calibration data
of the validation of the usable test volume as explained in the following paragraphs.
– 86 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
The measurements E prim, i in V/m for the primary electric field strength in the N calibration
points are normalized to the input power and the field factor according to Equation (A.5)
(see A.3.2.3.3). With Equation (F.7) through Equation (F.10) the standard deviation s N
for the intrinsic uncertainties of the testing volume and the waveguide are calculated,
where Γ (…) is the gamma function.
 N − 1
Γ
N − 1  2 
sN = ⋅ ⋅ σEN (F.7)
2 N
Γ 
2
1 N
( )
2
=σEN ∑ Epn,i − E pn (F.8)
N − 1 i =1
1 N
E pn = ∑ Epn,i
N i =1
(F.9)
 Ep,i 
Epn,i = 20 lg   (F.10)
 Pi ⋅ e0y,i 
 
The evaluation of Equation (F.11) for a large number I of randomly chosen calibration
points (x i ,y i ) in the uniform area results in the standard deviation s e0y of the analytical
field homogeneity in the specific testing volume.
2
1 I  1 I 
=se0y ∑ 
I − 1 i 1=
(
Ii 1
)
 20 lg e0y ( xi , yi ) − ∑ 20 lg e0y ( xi , yi ) ( ) 
 (F.11)
=  
The uncertainty of δ Suni in Table F.1 is then calculated by Equation (F.12). For each
frequency interval the maximum value of u( δ Suni ) should be taken into account.
u ( δSuni
= ) sN2 + se0y
2
(F.12)
Detailed information as well as measurement examples for the uncertainty contribution

of the field non-uniformity can be found in [27].
F9) The error in separation distance between the EUT and the TEM waveguide port arises
from the errors in determining the perimeter of the EUT and the z-coordinate of the EUT
in the TEM waveguide. The estimate of the correction δ Sd for the separation error is
zero with a rectangular probability distribution having a half-width evaluated from
assuming a maximum separation error of ±0,1 m, and assuming that field strength is
inversely proportional to separation over that distance margin. A rectangular probability
distribution function (PDF) is assumed. For a specific TEM waveguide, the uncertainty
contribution u( δ Sd ) can be calculated from Equation (F.13), where r TL is the distance
between the EUT position and the feed section of the TEM waveguide.
 3  r ± 0,1 m  
u ( δSd ) max 
= ⋅ 20 lg  TL   (F.13)
 3 rTL
  
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 87 –
NOTE 11 This value can also be understood as an uncertainty contribution of the tapering of a TEM
waveguide.
NOTE 12 This value does not apply for TEM waveguides without tapering, for example those with constant
cross-section dimensions in the test volume.
NOTE 13 The value of this uncertainty contribution depends on the distance between the EUT position and
the feed section of the TEM waveguide. Longer separation distances result in a lower uncertainty.
F10) For electrically small EUTs, the directivity will vary between a minimum of 1,5 (isolated
electric or magnetic dipole only) to a maximum of 3 (for combined electric and magnetic
dipoles optimally oriented). A directivity of 3 (maximum case) is assumed in the A.3.2.4
correlation algorithm for small EUTs; thus the actual (but unknown) directivity will be up
to 1,5 lower yielding an uncertainty. A rectangular distribution is assumed for Table F.1.
If the A.5.1.2 twelve-position antenna factor-based method is used for a small EUT, this
uncertainty term is not needed. For frequencies above 1 GHz any EUT is assumed to be
electrically large, thus the A.5.1.2 twelve-position antenna factor-based method shall be
used for the calculation of the equivalent electric field strength, and the uncertainty
contribution of EUT directivity no longer applies. Therefore, its value is set to zero in
Table F.2.
F11) Effect of EUT turntable/manipulator material
This effect needs to be determined by measurements with and without a manipulator in
a manner similar to the evaluation of set-up table influence in CISPR 16-1-4. From field-
strength measurements above about 500 MHz, values of around ±2 dB seem to be
typical. A rectangular PDF can be assumed. More detailed information and the
description of possible measurement set-ups for the evaluation of that effect in TEM
waveguides can be found in [27].
F.4 Figures for Annex F
Figure F.1 – Deviation of the QP detector level indication from the signal level at
repetition frequency of 100 Hz
– 88 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
Figure F.2 – Deviation of the peak detector level indication from the signal level at
repetition frequency of 100 Hz
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 89 –
Annex G
(informative)
Measurement uncertainty of immunity testing

due to test instrumentation
G.1 General symbols

Xi input quantity
xi estimate of X i
δX i correction for input quantity
u(x i ) standard uncertainty of x i
ci sensitivity coefficient
y result of a measurement (the estimate of the measurand), corrected for all recognized
significant systematic effects
u c (y) (combined) standard uncertainty of y
U(y) expanded uncertainty of y
k coverage factor
a+ upper abscissa of a probability distribution
a− lower abscissa of a probability distribution
G.2 Symbol and definition of the measurand

E electric field strength, in dB(V/m), at a point of the uniform area described in 5.2.2
G.3 Symbols for input quantities

Em field probe indication in a case of calibration process, directly in or converted to dB(V/m)
Fc field probe calibration factor
δF lin correction for field probe non-linearity
δF iso correction for field probe deviation from isotropy
δF int correction for frequency interpolation of field probe calibration factors
δF uni correction for field non-uniformity over the uniform area
δF har correction due to the harmonics of the field
δF res correction due to the limited amplitude resolution of the feedback control loop
δM correction due to the mismatch between TEM waveguide and amplifier
G.4 Example: Uncertainty budget for immunity test
The measurand E is calculated using Equation (G.1):
E = Em + FC + δFlin + δFiso + δFint + δFuni + δFhar + δFres + δM (G.1)
NOTE In Equation (G.1), E represents the measured E-field in Equation (16) or Equation (17) (see 5.2.2.4.1 and
5.2.2.4.2, respectively) before systematic corrections are made to avoid undertesting over the test volume.
– 90 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
Table G.1 – Example uncertainty budget of the immunity test level
Uncertainty of x i u(x i )
Uncertainty source a Xi ci
Value in dB Probability distribution function in dB
Field probe indication in the case of a Em 0,20 Normal k = 1 1 0,20
calibration process G1)
Field probe calibration factor G2) Fc 0,96 Normal k = 2 1 0,48
Field probe corrections:
Non-linearity G3) δF lin 0,5 Rectangular 1 0,29
Isotropy G4) δF iso 0,5 Rectangular 1 0,29
Frequency interpolation G5) δF int 0,5 Rectangular 1 0,29
Field non-uniformity over the uniform δF uni 1,5 Normal k = 1 1 1,5

area G6)
Presence of harmonics G7) δF har 0,50 Rectangular 1 0,29
Resolution of the feedback control δF res 0,15 Rectangular 1 0,09

loop G8)
Mismatch between TEM waveguide δM 0,17 U-shape 1 0,12
and amplifier/directional-coupler G9)
2,88
∑ u ( xi )
2
1,70
uc ( y ) = ∑u (x ) i
2
Expanded uncertainty U(y), (k = 2) 3,39

a Superscripts (e.g. G1)) correspond to the list items in Clause G.5
G.5 Rationale for the estimates of input quantities

G1) The uncertainty of the indication includes: a) instability of the generator and power
amplifier (Type A), and non-repeatability originated by b) removal and replacement of
the field probe including the alignment of the midpoint (Type A). It can be evaluated as
the combined standard uncertainty of the contributions a) and b).
G2) The uncertainty of the field probe calibration factor is due to the calibration inaccuracy.
This is a Type B contribution specified in the field probe certificate of calibration as an
expanded uncertainty with a coverage factor k = 2 , corresponding to a coverage
probability of 95 % (normal distribution).
G3) Field probe linearity is specified by the manufacturer of the field probe. This is a Type B
contribution having a rectangular distribution. The expected value of this correction is
zero.
G4) Isotropic deviation is specified by the manufacturer of the field probe. This is a Type B
contribution having a rectangular distribution. The expected value of this correction is
zero.
G5) The field probe calibration factor is known, within the limits of the calibration accuracy,
at the calibration frequencies. It is assumed that at any frequency between the
calibration frequencies the calibration factor can achieve any value between those stated
in the calibration certificate and corresponding to the calibration frequencies. This is a
Type B contribution having a rectangular distribution. The worst-case deviation (i.e.
maximum deviation between adjacent calibration factors) can be considered. The
expected value of this correction is zero.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 91 –
G6) Field non-uniformity

For the usable test volume, the requirements in 5.2.2 apply. In 5.2.2.2.2 and 5.2.2.2.3
the mean value and standard deviation of the primary field component or the forward
power are calculated for N test points. Normal distribution is assumed for the
measurands. The standard deviation of either the primary field component for the
constant forward power method or the forward power for the constant field strength
method may be used as a basis for an estimate of the standard uncertainty of this input
quantity.
However, especially for large uniform areas, many TEM waveguides will result in a lower
uncertainty. To calculate an estimate for this input quantity, the calibration data of the
validation of the usable test volume should be used. The measurements E prim,i in V/m
for the primary electric field strength in the N calibration points are normalized to the
input power and the field factor according to Equation (A.5) (see A.3.2.3.3). With
Equation (G.2) through Equation (G.7) the standard deviation sN for the intrinsic
uncertainties of the testing volume and the TEM waveguide are calculated, where Γ (…)
is the gamma function.
 N − 1
Γ
N − 1  2 
sN = ⋅ ⋅ σEN (G.2)
2 N
Γ 
2
1 N
( )
2
=σEN ∑ Epn,i − E pn (G.3)
N − 1 i =1
1 N
E pn = ∑ Epn,i
N i =1
(G.4)
 Ep,i 
Epn,i = 20 lg   (G.5)
 Pi ⋅ e0y,i 
 
The evaluation of Equation (G.6) for a large number I of randomly chosen calibration
points (x i ,y i ) in the uniform area results in the standard deviation se0y of the analytical
field homogeneity in the specific testing volume.
2
1 I  1 I 
=se0y ∑ 
I − 1 i 1=
20 lg e ( x
0y i i, y ) −
Ii 1
( )
∑ 20 lg e0y ( xi , yi ) ( ) 
 (G.6)
=  
The uncertainty of δ Funi in Table G.1 is then calculated by Equation (G.7). For each
frequency interval the maximum value of u (δ Funi ) should be taken into account.
u ( δFuni
= ) sN2 + se20y (G.7)
Detailed information as well as measurement examples for the uncertainty contribution

of the field non-uniformity can be found in [27].
– 92 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
G7) The field meter senses the root-mean-square value of the field strength obtained
superimposing the field strength at the fundamental frequency with its harmonics. It is
assumed that a harmonic of the electric field strength is present, having an amplitude at
most 6 dB lower than the fundamental. This causes a maximum error in excess of about
1 dB. This is a Type B contribution and a rectangular distribution of the error is assumed.
The expected value of this correction is −0,5 dB.
G8) This uncertainty contribution originates from the discrete step size of the RF signal
generator and the software controlling the feedback loop during the process of the test
level setting. This value may include the uncertainty of the power meter, including its
sensors, taken from either the manufacturer’s specification (and treated as a rectangular
distribution) or a calibration certificate (and treated as a normal distribution). This is a
Type B contribution having rectangular distribution.
G9) This is the uncertainty caused by a mismatch between the input port of a TEM waveguide
and the output port of the power amplifier. If a directional coupler is used for measuring
the forward power from the amplifier and the reverse power from the TEM waveguide
using the power meter, the uncertainty can be caused by the mismatch between the
input port of a TEM waveguide and the output port of the directional coupler. This
uncertainty is caused by the lack of phase information of reflection coefficients of the
amplifier, directional coupler, and TEM waveguide because the power reflections are
usually given in VSWR that has no information of phase. See IEC TR 61000-1-6 [64] for
further information.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 93 –
Annex H
(informative)
Correlation of emission and immunity limits

between EMC test facilities
H.1 Overview
Emission measurements and immunity tests can be made at a variety of EMC test facilities.
These include open-area test sites (OATSs), semi-anechoic chambers (SACs), fully anechoic
rooms (FARs), transverse electromagnetic mode (TEM) cells, and reverberation chambers
(RCs). Ideally each of these facilities would yield the same test result for a given test object;
that is, a product that passes a test in one facility would pass tests in the others, and a product
that fails in one facility would fail in the others. This ideal case could be met if emission
measurement and immunity test data could be exactly correlated between EMC facilities.
However, because most test objects are quite complex, and because standard EMC facility-
based test methods sample different subsets of the full range of possible emission
measurement and immunity test variables [62], exact correlation of test data is typically not
possible.
An alternative to correlating complicated emission measurement and immunity test data is to

correlate test limits based on simple dipole models of the test object. Dipole models are a good
starting point for setting "equivalent" test limits. These limits can then be adopted or modified
by product committees as appropriate. Immunity limits are usually expressed in terms of electric
field strength (V/m) at the test plane or test volume (or both) in the absence of a test object.
The field strength at the test location in a particular EMC test facility is then verified by field
measurements using an isotropic receiving probe. In this way the interaction between the
source and the test facility is normalized out. This makes setting equivalent immunity limits
between EMC facilities straightforward. Emission limits are less straightforward. The equivalent
of the preceding immunity case would be to use a small isotropic source probe that generates
variable field strength levels over the frequency range of interest (the reciprocal of a field probe
that receives variable field strength levels over the frequency range of interest with immunity
testing). The field probe could then be used as a transfer standard to establish equivalent limits
between EMC test facilities. The difficulty is that such a small, variable, isotropic source is not
readily achievable. Thus, analytical models are used in the emission case to correlate the
source and test facility interactions. Dipole models are the simplest, and various dipole-based
correlation algorithms have been developed and are described in the literature, for example
[32], [41], [53], and [60]. Annex H reviews the basics of correlation algorithms, using common
terminology and notation. A dipole in free space (FS) is considered first, which serves as a
model for an ideal FAR. A dipole in half space (HS) is considered next, which serves as a model
for an ideal OATS or SAC. A dipole in a transmission line (TL) models a TEM transmission line.
Finally, a dipole in an ideal cavity models an RC set-up. The emitter geometries discussed in
Clause H.2 to Clause H.5 are shown in Figure H.1 to Figure H.4 (see Clause H.8). The results
of these models are then correlated and can be used to derive equivalent test limits.
H.2 Dipole in free space (representing FAR set-up)
An ideal free space environment is the simplest case to analyze. A dipole along with a
representation of a more general source is shown in Figure H.1 (see Clause H.8). Only the case
of an electric dipole is considered. The results can be extended in a straightforward manner to
a magnetic dipole, or combined electric and magnetic dipoles, as is discussed later in Annex H.
For a short electric dipole (length dl, peak current I 0 ) located at the origin and aligned with the
z-axis, the far-field radiation is given by Equation (H.1)
Eθ =
jωμI0 dl
4πr
( ) jkI dl
(
sin θe− jkr and H φ = 0 sin θe− jkr
4πr
) (H.1)
– 94 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
where ω is the angular frequency, μ is the permeability of the medium in which the dipole is
located (e.g. air), k = 2π / λ , where λ is the wavelength, (θ ,ϕ ,r ) represents the conventional
spherical coordinate system, and an e jωt time convention is suppressed. The total power P0
radiated by the electric dipole is found by integrating the Poynting vector over a sphere
enclosing the dipole, resulting in Equation (H.2)
2
2  dl 
P0= η0 πI 02   (H.2)
3  λ 
where η0 is the free space wave impedance of air ( ≈ 120π Ω for air). EMC measurements made
in a FAR typically measure the electric field strength. For an emission measurement, the
maximum electric field magnitude Emax would be sought over some scan geometry. For the
preceding electric dipole geometry, the maximum in Equation (H.1) occurs when θ = π 2 , where
2 ω2 μ 2 ( I0 dl )2
Emax = (H.3)
(4πr )2
Using Equation (H.2), Equation (H.3) can be rewritten as Equation (H.4)
2 3 η0
Emax = P0 (H.4)
2 4πr 2
Equation (H.4) is the electric dipole case of the more general expression given in [53], shown
in Equation (H.5),
2 η0 (H.5)
Emax = Dmax P0
4πr 2
for the maximum electric field from an emitter with maximum directivity D max (D max = 3/2 for
individual electric or magnetic dipoles, or D max = 3 for combined electric and magnetic dipoles)
and total radiated power P 0 . E max is actually determined using voltage V max measured at the
output of an antenna with an antenna factor F a , where Emax = Fa ⋅ Vmax . Collecting the results
gives Equation (H.6),
2 η0 (H.6)
Vmax = Fa−2 Dmax P0
4πr 2
Equation (H.6) can be further rewritten as Equation (H.7) by defining a free-space path loss
term
1
aFS = (H.7)
( 4π ⋅ r 2 )
giving Equation (H.8)
2
Vmax,FS (
=η0 ⋅ Fa−2 ⋅ Dmax,FS ⋅ aFS ⋅ P0 ) (H.8)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 95 –
Subscripts (FS) have been added to differentiate between later cases. In particular, F a is not
an inherent property of free space; rather, it simply denotes the AF of whatever antenna is used
to make a free-space measurement.
H.3 Dipole in half space (representing OATS or SAC set-up)
A half space is formed by introducing an ideal ground plane (a perfect conductor of infinite
extent) into the preceding free-space case. As depicted in Figure H.2 (see Clause H.8), an
electric dipole is located at a height h above the ground plane and oriented either vertically or
horizontally. Other orientations may be analyzed as the superposition of these two cases. The
half-space case may be analyzed by introducing an image dipole. A rectangular coordinate
system is introduced with the ground plane in the xy-plane, the dipole at z = + hdipole , and the
image dipole at z = −hdipole . The distance from the source dipole to the measurement point is
designated r 1 , from the image dipole to the measurement point r 2 , from the origin to the
measurement point r, and the radial distance from the z-axis to the measurement point is
designated s. In the far-field, the maximum electric field can be shown to be (see [32] and [60])
according to Equation (H.9),
2 η0
Emax = Dmax r 2 gmax
2
P0 (H.9)
2
4πr
where D max is again 3/2 for a single electric dipole, or can be generalized to 3 for combined
electric and magnetic dipoles. A normalizing factor r is introduced to give Equation (H.9) a form
similar to that of Equation (H.5). The geometry factor g max is defined by Equation (H.10),
 e− jk0 r1 e− jk0 r2
 − for horiz.
 r1 r2
max
gmax =  (H.10)
 s 2 e− jk0 r1 s 2 e− jk0 r2
 2 + for vert.
 r1 r1 r22 r2 max
where k0 = 2π λ is the wave number and the subscript max denotes the maximum value found
over some scan geometry (e.g. 1 m to 4 m vertical height scan at some horizontal offset). If
the radial distance s is significantly larger than the height above the ground plane h, such that
s/r 1 ≈ 1, s/r 2 ≈ 1, r/r 1 ≈ 1 and r/r 2 ≈ 1 then g max reduces to Equation (H.11),
2
 sin ( k ( r1 − r2 ) ) for horiz.
r
gmax = (H.11)
 2 cos ( k ( r − r ) ) for vert.
 1 2
r
Under these assumptions, gmax = 2 r in both cases, assuming the measurement scan is such
that at some point k ( r1 − r2 ) =
π 2 or π, respectively (or some suitable multiple). Physically, this
simply means that the ground plane doubles the maximum electric field through constructive
interference due to the reflected path. Figure 3 in [32] shows that gmax = 2 r is a good
approximation above 200 MHz for a typical 3 m EMC emission measurement set-up (3 m
horizontal separation, 1 m source height, 1 m to 4 m receive-antenna height scan) and is a
good approximation above 30 MHz for a typical 10 m EMC emission measurement set-up (10 m
horizontal separation, 1 m source height, 1 m to 4 m receive-antenna height scan). Thus, a
value of gmax equal to 2 should be sufficient for setting equivalent emission limits, which is
– 96 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
used here for the half-space case. Thus, the maximum measured voltage for an electric dipole
above a perfect ground plane can be approximated as Equation (H.12),
2
Vmax,HS ( −2
= η Fa,HS )
⋅ Dmax,HS ⋅ aHS P0 (H.12)
( )
= 4 πr 2 for the calculations in Annex H. However, if
where aHS is well approximated by aFS
=
the ground-plane geometry needs to be accounted for more accurately, aHS r 2 gmax 2 ( 4πr 2 )
should be used.
H.4 Dipole in a TEM-mode transmission line
A TEM-mode transmission line (e.g. parallel-plate stripline, TEM cell) seeks to approximate a
linearly-polarized plane-wave field over some test volume. A dipole placed in a TEM line, as
shown in Figure H.3 (see Clause H.8), will couple to the TEM mode and to higher-order modes,
if present, and will produce a voltage at the connector port. This measured voltage combined
with suitable rotations of the dipole (similar in purpose to the receive antenna height scans of
Clause H.3) can be used to determine the dipole moment [62] or the total radiated power from
the dipole [41], [62]. For example, from Equation (A.1) (see A.3.2.3.2; applies for combined
electric and magnetic dipoles), P 0 for an electric dipole alone is given as Equation (H.13)
2η0 k 2
P0 = SV 2 (H.13)
2
3π e0 y Zc
where Z c is the characteristic impedance of the TL (typically 50 Ω), e0y is a normalized field
factor, e0y 2 ≈ Z0 h2 , where h is the plate separation at the dipole location, and S V represents
the sum of the measured output port voltage over a set of dipole rotations. These expressions
ignore contributions from higher-order modes. If the dipole is oriented for maximum coupling,
as in Clause H.2 and Clause H.3, then the voltage at the measurement port will be maximized,
S V 2 = Vmax 2 (no rotations needed), and according to Equation (H.14)
2 3 π Zc 2 (H.14)
Vmax = P0
2 η0 k 2h 2
where a substitution for e0y has been made. Replacing 3/2 with Dmax , this may be rewritten as
Equation (H.15)
2
2  Zc rTL  η
V=
max  λ  ⋅ Dmax ⋅ P0 (H.15)
 η0 h  4πrTL 2
Comparing this result to Equation (H.6) (see Clause H.2), it is seen that Equation (H.15) defines
an equivalent antenna factor for a TEM cell (the term in parenthesis). In a constant-flare-angle
TEM line (e.g. GTEM cell) rTL is the radial distance from the measurement port to the dipole
location. In a uniform cross section TEM line (e.g. a standard two-port TEM cell tapered at each
end) rTL is the radial distance from the measurement port along the cell taper to the location of
the dipole projected back to the plane beginning at the uniform section of the transmission line.
The equivalent antenna factor is then given by Equation (H.16)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 97 –
η0 h 1
Fa,TL = (H.16)
Zc rTL λ
Using this definition gives Equation (H.17)
2
Vmax,TL (
−2
=η0 ⋅ Fa,TL ⋅ Dmax,TL ⋅ aTL P0 ) (H.17)
where aTL is defined the same as aFS but using rTL as defined in Clause H.4.
H.5 Dipole in a reverberation chamber
A reverberation chamber is an over-moded cavity that seeks to statistically approximate a

uniform set of plane waves over some test volume, with a set-up such as depicted in Figure H.4
(see Clause H.8). The ideal set of plane waves would include all directions and polarizations.
A good reverberation chamber approaches this ideal. It can be shown that the average power
Pr (averaged over multiple modal distributions) received by a matched, lossless reference
antenna due to a source in the cavity is given by [31] Equation (H.18)
λ3 Q
Pr = P0 (H.18)
16π2V
where Q is the quality factor of the chamber, V is the volume of the chamber, and as before,
P0 is the total radiated power from the source, which is an electric dipole in this case. The
difficulties with Equation (H.18) are that Q is often not well characterized and correction for
antenna-loss effects needs to be made. To avoid these difficulties, the more usual method of
determining P0 in a reverberation chamber is to make a comparative measurement with a
reference source of known power Pref , while keeping the chamber conditions the same; then
according to Equation (H.19)
Pref
P0 = Pr (H.19)
Pr,ref
Solving for Pr , and rewriting this in terms of the average received voltage yields Equation
(H.20)
Pr,ref
V 2 = Zc P0 (H.20)
Pref
2
where Pr = V / Zc ( Z c is the impedance at the antenna measurement port, typically 50 Ω). In
this case there is no max subscript since there is no need to scan the receive antenna or rotate
the test object. There is also no directivity term as this is negated by averaging over incidence
angles and polarization. For consistency with previous expressions, define the following for the
2 2
reverberation chamber case: Dmax,RC = 1 (no directivity), Vmax,RC ≡ V (the receive antenna
scan in previous methods is replaced by averaging over the modal distribution variations),
2 2
Fa,RC = η0 / dRC Z c (d RC = 1 m is included to give consistent units), and according to Equation
(H.21)
– 98 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
1 Pr,ref
PLRC = (H.21)
2 Pref
dRC
This yields Equation (H.22)
2
Vmax,RC −2
(
=η0 ⋅ Fa,RC ⋅ Dmax,RC ⋅ PLRC P0 ) (H.22)
Vmax,RC does not denote the maximum voltage measured over the multiple modal distributions;
it denotes the average, as defined in Equation (H.21).
H.6 Correlation
Clause H.2 to Clause H.5 provide Equation (H.8), Equation (H.12), Equation (H.17), and
Equation (H.22) for the received voltage from an electric dipole located in the four different test
environments, i.e. free space (FS), half space (HS), a TEM-mode transmission line (TL), and a
reverberation chamber (RC). Assuming the total radiated power from the dipole is the same in
each case, ratios of these expressions can be formed to correlate between EMC test facilities
according to Equation (H.23),
2
Vmax,A F −2 Dmax,A aA
= A (H.23)
2
Vmax,B FB−2 Dmax,B aB
where subscripts A and B represent any combination of FS, HS, TL, and RC.
Equation (H.23) is based on consideration of an electric dipole. However, the identical form
could be used for a magnetic dipole ( Dmax = 3 / 2 ), a combination of an electric and magnetic
dipole ( Dmax = 3 ), or any generic EUT (as shown in Figure H.1; see Clause H.8) having
directivities other than these dipole values. If correlation to a reverberation chamber is not being
done, then the directivity ratio is unity regardless of the test object. For the correlation to a
reverberation chamber where Dmax,RC = 1 , the quantity Dmax for a test object in the other facility
should be either known (typically not the case) or should be estimated, as was done in [61],
based on the electrical size of the test object, according to Equation (H.24)
1 
2 
(
Dmax ≈ 0,577 + ln 4( ka )2 + 8ka + ) 1

8( ka )2 + 16ka 
ka > 1 (H.24)
where denotes the expected value, a is the radius of the minimum sphere enclosing the test
object, and the product ka defines its electrical size (ka > 1 being electrically large and no longer
strictly dipole-like). Equation (H.24) yields a value of 1,55 as ka approaches 1, which is between
the minimum value 1,5 and the maximum value 3 for a dipole-like test object, and represents a
reasonable estimate for an electrically small source.
The emission correlation parameters are summarized in Table H.1. The terms used in Table H.1
are given in the associated Clause H.2, Clause H.3,Clause H.4 and Clause H.5.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 99 –
Table H.1 – Summary of the emission correlation parameters
EMC test facility Fa D max PL
FS (FAR) Receive antenna

3/2 for a dipole
or Equation (H.24)
1 ( 4πr ) 2
4 ( 4πr ) 2
3/2 for a dipole

HS (SAC, OATS) Receive antenna
or Equation (H.24) or r 2 gmax 2 ( 4πr )
2
(Equation (H.9))
η0 h 1
TL (TEM cell, GTEM cell,
stripline) Z c rTL λ
3/2 for a dipole
or Equation (H.24)
1 ( 4πr ) TL
2
η0 1 1 Pr ,ref
RC (reverb. chamber) 1 for all emitters 2
Z c dRC dRC Pref
H.7 Example of emission limits
Emission limits may be correlated by substituting Emax for Vmax FTL . As an example, if the
CISPR 32 [68] OATS limits are used, then the equivalent TEM transmission line limits are shown
in Figure H.5. This requires that the measured transmission line voltage be converted to an
equivalent field strength using the F a given in Table H.1.
NOTE The values in Figure H.5 (see Clause H.8) are found as follows. In Equation (H.23), let A = TL, B = HS, and
note that
Emax= F ⋅ Vmax ,
then simplifying yields
1 s
Emax,TL = Emax,HS .
2 rTL
As an example, take the Class A CISPR 32 [68] limit of 40 dBμV/m for 30 MHz to 230 MHz at 10 m separation (= s),
then in dB this is
20lg ( Emax,TL ) + 20lg ( rTL 1m=

) 40 dBμV/m + 20lg ( 5=) 54 dBμV/m ,
as shown in Figure H.5. Similar levels follow for Class B and for other frequencies.
Alternately, the emissions measured in the transmission line may be compared to an equivalent
HS value via
r
= Emax,TL ⋅ 2 ⋅ TL
Emax,HS (H.25)
s
where s is again the HS separation (e.g. 3 m, 10 m, 30 m, etc.). This comparison is useful if

multiple test object orientations are used (for example, 12) and the maximum from these
orientations is found.
– 100 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
H.8 Figures for Annex H
Figure H.1 – Representation of a short centre-fed dipole and

a more general source representing an EUT (see Clause H.2)
NOTE The source and receive geometry definition is the same for co-polarized horizontal dipoles, or for source and
receive dipoles of arbitrary orientation.
Figure H.2 – Vertical source and receiving dipoles located over

a perfectly-conducting ground plane of infinite extent (see Clause H.3)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 101 –
a) Two-port TEM cell
b) One-port TEM cell
Figure H.3 – Two types of TEM cells with a vertically polarized dipole source
and the source to receive port geometry defined (see Clause H.4)
NOTE The receive antenna is depicted pointing away from the dipole source, to minimize direct path coupling.
Figure H.4 – Reverberation chamber with a source dipole, a stirrer to

randomize the fields, and a general receive antenna (see Clause H.5)
– 102 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
NOTE In Figure H.5 r TL is the distance in m from the TEM waveguide (transmission line facility) connector port to
the emitter (test object) location.
Figure H.5 – TEM waveguide Class A and Class B emission limits correlated
from CISPR 32 [68] (see Clause H.7)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 103 –
Annex I
(informative)
TEM waveguide transient characterization
I.1 Overview
Annex I describes a characterization method for TEM waveguides based on transient signals.
The method allows the evaluation of the quality of a shape-inherent signal transmission in TEM
waveguides. The evaluation is based on the Pearson correlation coefficient (Pcc), and provides
a means to express the time domain characteristics of a given TEM waveguide by one
significant value (figure of merit).
A large variety of different waveforms for distinct technical purposes can be found in the
electromagnetic environment, including a large number of transient waveforms that can create
intentional electromagnetic interference (IEMI). Especially for communication systems new
waveforms will develop in the future. Presently technical expertise is needed to estimate
whether a measurement with a specific transient signal can be performed in a specific TEM
waveguide. To evaluate future new waveforms in TEM waveguides, and to offer a manageable
TEM waveguide transmission qualification method, Annex I provides a new test set-up and a
TEM waveguide qualification and characterization method.
The TEM waveguide characterization method can be applied to any arbitrary waveform. The
primary E-field component E y of the signal is measured at a reference position and at discrete
points within the test volume of the TEM waveguide. The correlation of the reference signal and
the test volume signal represents the quality of the shape–inherent signal transmission [10].
I.2 Test equipment
The measuring system, apart from the probe, should be intrinsically insensitive to the
electromagnetic radiation in the TEM waveguide. Therefore, the measurement method should
involve the use of a fiber-optic signal transmission link capable of measuring signals and
transmitting them to an oscilloscope without interfering with the EM field in the test volume.
The characterization should be performed in the time domain. The recommended

characteristics of the measuring system are as follows:
– two identical E-field probes, with bandwidth according to the chosen arbitrary transient
waveform;
– an oscilloscope with a bandwidth and a sampling rate in accordance Shannon’s Theorem
relative to the transient signal;
– a transient waveform generator with an internal resistance matched to the TEM waveguide’s
characteristic impedance.
I.3 Test set-up
To evaluate a TEM waveguide’s transmission quality, the so-called reference signal and the
signals in the test volume are measured. The usable test volume of a TEM waveguide (see
Figure D.7 to Figure D.11 in Clause D.8) depends on the "uniform area" as defined in 5.2.2.
The field uniformity verification (5.2.2.2) and the TEM mode verification (5.2.2.3) are required
for the TEM waveguide transient characterization [25].
– 104 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
The test section, marked in Figure I.1a) and Figure I.1b) (see Clause I.7), is equivalent to the
uniform area as defined in 5.2.2. The number of test points for TEM waveguide transient
characterization should be chosen according to 5.2.2. At these test points the primary field
component E y should be recorded. The reference position should be located as close as
possible to the feed section within the TEM waveguide and centred relative to the
septum (Figure I.1a)). Furthermore, the field probe used should be small in comparison to the
cross section of the TEM waveguide, to avoid field distortions. In the y-direction the reference
position should be in the middle of the actual septum height at the feed section. At both positions,
identical E-field probes should be used, so that their influence on the measured signal does not
have to be taken into account because of the mathematical properties of the Pcc.
I.4 TEM waveguide characterization by correlation
In order to provide a quick evaluation based on only one qualifying parameter, every measured
signal in the test section should be correlated with the reference signal. To do so both signals
should be windowed [11]. The window should be selected such that the remaining signal
contains the most relevant information and, depending on the waveform’s characteristics,
contains reflections. The specifications given in the following paragraph can be understood as
an example for transients with a double exponential envelope, as shown in Figure I.2
(see Clause I.7).
Signal windowing:
– tstart : time, when 5 % of the maximum of E y is reached;
– tlength : consists of two time lengths; tlength1 describes the time between the first exceeding
for example 5 % of the peak value ( tstart ) till the last fall below 5 %, and tlength2 can be
calculated to twice the propagation time from the measuring position to the absorber tips
according to Figure I.1a), where dabs is the distance to the absorber tips and c0 the speed
of light in free space.
NOTE 1 tstart can be chosen at a rise time of less than 10 % if the signal-to-noise ratio of the signals in the reference
position and in the test volume is sufficient to allow a precise time mapping.
The beginning of the signal window for the reference signal and the signals within the test
volume is defined by the minimum clearly detectable amplitude – for example 5 % of E y,max .
The signal length depends on the signal itself, as well as on the location of the uniform area
and its distance to the absorber tips, so that relevant reflections are also covered by the signal
window.
At the reference position, no higher order modes are capable of propagating and no signal
distortions will appear. Thus, the reference signal corresponds to the original signal, which is
supplied by the signal generator and contains only those transformations caused by the
measuring system.
The windowed signals are correlated on basis of Equation (I.1), where the overbar denotes the
mean value of a measurand.
N
1
N
∑ ( E y,r ( k ) − E y,r ) ( E y,s ( k ) − E y,s )
( )
ρ E y,r , E y,s =
N
k =1
(I.1)
1 1 N
( ) ( )
2 2
∑ y,r
E
N k 1=
( k ) − E y, r ⋅ ∑ E ( k ) − E y,s
N k 1 y,s
=
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 105 –
NOTE 2 E y,r is the y component of the signal at the reference position, E y,s is the y-component of the signal in the
test volume, k is the sample index, and N is the total number of samples.
NOTE 3 The magnitude of the measured E-field does not have an impact on the Pcc, so there is no normalization
of E y,r and E y,s .
The correlation coefficient can be visualized by means of a heat map for a good overview of the
transmission quality of the investigated TEM waveguide; Figure I.3 shows an example (see
Clause I.7). Such a heat map reveals the limits of the test volume and shows influences of the
TEM waveguide structures, for example EM field distortions due to the TEM waveguide access
door.
I.5 Quantification of the Pcc
To quantify the level of distortion, or to verify if a signal is transmitted undistorted, a threshold

shall be defined for the Pcc.
In C.2.1 the double exponential pulse, the only standardized waveform, is defined by its rise
time trise and its pulse width f fwhm , with the following tolerances:
– trise between 10 % and 90 % of the peak value shall be 2,5 ns ± 0,5 ns
– f fwhm shall be 23 ns ± 5 ns
To give an example the Pcc of a double exponential pulse with trise = 2,25 ns and tfwhm = 25 ns
and a pulse with trise = 2,5 ns and tfwhm = 30 ns, generated by an arbitrary vector signal
generator and measured by an oscilloscope, is calculated to ρ = 0,994 (  99,4 % ) , a deviation
of 0,6 % [11].
Taking into account a typical measurement set-up and measurement uncertainty, the Pcc
should not be less than ρ = 0,9 , which can be understood as a reference value for any arbitrary
transient test signal. The final limit value of the Pcc for a specific transient waveform should be
set by the product committees.
I.6 Performable transient test signals
Basically, any transient signal can be used for TEM waveguide evaluation. It should be noted
that an ultra-wideband transient signal, like a double exponential pulse described in C.2.1, is
an adequate waveform to qualify a TEM waveguide over a wide frequency band. However, it
does not provide sufficient evaluation used on its own. In case of undistorted transmission of a
double exponential pulse it is not warranted that every arbitrary signal with a mid-band
frequency in the spectrum of the double exponential pulse can also be transmitted without
distortion. Therefore, it is essential to perform an evaluation of the intended waveform during
the TEM waveguide evaluation.
– 106 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
I.7 Figures for Annex I
a) Side view
b) Cross section view
Figure I.1 – Test set-up

IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 107 –
Figure I.2 – Signal windowing
Figure I.3 – Example of a heatmap – Pcc for a test point in the uniform area
– 108 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
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Receivers for A3E or F3E emissions
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___________
___________
2 This publication has been withdrawn.
– 114 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
SOMMAIRE
AVANT-PROPOS ................................................................................................................ 119
INTRODUCTION ................................................................................................................. 121
1 Domaine d'application ................................................................................................. 122
2 Références normatives ................................................................................................ 122
3 Termes, définitions et termes abrégés ......................................................................... 123
3.1 Termes et définitions .......................................................................................... 123
3.2 Termes abrégés .................................................................................................. 126
4 Généralités .................................................................................................................. 127
5 Exigences concernant les guides d’onde TEM ............................................................. 128
5.1 Généralités ......................................................................................................... 128
5.2 Exigences générales pour l’utilisation des guides d’onde TEM ............................ 128
5.2.1 Volume d’essai et taille maximale de l'EUT .................................................. 128
5.2.2 Validation du volume d’essai utilisable ......................................................... 129
5.3 Exigences et recommandations spéciales pour certains types de guides
d’onde TEM ........................................................................................................ 135
5.3.1 Montage de guides d’onde TEM ouverts ...................................................... 135
5.3.2 Autre vérification du mode TEM pour un guide d’onde TEM à deux
accès ........................................................................................................... 136
5.3.3 Génération du mode TEM pour un guide d’onde TEM à quatre accès .......... 136
5.4 Figures de l'Article 5 ........................................................................................... 137
6 Vue d’ensemble des types d'EUT ................................................................................ 139
6.1 Généralités ......................................................................................................... 139
6.2 EUT de petite taille ............................................................................................. 139
6.3 EUT de grande taille ........................................................................................... 139
7 Conditions d’essai en laboratoire ................................................................................. 139
7.1 Généralités ......................................................................................................... 139
7.2 Conditions climatiques ........................................................................................ 139
7.3 Conditions électromagnétiques ........................................................................... 139
8 Évaluation et consignation des résultats d’essai .......................................................... 140
Annex A (normative) Mesurages des émissions dans les guides d'onde TEM .................... 141
A.1 Aperçu ................................................................................................................ 141
A.2 Matériel d’essai ................................................................................................... 141
A.3 Corrélation des tensions des guides d’onde TEM avec les données
d'amplitude du champ électrique ......................................................................... 142
A.3.1 Généralités .................................................................................................. 142
A.3.2 Algorithmes de corrélation ........................................................................... 142
A.4 Facteurs de correction des mesures d'émission .................................................. 147
A.4.1 Sources d’émission de référence ................................................................. 147
A.4.2 Installation des EUT de petite taille .............................................................. 148
A.4.3 Calcul du facteur de correction pour les EUT de petite taille ........................ 148
A.5 Procédures de mesure des émissions dans les guides d’onde TEM .................... 150
A.5.1 Type d'EUT.................................................................................................. 150
A.5.2 Montage de l'EUT ........................................................................................ 151
A.6 Rapport d'essai ................................................................................................... 152
A.7 Figures de l’Annex A ........................................................................................... 153
Annex B (normative) Essais d’immunité dans les guides d’onde TEM ................................ 158
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 115 –
B.1 Aperçu ................................................................................................................ 158

B.2 Matériel d'essai ................................................................................................... 158
B.2.1 Généralités .................................................................................................. 158
B.2.2 Description de l’installation d’essai .............................................................. 158
B.3 Étalonnage de la zone d'uniformité du champ ..................................................... 159
B.4 Niveaux d'essai ................................................................................................... 159
B.5 Montage d'essai .................................................................................................. 159
B.5.1 Installation des équipements de table .......................................................... 159
B.5.2 Installation des équipements posés au sol ................................................... 160
B.5.3 Installation du câblage ................................................................................. 160
B.6 Procédures d'essai ............................................................................................. 160
B.7 Résultats et rapport d’essai ................................................................................ 161
B.8 Figures de l’Annex B ........................................................................................... 161
Annex C (normative) Essais de transitoires IEM-HA dans les guides d’onde TEM .............. 163
C.1 Aperçu ................................................................................................................ 163
C.2 Essais d'immunité ............................................................................................... 163
C.2.1 Généralités .................................................................................................. 163
C.2.2 Installations d’essai pour les perturbations rayonnées ................................. 164
C.2.3 Exigences du spectre dans le domaine fréquentiel ....................................... 165
C.3 Matériel d'essai ................................................................................................... 165
C.4 Montage d’essai .................................................................................................. 166
C.5 Procédure d'essai ............................................................................................... 166
C.5.1 Généralités .................................................................................................. 166
C.5.2 Niveau de sévérité et expositions d’essai .................................................... 167
C.5.3 Procédure d'essai ........................................................................................ 167
C.5.4 Exécution de l’essai ..................................................................................... 168
C.5.5 Exécution de l’essai d’immunité aux perturbations rayonnées ...................... 169
C.6 Figure de l’Annex C ............................................................................................ 169
Annex D (informative) Caractérisation des guides d’onde TEM .......................................... 170
D.1 Aperçu ................................................................................................................ 170
D.2 Distinction entre impédance d’onde et impédance caractéristique ....................... 170
D.3 Onde TEM .......................................................................................................... 171
D.3.1 Généralités .................................................................................................. 171
D.3.2 Mode TEM en espace libre .......................................................................... 171
D.3.3 Guides d’onde ............................................................................................. 171
D.4 Propagation d’onde ............................................................................................. 172
D.4.1 Généralités .................................................................................................. 172
D.4.2 Propagation sphérique ................................................................................. 172
D.4.3 Propagation d’onde plane en espace libre ................................................... 172
D.4.4 Vitesse de propagation ................................................................................ 172
D.5 Polarisation ......................................................................................................... 172
D.6 Types de guides d’onde TEM .............................................................................. 173
D.6.1 Généralités .................................................................................................. 173
D.6.2 Guides d’onde TEM ouverts (lignes ouvertes, etc.) ...................................... 174
D.6.3 Guides d’onde TEM fermés (cellules TEM) .................................................. 174
D.7 Limitations de fréquence ..................................................................................... 174
D.8 Figures de l’Annex D ........................................................................................... 175
Annex E (informative) Méthode d’étalonnage pour les sondes de champ électrique
dans les guides d’onde TEM ........................................................................................ 183
– 116 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
E.1 Aperçu ................................................................................................................ 183

E.2 Exigences pour l’étalonnage des sondes ............................................................ 183
E.2.1 Généralités .................................................................................................. 183
E.2.2 Plage de fréquences d’étalonnage ............................................................... 183
E.2.3 Volume d'étalonnage ................................................................................... 184
E.2.4 Dimensions des sondes ............................................................................... 184
E.2.5 Perturbations des champs du guide d’onde TEM dues à la sonde ................ 184
E.2.6 Paliers de fréquence .................................................................................... 185
E.2.7 Amplitude de champ .................................................................................... 185
E.3 Exigences pour les instruments d’étalonnage ...................................................... 186
E.3.1 Spécifications du guide d’onde TEM ............................................................ 186
E.3.2 Harmoniques et signaux parasites ............................................................... 186
E.3.3 Fixation de la sonde .................................................................................... 187
E.3.4 Mesure de la puissance nette fournie à un dispositif d’émission au
moyen de coupleurs directionnels ................................................................ 187
E.4 Étalonnage de la sonde de champ électrique ...................................................... 188
E.4.1 Méthodes d'étalonnage ................................................................................ 188
E.4.2 Procédure d’étalonnage à l'aide d'un guide d’onde TEM à deux accès ......... 188
E.4.3 Procédure d’étalonnage à l'aide d'un guide d’onde TEM à un accès ............ 189
E.5 Figures de l’Annex E ........................................................................................... 192
Annex F (informative) Incertitude d'instrumentation des résultats de mesure des
émissions .................................................................................................................... 194
F.1 Mesurages des perturbations rayonnées à l'aide d'un guide d'onde TEM ............ 194
F.1.1 Mesurande pour les mesurages des perturbations rayonnées à l'aide
d'un guide d'onde TEM ................................................................................ 194
F.1.2 Symboles des grandeurs d'entrée communes à tous les mesurages de
perturbations ............................................................................................... 194
F.1.3 Symboles des grandeurs d'entrée spécifiques aux mesurages de guide
d'onde TEM ................................................................................................. 194
F.2 Grandeurs d'entrée à prendre en considération pour les mesurages des
perturbations rayonnées à l'aide d'un guide d'onde TEM ..................................... 194
F.3 Budget d'incertitude et justification des grandeurs d'entrée pour les
mesurages des perturbations rayonnées à l'aide d'un guide d'onde TEM ............ 195
F.3.1 Budget d'incertitude pour les mesurages des perturbations rayonnées à
l'aide d'un guide d'onde TEM ....................................................................... 195
F.3.2 Justification des estimations des grandeurs d'entrée pour les
mesurages des perturbations rayonnées à l'aide d'un guide d'onde TEM ..... 196
F.4 Figures de l’Annex F ........................................................................................... 203
Annex G (informative) Incertitude de mesure de l'essai d'immunité en raison des
instruments d'essai ...................................................................................................... 204
G.1 Symboles généraux ............................................................................................ 204
G.2 Symbole et définition du mesurande ................................................................... 204
G.3 Symboles pour les grandeurs d'entrée ................................................................ 204
G.4 Exemple: Budget d'incertitude pour l'essai d'immunité ........................................ 204
G.5 Justification des estimations des grandeurs d'entrée ........................................... 205
Annex H (informative) Corrélation des limites d'émission et d'immunité entre les
installations d'essai CEM ............................................................................................. 208
H.1 Aperçu ................................................................................................................ 208
H.2 Dipôle en espace libre (représentant le montage en FAR) ................................... 208
H.3 Dipôle en demi-espace (représentant un montage en OATS ou SAC) ................. 210
H.4 Dipôle dans une ligne de transmission en mode TEM ......................................... 211
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 117 –
H.5 Dipôle dans une chambre réverbérante ............................................................... 212

H.6 Corrélation .......................................................................................................... 213
H.7 Exemple de limites d'émission ............................................................................ 214
H.8 Figures de l’Annex H ........................................................................................... 215
Annex I (informative) Caractérisation des transitoires du guide d'onde TEM ...................... 219
I.1 Aperçu ................................................................................................................ 219
I.2 Matériel d'essai ................................................................................................... 219
I.3 Montage d’essai .................................................................................................. 219
I.4 Caractérisation du guide d'onde TEM par corrélation .......................................... 220
I.5 Quantification du Pcc .......................................................................................... 221
I.6 Signaux d'essai transitoires réalisables ............................................................... 221
I.7 Figures de l’Annex I ............................................................................................ 222
Bibliographie ....................................................................................................................... 224
Figure 1 – Organigramme du mode TEM et de la procédure de vérification de

l'uniformité du champ avec la méthode de "puissance incidente constante"
(voir 5.2.2.4.1) .................................................................................................................... 137
l'uniformité du champ avec la méthode d'amplitude de champ constante (voir 5.2.2.4.2) ..... 138
Figure A.1 – Acheminement du câble de sortie vers le coin à l’orthoangle et le bord
inférieur du volume d’essai dans un guide d'onde TEM (voir A.5.2) ..................................... 153
Figure A.2 – Positionneur EUT d’orthoaxe ou manipulateur de base (voir 3.1.13,
A.4.2, A.5.1.2, A.5.2) .......................................................................................................... 154
Figure A.3 – Modèle de puce et alignement de l'axe d'un EUT [26] (voir A.3.2.3.2) ............. 155
Figure A.4 – Orientations non redondantes à douze faces/axes pour un EUT typique
[26] (voir A.3.2.3.2) ............................................................................................................. 156
Figure A.5 – Géométrie de mesures des émissions dans l'emplacement d’essai ouvert
(OATS) (voir A.3.2.4) .......................................................................................................... 157
Figure B.1 – Exemple de montage d’essai pour guide d’onde TEM à polarisation
unique (voir Article 0) .......................................................................................................... 161
Figure B.2 – Points d’étalonnage de la zone uniforme dans un guide d’onde TEM
(voir Article B.3) .................................................................................................................. 162
Figure C.1 – Amplitude spectrale dans le domaine de fréquences de la forme d'onde
d'impulsions, comprise entre 100 kHz et 300 MHz (voir C.2.1) ............................................ 169
Figure D.1 – Guide d’onde simple (pas de mode TEM) (voir D.3.3) ..................................... 175
Figure D.2 – Exemple de guides d’onde prenant en charge la propagation en mode
TEM (voir D.3.3) ................................................................................................................. 175
Figure D.3 – Vecteur de polarisation de champ électrique (voir Article D.5) ........................ 176
Figure D.4 – Modèle de ligne de transmission simple pour propagation de mode TEM
(voir D.6.1) ......................................................................................................................... 176
Figure D.5 – Concepts de guides d’onde TEM à un et deux accès (voir D.6.1) .................... 176
Figure D.6 – Fonctionnement des guides d'onde TEM à quatre accès (voir D.6.1) .............. 176
Figure D.7 – Cellule TEM à deux accès (septum symétrique) (voir D.6.1 et D.6.3) .............. 177
Figure D.8 – Cellule TEM à un accès (septum asymétrique) (voir D.6.1 et D.6.3) ................ 178
Figure D.9 – Ligne ouverte (deux plaques) (voir D.6.1 et D.6.2) .......................................... 180
Figure D.10 – Ligne ouverte (quatre plaques, alimentation équilibrée) (voir D.6.1) .............. 181
Figure D.11 – Guide d'onde TEM à quatre accès (septums parallèles symétriques)
(voir D.6.1 et D.6.3) ............................................................................................................ 182
– 118 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
Figure E.1 – Exemple de points d'essai pour la validation du volume d'étalonnage

(voir E.2.3) .......................................................................................................................... 192
Figure E.2 – Montage pour la validation des perturbations de la sonde (voir E.2.5) ............. 192
Figure E.3 – Montage pour la mesure de la puissance nette vers un dispositif
d’émission (pas à l'échelle) (voir E.3.4) ............................................................................... 192
Figure E.4 – Exemple de montage d’étalonnage d’une sonde de champ électrique
avec un guide d'onde TEM à deux accès (voir E.4.2) .......................................................... 193
Figure E.5 – Exemple de montage d'étalonnage d'une sonde de champ électrique
avec un guide d'onde TEM à un accès et par une autre méthode (voir E.4.3.2) ................... 193
Figure E.6 – Circuit équivalent de l'antenne unipolaire et appareil de mesure (voir E.4.3.3) 193
Figure F.1 – Écart d'indication du niveau de détecteur de quasi-crête par rapport au
niveau du signal à l'entrée du récepteur pour deux cas: un signal sinusoïdal et un
signal impulsif avec une fréquence de répétition d’impulsion de 100 Hz .............................. 203
Figure F.2 – Écart d'indication du niveau de détecteur de crête par rapport au niveau
du signal à l'entrée du récepteur pour deux cas: un signal sinusoïdal et un signal
impulsif avec une fréquence de répétition d’impulsion de 100 Hz) ....................................... 203
Figure H.1 – Représentation d'un dipôle court à alimentation centrale et d'une source
plus générale représentant un EUT (voir Article H.2) .......................................................... 215
Figure H.2 – Source verticale et dipôles de réception situés sur un plan de sol
parfaitement conducteur d'étendue infinie (voir Article H.3) ................................................. 216
Figure H.3 – Deux types de cellules TEM avec une source dipolaire à polarisation
verticale et dont la géométrie entre l'accès source et l'accès de réception est définie
(voir Article H.4) .................................................................................................................. 217
Figure H.4 – Chambre réverbérante avec une source dipolaire, un dispositif de
brassage pour rendre aléatoires les champs et une antenne de réception générale
(voir Article H.5) .................................................................................................................. 218
Figure H.5 – Limites d'émission de Classe A et de Classe B du guide d'onde TEM
corrélées à partir de la CISPR 32 [68], (voir Article H.7) ..................................................... 218
Figure I.1 – Montage d’essai ............................................................................................... 222
Figure I.2 – Fenêtrage du signal ......................................................................................... 223
Figure I.3 – Exemple de carte thermique – Pcc pour un point d'essai dans la zone
uniforme ............................................................................................................................. 223
Tableau 1 – Valeurs k pour l’incertitude élargie pour des résultats à distribution normale ... 131
Tableau B.1 – Points d’étalonnage de la zone uniforme ...................................................... 159
Tableau B.2 – Niveaux d'essai ............................................................................................ 159
Tableau C.1 – Niveaux d’essai d’immunité aux perturbations rayonnées définis dans
le présent document ........................................................................................................... 164
Tableau E.1 – Fréquences d'étalonnage ............................................................................. 185
Tableau E.2 – Niveau de l’amplitude du champ d’étalonnage .............................................. 186
Tableau F.1 – Budget d'incertitude pour les résultats de mesure des perturbations
rayonnées à l'aide d'un guide d'onde TEM entre 30 MHz et 1 000 MHz (exemple) .............. 195
rayonnées à l'aide d'un guide d'onde TEM entre 1 GHz et 6 GHz (exemple) ....................... 196
Tableau F.3 – Valeurs de S lim entre 30 MHz et 1 000 MHz ................................................. 198
Tableau F.4 – Valeurs de S lim entre 1 GHz et 6 GHz .......................................................... 199
Tableau G.1 – Exemple de budget d'incertitude du niveau d'essai d'immunité ..................... 205
Tableau H.1 – Récapitulatif des paramètres de corrélation d'émission ................................ 214
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 119 –
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

____________
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –
Partie 4-20: Techniques d’essai et de mesure –

Essais d’émission et d’immunité dans les guides d’onde TEM
AVANT-PROPOS
1) La Commission Electrotechnique Internationale (IEC) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de l’IEC). L’IEC a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. À cet effet, l’IEC – entre autres activités – publie des Normes internationales,
des Spécifications techniques, des Rapports techniques, des Spécifications accessibles au public (PAS) et des
Guides (ci-après dénommés "Publication(s) de l’IEC"). Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux
travaux desquels tout Comité national intéressé par le sujet traité peut participer. Les organisations
internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l’IEC, participent également aux
travaux. L’IEC collabore étroitement avec l'Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des
conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de l’IEC concernant les questions techniques représentent, dans la mesure du
possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux de l’IEC intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les Publications de l’IEC se présentent sous la forme de recommandations internationales et sont agréées
comme telles par les Comités nationaux de l’IEC. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que l’IEC
s'assure de l'exactitude du contenu technique de ses publications; l’IEC ne peut pas être tenue responsable de
l'éventuelle mauvaise utilisation ou interprétation qui en est faite par un quelconque utilisateur final.
4) Dans le but d'encourager l'uniformité internationale, les Comités nationaux de l’IEC s'engagent, dans toute la
mesure possible, à appliquer de façon transparente les Publications de l’IEC dans leurs publications nationales
et régionales. Toutes divergences entre toutes Publications de l’IEC et toutes publications nationales ou
régionales correspondantes doivent être indiquées en termes clairs dans ces dernières.
5) L’IEC elle-même ne fournit aucune attestation de conformité. Des organismes de certification indépendants
fournissent des services d'évaluation de conformité et, dans certains secteurs, accèdent aux marques de
conformité de l’IEC. L’IEC n'est responsable d'aucun des services effectués par les organismes de certification
indépendants.
6) Tous les utilisateurs doivent s'assurer qu'ils sont en possession de la dernière édition de cette publication.
7) Aucune responsabilité ne doit être imputée à l’IEC, à ses administrateurs, employés, auxiliaires ou mandataires,
y compris ses experts particuliers et les membres de ses comités d'études et des Comités nationaux de l’IEC,
pour tout préjudice causé en cas de dommages corporels et matériels, ou de tout autre dommage de quelque
nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les coûts (y compris les frais de justice) et les dépenses
découlant de la publication ou de l'utilisation de cette Publication de l’IEC ou de toute autre Publication de l’IEC,
ou au crédit qui lui est accordé.
8) L'attention est attirée sur les références normatives citées dans cette publication. L'utilisation de publications
référencées est obligatoire pour une application correcte de la présente publication.
9) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments du présent document de l'IEC peuvent faire l’objet de
droits de brevet. L’IEC ne saurait être tenue pour responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de brevets.
La Norme internationale IEC 61000-4-20 a été établie par le sous-comité 77B: Phénomènes
haute fréquence du comité d'études 77 de l'IEC: Compatibilité électromagnétique, en
collaboration avec le sous-comité A du CISPR (Comité international spécial des perturbations
radioélectriques): Mesures des perturbations radioélectriques et méthodes statistiques.
Elle constitue la partie 4-20 de l'IEC 61000. Elle a le statut d'une publication fondamentale en
CEM conformément au Guide IEC 107.
Cette troisième édition annule et remplace la deuxième édition parue en 2010. Cette édition
constitue une révision technique.
Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition
précédente:
– 120 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
a) fournir des informations relatives aux essais d'EUT volumineux (y compris les câbles);
b) appliquer les travaux sur les incertitudes de mesure par adaptation des travaux réalisés par
le CISPR et le CE 77 (pour les émissions et l'immunité);
c) mettre à jour la procédure de validation pour le volume d'essai en ce qui concerne la
vérification de l'uniformité du champ et du mode TEM;
d) fournir des informations relatives aux guides d'onde TEM à deux accès et à quatre accès;
e) ajouter une nouvelle annexe informative (Annex I) qui traite de la caractérisation du guide
d'onde TEM transitoire; et
f) ajouter des informations qui traitent des bancs d'essais diélectriques des EUT.
Le texte de cette Norme internationale est issu des documents suivants:
Projet Rapport de vote

77B/853/FDIS 77B/855/RVD
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à son approbation.
La langue employée pour l'élaboration de cette Norme internationale est l'anglais.
Ce document a été rédigé selon les Directives ISO/IEC, Partie 2, il a été développé selon les
Directives ISO/IEC, Partie 1 et les Directives ISO/IEC, Supplément IEC, disponibles sous
www.iec.ch/members_experts/refdocs. Les principaux types de documents développés par
l'IEC sont décrits plus en détail sous www.iec.ch/publications/.
Une liste de toutes les parties de la série IEC 61000, publiées sous le titre général Compatibilité
électromagnétique, se trouve sur le site web de l'IEC.
Le comité a décidé que le contenu de ce document ne sera pas modifié avant la date de stabilité
indiquée sur le site web de l'IEC sous webstore.iec.ch dans les données relatives au document
recherché. À cette date, le document sera
• reconduit,
• supprimé,
• remplacé par une édition révisée, ou
• amendé.
IMPORTANT – Le logo "colour inside" qui se trouve sur la page de couverture de cette
publication indique qu'elle contient des couleurs qui sont considérées comme utiles à une
bonne compréhension de son contenu. Les utilisateurs devraient, par conséquent, imprimer
cette publication en utilisant une imprimante couleur.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 121 –
INTRODUCTION
L'IEC 61000 est publiée sous forme de plusieurs parties selon la structure suivante:
Partie 1: Généralités
Considérations générales (introduction, principes fondamentaux)

Définitions, terminologie
Partie 2: Environnement
Description de l’environnement
Classification de l’environnement
Niveaux de compatibilité
Partie 3: Limites
Limites d'émission
Limites d’immunité (dans la mesure où elles ne relèvent pas de la responsabilité des comités
de produits)
Partie 4: Techniques d’essai et de mesure
Techniques de mesure
Techniques d'essai
Partie 5: Lignes directrices d’installation et d’atténuation
Lignes directrices d'installation

Méthodes et dispositifs d’atténuation
Partie 6: Normes génériques
Partie 9: Divers
Chaque partie est ensuite subdivisée en plusieurs parties, publiées soit comme normes
internationales, soit comme spécifications techniques ou rapports techniques, dont certaines
ont déjà été publiées en tant que sections. D’autres sont et seront publiées avec le numéro de
la partie suivi d’un tiret et complété d’un second chiffre qui identifie la subdivision (exemple:
IEC 61000-6-1).
La présente partie est une Norme internationale qui spécifie les exigences des essais
d’émission, d’immunité et de transitoires IEM-HA et IEMI.
– 122 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
COMPATIBILITÉ ÉLECTROMAGNÉTIQUE (CEM) –
Partie 4-20: Techniques d’essai et de mesure –

Essais d’émission et d’immunité dans les guides d’onde TEM
1 Domaine d'application
La présente partie de l'IEC 61000 concerne les méthodes d’essai d’émission et d’immunité pour
les matériels électriques et électroniques qui utilisent différents types de guides d’onde
transverses électromagnétiques (TEM). Ces types comprennent des structures ouvertes (par
exemple, des lignes ouvertes et des simulateurs d’impulsion électromagnétique), et des
structures fermées (par exemple, des cellules TEM), qui peuvent être elles-mêmes classées en
guides d’onde TEM à un accès, à deux accès, ou à accès multiples. La plage de fréquences
dépend des exigences d’essai spécifiques et du type spécifique de guide d’onde TEM.
L’objet du présent document est de décrire
– les caractéristiques des guides d’onde TEM, y compris les plages de fréquences types et
les limites de tailles des équipements en essai (EUT);
– les méthodes de validation des guides d’onde TEM pour les essais de compatibilité
électromagnétique CEM;
– la définition de l'EUT (c’est-à-dire l’armoire et le câblage de l'EUT);
– les montages d’essai, les procédures et les exigences relatives aux mesurages d’émissions
rayonnées dans les guides d’onde TEM; et
– les montages d'essai, les procédures et les exigences pour les essais d’immunité rayonnée
dans les guides d’onde TEM.
NOTE Dans le présent document, les méthodes d’essai sont définies afin de mesurer les effets des rayonnements
électromagnétiques sur les matériels et les émissions électromagnétiques des matériels concernés. La simulation et
le mesurage des rayonnements électromagnétiques ne sont pas suffisamment exacts pour une détermination
quantitative des effets sur toutes les installations d'utilisation finale. Les méthodes d’essai définies sont structurées
avec l’objectif premier d'établir une reproductibilité adéquate des résultats dans différentes installations d’essai pour
des analyses qualitatives des effets.
Le présent document ne vise pas à spécifier les essais à appliquer à des appareils ou à un ou
des systèmes particuliers. Le but principal présent document est de donner une référence de
base d'ordre général à tous les comités de produits IEC concernés. Pour les mesurages
d’émission rayonnée, les comités de produits sélectionnent des limites d’émission et des
méthodes de mesure en consultation avec les normes CISPR. Pour les essais d’immunité
rayonnée, les comités de produits restent responsables du choix approprié des essais
d’immunité et des limites qui y sont associées, à appliquer aux matériels qui relèvent de leur
domaine d’application. Le présent document décrit des méthodes d'essai qui sont
indépendantes de celles de l'IEC 61000-4-3 [34]. 1
2 Références normatives
Les documents suivants sont cités dans le texte de sorte qu’ils constituent, pour tout ou partie
de leur contenu, des exigences du présent document. Pour les références datées, seule
___________
1 Les chiffres entre crochets renvoient à la Bibliographie.
Ces autres méthodes d'essai distinctes peuvent être utilisées lorsqu'elles sont ainsi spécifiées par les comités de
produits, en consultation avec le CISPR et le CE 77.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 123 –
l’édition citée s’applique. Pour les références non datées, la dernière édition du document de
référence s'applique (y compris les éventuels amendements).
IEC 60050-161, Vocabulaire Électrotechnique International – Partie 161: Compatibilité

électromagnétique
CISPR 16-1-1, Spécifications des méthodes et des appareils de mesure des perturbations
radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques – Partie 1-1: Appareils de
mesure des perturbations radioélectriques et de l’immunité aux perturbations radioélectriques
– Appareils de mesure
CISPR 16-1-4, Spécifications des méthodes et des appareils de mesure des perturbations
radioélectriques et de l'immunité aux perturbations radioélectriques – Partie 1-4: Appareils de
mesure des perturbations radioélectriques et de l’immunité aux perturbations
radioélectriques – Antennes et emplacements d’essai pour les mesures des perturbations
rayonnées
3 Termes, définitions et termes abrégés
3.1 Termes et définitions
Pour les besoins du présent document, les termes et définitions de l'IEC 60050-161 ainsi que
les suivants, s'appliquent.
L'ISO et l'IEC tiennent à jour des bases de données terminologiques destinées à être utilisées
en normalisation, consultables aux adresses suivantes:
• IEC Electropedia: disponible à l'adresse http://www.electropedia.org/

• ISO Online browsing platform: disponible à l'adresse
3.1.1
matériau anéchoïque
matériau qui présente la propriété d’absorber, ou sinon de réduire, le niveau d’énergie
électromagnétique réfléchie par ce matériau
3.1.2
terminaison de ligne de transmission à large bande
terminaison qui combine une charge discrète basse fréquence, pour s’adapter à l’impédance
caractéristique des guides d’onde TEM (normalement 50 Ω) à un volume de matériau
anéchoïque haute fréquence
3.1.3
impédance caractéristique
pour tout front d’onde de phase constant, amplitude du rapport de la tension entre le conducteur
intérieur et le conducteur extérieur, sur le courant dans l’un des conducteurs, et qui ne dépend
pas des amplitudes tension/courant, mais qui dépend en revanche de la seule géométrie de
section de la ligne de transmission
Note 1 à l'article: Les guides d’onde TEM sont normalement conçus pour avoir une impédance caractéristique
de 50 Ω. Les guides d’onde TEM avec une impédance caractéristique de 100 Ω sont souvent utilisés pour les essais
de transitoires.
3.1.4
algorithme de corrélation
routine mathématique de conversion des mesurages de tension des guides d’onde TEM en
niveaux d’amplitude de champ d’emplacements d’essai ouverts (OATS – open-area test sites),
en chambre semi-anéchoïque (SAC – semi-anechoic chamber), ou en niveaux d’amplitude de
champ en espace libre
– 124 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
3.1.5
type d'EUT
groupe de produits dont les caractéristiques électromagnétiques sont suffisamment similaires
pour permettre des essais avec la même installation d’essai et le même protocole d’essai
3.1.6
câble de sortie
câble qui relie l'EUT aux matériels externes au guide d’onde TEM ou au câble qui sort du
volume d’essai utilisable
Note 1 à l'article: Le volume d'essai utilisable est spécifié en 5.2.1.
3.1.7
puissance incidente
P fwd
puissance appliquée à l'accès du guide d'onde
3.1.8
puissance incidente pour les essais d'immunité
P test
puissance incidente exigée pour établir l'amplitude du champ d'essai E test pendant les essais
d'immunité
Note 1 à l'article: Voir l'équation (16) et l’équation (17) pour les méthodes de puissance incidente constante
(5.2.2.4.1) et d'amplitude de champ constante (5.2.2.4.2), respectivement.
3.1.9
guide d'onde TEM à quatre accès
guide d'onde TEM dont les deux extrémités comportent des accès d’entrée/sortie
3.1.10
guide d’onde TEM à hyper-rotation
guide d’onde TEM qui a été réorienté de telle manière que son orthoaxe se trouve
perpendiculaire à la surface de la Terre
Note 1 à l'article: Des informations détaillées supplémentaires sont données en [6].
3.1.11
conducteur intérieur
septum
conducteur intérieur d’un système de ligne de transmission coaxiale, souvent plat dans le cas
d’une section rectangulaire, et qui peut être positionné de manière symétrique ou asymétrique
par rapport au conducteur extérieur
3.1.12
câble d'interconnexion
câble qui relie des sous-composants de l'EUT à l’intérieur du volume d’essai, mais qui ne sort
pas du volume d’essai
3.1.13
manipulateur
tout type de support du montage d’essai non métallique manuel ou automatique semblable à
une table tournante et capable de soutenir un EUT fixé, dans de nombreuses positions exigées
par un algorithme de corrélation ou un protocole d’essai
Note 1 à l'article: Un exemple de manipulateur est présenté à la Figure A.2 de l'Article A.7.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 125 –
3.1.14
guide d'onde TEM à un accès
guide d’onde TEM avec accès unique d’entrée/sortie
Note 1 à l'article: De tels guides d’onde TEM présentent généralement une terminaison de ligne de transmission à
large bande à l’extrémité de l’accès ne servant pas à la mesure.
3.1.15
orthoangle
angle formé par la diagonale d’un cube avec chaque face de côté aux coins trièdres du cube
Note 1 à l'article: Le cube étant réputé aligné avec le système de coordonnées cartésiennes du guide d’onde TEM,
les angles azimutaux et d’élévation de la projection de la diagonale du cube sont de 45° et les angles avec les bords
de face sont de 54,7°.
Note 2 à l'article: La Figure A.2 a) de l'Article A.7 représente un diagramme de l'orthoangle.
Note 3 à l'article: Lorsqu’il est associé à l'EUT, cet angle est généralement désigné comme l’orthoaxe.
3.1.16
conducteur extérieur, enveloppe
conducteur extérieur d’un système de ligne de transmission coaxiale, souvent de section
rectangulaire
3.1.17
composante de champ primaire
composante primaire
composante de champ électrique alignée avec la polarisation d’essai prévue
Note 1 à l'article: Dans les cellules TEM conventionnelles à deux accès, le septum est parallèle au plancher
horizontal et le vecteur du champ électrique de mode primaire est vertical au centre transverse de la cellule TEM.
3.1.18
champ résultant
amplitude
racine carrée de la somme des carrés, exprimés en V/m, de la composante primaire et des
deux composantes de champ électrique secondaires
3.1.19
composante de champ secondaire
composante secondaire
dans un système de coordonnées cartésiennes, une des deux composantes de champ
électrique orthogonales à la composante de champ primaire et orthogonales l’une à l’autre
3.1.20
ligne ouverte
ligne de transmission avec terminaison qui comprend au moins deux plaques parallèles entre
lesquelles une onde se propage en mode électromagnétique transverse pour produire un champ
spécifique à des fins d’essai
Note 1 à l'article: Généralement, les lignes ouvertes comportent des côtés ouverts pour l’accès et la surveillance
de l'EUT.
3.1.21
cellule TEM
guide d’onde TEM fermé, souvent une ligne de transmission coaxiale rectangulaire, dans lequel
une onde se propage en mode électromagnétique transverse pour produire un champ
spécifique à des fins d’essai, un conducteur extérieur enveloppant par ailleurs complètement
un conducteur intérieur
– 126 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
3.1.22
guide d'onde TEM
système de ligne de transmission ouverte ou fermée, dans lequel une onde se propage en mode
électromagnétique transverse pour produire un champ spécifique à des fins d’essai
3.1.23
amplitude du champ d'essai
E test
amplitude du champ de la composante de champ primaire en V/m, utilisée pour les essais
d'immunité
Note 1 à l'article: Différents niveaux de E test sont donnés à l’Annex B.
3.1.24
support du montage d'essai
support non réfléchissant, non conducteur, à faible permittivité, et référence de positionnement
qui permet des rotations précises de l'EUT comme celles exigées par un algorithme de
corrélation ou un protocole d’essai
Note 1 à l'article: La mousse de polystyrène constitue un matériau type. Les supports en bois ne sont pas
recommandés (voir [4]).
3.1.25
mode électromagnétique transverse
mode TEM
mode de guide d’onde dans lequel les composantes des champs électrique et magnétique dans
la direction de propagation sont très inférieures aux composantes de champ primaires dans
toute section transverse
3.1.26
guide d'onde TEM à deux accès
guide d'onde TEM dont les deux extrémités comportent des accès d’entrée/sortie
3.1.27
amplitude du champ de vérification
E verification
amplitude du champ utilisée pour la vérification de la zone uniforme
Note 1 à l'article: Il convient que cette amplitude du champ soit celle à laquelle la sonde de champ a été étalonnée,
de manière à réduire les incertitudes dues à la non-linéarité de la sonde de champ.
3.2 Termes abrégés

BALUN balanced-to-unbalanced (symétriseur)
DFT discrete Fourier transform (transformée de Fourier discrète)
E-field electric field strength (amplitude du champ électrique)
EUT equipment under test (équipement en essai)
FAR fully anechoic room (enceinte complètement anéchoïque)
FFT fast Fourier transform (transformée de Fourier rapide)
FS free space (espace libre)
FSOATS free space open-area test site (emplacement d'essai ouvert en espace libre)
GTEM gigahertz transverse electromagnetic (électromagnétique transverse gigahertz)
IEM-HA impulsion électromagnétique à haute altitude
HS half space (demi-espace)
IEMI interférence électromagnétique intentionnelle
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 127 –
OATS open-area test site (emplacement d’essai ouvert)

Pcc Pearson correlation coefficient (coefficient de corrélation de Pearson)
PDF probability density function (fonction de densité de probabilité)
RC reverberation chamber (chambre réverbérante)
RF radiofréquence
SAC semi-anechoic chamber (chambre semi-anéchoïque)
S/N Signal-to-noise (rapport signal/bruit)
SPD surge protective device (parafoudre)
TDR time-domain reflectometer (réflectomètre temporel)
TE transverse électrique (mode), (mode H)
TEM transverse electromagnetic (mode électromagnétique transverse)
TL transmission line (ligne de transmission)
TM transverse magnétique (mode), (mode E)
UFA uniform field area (zone de champ uniforme)
ROS rapport d’onde stationnaire
4 Généralités
Le présent document décrit les caractéristiques fondamentales et les limitations des guides
d’onde TEM, essentiellement le volume d’essai, l’uniformité de champ, la pureté du mode TEM
et les plages de fréquences. Différentes caractéristiques d’ordre général des guides d’onde
TEM sont décrites à l’Annex D.
Les mesurages des émissions rayonnées dans un guide d’onde TEM sont généralement en
corrélation avec les méthodes de l’emplacement d’essai ouvert (OATS) et de la chambre semi-
anéchoïque (SAC), qui fournissent des résultats de mesure valables et reproductibles du champ
perturbateur émis par les matériels. Dans ce cas, des algorithmes dits de corrélation sont
utilisés pour convertir les résultats des mesures dans les guides d’onde TEM en données
équivalentes OATS, comme cela est décrit à l’Annex A.
Les guides d’onde TEM peuvent également être utilisés comme générateurs de champs pour
les essais d’immunité des matériels aux champs électromagnétiques. Des informations
détaillées sont fournies à l’Annex B et à l’Annex C. L'essai d’immunité dans les guides d’onde
TEM est cité dans plusieurs autres documents énumérés dans la Bibliographie. Les propriétés
de génération de champs peuvent également être utilisées pour mesurer l'amplitude de champ.
Voir d'autres publications énumérées dans la Bibliographie.
Des informations supplémentaires relatives à la caractérisation du guide d'onde TEM, à

l'étalonnage de la sonde d'amplitude du champ électrique (E-field), à l'incertitude de mesure et
à la caractérisation du domaine temporel des guides d'onde TEM sont données à l’Annex D,
l’Annex E, l’Annex F, l’Annex G, l’Annex H, et l’Annex I respectivement.
Les essais avec les guides d’onde TEM ne sont pas limités aux mesurages des émissions
rayonnées sur des matériels complètement assemblés. Ils peuvent également être appliqués à
la vérification des composants, des circuits intégrés et de l’efficacité de blindage des matériaux
des joints d’étanchéité et des câbles. Pour de plus amples informations, voir les autres
publications énumérées dans la Bibliographie.
Dans le présent document, les mesurages CW de l’amplitude du champ électrique sont

exprimés en valeurs efficaces, tandis que les mesurages des transitoires sont exprimés en
valeurs de crête.
– 128 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
5 Exigences concernant les guides d’onde TEM
5.1 Généralités
Les guides d’onde TEM peuvent être utilisés pour les mesurages d’émission et les essais
d’immunité lorsque certaines exigences sont satisfaites. Les méthodes décrites à l’Article 5
doivent être appliquées pour valider un guide d’onde TEM.
L'Article 5 se concentre sur les aspects généraux de validation tels que le mode TEM
fondamental et l’homogénéité du champ. Les exigences spécifiques de validation pour les
mesurages d'émission, les essais d’immunité et les essais de transitoires sont données à
l’Annex A, l’Annex B, et l’Annex C, respectivement.
5.2 Exigences générales pour l’utilisation des guides d’onde TEM
5.2.1 Volume d’essai et taille maximale de l'EUT
La taille maximale d’un EUT est liée à la taille du volume d’essai utilisable dans le guide d’onde
TEM. Le volume d’essai utilisable d’un guide d’onde TEM dépend de sa taille, de la géométrie
et de la distribution spatiale des champs électromagnétiques.
Le volume d'essai utilisable d’un guide d’onde TEM (voir Figure D.6 à Figure D.11 de l’Article
D.8) est établi par la "zone uniforme" telle qu’elle est définie en 5.2.2. La direction de
propagation du mode TEM du guide d’onde (normalement l’axe z) est perpendiculaire à la zone
uniforme (dans un plan transverse, normalement le plan xy). Dans le plan xy, la section entière
du volume d'essai utilisable doit satisfaire aux exigences de la zone uniforme spécifiées
en 5.2.2. La valeur minimale pour la distance h EUT entre l'EUT et chaque conducteur ou
absorbant du guide d’onde (voir Figure D.7 à Figure D.11) est donnée par la distance entre la
limite de la zone uniforme (voir5.2.2) et le conducteur. Cependant, il convient que h EUT ne soit
pas nulle pour éviter l’éventuelle modification de la condition de fonctionnement de l’EUT due
au couplage proche entre l’EUT et des structures conductrices du guide d’onde TEM (il convient
que h EUT soit supérieure à 0,05 h, h étant l'espacement entre les structures conductrices). Le
long de l’axe z (direction de propagation), le volume d’essai utilisable est limité
par zmin ≤ z ≤ zmax , où z min et z max sont établis à l'aide des méthodes décrites dans le présent
Article. La longueur du volume d’essai est = L zmax − zmin . Les exigences du mode TEM d'une
zone uniforme doivent être validées pour des sections à chaque point d'essai z de l'EUT utilisé
avec zmin ≤ z ≤ zmax . En variante, il peut être pris pour hypothèse que les exigences de mode
TEM sont satisfaites pour z compris dans la plage zmin ≤ z ≤ zmax dans les conditions suivantes:
a) si les exigences du mode TEM sont satisfaites à la position zmax , et si la géométrie du

guide d’onde est similaire à l’un des types indiqués de la Figure D.6 à la Figure D.11 avec
un rapport d’aspect de h sur w constant (forme propre) pour 0 ≤ z ≤ z max , ou,
b) si les exigences du mode TEM sont satisfaites aux positions zmax et zmin ≤ z ≤ zmax , et si la
section de guide d’onde est constante ou réduite de manière uniforme pour zmin ≤ z ≤ zmax ,
et les dérivées dh/dz et dw/dz constituent une fonction lisse pour

zmin ≤ z ≤ zmax (pas de
pliures ou de paliers dans les géométries de conducteurs).
La taille maximale d’un EUT est liée à la taille du volume d’essai utilisable. Il doit être vérifié
que l’EUT n’est pas d’une taille supérieure à 0,6 w × 0,6 L (voir Figure D.7 à Figure D.11).
NOTE L'ISO 11452-3 [37] définit une taille d'EUT de 0,33 w × 0,6 L, et la MIL-STD-461G [47]
recommande 0,5 w × 0,5 L.
Il convient que la hauteur maximale utilisable de l’EUT soit de 0,33 h, avec h égale à la distance
entre les conducteurs intérieur et extérieur (espacement entre conducteurs) au centre de l'EUT
dans le volume d’essai (par exemple, entre le septum et la base dans une cellule TEM type).
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 129 –
Pour tous les guides d’onde TEM, l'EUT doit tenir à l’intérieur du volume d’essai utilisable pour
toutes ses positions de rotation.
La plupart des documents réduisent la taille de l'EUT à 0,33 h. La hauteur maximale utilisable
de l'EUT peut être supérieure à 0,33 h si le fabricant ou l'utilisateur donne des informations
concernant l’incertitude de mesure pour des EUT de plus grande taille. Des informations
supplémentaires concernant les effets des guides d’onde chargés sont données en [39] et [40].
5.2.2 Validation du volume d’essai utilisable
5.2.2.1 Généralités
Ce paragraphe utilise le concept de "zone uniforme" qui est une zone hypothétique dans
laquelle les variations de l’amplitude du champ acceptables sont faibles (voir [18]). Les
dimensions physiques du guide d’onde TEM déterminent la taille de cette zone uniforme (plane).
À moins que l’EUT puisse être complètement éclairé sur une surface plus faible, la taille
maximale de l’EUT est également liée à la taille du volume d’essai utilisable (voir 5.2.1).
Si aucune autre définition n'est donnée dans une norme de produit ou par le fabricant du guide
d'onde TEM, il convient que la zone uniforme soit un plan vertical perpendiculaire à la direction
de propagation du champ. Il convient que cette zone uniforme soit un plan unique coïncidant
avec l'avant de l'EUT. Dans cette description, l'utilisation d'un plan vertical part de l'hypothèse
selon laquelle la direction de propagation du mode TEM est presque horizontale (alignée avec
l’axe z) et qu'une propagation des ondes planes est fournie. Si la direction de propagation du
mode TEM est dans une autre direction, le plan de zone uniforme peut être réorienté en
conséquence.
NOTE 1 En règle générale, la forme exacte et l'emplacement de la zone uniforme ne sont pas spécifiés, mais ils
sont déterminés selon les procédures du présent document.
L’utilisation d’une configuration de ligne de transmission du guide d'onde TEM évite les
perturbations dues aux champs réfléchis par le sol comme dans le cas d’un montage d’essai
en chambre semi-anéchoïque; ainsi, des champs uniformes peuvent être établis au voisinage
des conducteurs intérieur et extérieur (dans la direction normale uniquement).
En principe, la zone uniforme peut être située à toute distance de l’accès d’entrée d'un guide
d'onde TEM. L'emplacement dépend de la géométrique spécifique. La zone uniforme est
uniquement valable pour cette distance, à partir de l’accès d’entrée au niveau duquel elle est
validée. Pour permettre la rotation de l'EUT, la zone uniforme doit être espacée d'une distance
au moins supérieure à la plus grande dimension de l’enveloppe de l'EUT à partir de l’extrémité
du volume d’essai utilisable zmax définie en 5.2.1.
La zone uniforme doit être validée dans l’enveloppe vide. La plage de fréquences est comprise
entre la fréquence la plus basse et la fréquence la plus élevée de l'utilisation prévue du guide
d'onde TEM. Lors du balayage des fréquences, le premier palier de fréquence ne doit pas
dépasser 1 % de la fréquence fondamentale, et ensuite 1 % de la fréquence précédente de
l'ensemble de la plage de fréquences. Une des contraintes de la vitesse de balayage est
constituée par le temps de réponse de la sonde de champ. Le volume d'essai utilisable doit
être validé avec un signal non modulé.
NOTE 2 Le champ TEM est le mode dominant et les cavités correspondent à des valeurs Q peu élevées. Par
conséquent, les résonances ne sont pas réputées être étroites. C'est la raison pour laquelle il est admis d’utiliser les
fréquences logarithmiques pour la validation du volume d'essai utilisable.
Selon sa taille, la zone uniforme doit être validée en au moins cinq points (quatre dans les
angles et un au centre). Les points d'essai doivent être espacés les uns des autres de 50 cm
au maximum.
NOTE 3 Un plus grand nombre de points d'essai donne un meilleur résultat d'essai de l'homogénéité du champ.
L’utilisation d’un plus grand nombre de points d’essai permet également une estimation plus précise de l'homogénéité
de l'ensemble du champ.
– 130 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
5.2.2.2 Vérification de l'uniformité du champ
5.2.2.2.1 Généralités
L'uniformité du champ peut être vérifiée par la méthode de puissance incidente constante
(5.2.2.2.2) ou la méthode d'amplitude de champ constante (5.2.2.2.3). Avec la méthode de
puissance incidente constante, la puissance incidente est maintenue constante pour tous les
points de quadrillage et toutes les fréquences d'essai. Avec la méthode d'amplitude de champ
constante, la composante primaire de l'amplitude du champ électrique est maintenue constante
pour tous les points de quadrillage et toutes les fréquences d'essai. Si la méthode de l'amplitude
de champ constante est la plus difficile, elle est aussi la plus précise, car la linéarité du
wattmètre est en général meilleure que celle de la sonde de champ, laquelle fonctionne toujours
à l'amplitude de champ pour laquelle elle a été étalonnée.
5.2.2.2.2 Méthode de puissance incidente constante
Le champ est considéré comme suffisamment homogène si, d'un point de vue statistique, au
moins 75 % des composantes de champ électrique primaires E i se situent dans les limites d'une
plage de 6 dB. Une tolérance sur la composante de champ électrique primaire supérieure
à 6 dB, mais inférieure à 10 dB, est admise pour un pourcentage maximal de 5 % des
fréquences d'essai (au moins une fréquence) sous réserve que la tolérance et les fréquences
réelles soient indiquées dans le rapport d'essai. L'approche statistique repose sur la valeur
moyenne et l'écart type de la composante de champ primaire tels que définis dans l'équation (1)
et l'équation (2) pour évaluer la variation de la composante de champ primaire sur la zone
uniforme.
Au point d'essai i, la composante de champ primaire mesurée est donnée sous la forme E i . La
valeur moyenne E et l'écart type σ E sont calculés pour les points d'essai N en valeurs
logarithmiques.
1
E= ∑ Ei
N (N)
(1)
1
( )
2
=σE ∑
N − 1( N )
Ei − E (2)
L'hypothèse d'une distribution normale pour les échantillons de la composante de champ

primaire donne l'équation (3) pour la probabilité que 75 % des résultats de mesure entrent dans
la plage 2·k·σ E .
E − k ⋅ σ E ≤ Ei ≤ E + k ⋅ σ E (3)
où le facteur k est choisi égal à 1,15 (voir le Tableau 1).
En cas d'essai d'immunité, outre le fait de démontrer que le champ est homogène, il est
également exigé qu'un certain pourcentage de points d'essai donne une amplitude de champ
supérieure ou égale à l'amplitude de champ au niveau de l'essai E test . La combinaison de ces
conditions donne l’équation (4).
E test ≤ Ei ≤ E test + Emargin (4)

IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 131 –
La comparaison de la plage de l’équation (4) avec l’équation (3) donne l'équation (5) et
l’équation (6) avec les exigences d'homogénéité du champ.
E test ≤ Ei ≤ E test + 2 ⋅ k ⋅ σ E (5)
margin
σE = (6)
2⋅k
Pour une probabilité de 75 %, ( k = 1,15 ) et une marge de 6 dB, l'écart type doit
6 dB
être σ E ≤ ≈ 2,61 dB .
2 ⋅ 1,15
10 dB
être σ E ≤ ≈ 4,35 dB .
2 ⋅ 1,15
Tableau 1 – Valeurs k pour l’incertitude élargie

pour des résultats à distribution normale
Facteur
1 1,15 1,3 1,5 2 3
k
Probabilité
68,3 75,0 80,6 86,6 95,5 99,7
%
5.2.2.2.3 Méthode de l'amplitude de champ constante
Au point d'essai i, la puissance incidente mesurée est donnée sous la forme P fwd,i . La valeur
moyenne Pfwd et l'écart type σ P sont calculés pour les points d'essai N en valeurs
logarithmiques à l'aide de l’équation (7) et de l’équation (8).
1
Pfwd = ∑ Pfwd,i
N (N)
(7)
1
( )
2
=σP ∑ Pfwd,i − Pfwd
N - 1( N )
(8)
L'hypothèse d'une distribution normale pour les échantillons de la composante de champ

primaire donne l’équation (9) pour la probabilité que 75 % des résultats d'essai P fwd,i entrent
dans la plage 2·k·σ P .
P fwd − k ⋅ σ P ≤ Pfwd,i ≤ P fwd + k ⋅ σ P (9)
où le facteur k est choisi égal à 1,15 (voir le Tableau 1).
Dans la méthode de l'amplitude de champ constante, le champ est considéré comme

suffisamment homogène si, d'un point de vue statistique, au moins 75 % des puissances
– 132 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
incidentes mesurées P fwd,i se situent dans les limites de la tolérance de 0 dB à 6 dB au-dessus

de la valeur minimale P test . Cela donne l’équation (10).
Ptest ≤ Pfwd,i ≤ Ptest + 6 dB (10)
La comparaison de la plage de l’équation (10) avec l’équation (9) donne l'équation (11) et
l’équation (12) avec les exigences d'homogénéité du champ.
2 ⋅ k ⋅ σ P ≤ 6 dB (11)
6 dB
σP ≤ (12)
2⋅k
Une tolérance sur la puissance incidente supérieure à 6 dB, mais inférieure à 10 dB, est admise
pour un pourcentage maximal de 5 % des fréquences d'essai (au moins une fréquence) sous
réserve que la tolérance et les fréquences réelles soient indiquées dans le rapport d'essai.
L'approche statistique repose sur l'hypothèse d'une distribution normale et sur le calcul de la
valeur moyenne et de l'écart type de la puissance incidente.
être σ P ≤ 6 dB ≈ 2,61 dB .
2 ⋅ 1,15
être σ P ≤ 10 dB ≈ 4,35 dB .
2 ⋅ 1,15
5.2.2.3 Vérification du mode TEM
Les guides d’onde TEM peuvent présenter des résonances au-delà d’une certaine fréquence
de coupure déterminée par les dimensions de la section et/ou de la longueur du guide d’onde.
Pour des raisons pratiques, il est considéré que le champ à l’intérieur d’un guide d’onde TEM
se propage dans un mode TEM lorsque les exigences suivantes sont satisfaites. Cette
vérification du mode TEM s’applique aux guides d’onde utilisés soit pour les essais d’immunité,
soit pour les mesurages d'émission. Le comportement en mode TEM doit être confirmé à
intervalles réguliers (voir 5.2.2.4).
NOTE 1 En règle générale, un fabricant de guides d'onde TEM fournit la documentation relative au comportement
en mode TEM.
Le mode TEM est considéré comme dominant si, d'un point de vue statistique, au moins 75 %
des composantes de champs électriques secondaires (non prévues) mesurées sont inférieures
d'au moins 6 dB à la composante de champ électrique primaire. Des composantes de champs
électriques secondaires à des niveaux jusqu'à −2 dB de la composante de champ primaire sont
admises pour un pourcentage maximal de 5 % des fréquences d'essai (au moins une fréquence)
sous réserve que la tolérance et les fréquences réelles soient indiquées dans le rapport d'essai.
NOTE 2 Le critère de 6 dB de 5.2.2.3 décrit le mode TEM dominant plutôt que l'uniformité du champ, et il se
distingue et n'est pas confondu avec les exigences d'uniformité du champ de 5.2.2.2.
La description statistique du rapport de la composante de champ électrique secondaire et

primaire repose sur l'hypothèse d'une distribution de Rayleigh. Pour un mesurande de
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 133 –
distribution de Rayleigh, le quantile 75 % Q 75 % peut être calculé de manière analytique. Il peut

être pris pour hypothèse que 75 % des points d'essai ont un rapport inférieur au quantile Q 75 % .
Au point d'essai i, la composante de champ primaire mesurée est donnée sous la forme Eprim, i
et la composante de champ électrique secondaire sous la forme Esec, i . E sec,i est la plus grande
des deux composantes de champ secondaire. Ces deux valeurs doivent être exprimées pour
les points d'essai N en valeurs linéaires. Comme dans l’équation (13), le paramètre s R de la
distribution de Rayleigh peut être estimé à partir des composantes de champ mesurées.
2
1  Esec,i 
sR ≈ ∑ 
2 ⋅ N ( N )  Eprim,i


(13)

Le quantile P de la distribution de Rayleigh peut être calculé par l’équation (14).
QP = −2 ⋅ sR2 ⋅ ln (1 − P ) (14)
Pour P = 0,75, le quantile 75 % Q 75 % est déterminé selon l’équation (15):
Q75% = −2 ⋅ sR2 ⋅ ln (1 − 0,75 ) = sR ⋅ 1,6651 (15)
Pour Q 75 % < 0,5, il peut être pris pour hypothèse que, d'un point de vue statistique, 75 % des
points d'essai ont une composante de champ secondaire qui est inférieure d'au moins 6 dB à
la composante de champ primaire. Pour Q 75 % < 0 794, il peut être pris pour hypothèse que,
d'un point de vue statistique, 75 % des points d'essai ont une composante de champ secondaire
qui est inférieure d'au moins 2 dB à la composante de champ primaire.
5.2.2.4 Uniformité du champ et méthode de mesure en mode TEM
5.2.2.4.1 Méthode de puissance incidente constante
La procédure de validation est connue comme la méthode "de puissance incidente constante"
et comprend les étapes suivantes.
a) Positionner la sonde à trois axes au niveau de l'un des points de la grille.

b) Appliquer une puissance incidente P fwd à l’accès d’entrée du guide d’onde TEM de sorte
que la composante primaire de l'amplitude du champ électrique soit de E verification sur la
plage de fréquences avec les paliers de fréquence spécifiés en 5.2.2.1, et enregistrer toutes
les valeurs lues de puissance incidente et de champs de composantes primaires et
secondaires.
c) Avec la même puissance incidente, mesurer et enregistrer les amplitudes de champs
primaire et secondaire aux autres points de la grille.
d) Calculer l’écart type σ E selon l’équation (2) de 5.2.2.2.2. Tous les résultats de mesure sont
exprimés en dB(V/m).
e) Calculer le quantile 75 % Q 75 % du rapport de la composante de champ secondaire sur la
composante de champ primaire selon l’équation (15) de 5.2.2.3. Le calcul doit être réalisé
à l'aide de valeurs linéaires.
f) L'écart type σ E doit être inférieur à 2,61 dB. Il peut se situer dans la plage
de 2,61 dB ≤ σ E ≤ 4,35 dB pour un pourcentage maximal de 5 % des fréquences d'essai (au
moins une fréquence) sous réserve que les valeurs et fréquences réelles soient indiquées
dans le rapport d'essai.
– 134 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
g) Le quantile Q 75 % doit être inférieur à 0,5. Il peut se situer dans la plage

de 0,5 ≤ Q 75 % ≤ 0,794 pour un pourcentage maximal de 5 % des fréquences d'essai (au
h) En connaissant la puissance incidente P fwd , la valeur moyenne et l'écart type de la
composante de champ primaire, la puissance incidente exigée P test pour les essais
d'immunité (voir l'Annex B) avec l'amplitude du champ d'essai E test peuvent être calculés à
l'aide de l’équation (16). Le calcul doit être réalisé à l'aide de valeurs linéaires. Le facteur
d'élargissement k doit être choisi selon le Tableau 1. En règle générale, k doit être égal
à 1,15. La puissance incidente doit être consignée.
2
Etest
=Ptest ⋅ Pfwd (16)
( E − k ⋅ σ E )2
i) Confirmer que le système d'essai (l'amplificateur de puissance, par exemple) n'est pas
saturé. En prenant pour hypothèse que E test est égal à 1,8 fois le niveau d'essai exigé de
l'amplitude du champ électrique, appliquer la procédure suivante sur la plage de fréquences:
1) diminuer la sortie du générateur de signaux de 5,1 dB par rapport au niveau nécessaire
à l'établissement d'une puissance incidente de P test , telle que déterminée à l'étape
précédente;
2) consigner la nouvelle puissance incidente délivrée au guide d'onde TEM;
3) soustraire la puissance incidente mesurée à l'étape 2) de P test . Si la différence de
puissance est comprise entre 3,1 dB et 5,1 dB, l'amplificateur n'est alors pas saturé et
peut être utilisé. Si la différence est inférieure à 3,1 dB, l'amplificateur est alors saturé
et ne peut pas être utilisé.
Un organigramme de la procédure est représenté à la Figure 1 (voir 5.4).
EXEMPLE Si, en un point d'essai donné, 81 W donne un dénominateur de 9 V/m dans l’équation (16), 9 W est
utilisée pour une amplitude de champ d'essai de 3 V/m.
5.2.2.4.2 Méthode de l'amplitude de champ constante
La procédure de validation est connue comme la méthode "de l'amplitude de champ constante"
et comprend les étapes suivantes.
a) Positionner la sonde à trois axes au niveau de l'un des points de la grille.

b) Appliquer une puissance incidente P fwd à l'accès d'entrée du guide d'onde TEM de sorte
que la composante primaire de l'amplitude du champ électrique soit de E verification sur la
plage de fréquences avec les paliers de fréquence spécifiés en 5.2.2.1 et enregistrer toutes
les valeurs lues de puissance incidente et de composantes primaire et secondaire des
amplitudes de champ.
c) Avec la même amplitude de champ E verification , mesurer et enregistrer les valeurs lues de
toutes les puissances incidentes et les composantes primaire et secondaire des amplitudes
du champ en d'autres points de la grille.
d) Pour vérifier l'uniformité du champ, calculer l'écart type σ P pour toutes les puissances
incidentes mesurées au niveau des points selon l’équation (8) de 5.2.2.2.3. Tous les
résultats de mesure sont exprimés en dBm.
e) L'écart type σ P doit être inférieur à 2,61 dB.
Un pourcentage maximal de 5 % des fréquences d'essai (au moins une fréquence) peut se
situer dans la plage de 2,61 dB ≤ σ E ≤ 4,35 dB . Les valeurs et fréquences réelles doivent être
indiquées dans les rapports d’essai.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 135 –
f) Pour vérifier le mode TEM, calculer le quantile 75 % Q 75 % du rapport de la composante de

champ secondaire sur la composante de champ primaire selon l’équation (15) de 5.2.2.3.
Le calcul doit être réalisé à l'aide de valeurs linéaires.
g) Le quantile 75 % Q 75 % doit être inférieur à 0,5. Il peut se situer dans la plage
de 0,5 ≤ Q75% ≤ 0,794 pour un pourcentage maximal de 5 % des fréquences d'essai (au
h) Pour les essais d'immunité (voir l'Annex B), en connaissant la puissance incidente et
l'amplitude de champ Everification , la puissance incidente nécessaire Ptest pour l'amplitude
du champ d'essai exigée Etest peut être calculée à l'aide de l’équation (17). La puissance
incidente doit être consignée.
2
 Etest 
=Ptest   ⋅ ( Pfwd + k ⋅ σ P ) (17)
 Everification 
i) Confirmer que le système d'essai (l'amplificateur de puissance, par exemple) n'est pas
saturé. En prenant pour hypothèse que Etest est égal à 1,8 fois le niveau d'essai exigé de
l'amplitude du champ électrique, appliquer la procédure suivante sur la plage de fréquences:
1) diminuer la sortie du générateur de signaux de 5,1 dB par rapport au niveau nécessaire
à l'établissement d'une puissance incidente de Ptest , telle que déterminée dans les
étapes ci-dessus;
2) consigner la nouvelle puissance incidente délivrée au guide d'onde TEM;
3) soustraire la puissance incidente mesurée à l'étape b) de Ptest . Si la différence de
puissance est comprise entre 3,1 dB et 5,1 dB, l'amplificateur n'est alors pas saturé et
peut être utilisé. Si la différence est inférieure à 3,1 dB, l'amplificateur est alors saturé
et ne peut pas être utilisé.
Un organigramme de la procédure est représenté à la Figure 2 (voir 5.4).
La validation de l’uniformité est valable pour tous les EUT dont les faces individuelles (y compris
tout le câblage) peuvent être complètement englobées dans la "zone uniforme". Il est prévu
que la validation de la zone uniforme complète soit réalisée annuellement ou lorsque des
modifications ont été apportées à la configuration de l’enveloppe (par exemple, cellule TEM ou
ligne ouverte à l’intérieur d’une cage de Faraday).
5.3 Exigences et recommandations spéciales pour certains types de guides d’onde

TEM
5.3.1 Montage de guides d’onde TEM ouverts
Pour réduire le plus possible les effets ambiants, il convient d’installer les guides d’onde TEM
ouverts à l’intérieur d’un local blindé, lorsque la pratique le permet.
NOTE 1 Les niveaux de signal ambiant sont définis à l’Annex A, l’Annex B et l’Annex C et dépendent fortement des
objectifs d'essai.
Une distance minimale h correspondant à l’espacement d’une plaque est recommandée entre
le guide d’onde TEM ouvert et le plancher, les parois et le plafond du local blindé. Un matériau
anéchoïque complémentaire peut être placé de manière appropriée dans le local blindé pour
réduire le plus possible les réflexions. Ces distances ne sont données qu’à titre de
recommandation. À noter qu'un guide d’onde TEM ouvert peut être construit lorsqu’une plaque
est constituée par le plancher du local blindé, l’autre plaque étant un septum installé.
NOTE 2 La MIL-STD-461G [47] exige que les guides d’onde TEM ouverts soient placés dans un local blindé. La
MIL-STD-461G [47] définit une distance minimale exigée par rapport aux parois en fonction de la taille du guide
– 136 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
d'onde. La CISPR 20 [69] exige une distance minimale de 800 mm par rapport aux parois, au plancher et au plafond,
correspondant à 1 h.
5.3.2 Autre vérification du mode TEM pour un guide d’onde TEM à deux accès
En variante aux dispositions de 5.2.2, la plage de fréquences utilisable d’un guide d’onde TEM
à deux accès peut être établie en utilisant la méthode de vérification suivante.
Avant de soumettre l’EUT à l'essai, les résonances du guide d’onde TEM doivent être
déterminées pour des dispositifs TEM à deux accès avec le montage d’essai et l’EUT installés,
l’EUT étant hors tension. Dans ce cas, la perte de transmission du guide d’onde TEM dans la
plage de fréquences utilisable doit satisfaire à l’équation (18):
 Poutput 
=Atloss 10 lg   ≤ 1dB (18)
 Pfwd − Prefl 
où
A tloss est la perte de transmission du guide d’onde chargé;

P refl est la puissance réfléchie mesurée à l’accès d’entrée;
P fwd est la puissance incidente mesurée à l’accès d’entrée;
P output est la puissance de sortie mesurée au deuxième accès (sortie).
NOTE 1 Les puissances réfléchie (en entrée), incidente et réfléchie (en sortie) sont mesurées par rapport à
l’impédance caractéristique du guide d’onde TEM. Aucun transformateur d'impédance n'est utilisé. L’équation (18)
est valable pour une impédance caractéristique de 50 Ω.
NOTE 2 Il s’agit d’une méthode de vérification alternative pour un guide d’onde TEM à deux accès du type indiqué
dans l'ISO 11452-3 [37]. Elle est fondée sur l’hypothèse selon laquelle les modes résonants d’ordre élevé extraient
l'énergie du mode TEM.
5.3.3 Génération du mode TEM pour un guide d’onde TEM à quatre accès
Pour générer un mode TEM, des signaux d'entrée doivent être appliqués à l'accès 1 et à
l'accès 2 avec les mêmes amplitude et phase inversée que celles présentées à la Figure D.6
(voir l'Article D.8). L'accès 3 et l'accès 4 doivent se terminer par des charges localisées
de 50 Ω (voir [38] et [63]).
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 137 –
5.4 Figures de l'Article 5
lues
l’équation

l'uniformité du champ avec la méthode de "puissance incidente constante"
(voir 5.2.2.4.1)
– 138 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
lues
l’équation

l'uniformité du champ avec la méthode d'amplitude de champ constante (voir 5.2.2.4.2)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 139 –
6 Vue d’ensemble des types d'EUT
6.1 Généralités
Un type d’EUT est un groupe de produits qui présentent des caractéristiques

électromagnétiques ou des dimensions mécaniques suffisamment similaires pour permettre des
essais avec la même installation d’essai et le même protocole d’essai. Le type d'EUT et sa
configuration sont valables pour les essais d’immunité et les mesurages d’émission pour
permettre un montage uniforme dans le volume d’essai.
6.2 EUT de petite taille
Un EUT est défini comme un EUT de petite taille si la plus grande dimension de l’enveloppe
est inférieure à une longueur d’onde à la fréquence d’essai la plus élevée (par exemple,
à 1 GHz, λ = 300 mm) et si aucun câble n’est connecté à l'EUT.
6.3 EUT de grande taille
Un EUT est défini comme un EUT de grande taille s’il s’agit
a) d'un EUT avec un ou plusieurs câbles de sortie,

b) d'un EUT avec un ou plusieurs câbles d’interconnexion,
c) d'un EUT avec ou sans câbles qui a une dimension supérieure à une longueur d’onde à la
fréquence d’essai la plus élevée,
d) d'un groupe d'EUT de petite taille disposés dans un montage d’essai avec des câbles
d’interconnexion et avec ou sans câbles de sortie.
Toutefois, un simple EUT avec des câbles d'interconnexion faisant partie intégrante dudit EUT
et dont le routage de câbles ne varie pas pendant l'essai est considéré comme un EUT de petite
taille si ses dimensions hors tout satisfont aux exigences spécifiées en 6.2.
7 Conditions d’essai en laboratoire
7.1 Généralités
Afin de réduire le plus possible l’effet des paramètres d’environnement sur les résultats d’essai,
l’essai doit être effectué dans des conditions de référence climatiques et électromagnétiques,
comme spécifiées en 7.2 et 7.3.
7.2 Conditions climatiques
Sauf spécification contraire par le comité responsable de la norme générique ou de produit, les
conditions climatiques de l'emplacement d’essai doivent se situer dans les limites éventuelles
spécifiées pour le fonctionnement de l’EUT et du matériel d’essai par leurs fabricants respectifs.
Les essais ne doivent pas être réalisés si l’humidité relative est élevée au point de provoquer
une condensation sur l'EUT ou le matériel d’essai.
En présence de preuves suffisantes qui permettent de démontrer que les mesurages couverts
par le présent document sont influencés par les conditions climatiques, ces informations doivent
être indiquées dans le rapport d'essai.
7.3 Conditions électromagnétiques
Les conditions électromagnétiques de l'emplacement d'essai doivent permettre de garantir le

bon fonctionnement de l'EUT afin de ne pas influencer les résultats d’essai.
– 140 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
8 Évaluation et consignation des résultats d’essai
Les essais doivent être réalisés selon un plan d’essai qui doit être inclus dans le rapport d’essai.
Les résultats d’essai et les exigences de compte-rendu dépendent du type d’essai réalisé.
Le rapport d’essai doit contenir toutes les informations nécessaires pour reproduire l’essai. Les
informations suivantes doivent notamment être consignées:
a) les éléments spécifiés dans le plan d’essai;

b) l'identification de l'EUT et tout élément associé, par exemple marque, type de produit,
numéro de série;
c) l'identification du matériel d’essai, par exemple marque, type de produit, numéro de série;
d) toutes conditions environnementales spéciales dans lesquelles l’essai a été réalisé;
e) toutes conditions spécifiques nécessaires pour pouvoir réaliser l’essai;
f) le niveau de performances défini par le fabricant, le demandeur ou l’acheteur;
g) pour l’immunité, le critère de performances spécifié dans la norme générique, de produit ou
de famille de produits;
h) pour l’immunité, les effets éventuels sur l'EUT observés pendant ou après l’application de
la perturbation de l’essai, et la durée pendant laquelle ces effets sont constants;
i) pour l’immunité, la justification de la décision d’acceptation/refus (fondée sur le critère de
performances spécifié dans la norme générique, de produit ou de famille de produits, ou
convenue entre le fabricant et l’acheteur);
j) les conditions d’utilisation spécifiques éventuelles, par exemple longueur ou type de câble,
blindage ou mise à la masse, ou les conditions de fonctionnement de l'EUT exigées pour la
mise en conformité;
k) le schéma et/ou les illustrations du montage d’essai et de l’installation de l'EUT.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 141 –
Annex A
(normative)
Mesurages des émissions dans les guides d'onde TEM
A.1 Aperçu
L'Annex A décrit les mesurages des émissions dans les guides d'onde TEM.
Les résultats des mesurages des émissions réalisés dans les guides d’onde TEM peuvent être
comparés aux limites déduites selon l’une des deux méthodes suivantes:
a) Limites de guides d’onde TEM

Cette approche a été appliquée à des familles de produits spécifiques (par exemple,
procédures pour circuits intégrés, dispositifs militaires, composants et modules pour
véhicules, etc.), comme décrit dans les références de la Bibliographie. Dans ce cas, les
résultats de mesure des émissions dans les guides d’onde TEM sont utilisés pour être
comparés directement à une limite indépendante de perturbation ou à des lignes directrices,
généralement développées spécifiquement pour un type de guide d’onde TEM. Dans
certains cas, les limites applicables aux guides d’onde TEM peuvent être déduites des
valeurs limites utilisées dans d’autres installations d’essai (voir [54]).
b) Limites OATS
Cette approche est applicable aux EUT qui font l'objet de limites de perturbation données
en ce qui concerne l'amplitude de champ OATS. Un algorithme de corrélation est utilisé
pour déduire les niveaux d’amplitude du champ d’emplacement d’essai ouvert (OATS) des
résultats de mesure de guides d’onde TEM.
Seul le cas b) est décrit en détail à l’Annex A. Les mesurages des émissions qui utilisent les
guides d’onde TEM exigent une validation afin de démontrer le caractère approprié du guide
d’onde TEM utilisé. Pour chaque type d'EUT, une procédure de validation doit être effectuée
comme décrit à l’Article 5. Lorsque seule une comparaison relative est réalisée à l’intérieur de
la même famille de produits d'EUT, la corrélation avec l'OATS ou avec d’autres emplacements
d’essai n’est alors pas exigée. Dans ce cas, les comités de produits doivent fournir des limites
spécifiques pour déterminer la conformité des données de mesure.
Les algorithmes de corrélation sont décrits à l'Article A.3. Ces algorithmes utilisent des
mesurages de tension en guide d’onde TEM pour estimer des amplitudes de champs OATS
équivalentes. Des niveaux d'amplitude de champs en espace libre peuvent également être
estimés. Ces niveaux d'amplitude de champs, ainsi que les résultats de mesure issus de la
procédure de validation du type d’EUT, peuvent ensuite être comparés aux exigences des
documents.
A.2 Matériel d’essai
Le matériel d’essai doit être conforme aux exigences applicables de la CISPR 16-1-1.
NOTE Un capteur de champ isotrope peut être considéré comme une antenne (voir la CISPR 16-1-4 pour les
exigences relatives aux antennes). Les procédures d’étalonnage des sondes de champs isotropes et leurs
spécifications sont décrites à l'Annex E et en [35].
– 142 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
A.3 Corrélation des tensions des guides d’onde TEM avec les données
d'amplitude du champ électrique
A.3.1 Généralités
Cette procédure est destinée à établir une alternative aux méthodes de mesure des émissions
en OATS. Les résultats des guides d’onde TEM sont convertis en données d'amplitude de
champ électrique OATS (champ E). L’Article A.3 décrit un algorithme fondé sur l'hypothèse
selon laquelle la puissance rayonnée, telle que déduite d’un mesurage par un guide d’onde
TEM, est rayonnée par un dipôle positionné au-dessus d’un plan de sol parfaitement conducteur.
Les algorithmes de corrélation incluent dans le calcul la distance entre l'EUT et chaque
conducteur de guide d'onde TEM, h EUT , et l'espacement entre les conducteurs h (ou séparation
des plaques) au centre de l’EUT (voir Figure D.7 à Figure D.11) à l'Article D.8). Les tensions
mesurées avec l'EUT placé dans le guide d’onde TEM sont générées par les émissions de
l'EUT. Après rotation (repositionnement) de l'EUT selon les exigences de l'algorithme de
corrélation, des mesurages de tension supplémentaires sont réalisés jusqu’à ce que toutes les
positions exigées aient été soumises à l'essai. L'algorithme de corrélation utilise ensuite ces
données pour simuler un essai OATS.
NOTE Des informations relatives aux méthodes de corrélation et des exemples de données de corrélation pour les
mesurages des émissions figurent en [5], [9], [22], [30], [52], [54], [59] et [60].
Le paragraphe A.3.2 décrit un algorithme fondé sur un essai à trois positions. D’autres
algorithmes ont été proposés et peuvent être utiles pour certains EUT (voir [47] et [60]).
A.3.2 Algorithmes de corrélation
A.3.2.1 Généralités
Les paragraphes A.3.2.2 et A.3.2.3 indiquent des approches de corrélation indépendantes. Le

paragraphe A.3.2.2 décrit l’approche de base des algorithmes de corrélation qui utilisent le
"modèle multipôle", qui utilise un jeu d’essais de guides d’onde TEM pour déterminer les
moments multipolaires équivalents. Le paragraphe A.3.2.3 décrit un autre algorithme de
corrélation qui n'utilise que les trois mesurages de tension. Cette procédure est souvent
désignée sous le terme de "méthode de la puissance totale rayonnée".
A.3.2.2 Modèle multipôle
Toute source de rayonnement de taille finie peut être remplacée par un développement du
multipôle équivalent qui donne le même diagramme de rayonnement à l’extérieur d’un volume
qui englobe la source. Si la source est électriquement petite (dimensions caractéristiques
inférieures à 0,1 fois la longueur d’onde), les premiers coefficients du développement des
multipôles, en réalité des dipôles électriques et magnétiques, fournissent alors une simulation
précise de la source. L’indication ci-dessus demeure pour une source arbitraire. Si la source
elle-même se compose uniquement d’éléments tels un dipôle électrique et magnétique, la
restriction de la taille rapportée à la longueur d’onde peut alors être assouplie.
L’approche de base des algorithmes de corrélation entre les guides d’onde TEM et l’OATS ou
les données en espace libre consiste à utiliser un jeu d’essais dans les guides d’onde TEM afin
de déterminer les moments multipolaires. En général, trois moments dipolaires orthogonaux à
valeur complexe sont utilisés, qui exigent six mesurages ou plus. La méthode de base à trois
orientations permet d’estimer la puissance rayonnée, mais pas les moments multipolaires
individuels. Après estimation de la puissance rayonnée, les champs rayonnés en espace libre
ou sur un plan de sol infini peuvent être déduits de manière numérique. De cette manière, les
différentes configurations d’antenne source à récepteur exigées par les normes d’émission en
OATS peuvent être simulées.
Pour les guides d’onde TEM à deux accès, les mesurages aux deux accès produisent à la fois
des informations d’amplitude et de phase relative (voir [17], [44], [46], [53] et [56]). De cette
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 143 –
manière, l’amplitude et la phase des moments multipolaires peuvent être déterminées, et le

diagramme de rayonnement peut être simulé avec précision, y compris les éventuelles valeurs
nulles dues à l’annulation de phase. Pour les guides d’onde TEM à un accès, aucune
information de phase relative n’est disponible. Ainsi, seules les amplitudes des moments
multipolaires peuvent être déterminées (voir [54], [59] et [60]). Étant donné que l’information de
phase relative n’est pas connue, les routines de corrélation de guide d’onde TEM à un accès
partent de l’hypothèse selon laquelle tous les moments multipolaires rayonnent en phase. Cette
configuration ne donne qu’une estimation de limite supérieure (voir [13], [43] et [57]). Des
diagrammes de rayonnement détaillés ne peuvent pas être simulés. L’estimation de limite
supérieure est valable pour la comparaison avec les limites normales. En [47] et [49], il a été
démontré qu’il se produit un couplage par polarisation transversale dans les guides d’onde TEM.
Les influences sur les données de mesure des émissions ont également été démontrées dans
ces documents.
A.3.2.3 Algorithme de corrélation pour guide d’onde TEM à un accès
A.3.2.3.1 Généralités
L’algorithme de corrélation pour un accès repose sur trois mesurages de tension réalisés dans
un guide d’onde TEM, à partir desquels la puissance totale rayonnée de l’EUT peut être calculée.
Les moments dipolaires individuels ne sont pas déterminés séparément. La puissance totale
rayonnée est ensuite utilisée pour simuler les champs maximaux des EUT sur un plan de sol
fondé sur un modèle de dipôles parallèles (dipôle source et dipôle de réception) qui
transmettent la même puissance totale.
A.3.2.3.2 Mesurages de tension des guides d’onde TEM
Les tensions sont mesurées au niveau du connecteur coaxial du guide d'onde TEM pour trois
orientations de l’EUT spécifiées comme suit. Un système d'axes (x,y,z) est attribué au guide
d'onde TEM selon la Figure D.7 à la Figure D.11 (voir l'Article D.8). Un choix normal consiste
à aligner l’axe z dans la direction de propagation, l’axe y parallèle au vecteur de champ
électrique (vertical) et l’axe x parallèle au vecteur de champ magnétique. Le centre de l’EUT
est placé en (x = 0, y, z), avec x = 0 au milieu du septum. Un système local de coordonnées
"prime" (x', y', z') est attribué à l'EUT. Par exemple, la position 65 aligne x' à x, y' à y et z' à z,
comme indiqué à la Figure A.4. Les triplets (65, 41, 24), (45, 21, 14), (15, 31, 54) et (35, 51,
64) forment un ensemble de trois orientations orthogonales qui peuvent être utilisées pour
l'algorithme de corrélation à trois orientations. La désignation des trois mesurages de tension
par V p1 , V p2 , V p3 , permet de démontrer (voir [47] et [60]) que la puissance totale rayonnée P0
due à l'EUT est donnée par l’équation (A.1)
η k2
P0 =0 ⋅ 0 ⋅ S 2 (A.1)
2
3 π e0y Zc
où le facteur S est donné par l'équation (A.2) ou l’équation (A.3)
2 2 2 (A.2)
S= Vp1 + Vp2 + Vp3
Vp1 −120 Vp2 −120 Vp3 −120

dB dB dB
S= 10 10 + 10 10 + 10 10 (A.3)
et où
V p1 , V p2 , V p3 sont les mesurages de tension à partir de trois positions de l'EUT;

S est la racine carrée de la somme des tensions mesurées au carré;
– 144 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
2π
k0 = est le nombre d’ondes;
λ
µ0
=
η0 ≈ 120 π Ω ≈ 377 Ω est l’impédance d’onde en espace libre;
ε0
Zc est l’impédance caractéristique du guide d’onde TEM en Ω

(typiquement 50 Ω);
e0y est le facteur de champ du mode TEM: la composante y normalisée du
champ électrique à l'emplacement de l’EUT (pour l’équation (A.1):
(x = 0, y, z)).
Pour certains EUT, il peut être nécessaire de soumettre trois orientations orthogonales à l’essai
à chacune des quatre orientations de départ (orientations de départ 65, 45, 15 et 35 de la
Figure A.4) pour un total de 12 orientations canoniques. Le mesurage de tension maximale et
les mesurages de tension réalisés à partir des deux orientations orthogonales correspondantes
sont ensuite utilisés dans la méthode habituelle à trois orientations [29].
A.3.2.3.3 Détermination du facteur de champ

a) L’algorithme décrit ici exige la composante y primaire du champ électrique du mode TEM.
Les modes de champ d’ordre supérieur ne sont pas directement couplés à la tension au
niveau de l’accès. Le facteur de champ e0y est la composante y normalisée du champ
électrique du mode TEM à un emplacement d’essai donné de l'EUT. Deux procédures sont
possibles pour déduire le facteur de champ e 0y comme indiqué ci-dessous.
Le facteur de champ e0y pour chaque type et taille de guide d’onde TEM spécifiques doit
être fourni par le fabricant.
b) Procédure expérimentale
Le facteur de champ peut être déterminé de manière expérimentale par un mesurage de la
composante y du champ électrique Ey en V/m (pour une cellule vide) à l’emplacement (x, y,
z) du centre de l'EUT avec une puissance d’entrée connue Pi en watts selon l’équation (A.4)
E y ( x, y )
e0 y = (A.4)
Pi
c) Procédure analytique
Pour une cellule TEM de section rectangulaire tel qu’illustrée en [60], une valeur approchée
analytique de la composante de mode TEM normalisée peut être obtenue avec
l’équation (A.5)
4 ∞  cosh ( M ⋅ y )  a 
e=
0y Zc ⋅ ∑  ⋅ cos ( M ⋅ x ) ⋅ sin  M ⋅  ⋅ J 0 ( M ⋅ g )  (A.5)
m =1,3,5  sinh ( M ⋅ h )
a   2 

où
π
M =m , m = 1, 3, 5,..., ∞;
a
a est la largeur de cellule (voir Figure D.7 à Figure D.11 à l'Article D.8) à
l'emplacement z;
h est la hauteur du septum à l’emplacement z;
g est la largeur d’espacement à l’emplacement z;
x, y, z est l’emplacement du centre de l'EUT;
J0 est la fonction Bessel d’ordre zéro.

IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 145 –
Il n’est nécessaire de prendre en compte que quelques termes de cette série pour une
approximation correcte de e0y . Les résultats du facteur de champ pour différentes
géométries sont donnés en [43].
A.3.2.4 Corrélation avec un OATS
Les émissions de l'EUT sur un OATS sont simulées sur la base de l’hypothèse selon laquelle
la puissance totale rayonnée de l'EUT, telle qu’elle est estimée par les essais de guides d’onde
TEM, est la même que celle émise par un dipôle (qui remplace l'EUT) sur un demi-espace
théorique parfaitement conducteur.
Les équations relatives aux champs qui proviennent d’un dipôle sont bien connues, et le plan
de sol théorique est pris en compte par l’introduction d’un dipôle image. Les champs sont
calculés sur le balayage en hauteur équivalent de l’antenne de réception, comme cela est exigé
par la méthode en OATS. Le signal maximal reçu simulé pour deux polarisations (horizontale
et verticale) donne alors l’amplitude de champ maximale estimée Emax . Avec le facteur de
géométrie gmax déterminé par le balayage en hauteur du dipôle de réception, Emax est donné
par l’équation (A.6) et l’équation (A.7)
3η0
E=
max gmax ⋅ P0 (A.6)
4π
η0 k0 S
Emax =gmax ⋅ ⋅ (A.7)
2π ⋅ e0 y Zc
où
S est la racine carrée de la somme des tensions mesurées au carré,

définie par l’équation (A.2);
2π
k0 = est le nombre d’ondes;
λ
µ0
=
η0 ≈ 120πΩ ≈ 377 Ω est l’impédance en espace libre;
ε0
Zc est l’impédance caractéristique du guide d’onde TEM en Ω

(typiquement 50 Ω);
e0y est le facteur de champ du mode TEM: la composante y normalisée du
champ électrique à l'emplacement de l’EUT (pour l’équation (A.1):
(x = 0, y, z));
et g max est conforme à l’équation (A.8)
 e − jk0 r1 e − jk0 r2
 − =
 r1 r2
max Polarisation horizontale

 1  2 12
 r2 + r12 − 2r1r2 cos ( k0 ( r2 − r1 ) ) 
r1r2  

 max (A.8)
gmax = 
2 − jk0 r1 2 − jk0 r2
 s e s e
 2 +
r 2 r2
r
 1 1 r2 max
 Polarisation verticale
2 12
 s  6
= r + r16 + 2r13 r23 cos ( k0 ( r2 − r1 ) ) 
 3 3  2 
 r1 r2
 max
– 146 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
avec les paramètres suivants comme le représente la Figure A.5 (voir A.7):
où
2
r1 = (
s 2 + RH − hg ) est la distance entre le dipôle source et le dipôle de réception;
2
r2 = (
s 2 + RH − hg ) est la distance entre le dipôle image et le dipôle de réception;
s est la distance horizontale entre le dipôle de réception et le dipôle source

comme indiqué dans les normes. Normalement, cette valeur est
de 30 m, 10 m ou 3 m;
hg
est la hauteur de l’EUT au-dessus du plan de sol;
RH est la hauteur du dipôle de réception au-dessus du plan de sol.
En principe, ce paramètre varie sur une plage comprise entre 1 m et 4 m.
Le champ électrique maximal en espace libre, en zone lointaine à une distance r est donné
1 η0
par Emax = Dmax P0 , , où Dmax est la directivité maximale de l’antenne. L’équation (A.6)
r 4π
est issue du réglage de Dmax à 3 et de la prise en compte de l’antenne d’image, ainsi que de
la distance r par l’intermédiaire du facteur de géométrie. La valeur D max = 3 est une limite
supérieure pour une petite antenne d'un point de vue électrique et provient de la présence d’un
dipôle électrique et d’un dipôle magnétique tous les deux orientés, et avec une phase
permettant d’obtenir une directivité maximale. Pour un dipôle électrique ou magnétique
seul Dmax = 1,5 . Il s’agit du cas le plus probable pour un radiateur involontaire dans la mesure
où il convient qu’un seul type de source soit dominant. Dans ce sens, l’équation (A.5) peut être
considérée comme le "cas le plus défavorable".
Généralement, la directivité D est donnée soit par une valeur hypothétique, soit par une valeur
connue a priori, soit par la directivité mesurée de l'EUT. L’algorithme de corrélation de guide
d’onde TEM à un accès a toujours comme hypothèse une estimation du "cas le plus
défavorable" fondée sur a) la puissance totale rayonnée sur le volume ou le cône de balayage
OATS et b) le choix implicite de directivité du cas le plus défavorable. Pour une comparaison
avec d’autres méthodes de mesure d’émissions de puissance totale rayonnée (des chambres
réverbérantes, par exemple), des directivités de D = 1,5 ou D = 1,7 peuvent être utilisées. Pour
les besoins du présent document, une directivité d'EUT de petite taille du "cas le plus
défavorable" avec D = 3 est utilisée.
Cette méthode de corrélation est valable pour les EUT de petite taille comme défini en 6.2.
NOTE Pour les classes de produits avec approximativement les mêmes tailles (facteur de forme) et fonctionnalité,
une comparaison complète du guide d’onde TEM avec l’OATS est réalisée à l’aide d’un produit représentatif de cette
classe. Cette comparaison forme une référence, de telle sorte que seuls les essais de guide d’onde TEM sont
nécessaires pour d’autres produits dans cette classe spécifique de produit.
Une autre méthode de corrélation concerne les résultats de mesure de guide d'onde TEM en
fonction des niveaux d'amplitude du champ en espace libre. Pour le cas de l’espace libre (ou
d’une chambre complètement anéchoïque équivalente), les termes de la réflexion due au plan
de sol (indice 2 dans l’équation (A.8)) sont omis.
En variante, Emax peut être exprimé en dB(μV/m) comme l’équation (A.9)
g   P0 
Emax = 20 lg  max  + 10 lg   + 139,5 (A.9)
 m−1  1W 
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 147 –
Le facteur 20 ⋅ lg( gmax ⋅ 1 m) peut être calculé avec chaque mesurage ou être interpolé à partir
des tableaux de référence précalculés pour les géométries normalisées.
Emax peut également être exprimé en fonction des tensions mesurées. L'insertion de P0 à partir
de l’équation (A.1), et de S à partir de l’équation (A.2) dans l’équation (A.6) et la conversion
en dB(µV/m) conduit à l’équation (A.10)
g  η0 k0   2 
Emax =

20 lg  max  + 20 lg   + 10 lg  S  + 120 (A.10)
−1
 m   2π ⋅ e0 y ⋅ Ω   Zc ⋅ 1 W 
  
A.4 Facteurs de correction des mesures d'émission
A.4.1 Sources d’émission de référence
Les facteurs de correction peuvent être déterminés au moyen d’un jeu de sources d’émission
de référence avec des réponses en émission bien caractérisées selon la méthode OATS. Les
sources de référence sont choisies sur la base des types d'EUT qui sont soumis à l'essai dans
le guide d’onde TEM. Les cinq types suivants de sources de référence sont recommandés pour
représenter des applications CEM générales. Ils représentent des variantes d’équipements de
table comme définis dans la CISPR 32 [68].
a) Un générateur de peigne alimenté par batterie avec une antenne à large bande, qui est un
exemple d'EUT de petite taille. Il convient que la dimension la plus importante du générateur
de peigne soit inférieure à 0,1 h, où h est l'espacement entre conducteurs. Si aucun
générateur de peigne du marché ne satisfait à l’exigence de taille, un générateur de peigne
dont la taille peut atteindre jusqu’à 0,35 h peut être utilisé. Dans ce cas, la taille et le type
du générateur de peigne utilisé et la taille régulièrement autorisée (0,1 h), sont indiqués
dans le même article du protocole d’essai et comportent un marquage spécial. Il convient
que l’enveloppe de l'EUT soit inférieure à une longueur d’onde à la fréquence la plus élevée
vérifiée par essai (voir 6.2).
b) Un générateur de peigne alimenté par batterie avec un fil fixé, qui est un exemple d'EUT de
grande taille sans câbles de sortie (voir 6.3). Il convient que le fil fixé s’étende jusqu’au bord
du volume d’essai utilisable, tout en restant à l’intérieur de celui-ci.
c) Un générateur de peigne alimenté par batterie avec un câble de sortie fixé, qui est un
exemple d'EUT de grande taille avec câbles de sortie. Le fil fixé s’étend jusqu’à une pince
de ferrite et la traverse.
d) Une enveloppe de 480 mm montée sur châssis avec générateur de peigne incorporé, avec
au moins deux câbles de sortie, prévue pour être un exemple d'EUT de grande taille avec
câbles de sortie.
e) Un EUT avec l'un des facteurs de forme indiqués de a) à d), avec une source intégrée de
bruit à large bande (plutôt qu'un générateur de peigne).
Pour les exemples a) à d), il convient que le générateur de peigne produise des raies spectrales
tous les 10 MHz ou moins sur toute la plage de fréquences concernée. Pour l’exemple e), il
convient que la source à large bande couvre toute la plage de fréquences concernée.
Il convient que le spectre de sortie soit stable avec des variations inférieures à 1 dB pendant
la durée de l’essai.
NOTE Si la plus grande dimension de la source est inférieure à 0,1 h, une perturbation minimale du mode TEM
peut être prise pour hypothèse.
Pour les fabricants de guides d’onde TEM de types et de tailles spécifiques, il est recommandé
de mesurer les émissions en utilisant les exemples d'EUT dans quatre guides d’onde TEM ou
plus, de même type et de même taille, et quatre, voire davantage, OATS différents. Les résultats
sont valables pour tous les guides d’onde TEM de même type et de même taille. Il convient
– 148 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
d’utiliser un montage identique d'EUT, avec fonction de détection et de réception, temps de

palier et largeur de bande également identiques, à toutes les fréquences et sur chaque
emplacement d’essai. Il convient d’appliquer l’algorithme de corrélation à trois orientations,
pour convertir les tensions mesurées avec le guide d’onde TEM en valeurs d’amplitude de
champ OATS.
A.4.2 Installation des EUT de petite taille
Les essais sont réalisés dans un guide d’onde TEM avec application d’une séquence d’essais
spécifique avec comme exemple un EUT de petite taille. L'EUT est placé au centre du volume
d’essai, par exemple sur un support du montage d’essai, et il est tourné autour de l’orthoaxe
selon un minimum de trois orientations orthogonales (voir la Figure A.1 et la Figure A.2 à
l'Article A.7). Dans certains cas, l’utilisation d’un cube non conducteur pour envelopper l'EUT
fixé, ou l‘utilisation d’un manipulateur, peut faciliter les rotations.
A.4.3 Calcul du facteur de correction pour les EUT de petite taille
Dans le cas de l’exemple d’un EUT de petite taille, un facteur de correction statistique a été
identifié pour améliorer l’accord entre amplitudes de champ en OATS et en guide d’onde TEM,
obtenu par algorithme de corrélation à trois orientations.
Le mesurage d’émission dans les guides d’onde TEM est fondé sur la méthode de puissance
totale rayonnée. Par conséquent, toutes les orientations possibles sont examinées. Lorsque les
données OATS sont comparées aux mesurages en guide d’onde TEM, il convient que
l’opérateur choisisse l’orientation de l’EUT sur l’OATS avec l’émission maximale.
Le calcul du facteur de correction est fondé sur les différences de l’écart moyen et de l’écart
type, à la fois pour les amplitudes de champ corrélées des guides d’onde TEM et pour celles
mesurées avec la méthode OATS, à chaque fréquence. Un facteur de correction du diagramme
de rayonnement complémentaire a également été identifié pour améliorer l’accord entre les
résultats du guide d’onde TEM et de l’OATS pour l’EUT de petite taille. Le facteur de correction
c f à chaque fréquence f est calculé à l'aide de l’équation (A.11)
c f =x f − d s, f − t
(A.11)
où
xf est la différence moyenne entre les résultats d'amplitude des champs en guide d’onde
TEM et en OATS;
d s,f est la différence des écarts types des valeurs lues multiples en guide d’onde TEM et en
OATS selon l’équation (A.13);
t est le facteur d'incertitude du diagramme de rayonnement selon l’équation (A.19).
Un EUT de petite taille peut ne pas avoir de diagramme de rayonnement omnidirectionnel. Il

convient que le facteur t dans l’équation (A.11) tienne compte de cette différence. Les
mesurages sur différents OATS et dans différents guides d’onde TEM peuvent également
donner lieu à des écarts. Ce phénomène est pris en compte par d s,f , dans l’équation (A.11).
L’ordre d’amplitude typique de t et d s,f , est de 1 dB.
La différence des moyennes des résultats d'amplitude de champ à chaque fréquence est
donnée par l’équation (A.12)
1 n 1 m 
=x f  ∑ gi, f − ∑ ok , f  (A.12)
n mk 1 
=  i 1= 
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 149 –
où
g i,f est l’amplitude de champ électrique de guide d’onde TEM corrélée avec l'espace
libre (selon A.3.2.4);
i = 1...n n est le nombre de mesurages dans les guides d’onde TEM;
o k,f is the OATS electric field strength;
k = 1...m m est le nombre de mesurages OATS;
f is the frequency;
g i,f , sont les résultats d'amplitude de champ corrélée des mesurages i = 1…n avec un ou
plusieurs guides d’onde TEM de type et de taille spécifiques; et
Ok,f, k,f , constituent les résultats des mesurages de k = 1…m en utilisant un ou plusieurs
OATS différents.
NOTE 1 Les grandeurs g i,f et o k,f suivent une distribution log-normale et l’équation (A.12) peut par conséquent être
exprimée selon une échelle logarithmique.
La différence des écarts types des valeurs lues multiples du guide d’onde TEM et de l’OATS
est donnée par l’équation (A.13)
d s, f sTEM, f − sOATS, f
= (A.13)
Dans le cas présent, sTEM,f est l’écart type des valeurs multiples d’amplitudes du champ du
guide d’onde TEM, donné par l’équation (A.14)
n
∑ ( gi, f )
2
−gf
sTEM, f = i =1 (A.14)
n −1
et sOATS , f est l’écart type des résultats d’un ou de plusieurs OATS, donné par l’équation (A.15)
m
∑ ( ok, f )
2
−of
k =1
sOATS,f =
m −1 (A.15)
Dans ces équations d’écart type, la moyenne des niveaux de chaque guide d’onde TEM et de
chaque OATS est donnée par l’équation (A.16) et l’équation (A.17)
1 n
gf = ∑ gi, f , pour le guide d'onde TEM
n i =1
(A.16)
1 m
of = ∑ ok, f , pour l'OATS
m k =1
(A.17)
Si le guide d’onde TEM est unique ( n =1) , par exemple construit pour une utilisation
expérimentale dans un seul laboratoire, alors sTEM, f

= 0 pour la détermination du facteur de
correction de ce guide d’onde spécifique. Par conséquent, les résultats issus d'un guide d'onde
– 150 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
TEM unique ne peuvent pas être utilisés pour la validation d’autres guides d’onde TEM, même
de type et de taille identiques.
Pour chaque guide d’onde TEM spécifique, le facteur d’incertitude du diagramme de

rayonnement t est déduit d’une série d’essais de corrélation à trois positions effectués à partir
de huit positions de départ, par exemple 0°, 45°, 90°, 135°, 180°, 225°, 270° et 315°. Par
exemple, pour la position de départ 65 de la Figure A.4 (xx’yy’zz’) (voir l'Article A.7), l'EUT subit
une rotation selon ces angles autour de l’axe y. À chaque position de départ, la méthode de
corrélation à trois positions est utilisée pour produire, par addition, une série de huit valeurs
d’amplitude de champ corrélées désignées E ( 8 × 3 = 24 valeurs lues de tension). Eα est la
α
valeur moyenne de l'amplitude du champ électrique, spécifiquement, 0° ( 0° 90° ) E

= E +E 2
,…,
E225° ( E225° + E315° ) / 2 . Une amplitude de champ maximale, Eα,max , est obtenue comme
=
l’amplitude de champ la plus élevée pour chaque paire de valeurs séparées de 90°.
Spécifiquement,
max ( E0° E90° ) ,, E225°,max =

E0°,max =+ max ( E225° + E315° )
Un facteur d’écart type est calculé à l’aide de l’équation (A.18).
225°315°
2
∑ ( Eα,max − Eα )
0°90°
α=
t90°, f =
l −1 (A.18)
où l est le nombre de positions de départ (huit dans l’exemple ci-dessus).
Le facteur d’incertitude final du diagramme de rayonnement t est obtenu comme la moyenne

de ces positions selon l’équation (A.19)
1 n
t=
n i =1
(
∑ t90°, f . ) (A.19)
NOTE 2 Une alternative au facteur t peut être la méthode à six positions [42] ou la méthode à douze positions [55].
L’aspect important est que la valeur de puissance maximale rayonnée est capturée. Des données de comparaison
sont représentées en [28] et [29].
A.5 Procédures de mesure des émissions dans les guides d’onde TEM
A.5.1 Type d'EUT
A.5.1.1 EUT de petite taille
Un EUT de petite taille doit être soumis à l'essai avec deux orientations de départ dans un
guide d’onde TEM. La première orientation de départ est arbitraire, tandis que la seconde
correspond à la première orientation de départ après rotation comme représenté à la Figure A.4
(voir l'Article A.7). Les rotations applicables de l'EUT, selon l’algorithme de corrélation, sont
effectuées pour chaque orientation de départ. Par exemple, la méthode à trois orientations
de A.3.2.3.2 exige que trois orientations soient soumises à l'essai. Cette procédure doit être
réalisée avec les orientations de départ 65 et 15 ou 45 et 35 de la Figure A.4 (un total de
2 × 3 = 6 orientations). L’amplitude de champ corrélée la plus élevée de ces deux jeux de
données doit être notée à chaque fréquence.
NOTE La plage de fréquences est déterminée par la limite d'émission applicable ou l’objectif d’essai,
généralement 30 MHz à 1 GHz pour des EUT de petite taille. La plage de fréquences utilisable est déterminée par
les essais de vérification du mode TEM (voir 5.2.2).
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 151 –
A.5.1.2 EUT de grande taille
Les EUT de grande taille peuvent être soumis à l'essai selon douze orientations, décrites à la
Figure A.4 (voir l'Article A.7). Pour chaque orientation de l'EUT, les câbles de sortie doivent
être alignés aussi proches que possible avec la composante primaire du champ électrique en
mode TEM (l'axe y de la Figure D.7, par exemple. Voir l'Article D.8) tant que la paroi extérieure
n'a pas été atteinte. Les câbles doivent alors être acheminés le long de la paroi extérieure
jusqu'au point de sortie. Les câbles d'interconnexion doivent être disposés de manière
cohérente en fonction de l'usage normal de l'EUT.
La tension maximale reçue dans les douze orientations doit être déterminée et convertie en
E
amplitude de champ électrique max,TL selon l’équation (A.20) avec un facteur d'antenne
F
équivalent pour le guide d'onde TEM a,TL indiqué par l’équation (A.21)
Emax,TL
= Vmax ⋅ Fa,TL
(A.20)
η0 h 1
Fa,TL = (A.21)
Zc rTL λ
r
où TL est la distance entre l'accès de mesure du guide d'onde TEM et la position de l'EUT.
Cette amplitude de champ électrique maximale du guide d'onde TEM peut être comparée aux
E
limites d'émission OATS max (voir l'Article A.1) par sa normalisation en fonction de la distance
de séparation d'essai de l'OATS s selon l’équation (A.22)
Emax
= Emax,TL ⋅ 2 ⋅
rTL (A.22)
s
A.5.2 Montage de l'EUT
Les informations suivantes sont données à titre de recommandation.
L'EUT est placé au centre du volume d’essai utilisable (voir 5.2.2) sur un manipulateur
(voir 3.1.13, et la Figure A.1, la Figure A.2b) et la Figure A.2c) à l'Article A.7) ou sur un support
de montage d’essai (voir 3.1.24).
Il convient de fixer les EUT sans câbles au centre de rotation du manipulateur. Le manipulateur
permet de soumettre l'EUT à une rotation autour de son centre électrique (qui peut être par
hypothèse identique au centre géométrique de l'EUT).
Pour les EUT avec câble(s), l'acheminement de câbles suivant s’applique. Il convient que les
câbles longs soient disposés en faisceaux selon les exigences énoncées au 6.4 et 7.5.4 de la
CISPR 16-2-3:2016 et la CISPR 16-2-3:2016/AMD1:2019 [67]. Il convient que l’acheminement
du ou des câbles d’interconnexion soit perpendiculaire à chaque boîtier. Pour obtenir des
résultats de mesure reproductibles, il convient de ne pas modifier les positions relatives du ou
des câbles d’interconnexion et de l'EUT au cours de l’algorithme de corrélation à trois
orientations. Si le ou les câbles sont trop longs, le ou les câbles d’interconnexion peuvent être
disposés en faisceau selon 6.4 de la CISPR 16-2-3:2016 et la CISPR 16-2-
3:2016/AMD1:2019[67].
Il convient d’acheminer le ou les câbles de sortie perpendiculairement à chaque enveloppe de

l'EUT à la limite du volume d’essai utilisable. Le câble est ensuite posé le long de la limite du
volume d’essai utilisable jusqu’au coin à l’orthoangle, et au bord inférieur du volume d’essai
– 152 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
(Figure A.1). Il convient d’acheminer le ou les câbles de sortie le long de l’orthoaxe au moyen
d’un positionneur comme représenté à la Figure A.2b). Il convient de maintenir la position des
câbles, par exemple, par des pinces non-conductrices. Le ou les câbles de sortie sont
acheminés entre le coin inférieur du volume d’essai utilisable à l’orthoangle, et la ou les pinces
absorbantes au niveau du plan de sol du guide d’onde TEM. Il convient que les câbles multiples
soient séparés d’approximativement 100 mm. Au niveau du plan de sol du guide d’onde TEM,
chaque câble est terminé par des pinces absorbantes séparées ou par des ferrites à pince
(voir [1]). Il convient que la perte d'insertion de la pince (ou de la ferrite à pince) soit supérieure
à 15 dB pour la plage de fréquences comprise entre 30 MHz et 1 000 MHz. Il convient que le
câble de connexion ne touche pas le conducteur intérieur ou extérieur du guide d’onde TEM,
avant que le câble ne soit terminé par la pince absorbante ou la ferrite à pince. Une longueur de
câble de 1,3 m au plus précède l’emplacement de la pince. Si le câble est d’une longueur
inférieure à 1,3 m, alors le câble en entier se situe en amont de l'emplacement de la pince. Si
le câble a une longueur supérieure à 1,3 m, il convient alors qu’au moins 1,3 m de câble se
situe en amont de l'emplacement de la pince (voir la Figure A.1). Les câbles de sortie sont
acheminés entre les pinces absorbantes et les connecteurs sur le plancher ou sur la paroi, et
ensuite connectés au matériel associé à l’extérieur du guide d’onde TEM.
A.6 Rapport d'essai
Le rapport d’essai doit inclure à la fois les résultats d’amplitude de champ corrigés (E) et non
corrigés (E max ) tels que déterminés selon l’équation (A.23)
=E Emax − c f
(A.23)
avec E max en V/m de l’équation (A.6) et c f en V/m de l’équation (A.11) ou avec l’équation (A.24)
(en dB)
 cf 
Emax dB − 20 lg 
E dB = − 120 (A.24)
 1 V/m 
 
avec Emax dB
en dB(μV/m) de l’équation (A.9) et c f en V/m de l’équation (A.11).
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 153 –
A.7 Figures de l’Annex A
a) Vue de côté
EUT
EUT
b) Vue de dessus
La longueur du câble de connexion entre le boîtier de l'EUT et la terminaison doit être d’environ 1,3 m.
Figure A.1 – Acheminement du câble de sortie vers le coin à l’orthoangle et le bord

inférieur du volume d’essai dans un guide d'onde TEM (voir A.5.2)
– 154 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
a) Orthoaxe et orthoangle (voir A.5.2)
b) Vue de côté
c) Vue de dessus
NOTE De manière analogue au montage de la Figure A.1, ce positionneur donne trois positions orthogonales au
moyen de trois rotations de 120° ° autour de l’orthoaxe.
Figure A.2 – Positionneur EUT d’orthoaxe ou manipulateur

de base (voir 3.1.13, A.4.2, A.5.1.2, A.5.2)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 155 –
a) Réseau de puces pour l’EUT b) Alignement de l’axe en position 65
NOTE 1 Les axes x, y, z représentent les axes de coordonnées du guide d'onde TEM, où z est le sens de propagation
et où la composante de champ primaire est polarisée le long de l'axe y. Chaque position d'EUT est composée de
deux nombres: le nombre dans la direction z positive, et le nombre dans la direction y positive. Par conséquent, la
Figure A.3b) présente l'EUT dans la position 65 comme indiqué à la Figure A.4.
NOTE 2 Pour la plupart des EUT, la position 65 est redondante avec la position 62. En règle générale, chaque
position comporte une position redondante pour laquelle la somme des seconds chiffres du nom de position est égale
à sept (par exemple, 46 et 41, 64 et 63).
Figure A.3 – Modèle de puce et alignement de l'axe d'un EUT [26] (voir A.3.2.3.2)
– 156 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022

xxýy´zz´ x(-z´) yy´zx´ x(-x´) yy´z(-z´) xzýy´z(-x´)

xyý(-z´) z(-x´) xxý(-z´) zy´ x(-y´) y(-z´)zx´ x(-x´) y(-z´)z(-y´)

x(-z´) yx´z(-y´) xyýx´z(-z´) xzýx´zy´ x(-y´) yx´zz´
NOTE 1 Dans cette figure, x, y, z sont les axes de coordonnées du guide d’onde TEM, x´, y´, z´ sont les axes de
coordonnées de l'EUT et le champ est polarisé le long de l’axe y et se propage le long de l’axe z. Le centre virtuel
(ou géométrique ou de phase) de l'EUT reste dans la même position par rapport aux conducteurs du guide d’onde
TEM.
NOTE 2 Ces douze positions peuvent être obtenues par rotation de l'EUT trois fois de −90° autour de l'axe y du
guide d'onde TEM (65, 45 15, 35), puis par inclinaison de l'EUT de −90° autour de l'axe z du guide d'onde TEM. Trois
autres rotations autour de l'axe y (31, 51, 41, 21), suivies d'une autre inclinaison autour de l'axe z-, et les trois
dernières rotations autour de l'axe y(24, 14, 54, 64) donnent les douze positions de mesure non redondantes
exigées.
NOTE 3 Les triplets (65, 41, 24), (45, 21, 14), (15, 31, 54) et (35, 51, 64) forment un ensemble de trois orientations
orthogonales qui peuvent être utilisées pour l'algorithme de corrélation à trois orientations. De même, dans un essai
d’immunité, les huit faces minimales sont données, par exemple, par les deux jeux de quatre orientations (24, 14 54,
64) et (65, 45, 15, 35) dans les première et troisième lignes de cette figure.
Figure A.4 – Orientations non redondantes à douze faces/axes

pour un EUT typique [26] (voir A.3.2.3.2)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 157 –
NOTE L'axe z est horizontal comme le plan de sol et il est aligné avec la direction de propagation. Cette disposition
est cohérente avec le système de coordonnées des guides d’onde TEM, où l’axe z est parallèle au conducteur et
aligné avec la direction de propagation.
Figure A.5 – Géométrie de mesures des émissions

dans l'emplacement d’essai ouvert (OATS) (voir A.3.2.4)
– 158 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
Annex B
(normative)
Essais d’immunité dans les guides d’onde TEM
B.1 Aperçu
L'Annex B décrit les essais d’immunité dans les guides d’onde TEM. L’intention est de
permettre les essais d’immunité des matériels électriques et électroniques à un champ
électromagnétique incident.
L’essai est réalisé avec une disposition spécifique de l'EUT. Cette disposition exige que le
montage d’essai et les limites ou niveaux d’essai soient définis par des normes de produits ou
de familles de produits spécifiques.
B.2 Matériel d'essai
B.2.1 Généralités
Les types de matériel d’essai suivants sont recommandés:
a) guide d'onde TEM: d’une taille appropriée pour maintenir un champ uniforme de dimensions
suffisantes pour contenir les EUT prévus;
b) filtres contre les perturbations électromagnétiques;
c) générateur(s) de signaux à fréquences radioélectriques: il est souvent utile de contrôler la
puissance incidente et réfléchie dans le guide d’onde TEM lors de l’établissement des
niveaux de champ. Un coupleur directif accompagné d’un voltmètre ou wattmètre RF permet
de mesurer la puissance réelle incidente vers un guide d’onde TEM (par opposition à la
puissance nominale du générateur de signaux RF). Les deux doivent couvrir la largeur de
bande prévue;
d) amplificateurs de puissance;
e) capteurs de champ, capables de surveiller séparément le champ électrique le long des trois
axes orthogonaux. Les circuits de tête de sonde et le système optoélectronique doivent
avoir une immunité appropriée à l’amplitude de champ à mesurer et une liaison à fibres
optiques vers l’indicateur à l’extérieur du guide d’onde TEM. Une ligne de signal
correctement filtrée peut également être utilisée. Les guides d’onde TEM exigent une sonde
de champ qui permet de mesurer le champ électrique de manière individuelle le long des
trois axes orthogonaux. Si une petite antenne à un seul axe est utilisée, elle doit être
repositionnée pour mesurer chaque composante de champ séparément;
f) matériels associés pour enregistrer les niveaux de puissance.
B.2.2 Description de l’installation d’essai
Pour les guides d’onde TEM, le mode TEM est équivalent à une onde plane incidente à des fins
d’essais d’immunité. Alors qu’une onde plane théorique est invariante sur tout front à phase
constante, les champs de mode TEM varient, dans une ligne de transmission, sur un front à
phase constante conformément aux caractéristiques de la géométrie de la section. Les
méthodes en chambre anéchoïque et avec guide d’onde TEM sont toutes deux fondées sur une
distribution de champ d’onde plane avant insertion de l'EUT. Un diagramme de champ en mode
TEM est plus proche de la polarisation verticale dans une chambre anéchoïque, alors que dans
une chambre, le diagramme de champ en polarisation horizontale est plus sujet aux distorsions
provoquées par les réflexions du plan de sol.
NOTE Une cellule TEM se comporte elle-même comme une cage de Faraday. Les lignes ouvertes se trouvent en
général dans une cage de Faraday de plus grande dimension pour assurer l’isolation. Un matériau d'absorption peut
être utilisé dans une enveloppe de plus grande dimension pour améliorer l'uniformité du champ.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 159 –
B.3 Étalonnage de la zone d'uniformité du champ
Les zones qui ne figurent pas dans le Tableau B.1 doivent être étalonnées en utilisant un
nombre de grilles défini par la plus petite grille de 0,5 m qui contient intégralement la zone
proposée. L’espacement de grille doit être uniforme le long de chaque côté. Dans le montage
d’essai, la face de l'EUT doit être éclairée de manière coïncidente avec ce plan (voir la
Figure B.2 à l'Article B.8).
Tableau B.1 – Points d’étalonnage de la zone uniforme
Disposition et nombre
Dimensions
de points de mesure
1,5 m × 1,5 m 4 × 4 = 16
1,0 m × 1,5 m 3 × 4 = 12
1,0 m × 1,0 m 3×3=9
0,5 m × 1,0 m 2×3=6
0,5 m × 0,5 m 4 + 1 (centre) = 5
0,25 m × 0,25 m 4 + 1 (centre) = 5
EXEMPLE 1 Une zone de 20 cm × 20 cm utilisant 4 + 1 [centre] = 5 points, une zone de 80 cm × 80 cm utilisant

3 × 3 = 9 et une zone de 1,2 m × 0,6 m utilisant 4 × 3 = 12 points.
EXEMPLE 2 Une zone uniforme de 1,2 m × 0,6 m utilise une taille de grille de base de 0,4 m × 0,3 m.
L’exigence d’utilisation d’une zone uniforme est fondée sur la méthode de vérification du mode
TEM décrite en 5.2.2.3. En principe, l’uniformité de champ est vérifiée en matière de
composante de champ primaire en mode TEM. Si l’amplitude de champ résultante est utilisée
à la place, toutes les exigences susmentionnées doivent être satisfaites et il doit être démontré
que les exigences concernant les composantes secondaires de 5.2.2.3 sont satisfaites.
D’autres informations concernant l’homogénéité de champ sont données en [22].
B.4 Niveaux d'essai
Les niveaux d’essai sont donnés à titre de recommandations dans le Tableau B.2.
Tableau B.2 – Niveaux d'essai
Niveau d'essai Amplitude du champ

d'essai
V/m
1 1
2 3
3 10
X Spéciale
NOTE X est un niveau d’essai ouvert. Ce niveau est

indiqué dans la spécification de produit.
B.5 Montage d'essai
B.5.1 Installation des équipements de table
Pour les guides d’onde TEM, au lieu d’utiliser une table non conductrice de 0,8 m de hauteur
comme support type pour certains montages d’essai d’immunité, les équipements doivent être
– 160 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
placés sur un support de montage d’essai (voir 3.1.24) ou un manipulateur (voir 3.1.13) de
forme et de dimensions adaptées, de telle manière que la face avant se situe à l’intérieur de la
zone de champ uniforme pour chaque position. Un montage de l'EUT typique est représenté à
la Figure B.1 (voir l'Article B.8).
B.5.2 Installation des équipements posés au sol
Pour les guides d’onde TEM, les équipements doivent être placés sur un support de montage
d’essai de telle manière que la face avant se situe à l’intérieur de la zone de champ uniforme.
L’utilisation de support de montage d’essai non conducteur empêche la mise à la masse
accidentelle de l'EUT et la distorsion du champ. Le support de montage d’essai doit être
entièrement non-conducteur, plutôt que d’être un revêtement isolant disposé sur une structure
métallique.
B.5.3 Installation du câblage
Le câblage doit rester exposé au champ électromagnétique sur une distance de 1 m à partir de
l’EUT et il doit être acheminé au-dessus du sol, soit au niveau de l’EUT, soit le long d’une
diagonale dans le plan xy jusqu’au point de sortie dans le conducteur extérieur du guide d’onde
TEM (par exemple, paroi ou sol dans une cellule TEM). L’acheminement des câbles dans la
direction z le long du conducteur extérieur ou intérieur doit être évité. Les câbles acheminés
parallèlement au conducteur intérieur ou extérieur du guide d’onde TEM doivent être espacés
de la surface du conducteur d’au moins 0,1 m. Les câbles de sortie doivent être terminés par
des pinces absorbantes (voir A.5.2). La terminaison du câble de sortie doit être placée à la
limite de la zone uniforme. Pour obtenir des recommandations sur les caractéristiques des
pinces absorbantes, voir les descriptions dans la CISPR 16-1-4.
B.6 Procédures d'essai
L’essai doit être normalement réalisé avec chacun des quatre côtés de l’EUT faisant face à
l’accès du générateur.
Pour les guides d’onde TEM, le champ électrique est polarisé dans une seule direction
(normalement verticalement). Ainsi, pour vérifier que l’EUT est complètement exposé à
l’équivalent à la fois de la polarisation horizontale et de la polarisation verticale, il est
nécessaire de lui faire effectuer une rotation. Par exemple, pour un champ électrique polarisé
verticalement, les expositions en polarisation horizontale équivalentes sont obtenues d’abord
par rotation de l'EUT selon un angle de 90° autour de l’axe perpendiculaire à la zone uniforme
(direction de la propagation du mode TEM) afin de réorienter la première face de l'EUT, puis
par trois rotations autour de l’axe horizontal aligné sur la zone uniforme, pour exposer les autres
faces de l'EUT (Figure B.1 de l'Article B.8). Cette configuration peut exclure les essais dans
certains guides d’onde TEM d’un EUT qui dépend de l’orientation.
En variante, le guide d’onde TEM peut faire l’objet d’une rotation autour de l’EUT ou un guide
d’onde TEM à polarisation multiple (voir la Figure D.10 de l'Article D.8) peut être utilisé de
manière à obtenir la même polarisation.
La dimension du palier de fréquences doit être égale à 1 % de la fréquence précédente. Le

temps de palier à chaque fréquence ne doit pas être inférieur au temps nécessaire à l'EUT pour
être mis à l’épreuve et réagir, mais ne doit en aucun cas être inférieur à 0,5 s. Cependant, un
temps de palier de 1 s est conseillé.
Les plages de fréquences à prendre en considération doivent être couvertes par paliers de
fréquences, selon l’exigence ci-dessus, avec le signal modulé en amplitude à 80 % par une
onde sinusoïdale de 1 kHz, avec application de pauses pour ajuster le niveau du signal RF ou
pour commuter les oscillateurs si nécessaire.
Si un EUT comprend plusieurs éléments, il convient de veiller à conserver les positions relatives
des éléments au cours des rotations. Cette situation peut exiger une disposition soigneuse de
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 161 –
l'EUT et la fixation de ses éléments et câbles sur un support de montage d’essai ou un

manipulateur.
B.7 Résultats et rapport d’essai
Outre le contenu habituel du rapport d'essai d’immunité aux perturbations rayonnées, des
informations détaillées concernant la taille, le type et les méthodes de vérification du guide
d’onde TEM doivent être indiquées.
B.8 Figures de l’Annex B
a) Polarisation verticale
Supports non
conducteurs
b) Polarisation horizontale
Légende:
E Composante de champ électrique primaire

H Champ magnétique
k Direction de propagation (vecteur d’onde)
La disposition du câble du côté filtre du point pivot doit rester fixe. Les supports du montage d’essai (3.1.24) peuvent
être repositionnés si nécessaire au cours des rotations. Il convient que les supports du montage d’essai aient une
épaisseur de 0,1 m. Les EUT à unités multiples doivent être fixés sur un support de montage d’essai ou une plate-
forme équivalente et doivent être soumis, de la même manière, à une rotation. Les manipulateurs et les guides
d’onde TEM qui peuvent subir des rotations (voir [6]) ou à polarisation multiple (Figure D.10; voir Article D.8) et qui
obtiennent le même ensemble d’EUT par rapport aux polarisations de champ incident, peuvent être utilisés.
Figure B.1 – Exemple de montage d’essai pour guide d’onde TEM

à polarisation unique (voir Article 0)
– 162 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
a) Vue de côté
b) Vue en coupe
NOTE Exemple d'une zone uniforme avec (3 × 3) points d'étalonnage dans une cellule GTEM selon 5.2.2.1. La
Figure B.2b) présente la taille maximale possible de la zone uniforme. La limite de la zone uniforme (plane) est
donnée par les points d’étalonnage extérieurs. Les points d’étalonnage ne se situent pas à l’extérieur du volume
d’essai utilisable (voir 5.2.1 et Figure D.7 à Figure D.11 à l'Article D.8). Voir également 5.2.1 pour des descriptions
de L et h EUT .
Figure B.2 – Points d’étalonnage de la zone uniforme

dans un guide d’onde TEM (voir Article B.3)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 163 –
Annex C
(normative)
Essais de transitoires IEM-HA dans les guides d’onde TEM
C.1 Aperçu
L’Annex C a été établie pour spécifier l’essai d’immunité aux impulsions électromagnétiques à
haute altitude (IEM-HA) pour les équipements et systèmes électriques ou électroniques. Il s’agit
de permettre aux fabricants de qualifier des équipements et des systèmes de petite taille, et
d’utiliser un grand nombre des essais d’immunité IEC de laboratoire qui sont déjà spécifiés à
d’autres fins de CEM.
Dans le domaine IEM-HA, le terme "simulateur" est souvent utilisé pour décrire de nombreux
types différents d’installations d’essai qui peuvent produire le bon environnement IEM-HA
incident (voir l'IEC 61000-4-32 [66]). Dans l'Annex C, le terme fait référence uniquement aux
guides d’onde TEM qui peuvent produire la forme d’onde IEM-HA exigée dans le volume d'essai
de l'EUT défini.
Tandis que l'Annex C est destinée à décrire les exigences d’essai IEM-HA dans les guides
d’onde TEM de manière homogène avec d’autres types d’essais réalisés dans les guides d’onde
TEM, elle couvre les essais de transitoires qui, de par leur nature, diffèrent dans une large
mesure des essais en ondes entretenues. Lorsque les exigences d’essai IEM-HA de l’Annex C
diffèrent de celles décrites dans le corps du présent document, elles doivent remplacer toutes
les autres.
C.2 Essais d'immunité
C.2.1 Généralités
Les essais d’immunité IEM-HA se composent de deux types principaux: essais d’immunité aux
perturbations rayonnées et essais d’immunité aux perturbations conduites. L'Annex C ne traite
que les essais d'immunité aux perturbations rayonnées. Pour les besoins du présent document,
le terme "équipement électronique" indique un appareil qui exécute une fonction spécifique.
Par exemple, il peut s’agir d’un petit ordinateur ou d’un téléphone. Certains équipements (par
exemple, un ordinateur connecté à des périphériques complémentaires tels que les panneaux
de commande pour le contrôle des processus dans une usine) peuvent être considérés comme
partie intégrante d’un système plus important. Souvent, les équipements électroniques sont
relativement petits – de l’ordre de 1 m × 1 m × 1 m ou plus petit.
En l’absence d’objet dans le simulateur, l'amplitude du champ électrique à l’intérieur du volume

d’essai est une onde comparable à une onde plane, avec un historique de durée d’impulsion
biexponentielle décrit par une onde 2,5/25 ns, c’est-à-dire une onde unipolaire avec un temps
de montée de 10 % à 90 % de 2,5 ns, et une largeur d’impulsion égale à 25 ns. Cette forme
d’onde est donnée par l’équation (C.1).
(
E(t ) =Epeak ⋅ k e− βt − e−αt ) (C.1)
où
α = 6,0 × 10 8 s –1 ;
β = 4,0 × 10 7 s –1 ;
k = 1,3;
E est la composante primaire du champ électrique;
– 164 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
t est la durée;
E peak est le niveau d’essai de sévérité choisi dans le Tableau C.1.
Tableau C.1 – Niveaux d’essai d’immunité aux perturbations

rayonnées définis dans le présent document
Valeur de crête de
champ électrique
Essai exigé pour les équipements et les
Niveau d'essai E peak b
systèmes avec la protection suivante a
kV/m
R1 Concept 4 0,5
R2 Valeur intermédiaire 1
R4 Concepts 2A, 2B, 3 5
R7 Concepts 1A, 1B 50
RX Applications spéciales X
a Les concepts de protection sont décrits dans l’IEC TR 61000-5-3.
b Conformément à l’IEC 61000-2-11:1999, Tableau 2.
L’amplitude spectrale dans le domaine fréquentiel pour l’équation (C.1) est donnée par
l’équation (C.2):
Epeak ⋅ k ⋅ (α − β )
E( f ) = (C.2)
(( 2πf ) 2
+α 2
) ⋅ (( 2πf ) 2
+β 2
)
où f est la fréquence.
Pour les paramètres de forme d'onde donnés ci-dessus, l’amplitude spectrale dans le domaine
fréquentiel de l’équation (C.2) est représentée à la Figure C.1 (voir Article C.6).
NOTE Pour des détails supplémentaires voir [33].
C.2.2 Installations d’essai pour les perturbations rayonnées
Des installations d’essai de petite taille peuvent plus facilement satisfaire aux spécifications de
champs souhaitées, avec des tolérances plus faibles dans les variations de paramètres qu’avec
les simulateurs de grande taille. Ces petites installations sont utilisées principalement pour les
essais d’équipements de taille relativement petite. Les tolérances pour la forme d’onde de
l’impulsion IEM-HA initiale sur la totalité du volume d’essai de l’installation d’essai de petite
taille doivent être comme suit:
a) Le rapport d'amplitude de champ électrique de crête sur l'amplitude de champ magnétique

de crête doit être égal à η 0 = 377 Ω ± 75 Ω.
b) Le temps de montée entre 10 % et 90 % de la valeur de crête doit être de 2,5 ns ± 0,5 ns.
c) L'amplitude de champ électrique doit augmenter de façon continue pendant le temps de
montée entre 10 % et 90 %.
d) La largeur d’impulsion (la durée entre les points sur les fronts et les flancs arrière de
l’impulsion à 50 % de E peak ) doit être de 23 ns ± 5 ns.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 165 –
e) L'amplitude de toute préimpulsion de l'amplitude du champ électrique doit être inférieure ou

égale à 7 % de l'amplitude du champ de crête.
f) Les réflexions de champ électrique provenant de la terminaison du simulateur doivent être
inférieures à 10 % de l’amplitude du champ de crête.
g) Les fluctuations dans le spectre de fréquences lissé de l'amplitude du champ électrique au
centre du volume d’essai ne doivent pas être supérieures à ± 3,0 dB par rapport au spectre
théorique dans la largeur de bande comprise entre 100 kHz et 300 MHz.
h) Au moment de la valeur de crête du champ primaire, d’autres composantes
électromagnétiques secondaires (voir 3.1.19) doivent être inférieures à 10 % de la valeur
de crête du champ primaire. Il est reconnu que cette exigence est plus sévère que celle
donnée en 5.2.2.
i) L'amplitude du champ électrique de crête doit être uniforme dans le volume d’essai selon
les critères suivants: l'amplitude du champ électrique de crête dans le volume d’essai doit
se situer dans la plage de E peak et 2·E peak dans le domaine temporel.
j) Pour évaluer les tolérances de champ, les mesurages d'amplitude des champs électrique
et magnétique au centre et aux huit coins du volume d’essai doivent être réalisés en
l’absence de l'EUT.
C.2.3 Exigences du spectre dans le domaine fréquentiel
Outre les exigences concernant les champs transitoires du simulateur IEM-HA, les exigences
suivantes doivent s’appliquer au spectre dans le domaine fréquentiel des champs du simulateur.
a) Le spectre de fréquences doit être calculé au moyen d’une forme d’onde transitoire
échantillonnée de manière uniforme avec 4 096 échantillons entre le temps de début
de 0 µs et le temps de fin de 2 µs. Un spectre de fréquences à valeurs complexes
de 4 096 points doit être calculé à l’aide d’une FFT (transformée de Fourier rapide) ou d’une
DFT (transformée de Fourier discrète) avec un intervalle d’échantillonnage de fréquences
de 0,5 MHz, et une fréquence maximale de 1,0 GHz.
b) Le spectre du domaine fréquentiel doit être lissé par application d’une moyenne de
fenêtrage à cinq points (c’est-à-dire que le spectre doit être moyenné sur une fenêtre
de 2 MHz).
c) L'amplitude qui résulte du spectre lissé doit se situer dans les limites du niveau spécifié
en dB du spectre de la forme d’onde spécifiée de l’équation (C.2) et elle est représentée à
la Figure C.1.
NOTE La plupart des spectres de fréquences mesurés ont des valeurs nulles occasionnelles (ou "pertes de
niveaux"), qui ne modifient pas de manière significative le comportement global de la forme d’onde transitoire.
L’exigence selon laquelle le spectre de domaine fréquentiel lissé des simulateurs de petite et de grande tailles se
situe, respectivement, à ±3 dB et ±10 dB, provient de la reconnaissance de ce fait, et a pour but de permettre une
valeur nulle occasionnelle dans le spectre. Les limites spectrales de ±3 dB et ±10 dB sont différentes, car les
simulateurs plus petits ont généralement des tolérances et une précision plus importantes des champs simulés.
C.3 Matériel d'essai
La méthode de mesure doit comprendre l’utilisation d’une liaison de transmission à fibres

optiques qui permet la mesure et la transmission des signaux vers un système de traitement
des données, sans perturber le champ électromagnétique ambiant. Le système de mesure doit
être intrinsèquement insensible aux rayonnements électromagnétiques émis par le simulateur.
Le système de mesure a pour objet
– de fournir des mesurages du champ de référence,

– de synchroniser l’IEM-HA simulée avec les modes opérationnels de l’EUT comme exigé par
l’utilisateur, et
– de fournir des mesurages de tension et de courant de l’EUT comme exigé par l’utilisateur.
Il convient que la précision exigée pour le système de mesure global se situe dans des limites
de ±3,0 dB sur une plage de fréquences comprises entre 50 kHz et 1 GHz, et il convient que
sa plage dynamique instantanée globale soit d’au moins 40 dB.
– 166 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
Il est recommandé que le système de mesure présente les caractéristiques suivantes:
a) il convient que le système de transmission des données ait une largeur de bande minimale
de 3 dB de 50 kHz à 1 GHz;
b) il convient que le numériseur ou l’oscilloscope ait une largeur de bande minimale
de 500 MHz et un taux d’échantillonnage minimal de deux gigaéchantillons par seconde
avec une résolution de données minimale de 8 bits;
c) il convient que les capteurs de champ électrique et magnétique aient une largeur de bande
minimale de 3 dB de 50 kHz à 1 GHz. Voir l'IEC 61000-4-23 [65] pour de plus amples
informations concernant les conceptions appropriées pour les capteurs.
Le mesurage du champ de référence doit comprendre les trois composantes d'amplitude du

champ électrique orthogonales et les trois composantes de champ magnétique orthogonales
pour permettre une évaluation du rapport entre l'amplitude du champ électrique et l'amplitude
du champ magnétique, ainsi que les composantes du champ électromagnétique parasite.
L’utilisateur peut également spécifier d’autres mesurages de champ dans le volume d’essai.
C.4 Montage d’essai
Le volume d’essai d’un simulateur dépend de sa taille physique et des caractéristiques de la

structure du guide d’onde TEM. Il est défini comme le volume dans lequel les champs
électromagnétiques incidents satisfont ou dépassent les exigences d’amplitude et d’uniformité
du champ, comme spécifié pour un essai IEM-HA simulé. Si l'EUT est trop grand par rapport
au volume d’essai, la réponse induite s'écarte de celle d’un éclairage par onde plane incidente,
et les résultats de l’essai sont discutables.
Pour optimiser la précision de la simulation de forme d'onde, il est nécessaire de réduire le plus
possible l’interaction entre le simulateur et l'EUT en plaçant ce dernier assez loin des éléments
rayonnants ou du guide d’onde du simulateur. L'EUT doit être situé à une distance supérieure
à 0,3 fois la dimension transverse globale par rapport aux conducteurs du guide d’onde TEM.
Si l'EUT doit être soumis à l'essai pendant qu’il est placé sur un plan de sol, il doit être placé à
une distance supérieure ou égale à 0,6 fois sa dimension transverse par rapport au septum.
L'EUT est décrit généralement comme un volume fini dont les dimensions sont déterminées par
ses dimensions orthogonales les plus importantes en hauteur, largeur et longueur. L'EUT doit
tenir à l’intérieur du volume d’essai du simulateur comme défini dans les alinéas précédents.
Si l'EUT doit être soumis à l'essai dans un mode en espace libre, c’est-à-dire sans être placé
sur un plan de sol, alors il doit être placé sur un support diélectrique (voir 3.1.24, par exemple)
à l’intérieur du simulateur.
C.5 Procédure d'essai
C.5.1 Généralités
Les essais d’immunité aux perturbations conduites et rayonnées peuvent être réalisés
séparément. Il n’existe aucune exigence pour réaliser les essais des deux types de contraintes
de manière simultanée.
Si le système complet, y compris tous les conducteurs extérieurs "de faible longueur", peut être
éclairé de manière réaliste dans un essai rayonné, il peut alors ne pas être exigé de réaliser
les essais conduits initiaux sur ces câbles. De plus, les essais conduits peuvent ne pas être
nécessaires pour les accès par l’antenne, si l’antenne peut être soumise à l'essai avec la
contrainte IEM-HA simulée, l’antenne étant orientée pour une réponse maximale. Cependant,
tous les accès connectés aux guides d’onde de puissance, de télécommunications ou aux
autres guides d’onde de grande longueur doivent subir des essais d’immunité aux perturbations
conduites.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 167 –
Les essais d’immunité IEM-HA doivent être réalisés conformément à un plan d’essai qui décrit
les équipements à soumettre à l'essai, le niveau d’essai de sévérité et les formes d’onde, les
conditions climatiques, les principaux modes de fonctionnement et les critères pour la
satisfaction aux exigences d’immunité. Il convient que l'environnement ambiant (tant climatique
qu'électromagnétique) de l'installation d'essai IEM-HA soit conforme aux conditions
environnementales admissibles pour l'EUT spécifié. Au cours de l’essai, il est important de
contrôler les matériels pour classer leurs performances comme spécifié. Si les équipements
reçoivent et envoient des données à d’autres équipements dans un système, un effort doit être
fait pour envoyer et recevoir les mêmes données ou des données simulées avec les
équipements en essai. Cette situation doit permettre une évaluation des performances des
équipements au cours de l’essai.
Si l'EUT ne satisfait pas aux exigences d’essai et si des mesurages de diagnostic ont été
réalisés à l’intérieur du système ou des équipements, ces sondes et ces câbles doivent être
retirés, et l’essai doit être réalisé à nouveau pour vérifier que l’instrumentation ajoutée n’est
pas la cause de l’échec de l’essai. Le rapport d’essai doit clairement identifier la présence de
tous les câbles extérieurs connectés à l'EUT, selon qu’ils font partie des équipements ou d'un
système de mesure.
L'EUT doit être soumis à l'essai dans chaque mode principal de fonctionnement spécifié dans
le plan d’essai. Pour les essais d’immunité aux perturbations conduites, les formes d’ondes
positives et négatives doivent être utilisées. Pour les essais d’immunité aux perturbations
rayonnées, seule une polarité de forme d’onde est exigée.
Les essais de laboratoire doivent être réalisés dans les conditions d’environnement ambiantes
identifiées en 7.2. Les essais in situ ne sont pas adaptés aux essais d’acceptation en matière
d’immunité, mais peuvent toutefois être utilisés pour vérifier l’immunité des équipements
installés, ainsi que l’immunité du système. Pour les essais in situ, les conditions ambiantes
décrites en 7.2 sont souhaitables, mais pas exigées.
C.5.2 Niveau de sévérité et expositions d’essai
Il est important de réaliser certaines expositions d’essai en dessous du niveau de protection en

tension des parafoudres et également à un niveau de tension suffisamment faible pour éviter
la formation d’un arc à l’intérieur du système, dans la mesure où des dommages peuvent se
produire. Ainsi, chaque niveau de sévérité doit comprendre trois amplitudes d’essai réelles, en
commençant deux niveaux en dessous du niveau de sévérité spécifié, qui est considéré comme
inférieur au niveau de protection en tension assuré par les parafoudres, et en dessous du seuil
d’arc. Chaque impulsion d’essai doit utiliser la même forme d’onde que celle du niveau de
sévérité spécifié.
Pour les essais d’immunité aux perturbations rayonnées, un niveau de sévérité doit être spécifié.
Au moins deux expositions d’essai doivent être réalisées à chacune des trois amplitudes d’essai
pour chaque orientation (voir Article B.6) et à chaque mode principal de fonctionnement de
l'EUT. Si une installation d'essai avec une capacité d’hyperrotation (voir [6]) pour l'EUT existe,
elle peut être utilisée pour les essais IEM-HA.
C.5.3 Procédure d'essai
C.5.3.1 Mesurages des paramètres d’essai
Les paramètres climatiques définis en 7.2 doivent être mesurés par l’opérateur d’essai et
documentés. Les caractéristiques de l’installation d'essai qui comporte une série de mesures
des formes d’ondes du champ électromagnétique, à l’intérieur du volume d’essai sans que l'EUT
soit présent, doivent être mises à la disposition de l’opérateur d’essai. Cette information doit
également inclure une évaluation qui indique que les exigences pour l’uniformité de champ et
les caractéristiques de forme d’onde indiquées en C.2.2 et C.2.3 sont satisfaites. Un mesurage
de l'amplitude du champ électrique de référence doit être consigné pour chaque impulsion
d'éclairage de champ.
– 168 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
C.5.3.2 Procédure d’essai pour les perturbations rayonnées
Une petite installation d’essai aux perturbations rayonnées peut être utilisée pour soumettre les
équipements à l’essai. Cependant, des essais d’immunité aux perturbations conduites sur tous
les accès par les câbles sont également exigés. Un système de petite taille peut être soumis à
l'essai dans un simulateur IEM-HA de grande taille et peut éventuellement satisfaire aux
exigences d’immunité aux perturbations conduites pour de nombreux accès par les câbles.
Cependant, des lignes de grande longueur, telles que les lignes de puissance en courant
alternatif et les lignes de télécommunication, ne peuvent pas être soumises à l'essai de manière
appropriée dans tout simulateur IEM-HA. En conséquence, les essais d’immunité aux
perturbations conduites sont toujours exigés pour ces accès.
Il est reconnu qu'un simulateur IEM-HA de grande taille est mieux adapté pour réaliser les
essais au niveau système lorsque plusieurs équipements peuvent fonctionner ensemble.
Cependant, le présent document ne comporte aucune exigence concernant la réalisation des
essais au niveau système dans un tel simulateur.
Chaque essai d’immunité à un niveau de sévérité spécifié comprend des expositions à trois
niveaux: le niveau de sévérité spécifié et les deux niveaux immédiatement inférieurs. Si un seul
niveau inférieur est défini par le présent document, alors seul un niveau doit être utilisé. Si le
niveau de sévérité le plus bas est spécifié, alors seul ce niveau d’exposition est nécessaire
pour l’essai d’immunité. Au minimum deux impulsions d’éclairage du champ doivent être
réalisées pour chaque niveau d’exposition.
C.5.3.3 Installation d’essai de petite taille pour l’essai aux perturbations rayonnées
L'approche de base utilisée dans la présente procédure consiste à soumettre à l'essai les
équipements et les systèmes de petite taille dans une installation d’essai de laboratoire, telle
qu’un guide d’onde TEM. L'EUT doit être placé sur un support diélectrique à une hauteur de
(0,1 ± 0,01) m au-dessus du plan de sol à l’intérieur du volume d’essai, et tous les câbles des
équipements doivent être utilisés d’une manière cohérente avec le fonctionnement normal des
équipements. Une connexion de terre doit être réalisée entre le plan de sol et l'EUT selon les
spécifications du fabricant. Il est nécessaire de contrôler et de documenter les longueurs et les
positions des câbles associés à l'EUT. Orienter le câblage pour un couplage minimal aux
composantes de champ électrique et magnétique dans l’installation d’essai. Des essais
complémentaires d’immunité aux perturbations conduites doivent être réalisés séparément pour
tenir compte du couplage avec ces câbles.
L'EUT doit être soumis à des rotations de façon à exposer tous les côtés (normalement six
côtés) aux champs d’impulsion incidents, bien que des considérations d’ordre pratique puissent
limiter le nombre de rotations. De plus, les deux polarisations doivent être appliquées.
Si la méthode de contrôle implique des mesurages à l’intérieur de l'EUT, les sondes et les
câbles concernés doivent être positionnés avec soin, de manière à réduire le plus possible les
effets défavorables sur les mesurages. En particulier, les câbles à fibres optiques sans
matériaux métalliques sont recommandés pour de tels mesurages.
C.5.4 Exécution de l’essai
L’essai doit être réalisé conformément au plan d’essai. Les expositions d’essai doivent être
appliquées lorsque l'EUT est dans chacun de ses modes principaux de fonctionnement dans
les conditions normales de fonctionnement, comme défini dans le plan d’essai. Pour chaque
niveau d’exposition d’essai, les impulsions doivent être appliquées avec un temps suffisant
entre elles pour vérifier la dégradation ou l’endommagement du système. Après chaque niveau
d’exposition, les caractéristiques de fonctionnement de l'EUT doivent être déterminées.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 169 –
C.5.5 Exécution de l’essai d’immunité aux perturbations rayonnées
L’essai d’immunité aux perturbations rayonnées doit être effectué sur la base d’un plan d’essai,
y compris la vérification des performances de l'EUT, comme défini dans la norme de produits
ou, en son absence, par la spécification technique.
L'EUT doit être dans les conditions normales de fonctionnement. Une matrice de configuration
d’essai qui comprend les configurations de fonctionnement de l'EUT, les états principaux de
fonctionnement et les orientations par rapport à la direction de propagation de l’onde doit être
développée. Pour chaque configuration d’essai, le plan d’essai doit spécifier:
a) les niveaux d’exposition d’essai: le niveau de sévérité choisi et les deux niveaux
immédiatement inférieurs;
b) le nombre d’expositions à chaque niveau (au moins deux sont exigées);
c) les points d’entrée ou les accès à évaluer;
d) une description des positions des câbles et des mesurages à réaliser;
e) les équipements auxiliaires exigés;
f) la polarité et l’angle d’incidence des champs simulés;
g) les informations détaillées du montage d’essai, lorsqu’il est différent de celui spécifié à
l'Article C.4;
h) les critères de réussite/échec.
C.6 Figure de l’Annex C
NOTE L'amplitude spectrale est déterminée à l'aide des paramètres énumérés après l'équation (C.1) dans
l’équation (C.2).
Figure C.1 – Amplitude spectrale dans le domaine de fréquences de la forme d'onde

d'impulsions, comprise entre 100 kHz et 300 MHz (voir C.2.1)
– 170 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
Annex D
(informative)
Caractérisation des guides d’onde TEM
D.1 Aperçu
L'Annex D décrit les caractéristiques fondamentales d’une onde TEM, y compris les aspects de
propagation et de polarisation. Différentes catégories de guides d’onde TEM sont également
présentées, avec les limites concernant les volumes d’essai et les fréquences de
fonctionnement.
D.2 Distinction entre impédance d’onde et impédance caractéristique
Un guide d’onde TEM est une sorte de ligne de transmission. L'impédance d'onde et
l'impédance caractéristique d'une ligne de transmission sans perte sont définies en [51] comme
suit.
L'impédance d'onde η est définie comme le rapport des composantes de champ transverse, qui
peut être calculé, sur l’hypothèse selon laquelle elle dépend de e −jβz selon l’équation (D.1)
E ρ ωμ μ
η
= = = (D.1)
Hφ β ε
où
η est l'impédance d'onde;

Eρ est la composante transverse du champ électrique;
H φ est la composante transverse du champ magnétique;
µ est la perméabilité diélectrique de la ligne de transmission (l’air généralement);
Ε est la permittivité diélectrique de la ligne de transmission (l’air généralement);
Β est la constante de propagation (partie réelle);
ω est la fréquence rayonnante.
Cette impédance d’onde est ensuite considérée comme identique à l’impédance intrinsèque du
milieu et elle constitue un résultat général pour les lignes de transmission TEM.
L’impédance caractéristique d’une ligne coaxiale circulaire-cylindrique est définie comme
2h 2h 2h
V0 E ρ ln a ln
a μ
ln
Zc == η⋅
= =⋅ a (D.2)
I0 2π H φ 2π ε 2π
où
Zc est l’impédance caractéristique de la ligne coaxiale;

V0 est la tension de la ligne coaxiale;
I0 est le courant de la ligne coaxiale;
Eρ est la composante transverse du champ électrique;
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 171 –
H φ est la composante transverse du champ magnétique;

h 2h = r i , r i :rayon du conducteur intérieur;
a a = r a , r a : rayon du conducteur extérieur.
Les formes pour E ρ et H φ de [8] ont été utilisées. L’impédance caractéristique dépend de la
géométrie, et elle est différente pour d’autres configurations de ligne de transmission.
Les équations (D.1) et (D.2) indiquent qu’en général l'impédance d'onde et l'impédance
caractéristique ne sont pas égales. Dans la mesure où les cellules TEM et les cellules
"Gigahertz-TEM", ainsi que les lignes ouvertes à deux plaques et à trois plaques sont
fondamentalement des lignes de transmission de mode TEM à deux conducteurs, en général
l'impédance d'onde et l'impédance caractéristique dans ces dispositifs ne sont pas égales non
plus.
D.3 Onde TEM
D.3.1 Généralités
Les ondes TEM sont plus facilement décrites selon leur comportement en espace libre. Les
paragraphes D.3.2 et D.3.3 présentent plusieurs équations et critères à la fois pour les cas en
espace libre et en guide d’onde.
D.3.2 Mode TEM en espace libre
En mode TEM, les vecteurs de champs électriques et les vecteurs de champs magnétiques
sont entièrement transverses par rapport à la direction de propagation de l’énergie (vecteur de

Poynting S , selon l’équation (D.3)). La direction de transmission ne comprend aucune
 
composante de E ou H .
  
S= E × H (D.3)
 
Pour "l'espace libre", le rapport entre E et H est donné par

E µ0
η=
0 =
 ≈ 120π Ω (D.4)
H ε0
Les propriétés essentielles du mode TEM sont les suivantes:
– aucune composante de champ dans la direction de transmission;

 
– le rapport entre E et H est approximativement 120 π Ω .
NOTE La situation précédente existe à une distance importante d’une antenne d’émission. Par conséquent, le mode
TEM est souvent appelé "condition en champ lointain" d’une antenne.
D.3.3 Guides d’onde
Un guide d’onde classique pour applications RF ne se compose que d’une seule surface
conductrice fermée. Il peut être démontré qu’un mode TEM ne peut pas se propager à l’intérieur
d’un tel guide d’onde (voir la Figure D.1 à l'Article D.8). Seuls les modes TE et/ou TM sont
possibles. Étant donné que les modes TE ou TM ont une fréquence de coupure spécifique, la
propagation d’onde n’est possible qu’au-dessus de cette fréquence. Une section à connexion
double ou multiple est nécessaire pour propager un mode TEM dans un guide d’onde (ligne de
– 172 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
transmission multiconductrice, comme cellule TEM, ligne ouverte ou guide d’onde TEM ouvert).
Chaque paire de deux conducteurs crée un système de propagation spécifique possible en
mode TEM. Pour l’exemple représenté à la Figure D.2, la propagation de deux modes TEM
séparés est possible. Chacun de ces modes TEM a les mêmes propriétés que le mode TEM en
espace libre.
NOTE Chaque paire de conducteurs forme un système de transmission en mode TEM. À l’intérieur d’une ligne
coaxiale, l’énergie du signal est transportée par le mode TEM.
D.4 Propagation d’onde
La propagation d’onde décrit la forme des lignes équiphasées et des surfaces du champ.
D.4.2 Propagation sphérique
Ce type de propagation est le plus commun dans les conditions en champ lointain en espace
libre. Normalement, il est produit par une source ponctuelle telle qu’une antenne unique.
L’amplitude de champ diminue avec l’augmentation de la distance à la source.
D.4.3 Propagation d’onde plane en espace libre
À très grande distance d’une antenne, le front d’onde peut être considéré comme plan. Ce type
de propagation est observé à l’intérieur d’un guide d’onde à plaques parallèles, dans lequel
l’amplitude de champ est constante et indépendante de la distance par rapport à la source.
D.4.4 Vitesse de propagation
La vitesse de phase du mode TEM pour la propagation en espace libre et dans les guides
d’onde TEM est toujours égale à la vitesse de la lumière c0 . Elle ne dépend que de la
permittivité ε et de la perméabilité µ de l'espace.
D.5 Polarisation
La direction du vecteur champ électrique représente le vecteur polarisation.
En général, la direction du vecteur polarisation varie dans le temps. La courbe tracée par
l’extrémité du vecteur polarisation, représentée à la Figure D.3 (voir Article D.8), définit le type
de polarisation.
À partir de [8], la forme de la courbe de polarisation peut être calculée à l’aide de la procédure

suivante. Le vecteur champ électrique transverse Etr est donné par l'équation (D.5)
 
∞  
jωt 
E=tr ( t ) Re  ∑ V i ⋅ etr,i ⋅ e  (D.5)
i = 0
 

où
Vi est la tension du vecteur de Fresnel complexe du mode i;


etr ,i est le vecteur propre du mode i.
Le premier terme de la série représente le mode TEM; ainsi un vecteur de Fresnel complexe
peut être écrit sous la forme de l’équation (D.6)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 173 –
  
ATEM =V 1 ⋅ etr,i =V TEM ⋅ etr,TEM (D.6)
Le vecteur de Fresnel peut être séparé en parties réelle et imaginaire
  
ATEM= ar + jai (D.7)
  
Les vecteurs ar et ai définissent un plan fixe. En général, l’extrémité du vecteur E se déplace
  
sur une ellipse. Si ar et ai sont parallèles, E se déplace sur une ligne fixe. Ce cas est appelé
‘’polarisé linéairement’’. Tous les modes individuels sont fondamentalement polarisés
linéairement. Seule la superposition avec d’autres modes donne lieu à une polarisation
circulaire. Le mode TEM intentionnel pour les essais dans les guides d’onde TEM est
habituellement polarisé linéairement.
D.6 Types de guides d’onde TEM
La version la plus simple d’un guide d’onde TEM est une ligne de transmission à deux
conducteurs comme représentée à la Figure D.4 (voir Article D.8).
La ligne de transmission complète peut être décrite par trois sections physiques.
a) Section d’alimentation: Il s’agit de l'accès de mesure ou d'essai auquel un générateur ou un

récepteur de signal est connecté au guide d’onde TEM.
b) Section de guide d’onde TEM: Contient généralement le volume d’essai.
c) Section terminaison: Normalement, la terminaison représente une résistance réelle ou
équivalente qui est égale à l’impédance caractéristique de la ligne de transmission (= guide
d’onde TEM).
Pour la plupart des guides d’onde TEM à deux accès, les sections alimentation et terminaison
sont géométriquement identiques et donc interchangeables. Un connecteur coaxial est utilisé
aux deux accès. Certains guides d’onde TEM sont fondés sur un système de ligne de
transmission symétrique, auquel cas un transformateur symétriseur est nécessaire.
Tout d’abord, les guides d’onde TEM peuvent être classés en géométries fermées et ouvertes.
Une structure de guide d'onde TEM est dite "fermée" lorsqu’un conducteur entoure
complètement l’autre conducteur. Dans ces cas, le conducteur extérieur agit également comme
un écran électromagnétique.
Ensuite, il existe des guides d’onde TEM à un accès, à deux accès et à quatre accès (Figure
D.5 à Figure D.11). Cette classification définit la terminaison d’un guide d’onde TEM.
Normalement, le guide d’onde TEM est utilisé dans des conditions de terminaison adaptée à
l'impédance. La manière la plus simple d’adapter un guide d’onde TEM à deux accès ou à
quatre accès consiste à placer une terminaison à constantes localisées égale à l’impédance
caractéristique à un accès. Dans ce cas, il est pris pour hypothèse que la géométrie de la ligne
TEM à proximité des accès (section à transition progressive) est bien conçue pour l’adaptation
à large bande.
Pour un guide d’onde TEM à un accès, la terminaison est réalisée avec des résistances
réparties et/ou une combinaison d’absorbants anéchoïques. Les guides d'onde TEM avec ce
type de terminaison peuvent être utilisés jusqu’à plusieurs GHz dans certaines géométries.
Plutôt qu’une plage de fréquences large, un guide d'onde TEM à deux accès a l’avantage de
permettre des mesurages de puissances réfléchies et incidentes à l’un ou l’autre des accès.
– 174 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
Les conducteurs de septums peuvent être soit un fil unique, soit des fils multiples connectés
en parallèle, ou une plaque unique ou des plaques multiples connectées en parallèle. Pour les
systèmes à conducteurs multiples, l’amplitude et la phase d’excitation peuvent être modifiées
volontairement pour faire varier la polarisation dominante à l’intérieur du volume d’essai.
Le septum peut être installé de manière symétrique ou asymétrique par rapport au conducteur
extérieur. L’avantage d’un guide d’onde TEM asymétrique est un volume d’essai plus important.
D.6.2 Guides d’onde TEM ouverts (lignes ouvertes, etc.)
Un guide d’onde TEM ouvert simple peut être construit en utilisant une plaque installée sur un
plan de sol conducteur. Un générateur ou un récepteur (impédance typique de 50 Ω) est
connecté à un accès, et l’autre accès est adapté à l’impédance caractéristique de la ligne de
transmission. Une distribution tension/courant constante le long de la structure est obtenue
avec une adaptation d’impédance correcte. Cette géométrie est appelée guide d’onde TEM
ouvert à deux accès.
Le principal inconvénient des guides d’onde ouverts est l’énergie perdue par rapport au
rayonnement. Ce rayonnement non désiré peut causer des perturbations sur le système du
matériel d’essai. Pour les essais d’immunité à onde entretenue en particulier, un local blindé
est absolument nécessaire pour le guide d’onde ouvert.
D.6.3 Guides d’onde TEM fermés (cellules TEM)
Le principal avantage des configurations de guides d’onde TEM fermés est le blindage inhérent.
Tous les essais d’immunité peuvent être réalisés sans générer de perturbation sur
l’environnement. Un autre avantage réside dans le fait qu’un guide d'onde TEM fermé est un
système asymétrique pour lequel un symétriseur n’est pas nécessaire. Enfin, en général, un
guide d’onde TEM fermé n’a pas de limite en basse fréquence. Pour cette raison, les essais de
transitoires peuvent être réalisés avec des guides d’onde TEM fermés.
NOTE Pour un guide d’onde TEM à alimentation symétrique, une limitation en basse fréquence est en général
introduite par le symétriseur.
D.7 Limitations de fréquence
Le fonctionnement d’un guide d’onde TEM est prévu à partir de l’hypothèse selon laquelle le
mode TEM a une structure de champ identique à une onde plane en espace libre, sur une
portion définie de la section de la cellule. Par conséquent, l’utilisation d’un guide d’onde TEM
dans les mesurages d'émissions ou les essais d’immunité exige la propagation du mode TEM
sur la plage de fréquences utilisable.
Pour une fréquence donnée à l’intérieur de la plage de fonctionnement du guide d’onde vide,
l’onde électromagnétique a une section transversale de dimension qui permet à des modes de
propagation autres que le TEM de s’établir. Pour un mode non TEM donné, le point qui parcourt
la longueur du guide d’onde TEM pour lequel le mode peut se propager dépend de la fréquence
et revient vers le point d’alimentation lorsque la fréquence croît. Le mode non TEM d’ordre le
plus faible (normalement TE 10 ) peut se propager lorsqu’une dimension de la section du guide
d’onde dépasse la moitié de la longueur d’onde en espace libre à cette fréquence. Les modes
d’ordre plus élevé sont lancés initialement par la conversion de mode à partir du mode TEM.
La conversion d’énergie entre deux modes est provoquée par des irrégularités dans la structure
du guide d’onde qui peuvent se coupler aux deux modes.
Dans la pratique, beaucoup de guides d’onde TEM ouverts et fermés incluent un certain type
d’absorbants anéchoïques en mousse ou en ferrite pour réduire le plus possible ou enlever les
modes d’ordre supérieur et les distributions de champs résonants qui ne se propagent pas.
Dans le cas d’une installation dans des locaux adaptés en ce qui concerne la distribution de
champ modal, les caractéristiques du mode TEM peuvent être essentiellement préservées.
Généralement, avec la combinaison correcte de la charge en absorbants et de la transition des
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 175 –
conducteurs d’entrée/sortie, de nombreux guides d’onde TEM fonctionnent en mode TEM

jusqu’à des fréquences de plusieurs GHz ou plus. Le placement correct d’absorbants est
déterminé par les formes des sections d’entrée/sortie et celle de la section du volume d’essai.
L’inconvénient pour de nombreux guides d’onde TEM avec revêtement par absorbants dans la
section du volume d’essai réside dans le fait que le facteur de champ e0y (voir A.3.2.3.3) utilisé
dans l’algorithme de corrélation d’émissions ne peut plus être calculé de manière analytique.
Cette situation peut conduire à des incertitudes de mesure plus élevées.
Pour tout guide d’onde TEM avec ou sans absorbant, la plage de fréquences valide doit être
établie par les méthodes décrites dans le présent document (voir 5.2.2).
Pour les guides d’onde TEM sans absorbant, les fréquences de résonance dépendent de la
géométrie du guide d’onde TEM. Dans une cellule TEM à deux accès, ces fréquences
interviennent entre une certaine section transversale de la section d’alimentation et de la
section de terminaison, appelées positions de coupure zc . Chaque mode d’ordre supérieur
peut avoir une autre position de coupure en fonction du type de mode. Entre l'alimentation et
la position de coupure, le mode de champ ne peut pas se propager. Une résonance intervient
si la distance entre les deux positions de coupure est un multiple d'une demi-longueur d’onde.
Pour des raisons de symétrie, le champ résonant a une valeur maximale ou est nul au milieu
de la cellule à z = zsym . Des informations supplémentaires sur l’homogénéité de champ et la
fréquence résonante sont données en [22], [23], [24] et [50].
D.8 Figures de l’Annex D
Figure D.1 – Guide d’onde simple (pas de mode TEM) (voir D.3.3)
Figure D.2 – Exemple de guides d’onde prenant en charge

la propagation en mode TEM (voir D.3.3)
– 176 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
Figure D.3 – Vecteur de polarisation de champ électrique (voir Article D.5)
Figure D.4 – Modèle de ligne de transmission simple

pour propagation de mode TEM (voir D.6.1)
Figure D.5 – Concepts de guides d’onde TEM à un et deux accès (voir D.6.1)
Figure D.6 – Fonctionnement des guides d'onde TEM à quatre accès (voir D.6.1)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 177 –
a) Vue de côté
b) Vue en coupe
NOTE h EUT est la distance minimale entre l’EUT et chaque conducteur ou absorbant du guide d’onde.
Figure D.7 – Cellule TEM à deux accès (septum symétrique) (voir D.6.1 et D.6.3)
– 178 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
a) Vue de côté
b) Vue en coupe
Figure D.8 – Cellule TEM à un accès (septum asymétrique) (voir D.6.1 et D.6.3)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 179 –
a) Vue de côté (un accès)
NOTE Une ligne ouverte triplaques avec vue latérale d’axe comme celle à la Figure D.7a) est obtenue en utilisant
la géométrie de la Figure D.9b) et la théorie d’image.
b) Vue de côté (fondamentalement similaire au guide d’onde TEM à deux accès, certaines versions
présentent cependant une charge distribuée au niveau de l’accès de sortie)
– 180 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
c) Vue en coupe
Figure D.9 – Ligne ouverte (deux plaques) (voir D.6.1 et D.6.2)

IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 181 –
a) Vue de côté
b) Vue en coupe
NOTE L’ensemble de la configuration du guide d’onde TEM est généralement entouré par une enveloppe
complètement anéchoïque. Pour des raisons de symétrie, la restriction de hauteur maximale utilisable de l’EUT varie
de 0,33 h à 0,6 h (voir 5.2.1).
Figure D.10 – Ligne ouverte (quatre plaques, alimentation équilibrée) (voir D.6.1)
– 182 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
a) Vue de côté
b) Vue en coupe
c) Vue de dessus du septum
Figure D.11 – Guide d'onde TEM à quatre accès (septums parallèles symétriques)
(voir D.6.1 et D.6.3)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 183 –
Annex E
(informative)
Méthode d’étalonnage pour les sondes

de champ électrique dans les guides d’onde TEM
E.1 Aperçu
Les sondes de champ électrique à large plage de fréquences et à réponse dynamique élevée
sont très souvent utilisées dans les procédures de validation de l’uniformité des champs
conformément au présent document. Entre autres aspects, la qualité de l’étalonnage de la
sonde de champ a un impact direct sur le budget d'incertitude d'un essai d'immunité aux
perturbations rayonnées.
Généralement, en fonction de l’essai d’immunité aux perturbations rayonnées réalisé, les

sondes peuvent être soumises à des niveaux d’amplitude de champ jusqu’à 200 V/m, voire plus,
pendant la validation de l’uniformité de champ conformément au présent document. Par
conséquent, il convient que l’étalonnage des sondes de champs électriques utilisées dans le
présent document prenne en considération les plages de fréquences et de dynamiques prévues.
Les résultats de l’étalonnage d’une sonde ont présenté des différences lorsque celle-ci est
étalonnée dans des laboratoires différents. Par conséquent, l’environnement et la méthode
d’étalonnage de la sonde de champ sont spécifiés. L’Annex E fournit les procédures de
validation des guides d’ondes TEM à utiliser pour l’étalonnage des sondes, et fournit les
informations pertinentes sur l’étalonnage des sondes à utiliser pour les mesurages d’uniformité
de champ, conformément au présent document afin de limiter ces différences de résultats de
validation.
E.2 Exigences pour l’étalonnage des sondes
E.2.1 Généralités
Il convient que l’étalonnage des sondes de champ électrique destinées à être utilisées pour les
procédures de validation UFA (zone de champ uniforme), telles qu’elles sont définies dans la
présente norme, satisfasse aux exigences suivantes. Une zone de champ uniforme est un plan
vertical hypothétique de l’étalonnage de champ dans lequel les variations acceptables sont
relativement faibles.
E.2.2 Plage de fréquences d’étalonnage
Il convient que la plage de fréquences inclue normalement la fréquence la plus élevée spécifiée
par la taille et la structure du guide d’onde TEM. Il convient que la plus grande dimension de la
tête d’une sonde de champ électrique, lp max , soit inférieure au quart de la longueur d’onde à la
fréquence d’étalonnage la plus élevée, fc max , de manière à éviter toute approche de la
résonance. Par conséquent, la fréquence la plus élevée est donnée par la dimension de la tête
de sonde selon l’équation (E.1)
c0
fmax ≤ (E.1)
4 lp max
où, c 0 est la vitesse de la lumière.

– 184 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
Par exemple, lorsque la plus grande dimension de la tête de sonde de champ électrique, lp max ,
est égale à 2,5 cm, la fréquence la plus élevée selon l’équation (E.1) est égale à 3 GHz. Si la
fréquence dépasse la fréquence la plus élevée déterminée par la vérification du mode TEM
décrite en 5.2.2.3, l’étalonnage est effectué jusqu’à la fréquence la plus élevée déterminée par
la vérification dudit mode.
E.2.3 Volume d'étalonnage
Il convient que les dimensions du volume d’étalonnage, qui sont aussi régulières que possible,
avec par exemple la forme d’un cube ou d’un parallélépipède, soient inférieures à 20 % de la
distance entre les conducteurs intérieur et extérieur (hauteur du septum). Il convient de
positionner le centre du volume au niveau duquel une sonde de champ électrique peut être
étalonnée à mi-hauteur du septum.
Il convient d’effectuer la validation du volume d’étalonnage aux points de quadrillage du cube.

Un intervalle de quadrillage d’environ 10 % de la hauteur du septum est choisi entre deux points
d’étalonnage. Il convient que la sonde ou le capteur de champ électrique utilisés pour la
validation soit aussi petit que possible. Il n’est pas nécessaire d’étalonner la sonde ou le capteur.
NOTE 1 Lorsque les dimensions du volume d’étalonnage correspondent à un cube de 20 cm, par exemple,
l’intervalle de quadrillage est de 10 cm et le nombre de points d'essai est de 27, tel qu’illustré à la Figure E.1
(voir Article E.5).
La procédure de validation du volume d'étalonnage est la suivante:
a) les champs électriques sont mesurés à tous les points qui utilisent la méthode de puissance
incidente constante décrite en 5.2.2.4.1. Il convient de sélectionner les fréquences telles
que décrites en E.2.6;
b) un écart type des champs électriques mesurés est calculé;
c) il convient que l’écart type soit inférieur à environ 1 dB pour un guide d’onde TEM à un
accès et à 0,6 dB pour un guide d’onde TEM à deux accès;
NOTE 2 La base de calcul des valeurs d’écart type précédentes est décrite en [36].
E.2.4 Dimensions des sondes
Il convient que les dimensions de la tête de sonde soient inférieures à 10 % de la distance entre
les conducteurs intérieur et extérieur (hauteur du septum), h (voir 5.2.1). Il convient également
que les dimensions de la sonde soient inférieures au volume d’étalonnage (voir E.2.3).
E.2.5 Perturbations des champs du guide d’onde TEM dues à la sonde
Il convient de valider la perturbation de la distribution de champ d’un guide d’onde TEM due à
la sonde, y compris l’appareil de mesure, avec et sans la sonde.
NOTE 1 La perturbation de la sonde dépend non seulement des perturbations provoquées par l’appareil de mesure,
mais également de la linéarité du guide d’onde TEM.
Un exemple de montage de mesure utilisé pour la validation de perturbation est présenté à la

Figure E.2 (voir Article E.5). Il convient de connecter un amplificateur de puissance, un
générateur de signaux, un coupleur directionnel et un wattmètre à un guide d’onde TEM, comme
le montage pour l'étalonnage de la sonde. Une antenne unipolaire est utilisée pour la détection
du champ électrique. Un petit orifice est percé dans la plaque de sol du guide d'onde TEM, puis
l'antenne est fixée à la plaque de sol. Un capteur de champ électrique moins pénétrant, par
exemple un capteur de champ électrique optique qui utilise un cristal électro-optique LiNbO 3
est également disponible en remplacement de l’antenne unipolaire. Un orifice d'accès dans le
guide d'onde TEM n'est pas nécessaire lorsqu'un capteur électro-optique est utilisé. Il n’est pas
nécessaire d’étalonner l’antenne/capteur. L’antenne unipolaire est connectée à un analyseur
de spectre pour mesurer la sortie de l’antenne. Un cube métallique avec les dimensions du
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 185 –
volume d’étalonnage peut être utilisé pour représenter une sonde de champ pour cet essai de
vérification des perturbations.
La procédure de validation des perturbations est la suivante:
a) définir une fréquence sans sonde et appliquer la puissance incidente à un guide d’onde
TEM;
b) mesurer le niveau de puissance et la valeur lue de l’analyseur de spectre;
c) augmenter la puissance et répéter b);
d) modifier la fréquence (voir E.2.6) et répéter les étapes a) à c);
e) lorsque toutes les fréquences ont été mesurées, ajouter la sonde et répéter les
étapes a) à d);
f) vérifier la perturbation de la valeur lue de puissance d’entrée.
Il convient que la différence entre la perturbation avec la sonde et celle sans ladite sonde soit
inférieure à l’incertitude de mesure générée par le wattmètre et l’analyseur de spectre.
NOTE 2 Voir [7] et [58] pour les méthodes de détermination de l'incertitude de mesure. Certains fabricants
d'appareils de mesure précisent l'incertitude de mesure des résultats qu'il est possible d'obtenir avec l'appareil.
E.2.6 Paliers de fréquence
Il est nécessaire d'utiliser des fréquences spécifiques d'étalonnage pour être en mesure de
comparer les résultats d'essai entre différents laboratoires d'étalonnage (voir Tableau E.1).
Tableau E.1 – Fréquences d'étalonnage
Plage de fréquences Fréquences d’étalonnage types

MHz
f 0 à 1 GHz f 0 , 50, 100, 150, 200, …, 950, 1 000
Au-dessus de 1 GHz 1 000, 1 200, 1 400, …
NOTE f 0 est la fréquence la plus basse de la sonde soumise à étalonnage.
E.2.7 Amplitude de champ
Il convient que l’amplitude de champ à laquelle une sonde est étalonnée soit fondée sur
l’amplitude de champ exigée pour l’essai d’immunité suivant. Comme la méthode préférentielle
de validation de l’uniformité de champ est appliquée avec une amplitude de champ d’au
moins 1,8 fois l’amplitude de champ à appliquer à l’EUT, il est recommandé d’effectuer
l’étalonnage de sonde à une valeur égale au double de l’amplitude de champ d’essai comme
indiqué dans le Tableau E.2.
NOTE Cette valeur couvre également l’exigence de compression de 1 dB de l’amplificateur de puissance.

– 186 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
Tableau E.2 – Niveau de l’amplitude du champ d’étalonnage
Niveau d’étalonnage Amplitude du champ

d’étalonnage
V/m
1 2
2 6
3 20
4 60
X Y
NOTE X, Y correspondent à un niveau d'étalonnage ouvert. Ce niveau

est indiqué dans la spécification de produit ou par le laboratoire d’essai.
E.3 Exigences pour les instruments d’étalonnage
E.3.1 Spécifications du guide d’onde TEM
Un guide d’onde TEM peut être utilisé pour établir les champs normalisés pour les étalonnages
de la sonde de champ. Le champ au centre d’une cellule TEM entre le septum et la plaque
haute ou basse est calculé à partir de l’équation (E.2):
Z0 Pnet
Eapprox = (E.2)
h
où
Z0 est l’impédance caractéristique de la cellule TEM (typiquement 50 Ω),
Pnet est la puissance nette en watts déterminée selon E.3.4,

h est la distance de séparation entre le septum et la plaque haute ou basse (en m).
NOTE 1 Le champ situé à mi-distance entre les deux conducteurs est calculé par approximation à l’aide
de l’équation (E.2).
NOTE 2 L'équation (E.2) est valable uniquement pour le mode TEM.
Il convient que le ROS de la cellule TEM soit maintenu à une valeur peu élevée, par exemple
moins de 1,3:1 pour réduire le plus possible les incertitudes de mesure.
Une méthode alternative de mesure de Pnet consiste à utiliser un atténuateur étalonné à faible
ROS et un détecteur de puissance connecté à l’accès de sortie du guide d’onde TEM (guide
d’onde TEM à deux accès uniquement).
E.3.2 Harmoniques et signaux parasites
Il convient que tout harmonique ou signal parasite qui provient des amplificateurs de puissance
soit inférieur d’au moins 20 dB au niveau de la fréquence porteuse. Cette valeur est exigée
pour tous les niveaux d'amplitudes de champ utilisés pendant l’étalonnage et la vérification de
la linéarité. Dans la mesure où le contenu harmonique des amplificateurs de puissance est
généralement plus mauvais à des niveaux de puissance supérieurs, les harmoniques peuvent
être mesurés uniquement à la valeur la plus élevée de l'amplitude du champ d’étalonnage. Le
mesurage d’harmoniques peut être réalisé au moyen d’un analyseur de spectre étalonné qui
est connecté à la sortie de l’amplificateur par l’intermédiaire d’un atténuateur ou d’un coupleur
directionnel.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 187 –
Il convient que les laboratoires d’étalonnage réalisent un mesurage pour valider le fait que les
signaux harmoniques et/ou parasites qui proviennent de l’amplificateur satisfont aux exigences
pour tous les montages de mesure. Ce mesurage peut être réalisé par connexion d’un analyseur
de spectre à l’accès 3 du coupleur directionnel (avec remplacement du capteur du wattmètre
par l’entrée de l’analyseur de spectre. Voir la Figure E.3 à l'Article E.5).
NOTE 1 Il est entendu que le niveau de puissance ne dépasse pas la puissance d’entrée maximale admissible de
l’analyseur de spectre. Dans ce cas, un atténuateur est utilisé pour réduire le niveau de puissance.
Il convient que l’étalement de la fréquence couvre au moins le troisième harmonique de la

fréquence prévue. Il convient de réaliser le mesurage de validation au niveau de puissance qui
génère l’amplitude de champ prévue la plus élevée. Des filtres de suppression d’harmoniques
peuvent être utilisés pour améliorer la pureté spectrale de l’amplificateur ou des amplificateurs
de puissance.
NOTE 2 Le terme "fréquence prévue" dans l'alinéa précédent signifie la fréquence la plus élevée utilisée pour
l'étalonnage de la sonde.
E.3.3 Fixation de la sonde
La fixation du montage de la sonde dans un guide d'onde TEM peut provoquer des réflexions
de champs électromagnétiques au cours de l’étalonnage de la sonde. Il convient que le support
de fixation soit constitué d’un matériau de permittivité relative inférieure à 1,2 et avec une
tangente (tan δ) de pertes diélectriques inférieure à 0,005.
E.3.4 Mesure de la puissance nette fournie à un dispositif d’émission au moyen de

coupleurs directionnels
La puissance nette fournie à un dispositif d’émission peut être mesurée avec un coupleur
bidirectionnel à quatre accès ou avec deux coupleurs monodirectionnels à trois accès
connectés dos à dos (qui forment un coupleur dit "directionnel double"). Un montage courant
qui utilise un coupleur bidirectionnel pour mesurer la puissance nette fournie à un dispositif
d’émission est représenté à la Figure E.3. Le couplage incident et le couplage réfléchi sont
définis selon les équations (E.3) et (E.4), lorsque chaque accès est connecté à une charge
adaptée et à une source adaptée:
P3
cfwd = (E.3)
P1
P4
crev = (E.4)
P2
où P 1 , P 2 , P 3 et P 4 sont les puissances respectives à chaque accès du coupleur directionnel.
La puissance nette fournie au dispositif d’émission est donc conforme à l’équation (E.5):
PPM1M 1 PPM2
Pnet
= − (E.5)
cfwd crev
où P PM1 et P PM2 sont les valeurs lues sur le wattmètre en unités linéaires.
Lorsque le ROS du guide d’onde TEM est connu, un coupleur unique à trois accès peut alors
être utilisé. Par exemple, un guide d’onde TEM avec un ROS de 1,5:1 équivaut à un coefficient
de réflexion de tension (ρ volt ) de 0,2.
– 188 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
La précision est affectée par la directivité du coupleur. La directivité est une mesure de
l’aptitude du coupleur à isoler les signaux incident et réfléchi. Pour un dispositif d’émission bien
adapté, la puissance réfléchie est bien plus faible que la puissance incidente. L’effet de la
directivité est, par conséquent, moins important que dans une application de réflectivité. Par
exemple, lorsque le guide d’onde TEM a un ROS de 1,5:1 et lorsque le coupleur a une directivité
de 20 dB, l’incertitude maximale absolue de la puissance nette due à la directivité finie est de
0,22 dB − 0,18 dB = 0,04 dB avec une distribution en U (où 0,22 dB est la perte de puissance
apparente incidente due au ROS de 1,5:1).
La puissance nette fournie au dispositif d’émission est donc conforme à l’équation (E.6):
P ⋅ (1 − ρvolt 2 )
Pnet = PM1 (E.6)
cfwd
E.4 Étalonnage de la sonde de champ électrique
E.4.1 Méthodes d'étalonnage
Bien que trois méthodes d’étalonnage soient spécifiées en [19], deux méthodes sont
généralement utilisées. La méthode de champ normalisé qui utilise les amplitudes de champs
calculées est employée pour un guide d’onde TEM à deux accès (voir E.4.2). La méthode
d’étalonnage qui utilise un étalon de transfert (c’est-à-dire un capteur ou une sonde de champ
similaire à celui ou à celle qui fait l’objet de l’étalonnage) est employée pour un guide d’onde
TEM à un accès.
E.4.2 Procédure d’étalonnage à l'aide d'un guide d’onde TEM à deux accès
La méthode de champ normalisé peut être appliquée pour l’étalonnage de la sonde à l'aide d'un
guide d’onde TEM à deux accès. La Figure E.4 (voir Article E.5) présente un exemple de
montage pour l’étalonnage d’une sonde de champ électrique. Si le niveau de champ électrique
et les puissances incidente et réfléchie font l’objet d’une lecture manuelle, il n’est pas
nécessaire d’utiliser un ordinateur. La procédure d’étalonnage avec un guide d’onde TEM à
deux accès est la suivante:
a) positionner le capteur d'amplitude de champ électrique isotrope à mi-hauteur du septum;

b) appliquer une puissance incidente à l’accès d’entrée du guide d’onde TEM de manière à ce
que l’amplitude du champ électrique de la composante de champ primaire soit comprise
entre 6 V/m et 20 V/m, sur la plage de fréquences spécifiée en E.2.2 en paliers de
fréquences spécifiés en E.2.6, et enregistrer toutes les valeurs lues de puissances incidente
et réfléchie, et d'amplitudes de champs de composantes primaires et secondaires;
c) calculer la puissance nette, Pnet , avec l’équation (E.5) ou l’équation (E.6) (voir E.3.4) et les
puissances mesurées;
d) calculer l’amplitude de champ électrique primaire nominale à l’aide de l'équation (E.2)
(voir E.3.1) sous la forme E approx .
NOTE Le facteur d’étalonnage varie en fonction de la méthode d’installation de la sonde. Il existe également
une méthode qui permet d’insérer uniquement une tête de sonde depuis la partie supérieure d’un guide d’onde
TEM, de manière à neutraliser l’influence de tous éléments éventuels autres que la tête de sonde.
Le facteur d'étalonnage, FP , peut être obtenu à l'aide de l’équation (E.7)
Em
Fp = ou F=
p Em − Eapprox (E.7)
Eapprox
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 189 –
où Em est l’amplitude de champ primaire mesurée.
E.4.3 Procédure d’étalonnage à l'aide d'un guide d’onde TEM à un accès
E.4.3.1 Méthode de transfert
Généralement, les écarts de l’amplitude de champ électrique mesurée par rapport à l’amplitude
de champ donnée par l’équation (E.2) (voir E.3.1) sont de l’ordre de ± 0,5 dB pour toutes les
fréquences avec un guide d’onde TEM à deux accès. Toutefois, les écarts peuvent être de
± 3 dB ou ± 4 dB dans le cas d’un guide d’onde TEM à un accès. Par conséquent, il convient
de ne pas utiliser la méthode d’étalonnage décrite en E.4.2 dans le guide d’onde TEM à un
accès. L'étalonnage de la sonde avec un guide d'onde TEM à un accès peut en revanche être
réalisé à l'aide d'une méthode de transfert.
Une sonde de transfert peut être utilisée pour établir des champs normalisés dans un dispositif
de génération de champs (appelé dispositif étalon de fonctionnement). La réponse de la sonde
de transfert peut être déterminée soit par des calculs théoriques (pour les sondes comme les
dipôles) soit par les étalonnages effectués selon d’autres méthodes (par exemple, une méthode
à trois antennes dans une chambre anéchoïque peut être utilisée). Une autre méthode consiste
à utiliser une cellule TEM à deux accès de petite taille (pour permettre une fréquence supérieure
élevée). L'utilisation d'une cellule TEM de petite taille exige également que la sonde de transfert
soit suffisamment petite. Lorsque la fonction de transfert du dispositif étalon de fonctionnement
est connue, l'étalonnage de la sonde peut être effectué à des niveaux de puissance différents,
à condition que la réponse du dispositif soit linéaire. Il convient de documenter dans le rapport
d'essai d'étalonnage la possibilité d’erreurs supplémentaires dues à la différence observée
dans les environnements d’étalonnage (par exemple emplacement d’étalonnage, taille,
orientation) pour les étalons de transfert ainsi qu’aux différences de formes observées entre
l’étalon de transfert et la sonde en étalonnage.
La procédure d’étalonnage de la sonde à l'aide de la méthode de transfert est la suivante:
a) positionner la sonde de transfert à mi-hauteur du septum dans le guide d'onde TEM à utiliser
pour l'étalonnage de la sonde;
b) appliquer une puissance incidente à l’accès d’entrée du guide d’onde TEM sur la plage de
fréquences spécifiée en E.2.2, en paliers de fréquences spécifiés en E.2.6, et enregistrer
toutes les valeurs lues de puissance incidente et réfléchie, et de champs de composantes
primaires (il convient de convertir la tension de sortie de la sonde de transfert en amplitude
du champ électrique);
Pnet , avec l’équation (E.5) ou l’équation (E.6) (voir E.3.4) et les
c) calculer la puissance nette,
d) remplacer la sonde de transfert par le capteur d’amplitude de champ électrique isotrope ou
la sonde à étalonner;
e) appliquer une puissance incidente au guide d'onde TEM de sorte que la puissance nette
soit identique à la puissance spécifiée à l’étape b), et enregistrer les valeurs lues de champ
primaire.
Le facteur d'étalonnage, FP , est obtenu à l'aide de l’équation (E.8)
Em
Fp = Fp Em − ET
ou = (E.8)
ET
où ET est l’amplitude de champ primaire obtenue par la sonde de transfert.
La méthode de transfert est précise si les conditions suivantes sont satisfaites:

– 190 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
– le montage n’est pas modifié entre les procédures de transfert et d’étalonnage;

– la position de la sonde au cours des mesurages est reproduite;
– la puissance émise reste la même;
– la sonde en essai est similaire en construction (taille et conception d’élément) à la sonde
de transfert;
– les câbles de connexion de la tête du capteur et la lecture ne perturbent pas ou ne captent
pas le champ;
– le dispositif étalon de fonctionnement est largement anéchoïque.
Les références [19], [20] et [21] fournissent plus d’informations concernant cette méthode.
E.4.3.2 Méthode d’estimation du champ électrique à la position d’étalonnage
En l’absence de sonde de transfert, une sonde peut être étalonnée à l’aide de l'autre méthode
définie en E.4.3.2. Une antenne unipolaire mentionnée enE.2.5 est utilisée (voir Figure E.5 à
l'Article E.5). La procédure d’étalonnage de la sonde est la suivante:
a) positionner l’antenne unipolaire sur la plaque de sol du guide d'onde TEM;

b) appliquer la puissance incidente à l’accès d’entrée du guide d’onde TEM sur la plage de
fréquences spécifiée en E.2.2, en paliers de fréquences spécifiés en E.2.6, et enregistrer
toutes les valeurs de puissances incidente et réfléchie, ainsi que les valeurs lues de
l’analyseur de spectre, Pmono ;
c) calculer l’amplitude du champ électrique à la position du monopole, Emono , à l’aide du

facteur d’antenne de l’antenne unipolaire (voir E.4.3.3);
P
d) calculer la puissance nette, net , avec l’équation (E.5) ou l’équation (E.6) (voir E.3.4) et les
e) retirer l'antenne unipolaire, puis positionner un capteur de champ électrique de petite taille
(par exemple, capteur de champ électrique optique) à l’emplacement antérieur de ladite
antenne;
f) appliquer une puissance incidente de sorte que la puissance nette soit identique à celle
indiquée en b), puis enregistrer la valeur de champ primaire ou les valeurs lues de
l’analyseur de spectre issues du capteur de champ électrique ( EM ou PM );
NOTE Un étalonnage du capteur de champ électrique de petite taille n'est pas nécessairement effectué. Bien qu'une
sonde de champ électrique puisse être appliquée, la sonde à étalonner n'est pas utilisée.
g) positionner le capteur de champ électrique de petite taille ou la sonde à l’emplacement
d’étalonnage (normalement à mi-hauteur du septum);
h) appliquer une puissance incidente de sorte que la puissance nette soit identique à celle
indiquée en b), puis enregistrer l'amplitude de champ primaire ou les valeurs lues de
l’analyseur de spectre issues du capteur de champ électrique ou de la sonde ( EC ou PC ).
L’amplitude du champ électrique de référence peut être calculée à l'aide de l’équation (E.9).
E P E E
Eref = mono C ou Eref = mono C (E.9)
PM EM
Le facteur d'étalonnage, Fp , peut être obtenu sous la forme
E
Fp = m ou F
=p Em − Eref (E.10)
Eref
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 191 –
où Em est l’amplitude de champ primaire obtenue par la sonde en essai.
Le facteur d'antenne de l'antenne unipolaire est obtenu à l'aide de la méthode E.4.3.3.
E.4.3.3 Calcul du facteur d’antenne unipolaire à partir de l’impédance de l’antenne

en utilisant une longueur équivalente
L’impédance de l’antenne peut être obtenue par la mesure du coefficient de réflexion de

l’antenne à l’aide d’un analyseur de réseau, ou par un calcul à l’aide de la formule de Labus [45],
voire par l’application d’autres méthodes numériques telles que la méthode des moments.
Le circuit équivalent d’une antenne de réception et d’un appareil de mesure est représenté à la
Figure E.6 (voir Article E.5). La tension aux bornes de l’antenne, V0 , est obtenue par
l’équation (E.11):
Z0V Z l E
V0 = = − 0e
Z0 + Zant Z0 + Zant
(E.11)
où Z0 et Z ant représentent l’impédance caractéristique de l’appareil de mesure et l’impédance

de l’antenne, respectivement. E désigne l'amplitude du champ électrique à l’emplacement de
l’élément de l’antenne. le désigne la longueur utile de l’antenne, calculée à l'aide de
l’équation (E.12):
 1 l  2π x  λ   2πl    λ
=  ∫
 2πl  0
sin 
 λ 
 dx 
 2πl  
1– cos 
 λ 
 l ≤ 4 
 
 sin
   2 π sin  
le =   λ   λ  (E.12)
 λ 
 1– cos  2πl  
 λ λ
4 ≤ l < 2
 2π 
  λ   
où l et λ représentent la longueur de l’élément constitutif de l’antenne et la longueur d’onde,

respectivement.
Le facteur d'antenne, F a , est exprimé par l'amplitude du champ électrique et la tension aux
bornes, et est déterminé par l’équation (E.13).
E
Fa = (E.13)
V0
Le facteur d’antenne est obtenu à partir de l’équation (E.11) et de l’équation (E.13) sous la
forme de l’équation (E.14)
Z0 + Zant
Fa = (E.14)
Z0le
– 192 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
E.5 Figures de l’Annex E
Figure E.1 – Exemple de points d'essai pour la validation

du volume d'étalonnage (voir E.2.3)
Figure E.2 – Montage pour la validation des perturbations de la sonde (voir E.2.5)
Figure E.3 – Montage pour la mesure de la puissance nette

vers un dispositif d’émission (pas à l'échelle) (voir E.3.4)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 193 –
Figure E.4 – Exemple de montage d’étalonnage d’une sonde de champ

électrique avec un guide d'onde TEM à deux accès (voir E.4.2)
a) Utilisation d’une antenne unipolaire
b) Utilisation d’un petit capteur de champ électrique
Figure E.5 – Exemple de montage d'étalonnage d'une sonde de champ électrique

avec un guide d'onde TEM à un accès et par une autre méthode (voir E.4.3.2)
Figure E.6 – Circuit équivalent de l'antenne unipolaire

et appareil de mesure (voir E.4.3.3)
– 194 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
Annex F
(informative)
Incertitude d'instrumentation des résultats

de mesure des émissions
F.1 Mesurages des perturbations rayonnées à l'aide d'un guide d'onde TEM
F.1.1 Mesurande pour les mesurages des perturbations rayonnées à l'aide d'un
guide d'onde TEM
E champ perturbateur, en dB(µV/m), mesuré au niveau d'un OATS/SAC de 10 m entre 30 MHz
et 1 000 MHz, et d'une FAR (FSOATS) de 3 m entre 1 GHz et 18 GHz
NOTE Par hypothèse, les résultats de mesure relevés dans un guide d'onde TEM sont convertis en amplitude du
champ pour les comparer aux limites OATS à 10 m jusqu'à 1 GHz, et aux limites FAR à 3 m au-dessus de 1 GHz.
F.1.2 Symboles des grandeurs d'entrée communes à tous les mesurages de

perturbations
ac atténuation de la connexion entre le récepteur et le guide d'onde TEM, en dB
δM correction de l'erreur provoquée par une désadaptation, en dB
Vr valeur lue de la tension du récepteur, en dB(µV)
δV SW correction de l'inexactitude de tension sinusoïdale du récepteur, en dB
δV pa correction de la réponse en amplitude d’impulsion imparfaite du récepteur, en dB
δV pr correction de la réponse de fréquence de répétition d’impulsion imparfaite du
récepteur, en dB
δV nf correction de l'effet du bruit de fond du récepteur, en dB
F.1.3 Symboles des grandeurs d'entrée spécifiques aux mesurages de guide d'onde
TEM
F convTEM facteur de conversion des mesurages de l'amplitude du champ dans le guide
d'onde TEM, en dB(1/m)
δS uni facteur de correction de non-uniformité du champ dans le volume de l'EUT, en dB
δS d facteur de correction pour la distance de séparation entre l'accès du guide d'onde
et l'EUT, en dB
δS EUTdir facteur de correction pour l'effet de la directivité de l'EUT, en dB
δS tt facteur de correction pour l'effet du matériau de la table tournante/du
manipulateur, en dB
F.2 Grandeurs d'entrée à prendre en considération pour les mesurages des

perturbations rayonnées à l'aide d'un guide d'onde TEM
a) valeur lue du récepteur
b) atténuation du câble entre le guide d'onde TEM et le récepteur de mesure
c) facteur de conversion pour les mesurages d'amplitude du champ à l'aide du guide d'onde
TEM
d) grandeurs d'entrée relatives au récepteur
1) exactitude de tension sinusoïdale
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 195 –
2) réponse en amplitude d’impulsion

3) réponse de fréquence de répétition d’impulsion
4) proximité du bruit de fond
e) effets de désadaptation entre l'accès du récepteur du guide d'onde TEM et le récepteur de
mesure
f) effet de non-uniformité du champ
g) effet de distance de séparation entre l'EUT et l'accès du guide d'onde
h) effet de directivité de l'EUT
i) effet du matériau de la table tournante/du manipulateur de l'EUT
F.3 Budget d'incertitude et justification des grandeurs d'entrée pour les

mesurages des perturbations rayonnées à l'aide d'un guide d'onde TEM
F.3.1 Budget d'incertitude pour les mesurages des perturbations rayonnées à l'aide
d'un guide d'onde TEM
Le mesurande E est calculé à l'aide du modèle de l’équation (F.1):
E = Vr + ac + Fconv TEM + δVsw + δVpa + δVpr + δVnf + δM + δSuni + δSd + δSEUT dir + δSTT (F.1)
rayonnées à l'aide d'un guide d'onde TEM entre 30 MHz et 1 000 MHz (exemple)
Incertitude de x i b
c i u(x i )
Grandeur d’entrée a Xi
Fonction de densité
dB dB
de probabilité
valeur lue du récepteur F1) Vr ± 0,1 k=1 0,10
Atténuation: Récepteur TEMwg F2) ac ± 0,2 k=2 0,10
Facteur de conversion TEM F7) F conv TEM ± 0,0 - 0,0
Corrections du récepteur:
Tension sinusoïdale F3) δV sw ± 1,0 k=2 0,50
Réponse en amplitude d’impulsion F4) δVpa ± 1,5 Rectangulaire 0,87
Réponse de fréquence de répétition δV pr ± 1,5 Rectangulaire 0,87

d’impulsion F4)
Proximité du bruit de fond F5) δV nf ± 0,3 Rectangulaire 0,17
Désadaptation: Récepteur TEMwg F6) δM +0,64/-0,69 En forme de U 0,47
Non-uniformité du champ F8) δS uni ± 2,61 k=1 2,61
Distance de séparation F9) δS d ± 0,19 Rectangulaire 0,11
Effet de directivité de l'EUT F10) δS EUT dir -1,5/0 Rectangulaire 1,2
Effet du manipulateur de l'EUT F11) δSTT ± 2,0 Rectangulaire 1,16
La fonction de répartition est normale, sauf indication contraire dans le tableau.
a F1) )
Les exposants (par exemple, correspondent aux éléments de liste en F.3.2.
b Tout c i = 1
Par conséquent, l'incertitude élargie selon l'équation (F.2) est U(E) = 2uc(E) = 6,82 dB.
– 196 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
uc ( y ) = ∑ ci2 u 2 ( xi ) (F.2)
i
NOTE L’équation (F.1) et l’équation (F.2) peuvent également être utilisées pour l'algorithme à trois positions
(voir A.3.2.3), car la même incertitude s'applique à chacune des trois tensions lorsque le même instrument est utilisé.
rayonnées à l'aide d'un guide d'onde TEM entre 1 GHz et 6 GHz (exemple)
Incertitude de x i b
c i u(x i )
Grandeur d’entrée a Xi
Fonction de densité
dB dB
de probabilité
valeur lue du récepteur F1) Vr ± 0,1 k=1 0,10
Atténuation: Récepteur TEMwg F2) ac ± 0,3 k=2 0,15
Facteur de conversion TEM F7) F conv TEM ± 0,0 - 0,0
Corrections du récepteur:
Tension sinusoïdale F3) δV sw ± 1,5 k=2 0,75
Proximité du bruit de fond F5) δV nf + 0,2/0,0 Rectangulaire 0,12
Désadaptation: Récepteur TEMwg F6) δM +0,51/-0,54 En forme de U 0,37
Non-uniformité du champ F8) δS uni ± 2,61 k=1 2,61
Distance de séparation F9) δS d ± 0,19 Rectangulaire 0,11
Effet de directivité de l'EUT δS EUT dir - - 0
Effet du manipulateur de l'EUT F11) δSTT ± 2,0 Rectangulaire 1,16
La fonction de répartition est normale, sauf indication contraire dans le tableau.

a F1) )
Les exposants (par exemple, correspondent aux éléments de liste en F.3.2.
b Tout c i = 1
Par conséquent, l'incertitude élargie selon l’équation (F.2) est U(E) = 2uc(E) = 5,97 dB.
F.3.2 Justification des estimations des grandeurs d'entrée pour les mesurages des
perturbations rayonnées à l'aide d'un guide d'onde TEM
NOTE 1 Les commentaires F1) à F8) sont adaptés de la CISPR 16-4-2 [15].
NOTE 2 Le contexte général relatif à l'incertitude de mesure des perturbations rayonnées est indiqué en [30].
F1) Les valeurs lues du récepteur varient pour des raisons liées à l'instabilité du système de
mesure et aux erreurs d'interpolation d'échelle de l'appareil de mesure. L'estimation
de Vr est la moyenne de nombreuses valeurs lues (taille d'échantillon supérieure à 10)
d'un signal stable, avec une incertitude type donnée par l'écart type expérimental de la
moyenne (k = 1).
F2) Une estimation de l'atténuation ac de la connexion entre le récepteur et le guide d'onde
TEM est par hypothèse disponible dans un rapport d'étalonnage, avec une incertitude
élargie et un facteur d'élargissement.
NOTE 3 Si l'estimation de l'atténuation a c est obtenue par des données du fabricant pour un câble ou un
atténuateur, une loi rectangulaire dont la moitié de la largeur est égale à la tolérance d'atténuation spécifiée
du fabricant peut être prise pour hypothèse. Si la connexion est un câble et un atténuateur en tandem,
chacun contenant les données du fabricant, a c comprend deux composants dont chacun dispose de sa
propre loi rectangulaire.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 197 –
NOTE 4 Dans la plage de fréquences inférieure à 30 MHz, l'estimation de l'incertitude élargie est
de 0,1 dB, elle est de 0,2 dB entre 30 MHz et 1 000 MHz, de 0,3 dB entre 1 GHz et 6 GHz, et de 0,6 dB
entre 6 GHz et 18 GHz avec un facteur d'élargissement de 2. Une estimation inférieure de cette incidence
d'incertitude peut être obtenue à l'aide d'un analyseur de réseau vectoriel pour l'étalonnage de câble.
F3) Une estimation de la correction δ Vsw de l'exactitude de tension sinusoïdale du récepteur

est par hypothèse disponible dans un rapport d'étalonnage, avec une incertitude élargie
et un facteur d'élargissement.
NOTE 5 Si un rapport d'étalonnage indique uniquement que l'exactitude de tension sinusoïdale du
récepteur se situe dans les limites de tolérance de la CISPR 16-1-1 (±2 dB), alors l'estimation de la
correction δVsw est nulle avec une loi rectangulaire dont la moitié de la largeur est de 2 dB. Si le rapport
d'étalonnage indique une valeur inférieure à celle de la tolérance de la CISPR 16-1-1 (±1 dB, par exemple),
alors cette valeur doit être utilisée dans le calcul d'incertitude, et pas la valeur d'incertitude indiquée du
processus d'étalonnage. Si le rapport d'étalonnage donne des écarts précis par rapport aux valeurs de
référence, alors ces écarts et les incertitudes du laboratoire d'étalonnage sont utilisés pour déterminer les
incertitudes du récepteur de mesure.
F4) En règle générale, il se révèle peu pratique de corriger les caractéristiques de réponse
aux impulsions imparfaites du récepteur.
Un rapport de vérification qui indique que la réponse en amplitude d’impulsion du
récepteur est conforme à la tolérance de la CISPR 16-1-1 de ±1,5 dB pour la détection
de crête, de quasi-crête, moyenne ou moyenne efficace est par hypothèse disponible.
La correction δ Vpa est estimée nulle avec une loi rectangulaire dont la moitié de la
largeur est de 1,5 dB.
La tolérance de la CISPR 16-1-1 en matière de réponse de fréquence de répétition varie
en fonction de la fréquence de répétition et du type de détecteur. Un rapport de
vérification qui indique que les réponses de fréquence de répétition d’impulsion du
récepteur sont conformes aux tolérances de la CISPR 16-1-1 est par hypothèse
disponible. La correction δ Vpr est estimée nulle avec une loi rectangulaire dont la moitié
de la largeur est de 1,5 dB, cette valeur étant considérée comme représentative des
différentes tolérances de la CISPR 16-1-1.
NOTE 6 Si la réponse en amplitude d’impulsion ou la réponse de fréquence de répétition d’impulsion se
situe effectivement dans les limites de ± α dB de la spécification CISPR (α ≤ 1,5), la correction pour cette
réponse est estimée nulle avec une loi rectangulaire dont la moitié de la largeur est de α dB.
NOTE 7 Si une perturbation génère un signal du type à ondes entretenues au niveau du détecteur, les
corrections de réponse aux impulsions ne sont pas prises en considération.
F5) Le bruit de fond d'un récepteur CISPR est comparé au niveau de tension de sortie du
guide d'onde TEM Slim qui correspond à la limite d'amplitude de champ OATS Elim à
une distance de 10 m sous 1 Ghz, ainsi qu’à la limite d'amplitude de champ FAR
(FSOATS) Elim à une distance de 3 m au-dessus de 1 GHz pour déterminer le rapport
signal/bruit.
La combinaison de l’équation (A.1) et de l’équation (A.6) donne l’équation (F.3):
Dmax η02 k02 η k Dmax

=Emax gmax = ⋅ S gmax 0 0 ⋅S , (F.3)
2 2 2πe0 y 3 Zc
12π e0y Z c
avec k0 = 2π , η0 ≈ 377 Ω , Z=
c 50 Ω .
λ
Ey 10 V/m Ω
y=
Un manuel du fabricant donne e0= = 8,16 pour une hauteur de septum
Pi 1,5 W m
du guide d'onde TEM h = 0,8 m .
NOTE 8 Pour des hauteurs de septum plus élevées, e0 y est proportionnellement inférieur.
– 198 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
2
a) Pour l'amplitude de champ OATS (inférieure à 1 GHz), l'approximation gmax = est
r
utilisée, où r = 10 m et Dmax = 1,5 , pour calculer Slim .
1
Elim =⋅ 0,92 ⋅ Slim ou Slim = λ ⋅ 1, 08 Elim , respectivement
À partir de l’équation (F.3) Emax =
λ
en dB:
lim λ / dB(m) + 0,68 + Elim / dB(μV/m)

S=
L’équation précédente permet de calculer Slim dans le Tableau F.3.
Tableau F.3 – Valeurs de S lim entre 30 MHz et 1 000 MHz
Fréquence/MHz E lim /dB(µV/m) S lim /dB(µV)
30 30 50,7
100 30 40,2
230 30 33,0
230 37 40,0
300 37 37,7
1 000 37 27,2
Pour le mesurage des perturbations rayonnées à l'aide du guide d'onde TEM

sous 1 GHz, l'écart δ Vnf est estimé entre 0 dB et +0,3 dB. La correction est estimée
nulle comme si l'écart était symétrique autour de la valeur à mesurer avec une loi
rectangulaire dont la moitié de la largeur est de 0,3 dB. Toute correction de l'effet du
bruit de fond dépend du type de signal (onde sinusoïdale impulsive ou démodulée, par
exemple) et du rapport signal/bruit (S/N), et modifie l'indication du niveau de bruit. La
valeur de 0,3 dB est issue de la Figure F.1 (voir l'Article F.4) pour S/N = 28 dB. Le
rapport S/N a été obtenu pour un facteur de bruit de 6 dB à l'aide de l’équation (F.4)
ENQP= SNQP + Fconv TEM + ac=

(F.4)
− 67 + 10 lg FN + 10 lg BN + wNQP + Fconv TEM + ac
où
E NQP est l'amplitude de champ équivalent du bruit de fond de quasi-crête,
en dB(μV/m);
S NQP est le bruit de fond de quasi-crête du récepteur, en dB(μV);
F con TEM est le facteur de conversion TEM à la fréquence du récepteur, en dB(1/m);
ac est l'atténuation du câble de connexion de l'antenne, en dB;
FN est le facteur de bruit du récepteur de mesure, c'est-à-dire un nombre;
10·lg·F N est le facteur de bruit du récepteur de mesure, en dB;
BN est la largeur de bande de bruit du récepteur de mesure, en Hz;
W NQP est le facteur de pondération de quasi-crête du bruit, en dB;
-67 ( )
est 10 ⋅ lg kT0 ⋅ 1 Hz / P1μV , le niveau de bruit absolu en dB(μV) dans une
largeur de bande de 1 Hz, avec k = constante de Boltzmann, T 0 = 293,15 K,
et P 1μV est la puissance générée par 1 μV sur 50 Ω.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 199 –
Le rapport S/N le plus défavorable est obtenu à proximité de 1 000 MHz. Avec
10 ⋅ lg ( FN ) =
6 , 10 ⋅ lg (BN) 50,8
= (pour 120 kHz), le facteur de pondération w NQP étant
de 7 dB, le facteur de conversion TEM de F conv TEM = 9,8 dB(m −1 ) pour 1 000 Mhz et
l’atténuation du câble a c = 2 dB, l’indication de bruit de quasi-crête en ce qui concerne
l’amplitude du champ est E NQP = 9 dB(μV/m). Cette valeur est comparée à un niveau de
perturbation à la limite d'émission de 37 dB(μV/m) à une distance de 10 m pour donner
un rapport S/N de 28 dB. Dans la plage de fréquences inférieure à 1 000 MHz, le
rapport S/N est supérieur, et un rapport S/N > 30 dB peut donc être pris pour hypothèse.
b) Pour l'amplitude de champ FAR (FSOATS) (au-dessus de 1 GHz), l'approximation
g max = 1/r est utilisée, où r =3 m et D max = 1,5, pour calculer S lim .
À partir de l’équation (F.3) E max = E lim = 1/λ 1,54 S lim , où λ est exprimé en m ou
S lim = λ 0,65 E lim , respectivement en dB: S lim = λ/dB(m) − 3,75 + E lim /dB(μV/m).
L’équation précédente permet de calculer S lim dans le Tableau F.4 (voir F.3.2).
Tableau F.4 – Valeurs de S lim entre 1 GHz et 6 GHz
Fréquence/GHz E lim pk /dB(µV/m) S lim pk /dB(µV)
1 70 55,8
3 70 46,2
3 74 50,2
6 74 44,2
Pour les mesurages de perturbations rayonnées au-dessus de 1 GHz, les limites

s'appliquent pour les résultats mesurés du détecteur de moyenne et du détecteur de
crête. Des considérations analogues pour le bruit de fond inférieur à 1 GHz s'appliquent.
Plus l'influence du bruit est importante, plus l'incertitude provoquée par le bruit est
élevée avec le détecteur de crête.
La Figure F.2 (voir Article F.4) présente des graphiques de l'écart par rapport au niveau
de signal en fonction du rapport S/N.
Le rapport S/N le plus défavorable est obtenu à proximité de 6 GHz. Avec 10 ⋅ lg (FN) =
6
, 10 ⋅ lg (BN) =
58,2 , (correspondant à 0,66 MHz), et avec un facteur de pondération w NPk
de 11 dB, le facteur de conversion TEM de F conv TEM = 29,8 dB(m −1 ) pour 6 GHz et
l'atténuation du câble a c = 2 dB, l'indication de bruit de crête en ce qui concerne
l'amplitude du champ est ENQP = 40 dB(μV/m). Cette valeur est comparée à un niveau
de perturbation à la limite d'émission de 74 dB(μV/m) à une distance de 3 m pour donner
un rapport S/N de 34 dB. Dans la plage de fréquences inférieure à 6 GHz, le rapport S/N
est supérieur, et un rapport S/N > 34 dB peut donc être pris pour hypothèse. La
Figure F.2 présente un écart maximal des ondes sinusoïdales de 0,2 dB.
F6) Incertitude de désadaptation
a) Généralités
En règle générale, l'accès du récepteur d'un guide d'onde TEM est relié à l'accès 1
d'un réseau à deux accès dont l'accès 2 est terminé par un récepteur qui présente
un coefficient de réflexion de Γr . Le réseau à deux accès, qui peut être un câble, un
atténuateur, un atténuateur et un câble en tandem ou toute autre combinaison de
ces composants, peut être représenté par ses paramètres S. La correction de
désadaptation est alors assurée par l’équation (F.5)
2
δM 20 lg (1 − Γ e S11 )(1 − Γr S22 ) − S21
= Γ e Γr  (F.5)
 
– 200 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
où Γ e est le coefficient de réflexion de l'accès du récepteur du guide d'onde TEM,

avec l'EUT inséré lorsqu'il est monté pour le mesurage des perturbations. Tous les
paramètres sont référencés à 50 Ω.
Si seules les amplitudes (ou leurs extrêmes) des paramètres sont connues, M ne
peut pas être calculé, mais ses valeurs extrêmes M ± ne sont pas supérieures à celles
obtenues avec l’équation (F.6)
δM ± 20 lg  1 ±
=
 (Γ e S11 + Γr S22 + Γe Γr S11 S22 + Γe Γr S21
2
)  (F.6)
La loi de M est approximativement en forme de U, avec une largeur inférieure ou

(
égale à δM + )
− δM − et un écart type inférieur ou égal à la moitié de la largeur
divisée par 2.
b) Mesurage des perturbations rayonnées à l'aide d'un guide d'onde TEM
Pour les mesurages des perturbations rayonnées sous 1 GHz, une spécification de
ROS du guide d'onde TEM de s wr ≤ 1,6:1 est prise pour hypothèse, ce qui
implique |Γ e | ≤ 0,23. Pour les mesurages des perturbations rayonnées au-dessus
de 1 GHz, une spécification de ROS de s wr ≤ 1,45:1 est prise pour hypothèse, ce qui
implique |Γ e | ≤ 0,18. Il est également pris pour hypothèse que la connexion au
récepteur est assurée à l'aide d'un câble bien adapté (|S 11 | << 1, |S 22 | << 1) qui
présente une atténuation négligeable (|S 21 | ≈ 1), et que l'atténuation RF du récepteur
est de 0 dB, pour laquelle la tolérance CISPR 16-1-1 de s wr ≤ 2,0:1 implique |Γ r |
≤ 0,33.
L'estimation de la correction δ M est nulle avec une loi en forme de U dont la largeur
est égale à la différence δ M + (
−δ M − . )
NOTE 9 Les expressions pour δM et δM ± indiquent que l'erreur de désadaptation peut être réduite par une
augmentation de l'atténuation du réseau à deux accès bien adapté qui précède le récepteur. La contrepartie
est une réduction de la sensibilité de mesure.
NOTE 10 Considérations supplémentaires liées à l'équation (F.3): a) compte tenu de la corrélation

inexistante ou faible des nombres à ajouter (opérandes ou termes de la somme), l'addition linéaire peut être
remplacée par la règle de la somme des carrés; b) compte tenu de l'amplitude généralement faible des
nombres à ajouter, une autre approximation (dans laquelle δM± est la moitié de la largeur d'une loi en forme
de U) est applicable, ce qui donne finalement:
δM ± ≈ 8,7 ( Γe 2 2
(
S11 ) + ( Γr S22 ) + Γe Γr S21 )
2 2
dB
F7) Facteur de conversion pour les mesurages des perturbations rayonnées à l'aide d'un
guide d'onde TEM
Le facteur de conversion peut être considéré comme un facteur d'antenne dépendant de
la fréquence qui permet de convertir la tension perturbatrice mesurée par le récepteur
de mesure à la sortie du guide d'onde TEM en amplitude de champ OATS (ou FAR)
équivalente. Le facteur de conversion est en général différent selon que la polarisation
de l'amplitude du champ mesurée est horizontale ou verticale. Il dépend de la distance
de mesure OATS/SAC, de la hauteur de septum et de certains autres paramètres. Une
première approximation est calculée dans l'élément F5). Il est pris pour hypothèse que
la conversion est réalisée à l'aide d'algorithmes (ceux décrits à l'Article A.3, par
exemple) ou d'autres algorithmes plus sophistiqués qui s'appuient sur une théorie exacte
et sur des calculs qui ne génèrent aucune incidence d’incertitude. Toute incertitude
provoquée, par exemple, par une directivité imprévisible de l'EUT, est couverte par
d'autres grandeurs d'influence.
F8) Non-uniformité du champ
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 201 –
Pour le volume d'essai utilisable, les exigences de 5.2.2 s'appliquent. En 5.2.2.2.2

et 5.2.2.2.3, la valeur moyenne et l'écart type de la composante de champ primaire ou
de la puissance incidente sont calculés pour les points d'essai N. La loi normale est
prise pour hypothèse pour les mesurandes. L'écart type de la composante de champ
primaire pour la méthode de puissance incidente constante ou la puissance incidente
pour la méthode de l'amplitude du champ constante doit être inférieur à 2,61 dB selon
les équations (1) à (6), et respectivement les équations (7) à (12). De cette exigence de
vérification, il peut être conclu que l'incidence d’incertitude de non-uniformité du champ
est d'au moins 2,61 dB. La valeur réelle de l'écart type de l'amplitude de champ
électrique primaire ou de la puissance incidente peut être utilisée comme estimation de
l'incertitude type de cette grandeur d'entrée pour déterminer l'incertitude élargie U lab
d'un laboratoire d'essai et son guide d'onde TEM.
Toutefois, en particulier pour les zones uniformes importantes, de nombreux guides
d'onde TEM donnent une incertitude inférieure. S'il est essentiel de procéder à une
estimation plus exacte de l'incertitude de la non-uniformité du champ, cette estimation
peut être réalisée par une évaluation plus complexe des données d'étalonnage de la
validation du volume d'essai utilisable (voir les alinéas ci-dessous).
Les mesurages E prim, i en V/m pour l'amplitude de champ électrique primaire aux points
d'étalonnage N sont normalisés en puissance d'entrée et facteur de champ selon
l’équation (A.5) (voir A.3.2.3.3). Avec les équations (F.7) à (F.10), l'écart type s N pour
les incertitudes intrinsèques du volume d'essai et du guide d'onde est calculé, où Γ (…)
est la fonction gamma.
 N − 1
Γ
N − 1  2 
sN = ⋅ ⋅ σEN (F.7)
2 N
Γ 
2
N
1
( )
2
=σEN ∑ Epn, i − E pn (F.8)
N − 1 i =1
1 N
E pn = ∑ Epn,i
N i =1
(F.9)
 Ep,i 
Epn,i = 20 lg   (F.10)
 Pi ⋅ e0y,i 
 
L'évaluation de l’équation (F.11) pour un grand nombre I de points d'étalonnage choisis

de manière aléatoire (x i ,y i ) dans la zone uniforme donne l'écart type s e0y de
l'homogénéité du champ analytique dans le volume d'essai spécifique.
2
1 I  1 I 
=se0y ∑ 
I − 1 i 1=
(
Ii 1
)

(F.11)
=  
L'incertitude de δ Suni dans le Tableau F.1 est alors calculée par l’équation (F.12). Pour
chaque intervalle de fréquence, il convient de tenir compte de la valeur maximale de u(
δ Suni ).
u ( δSuni
= ) 2
sN 2
+ se0 y (F.12)
– 202 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
Des informations détaillées et des exemples de mesure de l'incidence d’incertitude de

la non-uniformité du champ peuvent être consultés en [27].
F9) L'erreur de distance de séparation entre l'EUT et l'accès du guide d'onde TEM provient
des erreurs de détermination du périmètre de l'EUT et de la coordonnée z de l'EUT dans
le guide d'onde TEM. L'estimation de la correction
δS
d de l'erreur de séparation est
nulle avec une loi rectangulaire dont la moitié de la largeur est évaluée avec une erreur
de séparation maximale réputée de ± 0,1 m, et avec une amplitude du champ réputée
inversement proportionnelle à la séparation sur cette marge de distance. Une fonction
de densité de probabilité (PDF) rectangulaire est prise pour hypothèse. Pour un guide
d'onde TEM spécifique, l'incidence d’incertitude u(
δS
d ) peut être calculée par
l’équation (F.13), où r TL est la distance entre la position de l'EUT et la section
d'alimentation du guide d'onde TEM.
 3  r ± 0,1 m  
u ( δSd ) max 
= ⋅ 20 lg  TL   (F.13)
 3 rTL
  
NOTE 11 Cette valeur peut également être comprise comme étant une incidence d'incertitude de la
transition d'un guide d'onde TEM.
NOTE 12 Cette valeur ne s'applique pas aux guides d'onde TEM sans transition (ceux qui présentent une
section constante dans le volume d'essai, par exemple.
NOTE 13 La valeur de cette incidence d'incertitude dépend de la distance entre la position de l'EUT et la
section d'alimentation du guide d'onde TEM. Des distances de séparation plus longues donnent une
incertitude plus faible.
F10) Pour les EUT de petite taille d'un point de vue électrique, la directivité varie entre au
moins 1,5 (dipôle électrique ou magnétique isolé uniquement) et 3 au maximum (pour
les dipôles électriques et magnétiques combinés orientés de manière optimale). Une
directivité de 3 (valeur maximale) est prise pour hypothèse dans l'algorithme de
corrélation de A.3.2.4 pour les EUT de petite taille. Par conséquent, la directivité réelle
(mais inconnue) est jusqu'à 1,5 inférieure, ce qui donne une incertitude. Une loi
rectangulaire est prise pour hypothèse pour le Tableau F.1. Si la méthode qui repose
sur le facteur d'antenne à douze positions de A.5.1.2 est utilisée pour un EUT de petite
taille, ce terme d'incertitude est inutile. Pour des fréquences supérieures à 1 GHz, un
EUT est par hypothèse grand d'un point de vue électrique. Par conséquent, la méthode
qui repose sur le facteur d'antenne à douze positions de A.5.1.2 doit être utilisée pour
calculer l'amplitude du champ électrique équivalente, et l'incidence d’incertitude de la
directivité de l'EUT ne s'applique plus. Cette valeur est donc nulle dans le Tableau F.2.
F11) Effet du matériau de la table tournante/du manipulateur de l'EUT
Il est nécessaire de déterminer cet effet par des mesurages avec et sans manipulateur
d'une manière similaire à l'évaluation de l'influence de la table de montage de la
CISPR 16-1-4. À partir de mesurages d'amplitude du champ au-dessus de 500 Mhz
environ, des valeurs de ±2 dB environ semblent classiques. Une PDF rectangulaire peut
être prise pour hypothèse. Des informations plus détaillées et la description des
possibles montages de mesure pour l'évaluation de cet effet dans les guides d'onde
TEM peuvent être consultées en [27].
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 203 –
F.4 Figures de l’Annex F
Figure F.1 – Écart d'indication du niveau de détecteur de quasi-crête par rapport au

niveau du signal à l'entrée du récepteur pour deux cas: un signal sinusoïdal et un
signal impulsif avec une fréquence de répétition d’impulsion de 100 Hz
Figure F.2 – Écart d'indication du niveau de détecteur de crête par rapport au niveau du
signal à l'entrée du récepteur pour deux cas: un signal sinusoïdal et un signal impulsif
avec une fréquence de répétition d’impulsion de 100 Hz)
– 204 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
Annex G
(informative)
Incertitude de mesure de l'essai d'immunité

en raison des instruments d'essai
G.1 Symboles généraux

Xi grandeur d'entrée
xi estimation de X i
δX i correction de la grandeur d'entrée
u(x i ) incertitude type de x i
ci coefficient de sensibilité
y résultat d'un mesurage (estimation du mesurande), corrigé pour tous les effets
systématiques significatifs reconnus
u c (y) incertitude type (composée) de y
U(y) incertitude élargie de y
k facteur d'élargissement
a+ abscisse supérieure d'une loi de probabilité
a− abscisse inférieure d'une loi de probabilité
G.2 Symbole et définition du mesurande

E amplitude du champ électrique, en dB(V/m), en un point de la zone uniforme décrite
en 5.2.2
G.3 Symboles pour les grandeurs d'entrée

Em indication de la sonde de champ dans le cas d'un processus d'étalonnage, directement
ou convertie en dB(V/m)
Fc facteur d'étalonnage de la sonde de champ
δF lin correction de la non-linéarité de la sonde de champ
δF iso correction de l'écart de la sonde de champ par rapport à l'isotropie
δF int correction de l'interpolation de fréquence des facteurs d'étalonnage de la sonde de
champ
δF uni correction de la non-uniformité du champ sur la zone uniforme
δF har correction due aux harmoniques du champ
δF res correction due à la résolution d'amplitude limitée de la boucle d'asservissement
δM correction due à la désadaptation entre le guide d'onde TEM et l'amplificateur
G.4 Exemple: Budget d'incertitude pour l'essai d'immunité
Le mesurande E est calculé à l'aide de l’équation (G.1):
E = Em + FC + δFlin + δFiso + δFint + δFuni + δFhar + δFres + δM (G.1)

IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 205 –
NOTE Dans l’équation (G.1), E représente le champ électrique mesuré dans l’équation (16) ou l’équation (17)
(voir 5.2.2.4.1 et 5.2.2.4.2, respectivement) avant que des corrections systématiques ne soient apportées pour éviter
une sévérité d'essai trop faible sur le volume d'essai.
Tableau G.1 – Exemple de budget d'incertitude du niveau d'essai d'immunité
Incertitude de x i u(x i )
Source d’incertitude a Xi ci
Fonction de densité de
Valeur en dB en dB
probabilité
Indication de la sonde de champ dans Em 0,20 Normal k = 1 1 0,20
le cas d'un processus d'étalonnage G1)
Facteur d'étalonnage de la sonde de Fc 0,96 Normal k = 2 1 0,48
champ G2)
Corrections de la sonde de champ:
Non-linéarité G3) δF lin 0,5 Rectangulaire 1 0,29
Isotropie G4) δF iso 0,5 Rectangulaire 1 0,29
Interpolation de fréquence G5) δF int 0,5 Rectangulaire 1 0,29
Non-uniformité du champ sur la zone δF uni 1,5 Normal k = 1 1 1,5

uniforme G6)
Présence d'harmoniques G7) δF har 0,50 Rectangulaire 1 0,29
Résolution de la boucle δF res 0,15 Rectangulaire 1 0,09

d'asservissement G8)
Désadaptation entre le guide d'onde δM 0,17 En forme de U 1 0,12
TEM et l'amplificateur/coupleur
directionnel G9)
2,88
∑u(x ) i
2
1,70
uc ( y ) = ∑u (x ) i
2
Incertitude élargie U(y), (k = 2) 3,39

a Les exposants (par exemple, G1)) correspondent aux éléments de liste à l’Article G.5.
G.5 Justification des estimations des grandeurs d'entrée

G1) L'incertitude de l'indication inclut: a) l'instabilité du générateur et de l'amplificateur de
puissance (Type A) et la non-répétabilité induite par b) la suppression et le
remplacement de la sonde de champ, y compris l'alignement du point médian (Type A).
Elle peut être évaluée comme l'incertitude type composée des contributions a) et b).
G2) L'incertitude du facteur d'étalonnage de la sonde de champ est due à l'inexactitude
d'étalonnage. Il s'agit d'une contribution de Type B spécifiée dans le certificat
d'étalonnage de la sonde de champ en tant qu'incertitude élargie dont le facteur
d'élargissement k = 2 , correspond à une probabilité de couverture de 95 % (loi normale).
G3) La linéarité de la sonde de champ est spécifiée par le fabricant de la sonde de champ.
Il s'agit d'une contribution de Type B dont la loi est rectangulaire. La valeur attendue de
cette correction est zéro (0).
G4) L'écart isotrope est spécifié par le fabricant de la sonde de champ. Il s'agit d'une
contribution de Type B dont la loi est rectangulaire. La valeur attendue de cette
correction est zéro (0).
G5) Le facteur d'étalonnage de la sonde de champ est connu, dans les limites de l'exactitude
d'étalonnage, aux fréquences d'étalonnage. Par hypothèse, à une fréquence comprise
entre les fréquences d'étalonnage, le facteur d'étalonnage peut atteindre une valeur
comprise entre celles indiquées dans le certificat d'étalonnage et qui correspond aux
fréquences d'étalonnage. Il s'agit d'une contribution de Type B dont la loi est
– 206 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
rectangulaire. L'écart le plus défavorable (c'est-à-dire l'écart maximal entre des facteurs
d'étalonnage adjacents) peut être pris en considération. La valeur attendue de cette
correction est zéro (0).
G6) Non-uniformité du champ
Pour le volume d'essai utilisable, les exigences de 5.2.2 s'appliquent. En 5.2.2.2.2
et 5.2.2.2.3, la valeur moyenne et l'écart type de la composante de champ primaire ou
de la puissance incidente sont calculés pour les points d'essai N. La loi normale est
prise pour hypothèse pour les mesurandes. L'écart type de la composante de champ
primaire pour la méthode de puissance incidente constante ou la puissance incidente
pour la méthode de l'amplitude du champ constante peut service de base pour une
estimation de l'incertitude type de cette grandeur d'entrée.
Toutefois, en particulier pour les zones uniformes importantes, de nombreux guides
d'onde TEM donnent une incertitude inférieure. Pour calculer une estimation de cette
grandeur d'entrée, il convient d'utiliser les données d'étalonnage de la validation du
volume d'essai utilisable. Les mesurages E prim, i en V/m pour l'amplitude de champ
électrique primaire aux points d'étalonnage N sont normalisés en puissance d'entrée et
facteur de champ selon l’équation (A.5) (voir A.3.2.3.3). Avec les équations (G.2)
s
à (G.7), l'écart type N pour les incertitudes intrinsèques du volume d'essai et du guide
d'onde TEM est calculé, où Γ (…) est la fonction gamma.
 N − 1
Γ
N − 1  2 
sN = ⋅ ⋅ σEN (G.2)
2 N
Γ 
2
1 N
( )
2
=σEN ∑ Epn,i − E pn (G.3)
N − 1 i =1
1 N
E pn = ∑ Epn,i
N i =1
(G.4)
 Ep,i 
Epn,i = 20 lg   (G.5)
 Pi ⋅ e0y,i 
 
L'évaluation de l’équation (G.6) pour un grand nombre I de points d'étalonnage choisis

de manière aléatoire (x i ,y i ) dans la zone uniforme donne l'écart type se0y de
l'homogénéité du champ analytique dans le volume d'essai spécifique.
2
1 I  1 I 
=se0y ∑ 
I − 1 i 1=
(
Ii 1
)

(G.6)
=  
L'incertitude de δ Funi dans le Tableau G.1 est alors calculée par l'équation (G.7). Pour
chaque intervalle de fréquence, il convient de tenir compte de la valeur maximale de
u (δ Funi )
.
u ( δFuni
= ) 2
sN + se20y (G.7)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 207 –
Des informations détaillées et des exemples de mesure de l'incidence d’incertitude de

la non-uniformité du champ peuvent être consultés en [27].
G7) Le mesureur de champ détecte la valeur efficace de l'amplitude du champ obtenue par
superposition de l'amplitude du champ à la fréquence fondamentale avec ses
harmoniques. Par hypothèse, un harmonique de l'amplitude du champ électrique est
présent avec une amplitude inférieure de 6 dB au maximum à la fréquence
fondamentale. Cette situation génère une erreur maximale d'environ 1 dB. Il s'agit d'une
contribution de Type B, et une loi rectangulaire de l'erreur est prise pour hypothèse. La
valeur attendue de cette correction est −0,5 dB.
G8) Cette incidence d’incertitude provient de la taille de palier discrète du générateur de
signaux RF et du logiciel qui commande la boucle d'asservissement lors du processus
de réglage du niveau d'essai. Cette valeur peut inclure l'incertitude du wattmètre, y
compris ses capteurs, indiquée dans la spécification du fabricant (et traitée comme une
loi rectangulaire) ou dans un certificat d'étalonnage (et traitée comme une loi normale).
Il s'agit d'une contribution de Type B dont la loi est rectangulaire.
G9) Il s'agit de l'incertitude provoquée par une désadaptation entre l'accès d'entrée d'un
guide d'onde TEM et l'accès de sortie de l'amplificateur de puissance. Si un coupleur
directionnel est utilisé pour mesurer à l'aide du wattmètre la puissance incidente qui
provient de l'amplificateur et la puissance réfléchie qui provient du guide d'onde TEM,
l'incertitude peut être provoquée par la désadaptation entre l'accès d'entrée d'un guide
d'onde TEM et l'accès de sortie du coupleur directionnel. Cette incertitude est provoquée
par le manque d'informations de phase des coefficients de réflexion de l'amplificateur,
du coupleur directionnel et du guide d'onde TEM, car les réflexions de puissance sont
en général données dans le ROS qui ne contient aucune information de phase. Voir
l'IEC TR 61000-1-6 [64] pour de plus amples informations.
– 208 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
Annex H
(informative)
Corrélation des limites d'émission et d'immunité

entre les installations d'essai CEM
H.1 Aperçu
Les mesurages d'émission et les essais d'immunité peuvent être réalisés sur un certain nombre
d'installations d'essai CEM. Il s'agit des emplacements d’essai ouverts (OATS), des chambres
semi-anéchoïques (SAC), des enceintes complètement anéchoïques (FAR), des cellules à
mode électromagnétique transverse (TEM) et des chambres réverbérantes (RC). En théorie,
chacune de ces installations donne le même résultat d'essai pour un objet d'essai donné. En
d'autres termes, un produit qui satisfait à un essai dans une installation satisfait aux essais
dans les autres installations, et un produit qui ne satisfait pas à un essai dans une installation
ne satisfait pas aux essais dans les autres installations. Ce cas théorique peut être rencontré
si les données de mesure des émissions et de l'essai d'immunité peuvent être exactement
corrélées entre les installations CEM. Toutefois, compte tenu de la complexité avérée de la
plupart de ces objets d'essai, et étant donné que les méthodes d'essai qui reposent sur une
installation CEM normalisée échantillonnent différents sous-ensembles de la plage complète
des variables de mesure d'émission et d'essai d'immunité possibles [62], une corrélation exacte
des données d'essai n'est en général pas possible.
Une alternative à la corrélation des données de mesure des émissions et d'essai d'immunité
complexes consiste à corréler les limites d'essai sur la base des modèles de dipôle simple de
l'objet d'essai. Les modèles de dipôle sont un bon point de départ pour définir les limites d'essai
"équivalentes". Ces limites peuvent alors être adoptées ou modifiées par les comités de produit,
selon le cas. Les limites d'immunité sont en général exprimées en amplitude de champ
électrique (V/m) au niveau du plan d'essai et/ou du volume d'essai en l'absence d'objet d'essai.
L'amplitude du champ à l'emplacement d'essai dans une installation d'essai CEM particulière
est alors vérifiée par des mesurages de champ à l'aide d'une sonde de réception isotrope. De
cette manière, l'interaction entre la source et l'installation d'essai est normalisée. Cette situation
facilite la définition des limites d'immunité équivalentes entre les installations CEM. Les limites
d'émission sont moins claires. L'équivalent du cas d'immunité précédent consiste à utiliser une
petite sonde source isotrope qui génère des niveaux variables d'amplitude du champ sur la
plage de fréquences concernée (l'inverse d'une sonde de champ qui reçoit des niveaux
variables d'amplitude du champ sur la plage de fréquences concernée avec des essais
d'immunité). La sonde de champ peut alors faire office d’étalon de transfert pour établir les
limites équivalentes entre les installations d'essai CEM. La difficulté réside dans le fait que ce
type de petite source variable et isotrope ne peut pas être aisément obtenu. Par conséquent,
des modèles analytiques sont utilisés dans le cas des émissions pour corréler les interactions
de la source et de l'installation d'essai. Les modèles de dipôle sont les plus simples, et différents
algorithmes de corrélation qui reposent sur un dipôle ont été développés et sont décrits dans
les ouvrages de référence ([32], [41], [53] et [60], par exemple). L'Annex H examine les
principes fondamentaux des algorithmes de corrélation, à l’aide d’une terminologie et d’une
notation communes. En premier lieu, un dipôle en espace libre (FS) est pris en considération,
lequel sert de modèle pour une FAR théorique. Ensuite, un dipôle en demi-espace (HS) est pris
en considération, lequel sert de modèle pour un OATS ou une SAC théorique. Un dipôle dans
une ligne de transmission (TL) modélise une ligne de transmission TEM. Enfin, un dipôle dans
une cavité théorique modélise un montage en chambre réverbérante (RC). Les géométries
d'émetteur traitées dans les Articles H.2 à H.5 sont représentées de la Figure H.1 à la Figure
H.4 (voir Article H.8). Les résultats de ces modèles sont ensuite corrélés et peuvent être utilisés
pour déduire les limites d'essai équivalentes.
H.2 Dipôle en espace libre (représentant le montage en FAR)
L'environnement en espace libre théorique est le cas le plus simple à analyser. Un dipôle
accompagné d'une représentation d'une source plus générale est représenté à la Figure
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 209 –
H.1 (voir Article H.8). Seul le cas d'un dipôle électrique est pris en considération. Les résultats
peuvent être aisément appliqués à un dipôle magnétique ou à des dipôles électriques et
magnétiques combinés, comme cela est présenté ultérieurement dans l'Annexe H. Pour un
dipôle électrique court (longueur dl, courant de crête I 0 ) placé à l'origine et aligné avec l'axe z,
le rayonnement en champ lointain est donné par l’équation (H.1)
Eθ =
jωμI0 dl
4πr
( ) jkI dl
sin θe− jkr et H φ = 0 sin θe− jkr
4πr
( ) (H.1)
où ω est la fréquence angulaire, μ est la perméabilité du milieu dans lequel se trouve le dipôle
(l'air, par exemple), k = 2π / λ , où λ est la longueur d'onde, (θ ,ϕ ,r ) représente le système de
jω t
coordonnées sphériques conventionnel, et une convention de temps e est supprimée. La
puissance totale P0 rayonnée par le dipôle électrique est déterminée par intégration du vecteur
de Poynting sur une sphère qui englobe le dipôle, donnant l’équation (H.2)
2
2  dl 
P0= η0 πI 02  
3  λ  (H.2)
où η0 est l'impédance d'onde en espace libre de l'air ( ≈ 120π Ω pour l'air). Les mesurages
CEM réalisés dans une FAR mesurent en général l'amplitude du champ électrique. Pour un
mesurage des émissions, l'amplitude maximale du champ électrique Emax est déterminée sur
une certaine géométrie de balayage. Pour la précédente géométrie de dipôle électrique, la
valeur maximale de l’équation (H.1) est obtenue lorsque θ = π 2 , où
2 ω2 μ 2 ( I0 dl )2
Emax = (H.3)
(4πr )2
À l'aide de l’équation (H.2), l’équation (H.3) peut être réécrite sous la forme de l'équation (H.4)
2 3 η0
Emax = P0 (H.4)
2 4πr 2
L'équation (H.4) est le cas de l'expression la plus générale du dipôle électrique donnée en [53],
présenté dans l'équation (H.5),
2 η0
Emax = Dmax P0
4πr 2 (H.5)
pour le champ électrique maximal qui provient d'un émetteur avec une directivité maximale
D max (D max = 3/2 pour les dipôles électriques ou magnétiques individuels ou D max = 3 pour les
dipôles électriques ou magnétiques combinés) et une puissance totale rayonnée P 0 . E max est
réellement déterminé à l'aide de la tension V max mesurée à la sortie d'une antenne qui présente
un facteur d'antenne F a , où Emax
= Fa ⋅ Vmax . La collecte des résultats donne l’équation (H.6),
2 η0 (H.6)
Vmax = Fa−2 Dmax P0
4πr 2
– 210 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
Par ailleurs, l’équation (H.6) peut être réécrite sous la forme de l’équation (H.7) par la définition
d’un terme d'affaiblissement de propagation en espace libre
1
aFS = (H.7)
( 4π ⋅ r 2 )
ce qui donne l’équation (H.8)
2
Vmax,FS (
=η0 ⋅ Fa−2 ⋅ Dmax,FS ⋅ aFS ⋅ P0 ) (H.8)
Les indices (FS) ont été ajoutés pour faire la différence entre les cas ultérieurs. En particulier,
F a n'est pas une propriété naturelle de l'espace libre. Il indique simplement l'AF d'une antenne
utilisée pour mesurer l'espace libre.
H.3 Dipôle en demi-espace (représentant un montage en OATS ou SAC)
Un demi-espace est formé par l'introduction d’un plan de sol théorique (un conducteur parfait
d'étendue infinie) dans le cas de l'espace libre précédent. Comme le représente la Figure H.2
(voir Article H.8), un dipôle électrique se trouve à une hauteur h au-dessus du plan de sol et
est orienté verticalement ou horizontalement. D'autres orientations peuvent être analysées par
superposition de ces deux cas. Le cas en demi-espace peut être analysé par l'introduction d’un
dipôle image. Un système de coordonnées rectangulaires est introduit avec le plan de sol dans
le plan xy, le dipôle à z = + hdipole et le dipôle image à z = −hdipole . La distance entre le dipôle
source et le point de mesure est appelée r 1 , celle entre le dipôle image et le point de mesure r 2 ,
celle entre l'origine et le point de mesure r, et la distance radiale entre l'axe z et le point de
mesure est appelée s. Dans le champ lointain, le champ électrique maximal peut être présenté
(voir [32] et [60]) selon l’équation (H.9),
2 η0
Emax = Dmax r 2 gmax
2
P0 (H.9)
2
4πr
où D max est de nouveau égal à 3/2 pour un simple dipôle électrique ou peut être généralisé
à 3 pour les dipôles électriques et magnétiques combinés. Un facteur de normalisation r est
introduit afin que la forme de l’équation (H.9) soit similaire à celle de l’équation (H.5). Le facteur
de géométrie g max est défini par l’équation (H.10),
 e− jk0 r1 e− jk0 r2
 − pour horizontal
 r1 r2
max
gmax =  (H.10)
 s 2 e− jk0 r1 s 2 e− jk0 r2
 2 + pour vertical
 r1 r1 r22 r2 max
où k0 = 2π λ est le nombre d’ondes et l'indice max indique la valeur maximale déterminée dans
une certaine géométrie de balayage (balayage sur une hauteur verticale de 1 m à 4 m selon un
certain décalage horizontal, par exemple). Si la distance radiale s est beaucoup plus importante
que la hauteur h au-dessus du plan de sol, de sorte que s/r 1 ≈ 1, s/r 2 ≈ 1, r/r 1 ≈ 1 et r/r 2 ≈ 1,
alors g max réduit l’équation (H.11),
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 211 –
2
 sin ( k ( r1 − r2 ) ) pour horizontal

gmax =  r (H.11)
 2 cos ( k ( r − r ) ) pour vertical
 1 2
r
Ces hypothèses, gmax = 2 r dans les deux cas, partent du principe que le balayage de mesure
est tel qu'en un certain point ( 1 2 )

k r −r π2
=
ou π, respectivement (ou un autre multiple pertinent).
Physiquement, cela signifie simplement que le plan de sol double le champ électrique maximal
par des interférences constructives dues au chemin réfléchi. La Figure 3 de [32] indique
que gmax = 2 r est une bonne approximation au-dessus de 200 MHz pour un montage de
mesure classique des émissions CEM de 3 m (séparation horizontale de 3 m, hauteur de
source de 1 m, balayage en hauteur de l'antenne de réception de 1 m à 4 m), et qu'elle est une
bonne approximation au-dessus de 30 MHz pour un montage de mesure classique des
émissions CEM de 10 m (séparation horizontale de 10 m, hauteur de source de 1 m, balayage
en hauteur de l'antenne de réception de 1 m à 4 m). Par conséquent, il convient qu'une valeur
de gmax égale à 2, utilisée ici pour le cas en demi-espace, soit suffisante pour définir les limites
d'émission équivalentes. La tension mesurée maximale d'un dipôle électrique au-dessus d'un
plan de sol parfait peut donc être approchée avec l'équation (H.12),
2
Vmax,HS (
−2
= η Fa,HS ⋅ Dmax,HS ⋅ aHS P0 ) (H.12)
où aHS est bien approché par aFS

= 4 πr ( 2 ) pour les calculs de l'Annexe H. Toutefois, s'il
s'avère nécessaire de tenir compte plus précisément de la géométrie du plan de sol, il convient
=
d'utiliser
2
aHS r gmax 2
( 4πr ) .
2
H.4 Dipôle dans une ligne de transmission en mode TEM
Une ligne de transmission en mode TEM (ligne ouverte à plaque parallèle, cellule TEM, par
exemple) permet d'approcher un champ d'ondes planes à polarisation linéaire sur un certain
volume d'essai. Un dipôle placé dans une ligne TEM, tel que présenté à la Figure H.3
(voir Article H.8), est associé au mode TEM et à des modes d'ordre supérieur, le cas échéant,
et génère une tension au niveau de l'accès du connecteur. Cette tension mesurée combinée à
des rotations adaptées du dipôle (dont le but est semblable à celui des balayages en hauteur
de l'antenne de réception présentés à l'Article H.3) peut être utilisée pour déterminer le moment
dipolaire [62] ou la puissance totale rayonnée du dipôle [41], [62]. Par exemple, à partir de
l'équation (A.1) (voir A.3.2.3.2; s'applique pour les dipôles électriques et magnétiques
combinés), P 0 pour un dipôle électrique seul est donné sous la forme de l’équation (H.13)
2η0 k 2
P0 = SV 2 (H.13)
3π e0 y 2 Zc
où Z c est l'impédance caractéristique de la ligne de transmission (en général 50 Ω), où e0y est
2
un facteur de champ normalisé, e0y ≈ Z0 h2 où h est la séparation de plaque à l'emplacement
du dipôle, et où S V représente la somme des tensions mesurées à l'accès de sortie sur un
ensemble de rotations de dipôle. Ces expressions ignorent les contributions d'autres modes
d'ordre supérieur. Si le dipôle est orienté pour un couplage maximal (voir les Articles H.2 et
2 2
H.3), alors la tension à l'accès de mesure est optimisée, S V = Vmax (aucune rotation n'est
nécessaire) et est conforme à l’équation (H.14)
– 212 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
2
2 3 π Zc
Vmax = P0 (H.14)
2 η0 k 2 h2
où e0y a été remplacé. Le remplacement de 3/2 par Dmax peut être réécrit sous la forme de
l'équation (H.15)
2
2  Zc rTL  η
V
=max  λ  ⋅ Dmax ⋅ P0 (H.15)
 η0 h  4πrTL 2
La comparaison de ce résultat à l’équation (H.6) (voir Article H.2) permet de s'apercevoir que
l’équation (H.15) définit un facteur d'antenne équivalent pour une cellule TEM (le terme entre
parenthèses). Dans une ligne TEM à angle à évasement constant (une cellule GTEM, par
r
exemple), TL est la distance radiale entre l'accès de mesure et l'emplacement du dipôle. Dans
une ligne TEM à section uniforme (une cellule TEM normale à deux accès à transition
progressive aux deux extrémités, par exemple), rTL est la distance radiale entre l'accès de
mesure le long de la section de cellule et l'emplacement du dipôle projeté sur le plan au niveau
de la section uniforme de la ligne de transmission. Le facteur d'antenne équivalent est alors
donné par l’équation (H.16)
η0 h 1
Fa,TL =
Zc rTL λ
(H.16)
L'utilisation de cette définition donne l’équation (H.17)
2
Vmax,TL ( −2
=η0 ⋅ Fa,TL )
⋅ Dmax,TL ⋅ aTL P0 (H.17)
où aTL est défini comme

aFS , mais en utilisant r tel que défini dans l'Article H.4.
TL
H.5 Dipôle dans une chambre réverbérante
Une chambre réverbérante est une cavité en mode contraint qui permet d'approcher de manière
statistique un ensemble uniforme d'ondes planes sur un certain volume d'essai, avec un
montage tel que celui représenté à la Figure H.4 (voir Article H.8). L'ensemble théorique
d'ondes planes inclut toutes les directions et polarisations. Une chambre réverbérante
P
appropriée approche cet état théorique. Il peut être constaté que la puissance moyenne r
(moyennée sur plusieurs distributions modales) reçue par une antenne de référence adaptée
et sans perte et qui provient d'une source dans la cavité est donnée par [31] l’équation (H.18)
λ3Q
Pr = P0 (H.18)
16π2V
où Q est le facteur de qualité de la chambre, V est le volume de la chambre et, comme

précédemment, P0 est la puissance totale rayonnée de la source, qui est un dipôle électrique
dans ce cas. Avec l’équation (H.18), la difficulté réside dans le fait que Q n'est souvent pas
bien caractérisé et qu'il s'avère nécessaire de corriger les effets de perte d'antenne. Pour éviter
ces difficultés, la méthode de détermination de
P0 la plus souvent utilisée dans une chambre
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 213 –
réverbérante consiste à procéder à un mesurage comparatif au moyen d'une source de

référence de puissance connue Pref , sans modifier les conditions de la chambre, puis selon
l’équation (H.19)
Pref
P0 = Pr (H.19)
Pr,ref
Pr
La résolution de et sa réécriture en tant que tension reçue moyenne donne
l’équation (H.20)
Pr,ref
V 2 = Zc P0
Pref
(H.20)
2
où Pr = V / Zc ( Zc est l'impédance au niveau de l'accès de mesure de l'antenne, en
général 50 Ω). Dans ce cas, il n'y a pas d'indice max, car il n'est pas nécessaire de balayer
l'antenne de réception ou de faire tourner l'objet d'essai. Il n'y a pas non plus de terme de
directivité, car il est ignoré par calcul de la moyenne des angles d'incidence et de la polarisation.
Pour assurer la cohérence avec les expressions précédentes, définir ce qui suit pour le cas de
2 2
la chambre réverbérante: Dmax,RC = 1 (pas de directivité), Vmax,RC ≡ V (le balayage de
l'antenne de réception dans les méthodes précédentes est remplacé par le calcul de la moyenne
2 2
des variations de distribution modale), Fa,RC = η0 / dRC Z c (d RC = 1 m est inclus pour donner
des unités cohérentes), et selon l’équation (H.21)
1 Pr,ref
PLRC = (H.21)
dRC2 Pref
Cela donne l'équation (H.22)
2
Vmax,RC (
−2
=η0 ⋅ Fa,RC ⋅ Dmax,RC ⋅ PLRC P0 ) (H.22)
Vmax,RC n'indique pas la tension maximale mesurée sur plusieurs distributions modales, mais
la moyenne définie dans l’équation (H.21).
H.6 Corrélation
Les Articles H.2 à H.5 donnent l’équation (H.8), l’équation (H.12), l’équation (H.17) et l’équation
(H.22) pour la tension reçue d'un dipôle électrique situé dans les quatre environnements d'essai
différents, c'est-à-dire l'espace libre (FS), le demi-espace (HS), une ligne de transmission en
mode TEM (TL) et une chambre réverbérante (RC). Avec une puissance totale rayonnée
réputée identique dans chaque cas, les rapports de ces expressions peuvent être formés pour
corréler les installations d'essai CEM selon l’équation (H.23),
2
Vmax,A F −2 Dmax,A aA
= A (H.23)
2
Vmax,B FB−2 Dmax,B aB
où les indices A et B représentent une combinaison de FS, HS, TL et RC.

– 214 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
L’équation (H.23) repose sur la prise en considération d'un dipôle électrique. Toutefois, une
forme identique peut être utilisée pour un dipôle magnétique ( Dmax = 3 / 2 ), une combinaison
d'un dipôle électrique et d'un dipôle magnétique ( Dmax = 3 ) ou un EUT générique (tel que
représenté à la Figure H.1; voir H.8) dont les directivités sont différentes de ces valeurs de
dipôle. Si aucune corrélation avec une chambre réverbérante n'est établie, alors le rapport de
directivité est l'unité quel que soit l'objet d'essai. Pour la corrélation avec une chambre
D =1
réverbérante où max,RC , il convient que la grandeur Dmax d'un objet d'essai dans l'autre
installation soit connue (ce qui n'est en général pas le cas) ou soit estimée, comme cela a été
fait en [61], sur la base de la taille électrique de l'objet d'essai, selon l’équation (H.24),
1 
Dmax ≈
2 
( 2
0,577 + ln 4( ka ) + 8ka +) 1

8( ka )2 + 16ka 
ka > 1
(H.24)
où indique la valeur attendue, a est le rayon de la sphère minimale qui entoure l'objet
d'essai, et où le produit ka définit sa taille électrique (ka > 1 étant large d'un point de vue
électrique et n'étant plus un dipôle au sens strict). L’équation (H.24) donne une valeur de 1,55
au fur et à mesure que ka approche de 1, qui se situe entre la valeur minimale 1,5 et la valeur
maximale 3 pour un objet d'essai qui s'apparente à un dipôle et représente une estimation
raisonnable pour une source électriquement petite.
Les paramètres de corrélation d'émission sont récapitulés dans le Tableau H.1. Les termes
utilisés dans le Tableau H.1 sont donnés dans les Articles H.2, H.3, H.4 et H.5 associés.
Tableau H.1 – Récapitulatif des paramètres de corrélation d'émission
Installation d’essai CEM Fa D max PL
FS (FAR) Antenne de réception

3/2 pour un dipôle
ou équation (H.24) (
1 4 πr
2
)
4 ( 4πr ) 2
3/2 pour un dipôle

HS (SAC, OATS) Antenne de réception
ou équation (H.24) ou r gmax
2 2
( 4πr )
2
(équation (H.9))
η0 h 1
TL (cellule TEM, cellule GTEM,
ligne ouverte)
Z c rTL λ
3/2 pour un dipôle
ou équation (H.24)
1 ( 4πr ) TL
2
η0 1 1 Pr ,ref
RC (chambre réverbérante) 1 pour tous les émetteurs
2 Pref
Z c dRC dRC
H.7 Exemple de limites d'émission
Les limites d'émission peuvent être corrélées par substitution de max par Vmax FTL . Par
E
exemple, si les limites OATS de la CISPR 32 [68] sont utilisées, alors les limites de ligne de
transmission TEM équivalentes sont représentées à la Figure H.5. Cette configuration exige de
convertir la tension de ligne de transmission mesurée en amplitude de champ équivalente à
l'aide de F a donné dans le Tableau H.1.
NOTE Les valeurs de la Figure H.5 (voir Article H.8) sont déterminées comme suit. Dans l'équation (H.23), soit
A = TL, B = HS et noter que
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 215 –
Emax= F ⋅ Vmax ,
la simplification donne alors
1 s
Emax,TL = Emax,HS .
2 rTL
Par exemple, soit la limite de Classe A CISPR 32 [68] de 40 dBμV/m pour 30 MHz à 230 MHz à une séparation
de 10 m (= s), cela donne en dB
20lg ( Emax,TL ) + 20lg ( rTL 1m=

) 40 dBμV/m + 20lg ( 5=) 54 dBμV/m ,
comme le représente la Figure H.5. Des niveaux similaires suivent pour la Classe B et pour d'autres fréquences.
En variante, les émissions mesurées dans la ligne de transmission peuvent être comparées à
une valeur HS équivalente par l’intermédiaire de
r
Emax,HS
= Emax,TL ⋅ 2 ⋅ TL
s (H.25)
où s est encore la séparation HS (par exemple, 3 m, 10 m, 30 m, etc.). Cette comparaison est

utile si plusieurs orientations d'objet d'essai sont utilisées (12, par exemple) et que la valeur
maximale issue de ces orientations est déterminée.
H.8 Figures de l’Annex H
Figure H.1 – Représentation d'un dipôle court à alimentation centrale

et d'une source plus générale représentant un EUT (voir Article H.2)
– 216 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
NOTE La définition de la géométrie source et de réception est la même pour les dipôles horizontaux copolarisés
ou pour les dipôles source et de réception dont l'orientation est arbitraire.
Figure H.2 – Source verticale et dipôles de réception situés sur un plan de sol
parfaitement conducteur d'étendue infinie (voir Article H.3)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 217 –
a) Cellule TEM à deux accès
b) Cellule TEM à un accès
Figure H.3 – Deux types de cellules TEM avec une source dipolaire à polarisation
verticale et dont la géométrie entre l'accès source et l'accès de réception est définie
(voir Article H.4)
NOTE L'antenne de réception est orientée à l'opposé de la source dipolaire, afin de réduire le plus possible le
couplage de trajet direct.
– 218 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
Figure H.4 – Chambre réverbérante avec une source dipolaire, un dispositif

de brassage pour rendre aléatoires les champs et une antenne
de réception générale (voir Article H.5)
NOTE À la Figure H.5 r TL est la distance en m entre l'accès du connecteur du guide d'onde TEM (installation de
ligne de transmission) et l'emplacement de l'émetteur (objet d'essai).
Figure H.5 – Limites d'émission de Classe A et de Classe B du guide

d'onde TEM corrélées à partir de la CISPR 32 [68], (voir Article H.7)
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 219 –
Annex I
(informative)
Caractérisation des transitoires du guide d'onde TEM
I.1 Aperçu
L’Annex I décrit une méthode de caractérisation des guides d'onde TEM en fonction des
signaux transitoires. La méthode permet d'évaluer la qualité d'une transmission de signal
inhérent à la forme dans les guides d'onde TEM. L'évaluation repose sur le coefficient de
corrélation de Pearson (Pcc) et offre un moyen d'exprimer les caractéristiques de domaine
temporel d'un guide d'onde TEM donné par une valeur significative (facteur de mérite).
De nombreuses formes d'onde différentes qui répondent à des besoins techniques distincts
peuvent composer l'environnement électromagnétique, y compris les nombreuses formes
d'onde transitoires qui peuvent générer des interférences électromagnétiques intentionnelles
(IEMI). De nouvelles formes d'onde vont être développées, en particulier pour les systèmes de
communication. Actuellement, une expertise technique est nécessaire pour estimer si un
mesurage avec un signal transitoire particulier peut être réalisé dans un guide d'onde TEM
spécifique. Pour évaluer les nouvelles formes d'onde à venir dans les guides d'onde TEM et
proposer une méthode de qualification de transmission de guide d'onde TEM gérable,
l'Annexe I fournit un nouveau montage d'essai et une méthode de qualification et de
caractérisation du guide d'onde TEM.
La méthode de caractérisation du guide d'onde TEM peut être appliquée à toute forme d'onde
aléatoire. La composante primaire de champ électrique E y du signal est mesurée à une position
de référence et en des points discrets à l'intérieur du volume d'essai du guide d'onde TEM. La
corrélation du signal de référence et du signal de volume d'essai représente la qualité de la
transmission du signal inhérente à la forme [10].
I.2 Matériel d'essai
Il convient que le système de mesure, outre la sonde, soit par nature insensible au rayonnement
électromagnétique dans le guide d'onde TEM. Par conséquent, il convient que la méthode de
mesure implique l'utilisation d'une liaison de transmission de signal par fibres optiques capable
de mesurer les signaux et de les transmettre à un oscilloscope sans gêner le champ
électromagnétique dans le volume d'essai.
Il convient de procéder à la caractérisation dans le domaine temporel. Les caractéristiques

recommandées du système de mesure sont les suivantes:
– deux sondes de champ électrique identiques, avec une largeur de bande qui correspond à
la forme d'onde transitoire aléatoire choisie;
– un oscilloscope avec une largeur de bande et un taux d'échantillonnage conformes au
théorème de Shannon par rapport au signal transitoire;
– un générateur de forme d'onde transitoire dont la résistance interne est adaptée à
l'impédance caractéristique du guide d'onde TEM.
I.3 Montage d’essai
Pour évaluer la qualité de transmission d'un guide d'onde TEM, ledit signal de référence et les
signaux dans le volume d'essai sont mesurés. Le volume d'essai utilisable d’un guide d’onde
TEM (voir la Figure D.7 à la Figure D.11 de l'Article D.8) dépend de la "zone uniforme" telle
qu’elle est définie en 5.2.2. La vérification de l'uniformité du champ (5.2.2.2) et la vérification
du mode TEM (5.2.2.3) sont exigées pour la caractérisation de transitoire du guide
d'onde TEM [25].
– 220 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
La section d'essai, marquée dans la Figure I.1a) et la Figure I.1b) (voir Article I.7), est
équivalente à la zone uniforme définie en 5.2.2. Il convient de choisir le nombre de points
d'essai pour la caractérisation de transitoire du guide d'onde TEM selon 5.2.2. En ces points
E
d'essai, il convient de consigner la composante de champ primaire y . Il convient que la
position de référence soit le plus proche possible de la section d'alimentation du guide
d'onde TEM et qu'elle soit centrée par rapport au septum (Figure I.1a)). De plus, il convient que
la sonde de champ utilisée soit de petite taille comparée à la section du guide d'onde TEM, afin
d'éviter les distorsions de champ. Dans la direction y, il convient que la position de référence
soit au milieu de la hauteur réelle du septum au niveau de la section d'alimentation. Aux deux
positions, il convient d'utiliser des sondes électriques identiques, de manière à ne pas devoir
tenir compte de leur impact sur le signal mesuré en raison des propriétés mathématiques du
Pcc.
I.4 Caractérisation du guide d'onde TEM par corrélation
Afin de permettre une évaluation rapide fondée sur un seul paramètre qualificatif, il convient de
corréler chaque signal mesuré dans la section d'essai au signal de référence. Pour ce faire, il
convient que les signaux soient en fenêtre [11]. Il convient de choisir la fenêtre de sorte que le
signal restant contienne les informations les plus pertinentes et, en fonction des
caractéristiques de la forme d'onde, qu'il contienne des réflexions. Les spécifications données
dans l'alinéa ci-dessous peuvent être considérées comme un exemple de transitoires avec une
double enveloppe exponentielle, comme le représente la Figure I.2 (voir Article I.7).
Fenêtrage du signal:
– tstart : temps, lorsque 5 % de la valeur maximale de E y est atteint;
tlength
– : composé de deux longueurs de temps; tlength1 décrit la durée entre la première valeur
t
qui dépasse 5 % de la valeur de crête ( start ), par exemple, et la dernière valeur inférieure
t
à 5 %, et length2 peut être calculé à deux fois le temps de propagation entre la position de
mesure et les extrémités d'absorbeur selon la Figure I.1a), où dabs est la distance entre les
c
extrémités d'absorbeur et 0 la vitesse de la lumière en espace libre.
NOTE 1 tstart peut être choisi à un temps de monté inférieur à 10 % si le rapport signal/bruit des signaux dans la
position de référence et dans le volume d'essai est suffisant pour permettre une mise en correspondance précise du
temps.
Le début de la fenêtre de signaux pour le signal de référence et les signaux à l'intérieur du

volume d'essai est défini par l'amplitude minimale clairement détectable (5 % de E y,max , par
exemple). La longueur du signal dépend du signal lui-même, et de l'emplacement de la zone
uniforme et de sa distance par rapport aux extrémités d'absorbeur, de sorte que les réflexions
pertinentes sont également couvertes par la fenêtre de signaux.
À la position de référence, aucun mode d'ordre supérieur ne peut se propager et aucune

distorsion de signal ne se produit. Par conséquent, le signal de référence correspond au signal
d'origine, qui est fourni par le générateur de signaux et contient uniquement les transformations
provoquées par le système de mesure.
Les signaux en fenêtre sont corrélés sur la base de l’équation (I.1), où la barre supérieure
indique la valeur moyenne d'un mesurande.
IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 221 –
1 N
(
∑ E ( k ) − E y,r
N k =1 y,r
) ( E y,s ( k ) − E y,s )
( )
ρ E y,r , E y,s = (I.1)
1 N 1 N
( ) ( )
2 2
∑ E y,r ( k ) − E y,r ⋅
N k 1=
∑
Nk 1
E y,s ( k ) − E y,s
=
NOTE 2 E y,r est la composante y du signal à la position de référence, E y,s est la composante y du signal dans le
volume d'essai, k est l'indice d'échantillonnage et N est le nombre total d'échantillons.
NOTE 3 L'amplitude du champ électrique mesuré n'a aucun impact sur le Pcc, et il n'y a donc pas de normalisation
de E y,r et E y,s .
Le coefficient de corrélation peut être visualisé au moyen d'une carte thermique de manière à
avoir un bon aperçu de la qualité de transmission du guide d'onde TEM à l'étude. La Figure I.3
présente un exemple (voir Article I.7). Cette carte thermique révèle les limites du volume d'essai
et indique les influences des structures de guide d'onde TEM, par exemple les distorsions de
champ électromagnétique dues à la porte d'accès du guide d'onde TEM.
I.5 Quantification du Pcc
Pour quantifier le niveau de distorsion ou vérifier si un signal a été transmis sans être déformé,
un seuil doit être défini pour le Pcc.
En C.2.1, l'impulsion biexponentielle (seule forme d'onde normalisée) est définie par son temps
de montée trise et sa largeur d'impulsion f fwhm , avec les tolérances suivantes:
– trise entre 10 % et 90 % de la valeur de crête doit être de (2,5 ± 0,5) ns
– f fwhm doit être de (23 ± 5) ns
Par exemple, le Pcc d'une impulsion biexponentielle avec trise = 2,25 ns et tfwhm = 25 ns et
d'une impulsion avec trise = 2,5 ns et tfwhm = 30 ns, produites par un générateur de signaux
vectoriels aléatoires et mesurées par un oscilloscope, est calculé à ρ = 0,994  99,4 % , un ( )
écart de 0,6 % [11].
Compte tenu d’un montage de mesure classique et de l'incertitude de mesure, il convient que
le Pcc ne soit pas inférieur à ρ = 0,9 , qui peut être considérée comme une valeur de référence
pour tout signal d'essai transitoire aléatoire. Il convient que la valeur limite finale du Pcc pour
une forme d'onde transitoire spécifique soit définie par les comités de produit.
I.6 Signaux d'essai transitoires réalisables
Fondamentalement, un signal transitoire peut être utilisé pour évaluer un guide d'onde TEM. Il
convient de noter qu'un signal transitoire à bande ultra large (une impulsion biexponentielle
décrite en C.2.1, par exemple) est une forme d'onde adaptée à la qualification d'un guide
d'onde TEM sur une large bande de fréquences. Toutefois, il ne donne pas d'évaluation
suffisante utilisé seul. En cas de transmission déformée d'une impulsion biexponentielle, il n'est
pas garanti que chaque signal aléatoire avec une fréquence centrale dans le spectre de
l'impulsion biexponentielle puisse également être transmis sans être déformé. Il est donc
essentiel d'évaluer la forme d'onde prévue pendant l'évaluation du guide d'onde TEM.
– 222 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
I.7 Figures de l’Annex I
a) Vue de côté
b) Vue en coupe
Figure I.1 – Montage d’essai

IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022 – 223 –
Figure I.2 – Fenêtrage du signal
Figure I.3 – Exemple de carte thermique –

Pcc pour un point d'essai dans la zone uniforme
– 224 – IEC 61000-4-20:2022 © IEC 2022
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CISPR 16-2-3:2016/AMD1:2019
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associés – Caractéristiques d’immunité – Limites et méthodes de mesure
___________
___________
2 Cette publication a été supprimée.
INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
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BASIC EMC PUBLICATION

Electromagnetic compatibility (EMC) –

Compatibilité électromagnétique (CEM) –

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BASIC EMC PUBLICATION

Electromagnetic compatibility (EMC) –

Compatibilité électromagnétique (CEM) –

ICS 33.100.10; 33.100.20 ISBN 978-2-8322-1083-0

® Registered trademark of the International Electrotechnical Commission

B.2.1 General ......................................................................................................... 44

E.2.2 Calibration frequency range ........................................................................... 69

I.2 Test equipment ................................................................................................... 103

Table 1 – Values k for expanded uncertainty with normal distribution .................................... 18

INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION

ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –

Part 4-20: Testing and measurement techniques –

a) provide information on the testing of large EUTs (including cables);

The text of this International Standard is based on the following documents:

Draft Report on voting

IEC 61000 is published in separate parts according to the following structure:

General considerations (introduction, fundamental principles)

Description of the environment

Part 4: Testing and measurement techniques

Part 5: Installation and mitigation guidelines

Part 6: Generic standards

ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –

Part 4-20: Testing and measurement techniques –

The object of this document is to describe

– TEM waveguide characteristics, including typical frequency ranges and equipment-under-

IEC 60050-161, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) – Part 161: Electromagnetic

3 Terms, definitions and abbreviated terms

3.1 Terms and definitions

• IEC Electropedia: available at http://www.electropedia.org/

Note 1 to entry: The usable test volume is specified in 5.2.1.

Note 1 to entry: Additional details are given in [6].

Note 1 to entry: Different levels of E test are given in Annex B.

3.2 Abbreviated terms

SPD surge protective device

5 TEM waveguide requirements

5.2 General requirements for the use of TEM waveguides

5.2.1 Test volume and maximum EUT size

5.2.2 Validation of usable test volume

5.2.2.2 Field uniformity verification

5.2.2.2.2 Constant forward power method

The field is considered to be sufficiently homogeneous, if statistically at least 75 % of the

where the factor k is chosen to be 1,15 (see Table 1).

E test ≤ Ei ≤ E test + Emargin (4)

E test ≤ Ei ≤ E test + 2 ⋅ k ⋅ σ E (5)

Table 1 – Values k for expanded uncertainty with normal distribution

5.2.2.2.3 Constant field strength method

P fwd − k ⋅ σ P ≤ Pfwd,i ≤ P fwd + k ⋅ σ P (9)

where the factor k is chosen to be 1,15 (see Table 1).