Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/959279504 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Verfahren der sequentiellen Merkmalsanalyse für die Mustererkennung / Peter Walter |
| Person(en) | Walter, Peter (Verfasser) |
| Verlag | Aachen : Shaker |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2000 |
| Umfang/Format | XII, 130 S. : Ill., graph. Darst. ; 21 cm |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Online-Ausgabe: Verfahren der sequentiellen Merkmalsanalyse für die Mustererkennung |
| Hochschulschrift | Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1999 |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-8265-7538-9 kart. : DM 89.00, sfr 89.00, S 619.00 3-8265-7538-5 kart. : DM 89.00, sfr 89.00, S 619.00 |
| Beziehungen | Berichte aus der Elektrotechnik |
| Schlagwörter | Objekterkennung ; Dreidimensionale Bildverarbeitung ; Vorverarbeitung ; Merkmalsextraktion ; Klassifikator <Informatik> ; Neuronales Netz |
| Sachgruppe(n) | 28 Informatik, Datenverarbeitung |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2000 A 53677 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2000 A 53677 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Leipzig |
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