Chasqui 1
Chasqui 1
Chasqui 1
Agradecimientos
Resumen
14
Lista de Siglas
15
1. Introducci
on
16
2. Estado de la tecnologa
19
19
2.1.1. El nanosatelite . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
19
20
22
24
25
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
26
29
30
30
30
2.3.4. Calificacion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
30
2.3.5. La aceptacion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
30
31
31
32
3
Indice
general
34
34
36
36
37
39
40
45
45
3.1.1. Dise
no de la estructura seg
un CDS - CalPoly . . . . . . . . . .
45
3.1.2. Dise
no de la estructura bajo norma GSFC - NASA . . . . . .
46
49
50
51
52
52
59
60
61
61
63
65
67
68
68
70
71
. . . . . . . . . . . . . . . . .
4. C
alculo analtico estructural del CHASQUI I
78
78
80
Indice
general
80
81
84
85
5.1.2. Proceso . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
86
86
86
87
87
88
89
89
90
90
114
133
136
A. PLANOS
140
B. Anexo A
141
Indice
general
C. Anexo B
142
D. Anexo C
143
Indice de figuras
2.1. Clasificacion de los satelites seg
un su peso . . . . . . . . . . . . . . .
21
23
24
25
26
28
33
38
39
40
47
52
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
3.3. Dimensiones originales de la placa (
a = a/2, b = b/2) . . . . . . . . .
54
62
65
68
7
Indice
de figuras
69
72
72
4.1. Placa delgada cuadrada con sus cuatro aristas fijas (empotradas)
. .
79
82
87
89
90
91
91
91
5.7. Deformacion maxima cuando el soporte de la tarjeta alcanza su frecuencia modal (19.47 m) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
92
93
94
94
95
95
Indice
de figuras
Indice
de figuras
10
5.24. a)Esfuerzo equivalente de 10.471 MPa causada por la vibracion aleatoria en el CHASQUI I, b)Las uniones de los soportes presentan puntos
de mayor esfuerzos generados al igual que el centro de todas las caras
del CHASQUI I . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 111
5.25. a)Esfuerzo de 10.539 MPa en el eje X causada por la vibracion aleatoria en el CHASQUI I, b) Las uniones de los soportes presentan puntos
de mayor esfuerzos generados en el eje X . . . . . . . . . . . . . . . . 112
5.26. a)Esfuerzo de 7.9411 MPa en el eje Y causada por la vibracion aleatoria en el CHASQUI I, b) Las uniones de los soportes el centro de las
tapas, la mitad de dos de los lados de cada tapa y las caras paralelas
al plano XY presentan puntos de mayor esfuerzos generados en el eje Y112
5.27. a)Esfuerzo de 7.1797 MPa en el eje Z causada por la vibracion aleatoria
en el CHASQUI I, b) Las uniones de los soportes el centro de las tapas,
la mitad de dos de los lados de cada tapa y las caras paralelas al plano
XZ presentan puntos de mayor esfuerzos generados en el eje Z . . . . 113
6.1. Interior del CHASQUI I, se observan la disposicion de las tarjetas de
los distintos modulos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 115
6.2. Soportes de las tarjetas electronicas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 116
6.3. CHASQUI I con la antena desplegada . . . . . . . . . . . . . . . . . . 117
6.4. Vista explosionada de la estructura del CHASQUI I . . . . . . . . . . 125
6.5. Estructura Manufacturada y sub ensamblada con las tarjetas . . . . . 126
6.6. Representacion de una palca delgada doblada ideal. Donde t es el
grosor de la placa, w es el ancho de la placa, L la longitud del arco
doblado, R el radio de doblado (notese que se ha definido el radio de
doblado como el radio de doblado en la cara interior) y b es el angulo
de doblado final, fuente [19] . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 126
6.7. Representacion de plegados reales: a) curvatura no constante R R0 ,
b) perdida de tangencia en las lneas de doblado y c) distinto angulo
de doblado en la cara interior y exterior, fuente [19] . . . . . . . . . . 127
Indice
de figuras
11
Indice de cuadros
2.1. La tabla nos muestra la clasificacion de los satelites seg
un su masa . .
20
43
44
44
44
50
76
77
77
77
85
. . . . . .
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. . . . . .
88
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. . . . . .
93
. . . . . . . . . . .
96
. . .
97
98
12
Indice
de cuadros
13
99
101
102
104
104
105
6.1. Tolerancias de recuperacion para plegados de 90 en placas de aluminio 2024 y 7075 (Committee under ASM, 1988) . . . . . . . . . . . 120
6.2. Parametros de soldadura en la estructura del CHASQUI I . . . . . . 124
7.1. La tabla nos muestra los detalles de Compra del AA 6061 T6 . . . . .
7.2. La tabla nos muestra el costo de la manufactura de los elementos
principales de la Estructura . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
7.3. La tabla nos muestra el costo de las uniones de la Estructura . . . . .
7.4. La tabla muestra los costos de la manufactura de la Estructura del
CHASQUI I . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
133
134
135
135
Resumen
La presente Tesis trata acerca del Dise
no y Manufactura de la Estructura Mecanica
del primer Picosatelite peruano CHASQUI I cuya geometra se asemeja a un cubo
de 100 mm. de arista y, es la encargada de proteger a los submodulos durante el despegue y orbitaje. Dichos submodulos que estan ubicados en su interior son: Control
de Actitud (SDCA), Control Central y Manejo de la Informacion (CCMI), Comunicaciones (SICOM), Camaras (SIMA) y Potencia y Control de Temperatura (PCT)
basado en tecnologa CubeSat. Ademas, se simula con software estandar de elementos
finitos el comportamiento dinamico del cubo considerando el fenomeno de vibracion
aleatoria que se presenta al momento del despegue, para especificaciones de dise
no
como por ejemplo la condicion que el centro de gravedad del cubo ensamblado debe
estar dentro de un radio de 2 cm. de distancia. Para la manufactura de la Estructura
Mecanica del Chasqui I, se utiliza aleacion de aluminio de uso aeronautico 6061 - T6
de 1.3 mm. de espesor mecanizado en un centro CNC las cuales son plegadas para
formar la cintura de cubo que se suelda por fusion conjuntamente con la tapa superior siguiendo el proceso TIG, en tanto la tapa inferior es movil. Teniendo presente
la tolerancia de 0,1 mm. del estandar CalPoly. Adicionalmente se dise
na y fabrica
un mecanismo de sujecion y despliegue de antena. Este trabajo es una muestra de
que en el Per
u se puede realizar estructuras para picosatelites.
14
Lista de Siglas
CAC
CubeSat Lista de Aceptacion
Cal Poly California Polytechnic State University, San Luis Obispo
CDS
Especificaciones de Dise
no CubeSat
DAR
Solicitud de Renuncia de la Aprobacion de desviacion
FCC
Comision Federal de Comunicaciones
GSFC
Goddard Space Flight Center
IARU
International Amateur Radio Union
VL
Vehculo de lanzamiento (launcher)
P-POD
Desplegador orbital de picosatelites de CalPoly
RF
Radio Frecuencia
SSDL
Laboratorio de Desarrollo de Sistemas Espaciales
15
Captulo 1
Introducci
on
En esta tesis se presenta los resultados del Dise
no y Manufactura de la Estructura
Mecanica del primer Picosatelite peruano CHASQUI I, desarrollado en el proyecto multidisciplinario de investigacion academica CHASQUI I, entre sus objetivos
se contempla fotografiar zonas territoriales del pas, transmitir se
nales de radio e
imagenes con fines academicos utilizando capacidad nacional de ingenieros y cientficos generando tecnologa propia en el desarrollo de la mayora de componentes al
igual que la estructura mecanica del CHASQUI I, demostrando de esta manera que
en el Per
u se puede dise
nar y manufacturar estructuras espaciales como es el caso de
los nanosatelites. En el desarrollo del proyecto participan estudiantes y profesores de
las especialidades de Ing. Mecanica, Ing. Electronica, Ing. Telecomunicaciones, Ing.
Mecatronica, Ing. Sistemas, as como de la Facultad de Ciencias (Fsica, Qumica). El
proyecto CHASQUI I cuenta con diferentes modulos como son: Modulo de Estructura
Mecanica (EMEC), Modulo de Control Central y Manejo de la Informacion (CCMI),
Modulo de Potencia y control Termico (PCT), Modulo de Camaras (SIMA), Modulo de Control de Actitud (SDCA) Modulo de Comunicaciones (SICOM), Modulo de
Gestion y Estacion Terrena; se destaca que esta tesis es sobre el dise
no y manufactura de una estructura c
ubica a cargo del modulo EMEC durante el desarrollo
del proyecto CHASQUI I. Para el dise
no de la estructura mecanica se siguen los
lineamientos establecidos por CubeSat de CalPoly en lo referente a las medidas del
cubo de 10x10x10 cm y la tolerancias de 0,1mm., as como la condicion de que
el centro de gravedad y centro geometrico deben estar en un radio esferico de 2cm.
16
Captulo 1. Introduccion
17
Captulo 1. Introduccion
18
Captulo 2
Estado de la tecnologa
En este captulo se aclara el ambito de desarrollo de los proyectos satelitales,
se dan conceptos basicos del satelite, los subsistemas que lo conforman as como su
clasificacion. Se presenta al estandar CubeSat, el cual da las especificaciones tecnicas
y los requisitos de las pruebas para la aceptacion del CHASQUI I. Se explica las
etapas que tiene un proyecto satelital y se realiza una analoga con el desarrollo
del proyecto CHASQUI I, en especial al Modulo de estructura Mecanica EMEC.
Finalmente se describe las propiedades y aplicaciones de la aleacion de aluminio
6061-T6.
2.1.
2.1.1.
Introducci
on a los nanosat
elites
El nanosat
elite
19
20
2.1.2.
Subsistemas de un nanosat
elite
El nanosatelite consta de submodulos que son los encargados de dar la funcionalidad deseada con el fin cumplir con los objetivos del proyecto, semejante a un proyecto
satelital estos submodulos son los siguientes:
a) Estructura y mecanismos
Establecer el regimen general para todo el Equipo del satelite 1) en la configuracion de lanzamiento y 2) en la configuracion de la mision. Proporcionar mecanis-
21
b) Mec
anica orbital
Desarrolla el camino optimo o trayectoria a traves de espacio para el desempe
no
de la mision. Determinar los cambios de velocidad que seran necesarios para enviar al
satelite en la trayectoria deseada. Determinar el impulso que se necesita del vehculo
de lanzamiento y del sistema propulsion del satelite.
c) Control de actitud
Determina las reacciones del vehculo y corrige a la actitud deseada. Pone en
marcha y controla el mando como los cambios en la velocidad o actitud. Controla la
articulacion de los mecanismos (antenas. paneles solares. camaras).
22
d) Potencia
Genera, atiende, regula y distribuye energa para todo el equipo en todos los
modos de la mision. Proporciona tierra y fusibles a todos los equipos. Cambia todos
los equipos del satelite a encendido y apagado seg
un los requerimientos del sistema
de comandos.
e) Control Termal
Mantiene la temperatura de todos los equipos del satelite dentro de los lmites
permisibles para todos los modos de la mision.
f ) Comando y manejo de datos
Recibe comandos del sistema de comunicacion. Almacena, distribuye y pone en
marcha todos los comandos. Colecta, procesa, almacena y entregar los datos al sistema de comunicacion.
g) Telecomunicaciones
Recibir ordenes de comunicaciones desde tierra y las transmite al sistema. Transmite datos de la carga u
til para la instalacion de tierra Recibe y retransmite se
nales
para la navegacion y el seguimiento.
Una representacion de configuracion y relacion entre subsistemas se aprecia en la
figura 2.2 en la pagina 23
2.2.
El est
andar CubeSat
23
CubeSat Design Specification Rev.12 The CubeSat Program, Cal Poly SLO
24
2.2.1.
25
Figura 2.4: Diagrama de proceso de evaluacion del estandar CubeSat, fuente [9]
2.2.2.
Especificaci
on CubeSat
Generalidades
CubeSats que incorporen cualquier distorsion con el CDS (Estandar de dise
no
CubeSat) presentara un DAR (Solicitud de renuncia de aprobacion de la desviacion)
y adherirse al proceso de renuncia ( referencia [9]).
Todas las piezas deberan permanecer unidos a la CubeSats durante el lanzamiento, eyeccion y operacion. No se crearan otras piezas para no generar
desechos espaciales adicionales
No se permitira ning
un elemento qumico que pueda combustionar o explosionar dentro del CubeSat.
26
2.2.3.
Requisitos generales
Dimensiones exteriores
El CubeSat debera utilizar el sistema de coordenadas tal como se define en la
figura 2.6 en la pagina 28. La cara Z de la CubeSat se inserta por primera vez
en la categora P-POD.
La configuracion CubeSat y las dimensiones fsicas, se muestra en la figura 2.6
en la pagina 28.
El CubeSat es de 100,0 0,1mm de arista (las dimensiones X e Y de la figura
2.6 en la pagina 28).
27
La altura del CubeSat tendra que ser de 113,5 0, 1mm (considerando la longitud del eje Z de la figura 2.6 en la pagina 28).
Todos los componentes no tendran que ser superiores a 6,5 mm normal a la
superficie de 100,0 mm, del cubo (las partes sombreadas en verde y amarillo
de la figura 2.6 en la pagina 28).
Componentes Exteriores del CubeSat no pondran estar en contacto con la superficie interior del P-POD, distintos de los carriles designados por el estandar
CubeSat.
los desplegables tienen que ser restringidos por el CubeSat. Los carriles y las
paredes del P-POD no pueden ser usados para restringir los desplegables.
Los rieles tienen un ancho mnimo de 8,5 mm.
Los rieles no deben tener una rugosidad de la superficie superior a 1,6 micras.
Los bordes de los rieles se redondean con un radio de al menos 1 mm
Los extremos de los rieles en la cara + Z tienen una superficie mnima de
6,5mm x 6,5 mm de area de contacto con rieles CubeSat contiguos (ver figura
2.6 en la pagina 28).
Al menos el 75 % del carril debera estar en contacto con los rieles del P-POD.
El 25 % de los carriles pueden estar empotrados y ninguna parte de los carriles
sera superior a la especificacion del estandar CubeSat.
Al menos 85,1 mm del riel del CubeSat tendra que estar en contacto con el
carril del P-POD.
EL CubeSat no excedera de 1,33 kg de masa, referencia [9].
El centro de gravedad del CubeSat se encuentra dentro de una esfera de 2 cm
de radio de su centro geometrico.
29
Materiales
El aluminio 7075 o 6061 se utilizara tanto para la estructura principal y los carriles del CubeSat . Si se emplean otros materiales el promotor debera presentar
un DAR y adherirse al proceso de renuncia.
Los rieles CubeSat que esten en contacto con los carriles del P-POD tendran
un proceso de anodizado duro de aluminio, para impedir la realizacion de soldadura en fro dentro del P-POD.
Otros
Todos los desplegables como antenas y paneles solares deberan esperar un
mnimo de 30 minutos despues de que los interruptores activen la Electronica
despues de la eyeccion del P-POD.
La vida u
til de la degradacion orbital CubeSats sera inferior a 25 a
nos despues
del final de de la vida de la mision.
2.3.
El ensayo sera realizado para cumplir todos los requisitos de lanzamiento profesional, as como cualquier requisito de las pruebas adicionales que se consideren
necesarias para garantizar la seguridad de los CubeSats y el P-POD. Si el entorno
VL es desconocido, se utilizara la norma de la NASA, GSFC-STD-7000 para obtener
los requisitos de pruebas. GSFC-STD-7000 es una referencia u
til en la definicion de
las pruebas , sin embargo los niveles de prueba definidos en GSFC-STD-7000 no
garantiza el cumplimiento o satisfaccion de todos los entornos de prueba del VL. Los
planes de pruebas que no son generados por el proveedor de lanzamiento o P-POD
Integrador se consideran oficiales. Requisitos derivados, en este documento puede
ser sustituido por los requisitos de proveedor de lanzamiento. Todos los hardware
de vuelo y componentes de vuelos se someteran a pruebas de aceptacion (estructura
mecanica, tarjetas electronicas, paneles solares, bateras, camaras, antena, etc.). El
P-POD se sometera a prueba de manera similar para garantizar la seguridad y mano
30
de obra antes de la integracion con la CubeSats. Como mnimo, todos los CubeSats
se someteran a las pruebas siguientes.
2.3.1.
Vibraci
on aleatoria
2.3.2.
Pruebas t
ermicas en vaco bakeout
El bakeout se lleva a cabo para garantizar la desgasificacion adecuada de componentes. El ciclo de pruebas y la duracion es descrita por el proveedor de VL, o de lo
contrario por el GSFC-STD-7000.
2.3.3.
Inspecci
on visual
2.3.4.
Calificaci
on
2.3.5.
La aceptaci
on
31
interacciones nocivas entre los CubeSats puede ser descubierta durante las pruebas
de aceptacion.
2.4.
El vehculo de lanzamiento
2.5.
Una proyecto satelital nace por etapas. Como se muestra en la figura 2.7 en
no en un nanosatelite y en general para un
la pagina 33). Las actividades de dise
satelite varan considerablemente durante el ciclo de vida del proyecto. El primer
paso es una idea, una necesidad. Una idea puede originarse en cualquier parte de la
comunidad aeroespacial, en la universidad o en un contratista. El segundo paso es un
control de viabilidad. Hubo un momento en que este paso significaba un estudio de
viabilidad para asegurar que la idea podra ser implementada. La viabilidad no es de
mucha importancia en estos das, casi todo es posible: una o dos llamadas telefonicas
probablemente aclaran la viabilidad. Despues de aprobar la viabilidad es el momento
de averiguar si el cliente necesita la mision lo suficiente como para justificarlo. Si la
respuesta es favorable, es hora de hacer conceptos comerciales; esto se llama la fase
A.
2.5.1.
32
Fase A:An
alisis preliminar
2.5.2.
34
Fase B: Definici
on
2.5.3.
35
2.5.4.
36
La Fase E comienza inmediatamente despues de lanzamiento. El equipo de operaciones de la mision es tpicamente formado por algunos meses durante el montaje
y prueba, de control y comando de la nave de forma remota y son competentes en
la comprension del flujo de datos de vuelo como la condicion de la nave espacial.
El equipo de operaciones de mision puede ser tan grande como varios de cientos de
personas o tan peque
no como un par de personas, dependiendo de la complejidad de
la nave espacial y de la mision.
2.6.
El nanosat
elite CHASQUI I
37
2.6.1.
El m
odulo de Estructura Mec
anica EMEC
38
el material con lo cual se tena el primer pico significativo en cuanto a costo se refiere. Debido a que el CHASQUI I es un proyecto de investigacion de la Universidad
Nacional de Ingeniera, su impacto esta en el ambito cientfico - academico mas que
en el economico, inicialmente se estimo la puesta en orbita para fines de noviembre
del 2011, sin embargo la estructura se desarrollo en un tiempo menor estimado.
Fase B: Definici
on
En esta fase se determino que el mejor dise
no para la estructura eran las chapas
metalicas de 1.3mm para las caras laterales y la tapa superior e inferior, El riesgo
en esta fase es la de encontrar un centro de mecanizado capaz de obtener tolerancias
de 0.1mm al igual que las plegadoras para las caras laterales. El plan de ejecucion
de cada prototipo de la estructura iniciaba con el dise
no en software, simulacion
por el metodo de los elementos finitos en software, obtencion de planos y manufactura del prototipo. Cada vez que se manufacturaba un nuevo prototipo se gastaba
alrededor de 300.00 nuevos soles y se tomaba un tiempo aproximado de 1 mes para
cada prototipo. Mediante ensayos de prueba y error progresivamente se fue mejorando el dise
no y se proyectaba tener un dise
no definitivo para diciembre de 2010,
Considerando que dise
no final tendra que ser analizado y simulado con el diagrama
ASD del vehculo de lanzamiento definitivo para el CHASQUI I.
Fase C/D: Fabricaci
on
En esta fase se hicieron pruebas de integracion (ver figura 2.11 en la pagina
40)con los demas modulos del proyecto donde se requeran nuevas configuraciones
para la estructura, cambio de posicion de la antena, camaras, configuracion final de
los paneles solares. Es en estas integraciones donde se complementa la manufactura
(a)
39
(b)
Figura 2.10: Comparacion entre Cubesat Kit de Pumkin Inc. y el CHASQUI I fase
B del CTIC
de la estructura mediante union por soldadura de las caras laterales y de los apoyos
de las tarjetas de las camaras.
Fase E: Operaciones de la misi
on
Esta fase aun no se implementa ya que esta inicia inmediatamente despues del
lanzamiento, el cual esta programado para noviembre del 2011. Mientras tanto los
demas modulos son evaluados en las pruebas de globo que se realizan en el vivero
de la UNI. Hasta el momento se tienen conversaciones serias con ROSCOSMOS la
entidad equivalente a la NASA en EEUU.
2.7.
Aluminio 6061 T6
40
2.7.1.
Los principales elementos de aleacion son el cobre, silicio, manganeso, magnesio, litio y zinc. Elementos como el nquel, cromo, titanio, zirconio y el escandio
pueden ser utilizados en peque
nas proporciones para conseguir propiedades especficas. Otros elementos pueden estar presentes en peque
nas cantidades como impurezas
no deseadas. Estos elementos, conocidos como trampas o elementos residuales, no
41
42
43
a un coste razonable.
El aluminio 6061-T6 es ideal para la elaboracion de piezas maquinadas con calidad
de excelencia y para trabajos que requieran buen acabado superficial. Posee excelente
resistencia a la corrosion y acabado ademas de facilidad de soldadura y una resistencia
parecida a la del acero. Para la estructura del CHASQUI I el estandar CubeSat
recomienda dos Aleaciones el AA 7075 - T6 o el AA 6061 - T6, en el cuadro 6.2 en
la pagina 124 se puede observar las diferencias de sus propiedades.
Cuadro 2.2: Comparacion de propiedades
Propiedad
7075 - T6
6061 - T6
3
Densidad
2,81g/cm
2,7g/cm3
Cte. de dilatacion lineal 23,610 6/mo C 23,610 6/mo C
Modulo de Elastisidad
72GPa
69 GPa
Capacidad Calorifica
0.96 J/go C
0.896 J/go C
Resistencia a la Tension
505 GPa
207 GPa
Costos
Caro
barato
Esta es una aleacion de proposito general muy popular con buena facilidad de
maquinado a pesar de su tratamiento de envejecimiento artificial (T6). El tratamiento T6 se utiliza generalmente para incrementar el lmite elastico y la resistencia a
traccion. Si se desea un producto que tenga buena maquinabilidad hay que incrementar la dureza. El T6 es ideal para elevar la dureza y la resistencia a traccion.
T6: Tratamiento termico por solucion y Envejecido artificial.
El aluminio 6061-T6 tiene las especificaciones de fabricacion necesarias para asegurar
la maxima eficiencia, una composicion general de esta aleacion se muestra en el
cuadro 2.3 en la pagina 44 .
Como se menciono en la Fase A uno de los problemas fue la aleacion de aluminio
6061 T-6, Con el AA 6061 T-6 importado de China se soluciono este problema, la
composicion de esta aleacion se puede ver en el cuadro 2.4 en la pagina 44 asi como
las propiedades mecanicas se puede ver en el cuadro 2.5 en la pagina 44.
44
Captulo 3
Metodologa del dise
no aplicado
En este captulo se dan a conocer las normas internacionales CalPoly y GSFC
empleadas en el dise
no de picosatelites. Se muestra las bases de calculo de los esfuerzos, deformaciones y frecuencias naturales en placas delgadas cuadradas y vigas
empotradas, tambien se muestra el calculo de la deformacion debido a la vibracion
aleatoria en vigas empotradas.
3.1.
Normas de dise
no
Para el dise
no de la estructura Mecanica se tuvo en consideracion los estandares
anteriormente mencionados, es decir el CDS de CalPoly y el GEVS - GSFC de la
NASA. El primero para las dimensiones del CHASQUI I y el segundo para el analisis
de vibracion aleatorio.
3.1.1.
Dise
no de la estructura seg
un CDS - CalPoly
46
3.1.2.
Dise
no de la estructura bajo norma GSFC - NASA
3.2.
Base de c
alculo de la deformada de una placa
empotrada en los 4 lados
(3.1)
donde:
0 : Es la deformada en una placa simplemente apoyada
a : Es la deformada en una placa debido a los momentos flexionantes en el eje x
47
Figura 3.1: Generalizacion de las pruebas de vibracion aleatoria 22.7 kg (50 lb) o
mas
b : Es la deformada en una placa debido a los momentos flexionantes en el eje y
Por ser una placa cuadrada se cumple: a = b = 1 , entonces la ecuacion (3.1)
queda de la siguiente manera:
= 0 + 21
(3.2)
donde 0 (referencia
0 =
4qa4
5D
mx
(1)(m1)/2
cos
m5
a
m=1,3,5,...
m tanh m + 2
my
1
my
my
1
cosh
+
sinh
2 cosh m
a
2 cosh m a
a
(3.3)
X
a2
(1)(m1)/2
mx my
my
my
1 = 2
Em 2
cos
sinh
m tanh m cosh
2 D m=1,3,5,...
m cosh m
a
a
a
a
(3.4)
donde:
48
D=
E.h3
12 (1 2 )
(3.5)
donde:
E: Modulo de young del material (GPa)
h: Espesor de la placa (m)
: Coeficiente de Poisson
Ya que las series convergen rapidamente, solo es necesario tener 4 coeficientes
Em , la manera de obtener estos coeficientes se observa en la referencia [11].
E1 =0.3722K
E2 =-0.0380K
E3 =-0.0178K
E4 =-0.0085K
Con K = 4qa2 / 3
La maxima deformacion se localiza en el centro de la placa, donde la coordenada
(x,y) = (0,0) , reemplazando estos valores en w0 y w1 se obtienen las siguientes
expresiones.
reemplazando en la ecuacion (3.3) y (3.4) se obtiene:
0 = 0,00406
qa4
D
(3.6)
1 = 0,00140
49
qa4
D
(3.7)
qa4
D
(3.8)
Los analisis de las ecuaciones (3.3) y (3.4) indican que la mayor deformacion se
da en el centro de la placa sin embargo el maximo esfuerzo () se localiza en el centro
de cada lado de placa, estos esfuerzos se calculan de la siguiente manera:
x =
6Mx
h2
(3.9)
y =
6My
h2
(3.10)
3.3.
(3.11)
(3.12)
Aplicaci
on de las vibraciones al dise
no del
CHASQUI I
50
3.3.1.
Frecuencia natural
51
3.3.2.
Clasificaci
on de las vibraciones
Vibraci
on libre
Se da cuando a un sistema se le perturba y se le deja vibrar por s solo, no act
uan
fuerzas externas en el sistema.
Vibraci
on forzada
Se da cuando el sistema es afectada por una fuerza externa, a la vibracion resultante se le conoce como vibracion forzada. Si la frecuencia de la fuerza externa
coincide con algunas de las frecuencias naturales del sistema se produce el fenomeno
de la resonancia y el sistema entra en oscilaciones peligrosamente grandes.
Vibraci
on con amortiguamiento
Se da cuando el sistema pierde energa, en la mayora de los sistemas fsicos, la
cantidad de amortiguamiento es tan peque
na que se puede despreciar para fines ingenieriles. Cuando no hay energa perdida o disipada en friccion se habla de Vibracion
sin Amortiguamiento
Vibraci
on aleatoria
Es cuando el valor de la excitacion no es determinista por lo tanto el valor de la
excitacion en un tiempo dado no se puede predecir
3.4.
52
Vibraci
on de placas delgadas
3.4.1.
Aplicaci
on del m
etodo RAYLEIGH-RITZ
El metodo de Rayleigh-Ritz se caracteriza por permitir la obtencion de las expresiones analticas de los terminos de la ecuacion de frecuencias. Esta posibilidad
de manejo de expresiones analticas constituye una formidable ventaja para analizar
la variacion de ciertas variables y/o parametros. Una caracterstica del metodo, que
a veces constituye una desventaja, es que deben proponerse adecuadamente las funciones aproximantes. Al respecto se han utilizado diversos tipos de funciones, tales
como: polinomios ortogonales, funciones exponenciales y funciones circulares. En los
u
ltimos a
nos se han utilizado funciones aproximantes que contienen parametros indeterminados, para resolver una enorme cantidad de problemas. Probablemente el mas
53
h 2
a
D
(3.13)
h 2
b
D
(3.14)
r2 a
r1 a
, R2 = (2)
(1)
D
D
(3.15)
r2 b
r1 b
, R2 = (2)
(1)
D
D
(3.16)
54
Up,max
1
=
2
Z Z
R
(3.18)
55
Zb
[Wx (
a, y)] dy+r2
b
Za
2
Wy x, b dy+r4
+ r3
[Wx (
a, y)]2 dy
Za
2
Wy x, b dx
(3.19)
Zb
[Wx (
a, y)] dy+t2
b
Za
+ t3
[Wx (
a, y)]2 dy
2
Wy x, b dy+t4
Za
2
Wy x, b dx
(3.20)
donde ti , (i = 1,2,3,4) denotan los coeficientes de vnculo translacional. Finalmente, el valor maximo de energa cinetica de la placa viene dado por:
Tmax
2
=
2
Z Z
R
(3.21)
56
(3.22)
donde es:
X1 (x) =
5
X
ni
ai x , Y1 (y) =
i=5
X2 (x) =
5
X
i=5
5
X
a0i y ni
(3.23)
b0i y mi
(3.24)
i=5
mi
bi x , Y2 (y) =
5
X
i=5
a1 = a01 = 1, n1 = 0, n2 = 1, n3 = 2, n4 = 3, n5 = 4
b1 = b01 = 1, m1 = 1, m2 = 2, m3 = 3, m4 = 4, m5 = 5
(3.25)
Los coeficientes ai , bi , a0i , b0i se obtienen de los sistemas de ecuaciones lineales que
resultan al reemplazar (3.22) en las condiciones de contorno correspondientes. Para
ver la demostracion de la obtencion de los parametros indicados ver la referencia
[11].
Ecuaci
on de frecuencias
El reemplazo de la funcion aproximante W(x, y) en (3.17) conduce a la siguiente
ecuacion de balance energetico:
a
b
(1)
1
1
(1)
(1)
(1)
D1 I1 + 3 D2 I2 + 2 3 D3 I3 + 4 3 D4 I4
3
a
b
a
b
a
b
57
1
b
1
b
(1)
(1)
D5 I5 + 4 2 D6 I6 + r1
I7 + r2
I8
(3.26)
+4
2
2
a
a
2
b
a
a
+r3 2 I9 + r4 2 I10 + t2bI12 + t3 a
I13 + t4 a
I14 h(1) 2 a
.bI15 = 0
b
b
Los terminos Ii en (3.26), estan dados por:
Ii =
3
X
j=1
Ii =
3
X
4
X
Bj P Xij P Yij , i = 3, 5, 6;
j=1
j=1
3
X
j=1
(3.27)
I15 =
3
X
Cj CXJ CYj
j=1
(3.29)
58
Generaci
on de coeficientes de frecuencias
Cuando se analiza el comportamiento dinamico de placas rectangulares, es com
un
que los valores de frecuencia se den en terminos de coeficientes adimensionales, de
manera de dar mayor generalidad a los resultados numericos, ya que entonces, los
mismos resultan independientes, entre otros parametros, de las dimensiones de los
lados de la placa, del valor de densidad del material, del espesor, etc. Los coeficientes
de frecuencia mas usados en la literatura tecnica cientfica son los descritos a continuacion.
Las constantes de rigidez flexional de la placa ortotropa para las direcciones
elasticas principales y la rigidez torsional estan dadas por las expresiones:
E2 h3
Gh3
E1 h3
; D2 =
; Dk =
D1 =
12(1 v1 v2 )
12(1 v1 v2 )
12
o siguiendo la denominacion de Lekhnitskii, las rigideces principales D1 , D2 y D3
con:
D3 = D2 v2 + 2Dk
donde E1 , E2 son los modulos de Young, v1 , v2 los coeficientes de Poisson, h es el
espesor de la placa y G el modulo de elasticidad transversal para las direcciones
principales elasticas. En el caso de la placa isotropa resultan
E1 = E2 = E
v1 = v2 = v
E
G = (1+v)
59
Eh3
12(1 v 2 )
(3.30)
Placa is
otropa de espesor uniforme
La placa isotropa de espesor uniforme cumple las condiciones anteriormente se
nalado, con lo cual su coeficiente de frecuencia es como sigue:
r
=
h 2
a
D
(3.31)
f= 2
a
gD
h
(3.32)
Ahora bien los valores del coeficiente de frecuencia fundamental se obtienen variando las restricciones de los apoyos as para cada combinacion de restricciones hay
diferentes coeficientes como se puede ver en el cuadro 3.2 en la pagina 76 se resume
los valores del coeficiente para diferentes combinaciones de restricciones.
Donde:
RE: Rgidamente Empotrado
SA: Simplemente Apoyado
L: Libre
3.5.
Vibraci
on aleatoria
60
3.5.1.
x(t) = a0 +
n = 1, 2, 3, ...,
(3.33)
n=1
sabemos que 0 =
x(t) = a0 +
X
n=1
2
;
T
[an cos n
2
2
t + bn sin n t]
T
T
n = 1, 2, 3, ...,
(3.34)
61
T /2
2
an =
T
2
bn =
T
(3.35)
T /2
T /2
(3.36)
Dado que x(t) es una funcion aleatoria entonces an y bn tambien son valores
aleatorios. En principio los coeficientes de Fourier pueden ser positivos o negativos
figura 1 (b), pero al obtener el valor de la potencia media cuadratica se hacen positivos. La figura 1(c) 12 (a2n + b2n ) nos da una idea de como se va obteniendo la potencia
de cada punto con la que se obtiene un espectro de potencia discreto de la funcion
original. La longitud de cada lnea ( 12 (a2n + b2n )) representa la potencia en los componentes de Fourier en esa frecuencia en particular f(n).Las unidades son el cuadrado
de la unidad fsica representada, por ejemplo V 2 , mm2 , g 2 , etc.
3.5.2.
En el caso de valores aleatorios con un periodo T muy largo y por ende el espaciamiento espectral T1 Hz, esta mas cerca, se denota como una densidad de potencia
espectral continua(PSD) o S f(n) , para cualquier frecuencia discreta f(n), el PSD
se obtiene dividiendo la potencia en una frecuencia entre el ancho de banda, es decir:
S f(n) =
1
2
(a2n + b2n )
T 2
=
an + b2n
f
2
(3.37)
Cabe se
nalar que esta ecuacion es obtenida de forma grafica sin embargo con una
matematica formal aplicando funciones delta de Dirac se llega al mismo resultado
3.5.3.
Valor cuadr
atico medio o varianza de PSD
62
1
2
T 2
an + b2n = S f(n) f
2
T
2
(a2n + b2n )
(3.38)
x2(t)
X
T
n=1
a2n
b2n
f =
S f(n) f
(3.39)
n=1
Como x(t) fue definido por la ecuacion 10.24 y tiene valor medio cero, el valor
63
x2(t)
= =
S f(n) f
(3.40)
n=1
S (f ) f
(3.41)
Los mismos argumentos pueden utilizarse para mostrar que el valor cuadratico
medio de una onda de dos frecuencias, f 1 y f 2, es:
f21 f2
f2
S (f ) f
(3.42)
f1
3.5.4.
[an cos n
n=1
2
2
t + bn sin n t]
T
T
n = 1, 2, 3, ...,
(3.43)
(3.44)
n=1
2f(n) [an sin 2f(n) t + bn cos 2f(n) t ]
n=1
(3.45)
x(t) =
2f(n)
2
[an cos 2f(n) t + bn sin 2f(n) t ]
64
(3.46)
n=1
(3.47)
En terminos de velocidad:
2f(n)
2 1 2
an + b2n
2
(3.48)
2f(n)
4 1 2
an + b2n
2
(3.49)
En terminos de aceleracion:
(3.50)
2
2 T (a2n + b2n )
= 2f(n) Sx f(n)
Sx f(n) = 2f(n)
2
(3.51)
4
4 T (a2n + b2n )
= 2f(n) Sx f(n)
Sx f(n) = 2f(n)
2
(3.52)
(3.53)
Sx (f ) = (2f )4 Sx (f )
(3.54)
3.5.5.
65
Sx (f ) =
1
Sx (f )
(2f )2
(3.55)
Sx (f ) =
1
Sx (f )
(2f )4
(3.56)
Comparaci
on de dos especificaciones de vibraciones
aleatorias
66
Z
=
W (f )df = A1 + A2 + A3
(3.57)
"
n+1 #
f1
W2 f2
1
,n > 0
A1 =
n+1
f2
(3.58)
A2 = W2 (f3 f2 )
(3.59)
donde
W3 f3
A3 =
m+1
"
f4
f3
m+1
#
1 , m < 0, (m 6= 1)
(3.60)
f4
f3
= 2,303W3 f3 log
f4
f3
(3.61)
(3.62)
A2 = W2 (f3 f2 ) = 120g 2
(3.63)
W3 f3
A3 =
m+1
grms
"
f4
f3
m+1
#
1 = 76,8g 2
v
uZ
u
p
u
= t W (f )df = A1 + A2 + A3 = 14,1g
(3.64)
(3.65)
Para nuestro caso se hace la comparacion para un satelite de 22.7 kg por lo tanto
67
ESA
grms
(1 + 20)
(m + 20)
= 0,05
= 0,09g 2 /Hz
(m + 1)
(1 + 1)
(3.66)
v
"
u
n+1 #
p u f2
p
f1
f4
t
= W2
1
+ f3 f2 + f3 ln
= 31,5 W2 (3.67)
n+1
f2
f3
p
ESA
grms
= 31,5 0,09 = 9,45g
(3.68)
Como podemos ver de los valores obtenidos en cada caso para un satelite de 22.7
Kg indican que el estandar de la NASA considera mayor valor de aceleracion que la
ESA.
3.6.
Vibraci
on aleatoria en barras circulares
68
3.6.1.
3.6.2.
Cociente de Rayleigh
EI(u)2 dx
RL
(3.69)
mu2 dx
x
x
1
L
L
EI
mL4
EI
El valor teorico para el valor propio 1 = 4 mL
4
69
1
1
1 4
x x3 L + xL2
24
12
24
(3.70)
1
2
R(u) =
RL
EIu002 dx
0
1
2
RL
(3.71)
mu2 dx
u(x) =
x 4
L
2
X
L
3
+
x 2
L
(3.72)
T
t q
T
q
T
v
71
U
q
U
v
=0
(3.78)
T
t v
=0
"
mL
0,001587 0,03333
0,03333
1
#"
q
v
0,8EI
+
L3
"
1 0
0 0
#"
q
v
"
=
0
0
#
(3.79)
0,001587mL
q+
0,8EI
q = 0,03333mL
v
L3
q +
504,10EI
q
mL4
q +
02 q
(3.80)
= 21,1238
v
(3.81)
= 21,1238
v
q + 20 q + 02 q = 21,1238
v
3.6.4.
(3.82)
q + 02 q =
v
(3.83)
72
(3.84)
r
q3rms = 3 ||
f0 QWv (f0 )
2
(3.85)
73
y
qrms =
qrms
02
(3.86)
(3.87)
En la posicion x =
L
2
w(x)
rms = u(x)
qrms
la aceleracion es w L2 rms = u
(3.88)
L
2
qrms =
1
q
16 rms
Desplazamientos
El desplazamiento fsico es:
w(t) = u(x)q(t)
(3.89)
En la posicion x =
L
2
w(x)rms = u(x)qrms
la aceleracion es w L2 rms = u
(3.90)
L
2
qrms =
1
q
16 rms
Fuerzas
Las fuerzas y esfuerzos en la interfaz empotrada (x=0,L) y en el medio ( x = L2 )
son calculados.
74
(3.91)
(3.92)
y la fuerza cortante:
2
12 x 2 12 x
+ 2 q(t)
2
M (x, t) = EIu (x)q(t) = EI
L2 L
L L
L
00
(3.93)
y la fuerza cortante:
24 x 12
3 q(t)
D(x, t) = EIu (x)q(t) = EI
L3 L
L
000
(3.94)
12 x 2 12 x
2
Mrms (x) = EI
2
+ 2 qrms
L2 L
L L
L
(3.95)
y la fuerza cortante:
24 x 12
Drms (x) = EI
3 qrms
L3 L
L
(3.96)
75
Mrms (0) = EI
2
L2
qrms
(3.97)
Drms (0) = EI
x=
12
qrms
L3
L
2
Mrms
L
2
= EI
1
L2
qrms
(3.98)
Drms
L
2
=0
x=L
Mrms (L) = EI
Drms (L) = EI
f lexion =
2
L2
12
M (x)e
I
qrms
L3
qrms
4M (x)
d2 t
(3.99)
76
Cuadro 3.2: Valores de los coeficientes de frecuencia fundamental de una placa rectangular de espesor q
constante con distintas condiciones de apoyo en los bordes.
(I) Valores de =
h
a2
D
h
a2 correspondiente a una placa ortotropa (Dx /Hxy =
(II)Valores de =
Hxy
Dy /Hxy = 0,5; y =0.3)
q
rl=a/b
0.5
1.00
2.00
SA
SA
SA
SA
SA
SA
RE
RE
SA
SA
RE
SA
SA
SA
RE
SA
SA
SA
RE
RE
RE
RE
RE
RE
RE
SA
RE
RE
RE
(I)
(II)
(III)
(I)
(II)
(III)
(I)
(II)
(III)
(I)
(II)
(III)
(I)
(II)
(III)
(I)
(II)
(III)
(I)
(II)
(III)
(I)
(II)
(III)
12.34
10.02
11.38
13.72
11.12
11.63
12.98
10.59
11.68
10.61
8.20
10.52
10.38
7.83
10.37
24.64
18.43
23.22
24.23
18.10
23.32
22.85
16.56
22.69
19.74
17.10
16.18
28.95
23.18
18.95
23.67
19.81
17.69
12.92
11.29
12.40
11.79
9.95
11.72
35.99
28.14
27.44
31.86
25.38
26.87
24.20
18.61
23.48
(19.739) 49.37
40.10
32.36
(28.950) 95.44
70.91
49.97
(28.950) 69.39
53.44
40.15
(12.687) 22.92
20.93
18.94
(11.684) 16.22
15.81
15.99
(35.992) 98.59
73.72
53.88
(31.829) 73.58
57.03
45.37
(24.020) 31.32
26.53
27.21
77
Captulo 4
C
alculo analtico estructural del
CHASQUI I
El presente captulo trata de la aplicacion de las formulas estudiadas en el captulo
4, para poder corroborar los valores obtenidos del software ANSYS y as poder
realizar un analisis mas complejos, as se toma elementos basicos como es el caso de
una placa y una viga, se calcula la deformada, esfuerzos y frecuencias de la placa
delgada y de una viga horizontal.
4.1.
c
alculo de la deformada de una placa is
otropa
qa4
D
(4.1)
Donde:
q: 550,9296N/m2 carga equivalente a 16 veces la masa de la placa.
78
79
Figura 4.1: Placa delgada cuadrada con sus cuatro aristas fijas (empotradas)
a: 0.0974 m
D: momento flexoral
con :
D=
Eh3
68,9 109 0,00133
=
= 18,02063N.m
12(1 )
12(1 0,3)
(4.2)
Donde:
E: 68.9 GPa, Modulo de Young del material (AA6061)
h: 0.0013 m, espesor del material
: 0.3, coeficiente de Poisson
= 0,00126
550,9296 0,09744
= 3,467 106 m
18,02063
(4.3)
82
0,0052
d2
= 2700
4
4
m = 0,05301
d4
0,0054
=
64
64
I = 3,068 1011
La primera frecuencia natural en Hz del soporte empotrado-empotrado seg
un la
ecuacion (3.74)es :
22,4
f0 =
2
EI
22,4
=
4
mL
2
f0 = 2372,947
4.5.
83
Deformaci
on debido a la vibraci
on aleatoria
en una viga doble empotrada
q3 = 3
f0 QW(f 0 ) = 231.678218g
2
q3 =
q3
6
2 = 1,042 10 m
(2f0 )
es decir que el soporte de las tarjetas electronicas tendra una deformacion maxima
de 1.042 (micras).
Captulo 5
Simulaci
on y an
alisis por el
m
etodo de los elementos finitos
(MEF)
En el presente captulo se realiza la simulacion de vibraciones aleatorias al CHASQUI
I, previo a esta simulacion se realizan la comprobacion de los valores obtenidos con
el ANSYS en el caso de una placa plana empotrada en sus bordes y una viga doble
empotrada con los resultados obtenidos analticamente el captulo 3.
5.1.
El analisis por elementos finitos es una tecnica de simulacion asistida por computadora de mucha difusion hoy en da en el campo de la Ingeniera Mecanica, la
cual usa el Metodo de los elementos finitos (MEF), es decir, convierte un problema
de ecuaciones diferenciales en un problema matricial que proporciona el resultado
correcto para un n
umero finito de puntos e interpola posteriormente la solucion al
resto del dominio, resultando finalmente solo una solucion aproximada. Los puntos
donde la solucion es exacta se denominan nodos. Los nodos forman redes, denominadas mallas que son delimitadas por retculos, cada uno de los retculos contenidos
en dicha malla es un elemento finito. El conjunto de nodos se obtiene dividiendo o
discretizando la estructura en elementos de forma variada (pueden ser superficies,
84
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF) 85
vol
umenes y barras). Las fases de un proceso efectuado en la computadora para
un calculo mediante un programa MEF se dividen en: pre proceso, proceso y post
proceso.
5.1.1.
Pre proceso
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF) 86
5.1.2.
Proceso
5.1.3.
Post proceso
En la tercera fase, el post-proceso, los resultados obtenidos luego del proceso computacional son tratados, para obtener representacion graficas y obtener magnitudes
derivadas, que permitan extraer conclusiones del problema. El post-proceso del MEF
generalmente requiere software adicional para organizar los datos de salida, de tal
manera que sea mas facilmente comprensible el resultado y permita decidir si ciertas
consecuencias del problema son o no aceptables
El dise
no del CHASQUI I esta compuesto estructuralmente de elementos placa
y viga, por ello que tanto los calculos analticos vistos en el captulo 3 como las
siguientes simulaciones son realizados teniendo en cuenta la ubicacion, condiciones
de contorno y carga equivalente al que soportaran de manera independiente cada
elemento dentro de la estructura del CHASQUI I. La estructura se muestra en la
figura 5.1 en la pagina 87.
5.2.
Simulaci
on de una placa delgada
Para corroborar los calculos analticos de la seccion anterior se requiere hacer una
simulacion en el software ANSYS 12.0 mediante el metodo de los elementos finitos
para ello se dibujo una placa delgada en 3D con las dimensiones especificadas para
el CHASQUI I, este dise
no se puede observar en la figura 4.1 en la pagina 79.
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF) 87
Figura 5.1: a) Configuracion de los soportes de las antenas, actuando como vigas. b)
Caras Laterales y tapas actuando como placas planas
5.2.1.
Pre proceso
5.2.2.
Post proceso
Se tomaron 400 elementos finitos y se considero los cuatro lados empotrados como
restricciones (Ver figura 5.2 en la pagina 89) se obtuvo como resultado del analisis
la tabla 5.5 en la pagina 93) donde se muestra que la primera frecuencia natural
obtenida es de 1227.5 Hz notandose que se encuentra muy proximo al calculado
anteriormente (1212.622 Hz). En la figura 5.3 en la pagina 90 se observa la deformada
en el caso que la placa alcanza una frecuencia igual a la primera frecuencia natural.
Cabe resaltar que al realizar un analisis por el metodo de los elementos finitos el
valor del la frecuencia se acerca notoriamente a 1212.622 Hz (con 20000 elementos
finitos se obtiene 1211.8 Hz). La deformada de la placa debido a la carga distribuida
tiene su maximo valor en el centro de la placa, como se puede ver en la figura 5.4
en la pagina 91, de la misma manera se puede apreciar que los mayores esfuerzos se
localizan a la mitad de las aristas de la placa (ver figura 5.5 en la pagina 91 ), tal
como se menciono en el captulo 3.
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF) 88
550,9296N/m2
5.3.
Simulaci
on de viga empotrada en sus extremos
De la misma manera se realiza una simulacion para los soportes de las tarjetas
, para ello tambien se dibuja una viga de seccion circular con las dimensiones del
CHASQUI I los parametros del analisis se ve en la tabla ?? en la pagina ?? con la
restriccion de movimiento fijo en las secciones circulares de sus extremos como se
apreca en la figura 5.6 en la pagina 91.
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF) 89
Figura 5.2: Mallado de una de las caras laterales del CHASQUI I, se empleo un
mallado hexagonal, se obtuvieron 400 elementos
5.3.1.
Pre proceso
5.3.2.
Post proceso
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF) 90
5.4.
Simulaci
on de la estructura del CHASQUI I
5.4.1.
En esta seccion se dan los valores de pre proceso de los componentes de la estructura del CHASQUI I, debido a que es el mismo para los siguientes analisis, es
conveniente mostrarlos solo una vez para una mejor comprension del captulo.
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF) 91
Figura 5.6: Mallado de uno de los soportes de las tarjetas del CHASQUI I
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF) 92
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF) 93
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF) 94
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF) 95
Figura 5.11: En la figura se observa el sub ensamble superior que consta de la Tapa
Superior(tapa de camaras) y los soportes de las tarjetas, los cuales van soldados a la
Tapa Superior
1,9451 106
5,2518 103
2,7333 1019
1,8273 1020
7,5 102
1,5944 108
4,2561 106
4,2561 106
0.1
5 103
5 103
Soporte de
Tarjetas (4)
AA 6061 T6
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF) 96
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF) 97
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF) 98
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF) 99
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF)100
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF)101
5.4.2.
An
alisis modal
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF)102
Post proceso
En la tabla 5.11 en la pagina 102 se muestran los valores obtenidos de las 50
primeras frecuencias naturales luego de realizar la simulacion en el ANSYS 12.0
Cuadro 5.11: Valores de las 50 primeras frecuencias naturales del CHASUI 1
Modo Frecuencia (Hz) Modo Frecuencia (Hz) Modo Frecuencia (Hz)
1
985.62
21
2557.7
41
4582.9
2
1009.7
22
2573.6
42
4676.6
3
1248.1
23
2965.6
43
4803.2
4
1251.5
24
2975.9
44
4817.4
5
1268.7
25
2997.6
45
4865.2
6
1342.9
26
3013.2
46
4869.7
7
1678.2
27
3301.3
47
4879.
8
1678.7
28
3414.3
48
4890.3
9
1679.1
29
3697.9
49
5228.6
10
1680.5
30
3731.5
50
5411.5
11
1714.9
31
3827.7
12
1717.5
32
3861.1
13
1732.5
33
3937.1
14
1752.4
34
3965.5
15
1931.8
35
4021.2
16
1948.1
36
4057.5
17
2235.3
37
4115.3
18
2253.9
38
4122.4
19
2283.3
39
4404.6
20
2325.8
40
4412.5
5.4.3.
An
alisis de vibraci
on aleatoria
Luego de realizar el analisis modal y obtener las 50 primeras frecuencias naturales de la estructura del CHASQUI I se procede a realizar el analisis de vibracion
aleatoria, para ello ademas de contar con las restricciones de la estructura se debe
tener el diagrama ASD del V.L o en caso contrario el diagrama proporcionado por la
NASA en su estandar GSFC-STD-7000 (ver figura 5.19 en la pagina 109), en vista
que a
un no se tiene definido la Empresa Lanzadora se opto por tomar el estandar
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF)103
Pre proceso
A diferencia de los dos analisis anteriores, este analisis requiere de un diagrama
que forma parte del pre proceso para poder realizar el proceso.
Extracto de Table 2.4-3 Generalized Random Vibration Test Levels Components (STS or
ELV)22.7-kg (50-lb) or less NASA GSFC-STD-7000 Paragraph 2.4-18 April 2005
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF)104
Cuadro 5.12: Generalizacion de prueba de niveles de vibracion aleatoria en Componentes de 22.7 kg o menos
ASD Level (g 2 /Hz)
Frecuencia (Hz)
Calificacion Aceptacion
20
0.026
0.013
20 - 50
+6 dB/oct +6 dB/oct
50 - 800
0.16
0.08
800 - 2000
-6 dB/oct
-6 dB/oct
2000
0.026
0.013
En general
14.1 Grms
10.0 Grms
Post proceso
Los resultados de las simulaciones del analisis de vibracion aleatoria se muestran
en las tablas 5.13, 5.14 y en las figuras de las paginas 110 a la pagina ??.
Cuadro 5.13: Resultado del Analisis
Deformacion debido a la Vibracion Aleatoria
Tipo
Deformacion Deformacion Deformacion
direccional
direccional
direccional
Orientacion
X
Y
Z
Resultados
Minimo
0
0
0
Maximo ()
39.947
23.133
22.201
Mnimo ocurre en
Tapa superior (camara)
Maximo ocurre en Tapa Superior
Cara lateral
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF)105
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF)106
Figura 5.14: Ubicacion del CHASQUI I dentro del P-POD: a) al extremo entre el
CubeSat del medio y el resorte del P-POD, b) Entre dos CubeSat y c) Delante de
los dos CubeSat, en todas las ubicaciones se puede apreciar las superficies que es
encuentran en contacto con el P-POD y los otros CubeSat
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF)107
Figura 5.15: Ubicacion elegida para el pre proceso, se tiene las ocho superficies de
contacto de los botones (superior e inferior) y las dos secciones rectangulares por
lado de contacto entre el CHASQUI I y los rieles del P-POD
Figura 5.16: Restricciones de movimiento debido al contacto que existe entre el PPOD los otros dos cubesats y el CHASQUI I.
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF)108
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF)109
Figura 5.20: En la figura se observa la curva ASD con la que se realizo el analisis de
vibracion aleatorio en el CHASQUI I.
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF)110
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF)111
Figura 5.24: a)Esfuerzo equivalente de 10.471 MPa causada por la vibracion aleatoria
en el CHASQUI I, b)Las uniones de los soportes presentan puntos de mayor esfuerzos
generados al igual que el centro de todas las caras del CHASQUI I
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF)112
Figura 5.25: a)Esfuerzo de 10.539 MPa en el eje X causada por la vibracion aleatoria
en el CHASQUI I, b) Las uniones de los soportes presentan puntos de mayor esfuerzos
generados en el eje X
Figura 5.26: a)Esfuerzo de 7.9411 MPa en el eje Y causada por la vibracion aleatoria
en el CHASQUI I, b) Las uniones de los soportes el centro de las tapas, la mitad de
dos de los lados de cada tapa y las caras paralelas al plano XY presentan puntos de
mayor esfuerzos generados en el eje Y
Captulo 5. Simulacion y an
alisis por el metodo de los elementos finitos (MEF)113
Figura 5.27: a)Esfuerzo de 7.1797 MPa en el eje Z causada por la vibracion aleatoria
en el CHASQUI I, b) Las uniones de los soportes el centro de las tapas, la mitad de
dos de los lados de cada tapa y las caras paralelas al plano XZ presentan puntos de
mayor esfuerzos generados en el eje Z
Captulo 6
Manufactura de la estructura
Luego de obtener el dise
no optimo para la estructura mecanica del CHASQUI I,
es decir el dise
no que soporta las vibraciones generadas al momento del despegue en
el V.L, procedemos a obtener los planos que nos serviran para poder manufacturar
la estructura.
El dise
no en 3D de la estructura se realizo con los requerimientos de los demas
modulos, es decir considerando la distancia entre soportes de las tarjetas y el espacio
necesario para los magneto torques del modulo de control de actitud. as como para
las camaras del modulo de Camaras, como se observa en la figura 6.1 en la pagina
115
La estructura mecanica sin las tarjetas de los demas modulos presenta una configuracion interna que consta de cuatro columnas que seran las encargadas de proporcionar soporte a las tarjetas y les serviran de nexo con las caras de la estructura,
esta configuracion se aprecia en la figura 6.2 en la pagina 116, sin embargo la posicion
del CHASQUI I al momento de su ubicacion dentro de P-POD cambia la posicion de
los soportes de las tarjetas haciendo que estas se comporten como vigas y por ende
se analizan como vigas.
La parte externa de la estructura cumple la funcion de dar estabilidad y base
para los paneles solares que cargaran las bateras, las que a su vez entregaran la
energa necesaria a la electronica, las caras laterales se obtuvieron mediante dise
no
de chapas o placas metalicas y fueron plegadas de tal modo que forman un cubo de
100 mm de lado, estas caras laterales vienen a ser 6 placas delgadas de 1.3mm de
114
115
Figura 6.1: Interior del CHASQUI I, se observan la disposicion de las tarjetas de los
distintos modulos
espesor (ver figura 6.3 en la pagina 117) a las cuales se las analizo con la teora de
placas delgadas.
Todos los elementos de la estructura mecanica se aprecian en figura 6.4 en la
pagina 125, donde se aprecian los botones superiores e inferiores la antena la tapa
superior (camaras) soldada a los soportes de las tarjetas, las caras laterales y la tapa
inferior y los tornillos de union.
Como parte del proyecto se realizaron muchas pruebas de integracion a cargo
del Modulo de Integracion y Pruebas (MIP), donde se comprobo el dise
no de la
estructura y los requerimientos de los demas modulos, como se aprecia en la figura
6.5 en la pagina 126.
6.1.
Para realizar el plegado de las caras laterales del CHASQUI de ancho 97.4 mm
se uso la plegadora del laboratorio N 4 de la Facultad de Ingeniera Mecanica de
la UNI con precision para el plegado teniendo presente que si el radio de curvatura
es muy peque
no puede sobrepasar la zona plastica romperse. Como se observa en la
116
6.1.1.
Plegado al aire
Con la operacion del doblado de una placa se persigue crear una superficie cilindra
conectada a dos superficies planas. en la figura 6.6 en la pagina 126, se presenta una
geometra idealizada obtenida mediante un doblado.
Sin embargo la geometra real puede ser ligeramente distinta a la geometra ideal.
Por ejemplo, como es mostrado en la figura 6.7 en la pagina 127 la zona doblada
puede tener una curvatura no constante, existir una perdida de tangencia en las
lneas de doblado u obtener diferentes angulos de doblado en las caras exteriores e
interiores.
Basicamente durante el doblado a la placa se somete a un momento flector hasta
que se produce deformaciones plasticas en el material. En una placa sometida a
flexion de las caras mas exteriores estan en traccion y las mas interiores estan en
117
1
R + 2t
(6.1)
1
= 0,606
1 + 1,3
2
(6.2)
La evidencia experimental indica que, aunque la ecuacion se ajusta razonablemente bien para la cara mas interior, los valores reales 0 , son considerablemente
mayores que los valores i . La razon de esta diferencia es el desplazamiento de la
lnea neutra hacia la superficie mas interior debido a la propia curvatura que aparece
118
en la placa. Por esta misma razon las caras exteriores sufren una plastificacion mas
amplia que las interiores. En consecuencia, la longitud de doblado es menor en la
region mas exterior que en la region mas interior. La diferencia entre deformacion
exterior e interior se hace mas evidente cuando se producen doblados mas agudos.
En el doblado al aire la funcion de la herramienta es meramente la de transmitir
las fuerzas y los momentos a la pieza de trabajo. De hecho, en el doblado al aire
practicamente solo se transmite un momento flector a la pieza, motivo por lo que se
considera un doblado de momento puro. Existen principalmente dos tipos de procesos
de doblado al aire (figura 6.9 en la pagina 128)
1.) Doblado al aire en tres puntos
En el cual la placa se soporta entre dos apoyos en lados opuestos, un punzon que
deforma posicionandose en la mitad del vano de la placa
1.) Doblado al aire con dado deslizante
En el que una placas sujeta a lo largo de una arista se dobla por un punzon que
deforma la placa a lo largo de la otra arista libre.
El doblado al aire empieza en el momento en que el punzon establece contacto
con la placa, y se completa o cuando las alas de la pieza de trabajo son tangentes a
las caras de la matriz o cuando el radio interno mas peque
no de la pieza de trabajo se
vuelve menor que el radio del punzon. En ambos casos la geometra de la herramienta
afecta a la deformacion posterior de la placa. Al final el doblado al aire, la forma
de la porcion curvada de la placa no esta definida completamente. Pues, la placa
no se presiona completamente contra la matriz. La geometra de la herramienta
imprime una peque
na informacion de forma, pues puede producirse varios angulos
con la misma combinacion de matriz y punzon sobre diferentes materiales y diferentes
grosores, ajustando u
nicamente el desplazamiento del punzon. Este hecho convierte
al doblado al aire en un proceso muy flexible y hace que se le considere tambien muy
eficiente, pues la independencia del tipo de material y el angulo a conseguir limita
el n
umero de cambios de herramienta. Finalmente, se requiere una fuerza de presion
baja comparada con la del doblado a fondo, por este motivo las maquinas necesarias
119
para este proceso son menos potentes. En este tipo de doblado la forma final de la
pieza de trabajo no es u
nicamente funcion de la geometra y de los componentes
de la herramienta. Tambien depende de la posicion relativa de los componentes de
la herramienta (punzon y apoyos) durante el proceso, de la curva caracterstica del
material de trabajo y del grosor de la placa.
Parametros relacionados con el doblado:
a) Radio de doblado mnimo y ratio R/t mnimo.- Se llama radio de doblado mnimo
al radio en el cual una grieta aparece en las superficies mas exterior del doblado. El
radio de doblado mnimo al que la pieza puede doblarse de manera segura se expresa
habitualmente en funcion del espesor. EL radio de doblado mnimo se determina
tradicionalmente de manera experimental y esta disponible como caracterstica de
la placa en forma de tabla de varios manuales.
b) Recuperacion.- La recuperacion es el movimiento que sufre una pieza doblada
para recuperar su posicion y forma original una vez se ha retirado la carga que ha
producido la deformacion plastica, por lo tanto le sigue siempre una recuperacion
elastica una se retira la carga. La recuperacion se cuantifica con dos variables: el
angulo de recuperacion y el factor de recuperacion (ver figura 6.10 en la pagina 128).
La tecnica mas usada de comparacion de recuperacion es el sobredoblar la pieza
en la matriz hasta un angulo mayor que el deseado (aproximadamente el numero
de grados de recuperacion) en la misma matriz en las que se realiza el plagado.
Seg
un Committeee under ASM direction, 1988 los valores de sobredoblado son proporcionados en la tabla 6.1 en la pagina 120, done apreciamos por ejemplo que para
una aleacion de aluminio 2024 o 7075 se requiere un radio de curvatura de 2.4mm
para un palca de 1.29 mm de espesor es necesario realizarlo con un radio de curvatura
de 2mm. Otros factores del plegado son: Fuerza de plegado, capacidad de doblado
del material y la longitud de desarrollo inicial de la placa.
6.2.
La tapa superior va soldada con soldadura tipo TIG por fusion (Tungsteno y gas
Argon) dada la elevada temperatura del Tungsteno (funde 3410o ) acompa
nada de
la proteccion del gas Argon, se sueldan los cuatro soportes de aluminio de diametro
120
placas de aluminio
11.1
12.7
9 1/2
12
8 3/4 10 3/4
7 1/2 9 1/2
6 3/4 8 3/4
5 3/4 7 1/2
5 1/2 6 3/4
4
4 3/4
3 3/4 4 1/2
3
3 3/4
121
6.2.1.
122
eficiente remocion del oxido de aluminio. Un rasgo de las soldaduras de arco con
proteccion gaseosa es que la mayora del calor es generado en el polo positivo, DCEP
(direct current, electrode positive), resultando en un sobrecalentamiento y fusion del
electrodo. Por lo tanto la soldadura manual con el proceso GTAW es normalmente
usada con corriente alterna, AC, donde la capa de oxido es removida en la mitad del
ciclo con el electrodo positivo, y en donde este es enfriado en la mitad del ciclo con
polaridad negativa. El arco es extinguido y reiniciado cada mitad de ciclo, cuando
la corriente atraviesa el valor cero. En una fuente de poder a 50 Hz esto ocurre 100
veces por segundo. Para alcanzar el inicio instantaneo del arco una alta frecuencia
(HF, high frecuency), y un alto voltaje (9000-15000V) es aplicado al arco, uniendo
la separacion del arco con una descarga continua. Esto ioniza el gas en la separacion
del arco, permitiendo al arco de soldadura reiniciar con un mnimo retardo. Esto es
particularmente importante en la mitad del ciclo con electrodo positivo.
El aluminio es un pobre emisor de electrones, lo cual significa que es mas dificultoso de reiniciar el arco en la mitad del ciclo con electrodo positivo. Si existe alg
un
retraso en el reinicio del arco luego fluira menos corriente en el ciclo positivo que en
el negativo. Esto se denomina rectificacion parcial y eventualmente puede llegar a la
completa rectificacion, en donde la corriente no fluye en la mitad del ciclo positivo.
El arco se vuelve inestable, el efecto de limpieza se pierde y una componente de
corriente directa puede ser producida en el circuito secundario en la fuente de poder,
conduciendo a un recalentamiento del transformador. En las fuente mas viejas esto
se evita proveyendo una corriente opuesta con bateras de almacenamiento, y en las
fuentes mas modernas se evita insertando bloques de capacitores en el circuito de la
fuente de poder.
123
Gas de protecci
on
El gas preferido en el proceso GTAW para soldadura de aluminio es argon, aunque
helio o una mezcla de argon - helio puede ser usada. El argon da una seccion de
soldadura amplia y de baja penetracion, pero puede dejar la soldadura con apariencia
plateada y brillante. El inicio de arco mas facil y el arco mas estable tambien se
alcanza con el argon. La Figura 6.11 en la pagina 129 muestra los rangos tpicos de
parametros con argon como gas de proteccion, y en la Figura 6.12 en la pagina 129 se
muestra la corriente recomendada de acuerdo al espesor para una soldadura a tope,
ya que esta es la union de soldadura aplicada a la estructura del CHASQUI I.
Preparaci
on de la junta
Es posible producir una fusion completa en raz sin utilizar AC. Hasta 3 mm de
espesor la soldadura puede hacerse sin preparacion por lo que en la soldadura de la
estructura del CHASQUI I se realizo a tope, pero por sobre este valor es necesario una
preparacion en V o en U para alcanzar la completa fusion. La separacion de raz debe
ser evitada. Un soldador entrenado utilizara la apariencia de la pileta para juzgar
si se ha producido una fusion completa. Cuando se alcanza una fusion completa la
pileta se hunde y posee una superficie brillante.
Finalizaci
on de la soldadura
La interrupcion abrupta de la corriente de soldadura puede generar crateres o
poros alargados y fisuras en el final del cordon. Por ello es necesario reducir gradualmente la corriente al finalizar la soldadura y reducir la longitud del arco a medida
que este se desvanece. Si un crater comienza a formarse el arco debe ser brevemente
restablecido, adicionar material de aporte y finalizar el arco luego. En materiales
delgados la velocidad de avance debe ser incrementada al puno tal que el material
ya no se funda.
En resumen los parametros usados en el proceso de soldadura en la estructura
del CHASQUI I se resumen en la tabla.
124
125
126
Figura 6.6: Representacion de una palca delgada doblada ideal. Donde t es el grosor
de la placa, w es el ancho de la placa, L la longitud del arco doblado, R el radio de
doblado (notese que se ha definido el radio de doblado como el radio de doblado en
la cara interior) y b es el angulo de doblado final, fuente [19]
127
128
Figura 6.9: Esquema del a) doblado al aire por tres puntos y b) doblado al aire con
lado deslizante, fuente [19]
129
Figura 6.11: Parametros sugeridos para soldadura con argon como gas de proteccion
Figura 6.12: Rangos de corrientes tpicos en funcion de espesor para soldadura a tope
en GTAW
130
131
Figura 6.16: Esfuerzos generados por causa del diagrama ASD seleccionado para el
analisis del CHASQUI I.
132
Figura 6.17: Estructura del CHASQUI I plegada y con sus uniones atornilladas respectivas.
Captulo 7
Evaluaci
on de costos
7.1.
134
7.2.
Costos de manufactura
Cuadro 7.2: La tabla nos muestra el costo de la manufactura de los elementos principales de la Estructura
RIPSA S.A.
Item
Descripcion
Precio (s/.)
1
Tapa Inferior
80
2
Caras Laterales
80
3
Tapa Superior
80
Total
s/. 240.00
135
Uniones
Se emplearon uniones soldadas y atornilladas, los detalles del costo de cada uno
se detallan en el cuadro 7.3 en la pagina 135
Cuadro 7.3: La tabla nos muestra el costo de las uniones de la Estructura
UNIONES
Item
Descripcion
Cantidad Precio (s/.)
1
Proceso de Soldadura
1
180
2
Tornillos avellanado M3.5x1x5.5
6
30
2
tuerca M3.4x0.5x3
2
10
3
Tornillos avellanado M4x1x6
4
20
4
tuerca M3.4x0.5x6
4
20
5
tuerca M2.4x0.5x3
2
10
Total
s/. 260.00
Es decir se requiere S/. 828 por prototipo de la estructura, sin tomar en cuanta
costos por cambios adicionales u reconfiguracion de la estructura.
Bibliografa
[1] Satellite Technology Principles and Applications Anil K. Maini Varsha Agrawal
[2] Spacecraft Power Systems MukundR. Patel - CRC PRESS Boca Raton London
New York Washington, D.C.
[3] Instituto Nacional de Tecnica Aeroespacial INTA Programa de Peque
nos
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[10] Spacecraft Systems Engineering Graham Swinerd University of Southampton,
UK
138
Bibliografa
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[11] Determinacion Aproximada de la frecuencia fundamental de placas rectangulares mediante el Metodo De Rayleigh-Ritz , RICARDO OSCAR GROSSI- Revista Internacional de Metodos Numericos para C
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[12] Desarrollo de un algoritmo de calculo para la implementacion del metodo de
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alculo y Dise
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[15] Placas delgadas mediante metodos clasicos R. Gallego Sevilla,G. Rus Carlborg y
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Vibration, 64 (2), pp. 257-267, (1979).
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ontribucion al estudio del proceso de
doblado al aire de chapa. Modelo de prediccion del angulo de recuperacion y del
radio de doblado final, Univeritat de Girona Tesis Doctoral, Julio de 2005.
PLANOS
5
N7 Anodizado
N6 Todas las
superficies
97.400
1.300
Cantidad: 4
Si no esta
especificado:
Dimensiones en mm
Toleracia: + - 0.1mm
Redondeo exterior: 2.3 mm
Espesor: 1.3 mm
Material:
Aluminio 6061 T6
Nombre
Dibujo:
Fecha
10/12/2010
10/12/2010
Proyecto de Investigacin:
El plano esta sujeto a modificaciones, sin previo
aviso y sin responsabilidad del CTIC
Soporte de Antena
A3
Tesis desarrollada en el CTIC
2/6
ESCALA 1:1
p
2
up
p
c
2
p
p
2
u c
2
2
u c
2
2
PP
A U
R A
DD
D
u ua
A
U
p
A
da
ANEXO A
ANEXO B
GSFC-STD-7000
April 2005
Supersedes
GEVS-SE dated June, 1996
Approved By:
Original signed by
______________________________
Abigail Harper (Acting)
Director of Systems Safety and Mission Assurance
Original signed by
______________________________
Michael Ryschkewitsch
Director of Applied Engineering and Technology
Original signed by
______________________________
Arthur Obenschain
Director of Flight Programs and Projects
Original signed by
______________________________
Richard Day
Director of Mission Success
SECTION 2.4
STRUCTURAL AND MECHANICAL
VIBROACOUSTICS
VIBROACOUSTICS
The payload in its launch configuration shall be attached to a vibration fixture by use
of a flight-type launch-vehicle adapter and attachment hardware. Vibration shall be
applied at the base of the adapter in each of three orthogonal axes, one of which is
parallel to the thrust axis. The excitation spectrum as measured by the control
accelerometer(s) shall be equalized such that the acceleration spectral density is
maintained within 3 dB of the specified level at all frequencies within the test range
and the overall RMS level is within 10% of the specified level.
Prior to the payload test, a survey of the test fixture/exciter combination shall be
performed to evaluate the fixture dynamics, the proposed choice of control
accelerometer locations, and the control strategy. If a mechanical test model of the
payload is available it should be included in the survey to evaluate the need for
limiting.
If a random vibration test is not performed at the payload level of assembly, the
feasibility of doing the test at the next lower level of assembly shall be assessed.
b.
Performance - Before and after each vibration test, the payload shall be examined
and functionally tested. During the tests, performance shall be monitored in
accordance with the verification specification.
2.4.2.4
2.4.2.5
Random Vibration - The test item is subjected to random vibration along each of
three mutually perpendicular axes for one minute each. When possible, the
component random vibration spectrum shall be based on levels measured at the
component mounting locations during previous subsystem or payload testing. When
such measurements are not available, the levels shall be based on statistically
estimated responses of similar components on similar structures or on analysis of the
payload. Actual measurements shall then be used if and when they become
available. In the absence of any knowledge of the expected level, the generalized
vibration test specification of Table 2.4-3 may be used.
As a minimum, all components shall be subjected to the levels of Table 2.4-4, which
represent a workmanship screening test. The minimum workmanship test levels are
primarily intended for use on electrical, electronic, and electromechanical hardware.
The test item shall be attached to the test equipment by a rigid fixture. The mounting
shall simulate, insofar as practicable, the actual mounting of the item in the payload
with particular attention given to duplicating the mounting contact area. In mating the
test item to the fixture, a flight-type mounting (including vibration isolators or kinematic
2.4- 16
VIBROACOUSTICS
VIBROACOUSTICS
mounts, if part of the design) and fasteners should be used. Normally sealed items
shall be pressurized during test to their prelaunch pressure.
In cases where significant changes in strength, stiffness, or applied load result from
variations in internal and external pressure during the launch phase, a special test
shall be considered to cover those effects.
Prior to the test, a survey of the test fixture/exciter combination shall be performed to
evaluate the fixture dynamics, the proposed choice of control accelerometer locations,
and the control strategy. The evaluation shall include consideration of cross-axis
responses. If a mechanical test or engineering model of the test article is available it
should be included in the survey.
For very large components the random vibration tests may have to be supplemented
or replaced by an acoustic test if the vibration test levels are insufficient to excite
internal hardware. If neither the acoustic nor vibration excitation is sufficient to
provide an adequate workmanship test, a screening program should be initiated at
lower levels of assembly; down to the board level, if necessary. The need for the
screening program must be evaluated by the project. The evaluation is based on
mission reliability requirements and hardware criticality, as well as budgetary and
schedule constraints.
If testing is performed below the component level of assembly, the workmanship test
levels of Table 2.4-4 can be used as a starting point for test tailoring. The intent of
testing at this level of assembly is to uncover design and workmanship flaws. The
test input levels do not represent expected environments, but are intended to induce
failure in weak parts and to expose workmanship errors. The susceptibility of the test
item to vibration must be evaluated and the test level tailored so as not to induce
unnecessary failures.
If the test levels create conditions that exceed appropriate design safety margins or
cause unrealistic modes of failure, the input spectrum can be notched below the
minimum workmanship level. This can be accomplished when flight or test responses
at the higher level of assembly are known or when appropriate force limits have been
calculated.
2.4.2.6
b.
Acoustic Test - If a component-level acoustic test is required, the test set-up and
control shall be in accordance with the requirements for payload testing.
c.
Performance - Before and after test exposure, the test item shall be examined and
functionally tested. During the test, performance shall be monitored in accordance
with the verification specification.
VIBROACOUSTICS
SINUSOIDAL VIBRATION
2.4.2.7
Retest of Reflight Hardware - For reflight hardware, the amount of retest that is needed is
determined by considering the amount of rework done after flight and by comparing the
stresses of the upcoming flight with those of the previous flight. The principal objective is to
verify the workmanship. If no disassembly and rework was done, the test may not be
necessary. The effects of storage, elapsed time since last exposure, etc. shall be
considered in determining the need for retest. Subsystems that have been taken apart and
reassembled shall, as a minimum, be subjected to an acoustic test (levels shall be equal to
the limit levels) and a random vibration test in at least one axis. More comprehensive
exposures shall be considered if the rework has been extensive.
2.4.2.8
2.4.3
2.4- 20
ANEXO C
11 Diseo de junta:
Para la eleccin de la junta se usar los valores recomendados por el cdigo, los cuales se
muestran en la Figura 56.
Figura 56. Diseo de junta recomendado para soldaduras con penetracin parcial (PJP)
58
Tabla 17
59
60