1) Preparación de Una Probeta Metalografica y El Microscopio Métalografico2
1) Preparación de Una Probeta Metalografica y El Microscopio Métalografico2
1) Preparación de Una Probeta Metalografica y El Microscopio Métalografico2
MICROSCOPIO MTALOGRAFICO
Metalografa.- La metalografa o microscopia estudia microscpicamente las
caractersticas estructurales de un metal o de una aleacin. Sin duda el microscopio es la
herramienta ms importante del metalurgista tanto desde el punto de vista cientfico como
desde el tcnico. Es posible determinar el tamao de grano la forma y distribucin de varias
fases e inclusiones que tienen gran efecto sobre las propiedades mecnicas del metal. La
microestructura revelara el tratamiento mecnico y trmico del metal y bajo un conjunto de
condiciones dadas podr predecirse su comportamiento esperado.
La experiencia ha demostrado que el xito en el estudio microscpico depende en mucho
del cuidado que se tenga para preparar la muestra. El microscopio ms costoso no revelara
la estructura de una muestra que no haya sido bien preparada.
a) PROBETA METALOGRAFICA.- Las tcnicas metalogrficas se han desarrollado
precisamente para identificar las fases presentes en los metales y en sus aleaciones, y para
explicar el mecanismo de su formacin. Estas fases que constituyen el agregado metlico
son, generalmente, de tamao microscpico y, para su observacin y estudio, es preciso
preparar debidamente la probeta. Una superficie metlica en la que se van a observar unas
fases microscpicas ha de ser plana y estar pulida. Plana, porque la pequea profundidad de
foco de los sistemas pticos de observacin a grandes aumentos no permitira enfocar la
imagen simultneamente en planos situados a distintos niveles; estar debidamente pulida
para que slo pueda aparecer en ella detalles propios de su estructura, y no circunstancias
ajenas a ella que puedan enmascararla .Las etapas de la preparacin de la probeta
metalogrfica son:
*Muestreo
*Montaje de la muestra
*Desbaste
*Pulido
*Ataque qumico
Muestreo: La eleccin de la muestra que se va a estudiar al microscopio es una operacin
delicada y muy importante. Si lo que se trata de estudiar es un fallo del material, la muestra
debe tomarse de una zona lo ms prxima posible al punto en que se ha producido el fallo,
y compararla con otra obtenida en una seccin normal; se recomienda tomar 3 muestras
para el caso de muestras de soldaduras en el material de base material cercano a la
soldadura en el cordn de soldadura. La muestra debe extraerse de forma que sea
representativa e identificar de alguna forma la orientacin de la fabricacin del material,
tratando en todo momento de evitar calentamientos fuertes de la probeta por que podra
distorsionar la microestructura. La extraccin puede hacerse mediante sierra o disco
abrasivo, siendo el tamao recomendado de las probetas, aproximadamente, de 20x20x15
mm. En el caso de de briqueta 30mm dimetro y 25mm de altura
Pulido: El pulido de una probeta metalogrfica tiene por objeto eliminar las rayas
producidas en la operacin de desbaste y obtener una superficie especular(tipo espejo). Se
pueden emplear diversos tipos de abrasivos: polvo de diamante (10, 1, 0,5 y 0,25 micras),
almina (5, 1, 0,5, 0,1 y 0,05 micras), xido de magnesio, etc. En cuanto a los paos de
pulido, los hay de tela de billar, nylon, seda, algodn, etc. El pulido electroltico se realiza
mediante un proceso de disolucin andica del metal (vase montaje en figura adjunta). Se
tienen que fijar las condiciones de tensin y densidad de corriente para conseguir el efecto
buscado. Despus del pulido la muestra se enjuagan con un chorro de alcohol(agua) y se
secan rpidamente bajo un chorro de aire caliente.
Ataque qumico: Una superficie pulida revela ya una serie de hechos interesantes, como
pueden ser grietas, inclusiones, fases (si su forma y color las hacen diferenciables), poros,
etc. Pero, normalmente, la probeta hay que atacarla para "revelar" la microestructura (fases,
lmites de grano, impurezas, zonas deformadas, etc.). El ataque puede realizarse mediante
diferentes formas, a saber: ptico, qumico, electroqumico y fsico.
Ataque ptico: campo claro, campo oscuro, luz polarizada, contraste de fase y contraste
por interferencia (Nomarski).
Ataque qumico: para la gran mayora de los materiales metlicos ste el mtodo ms
empleado. Puede realizarse por frotamiento ( empleando un algodn impregnado en el
reactivo que se pasa sucesivamente por la superficie pulida ) o mediante inmersin de la
muestra en el reactivo. Inmediatamente despus del ataque la probeta debe ser lavada con
agua y secada con un chorro de alcohol y aire caliente.
Ataque electroltico: est basado en los procesos redox.
Ataque fsico: con esta denominacin se recogen los realizados por bombardeo inico
(argn), ataque trmico y la deposicin de capas de interferencia.
fig. a
fig.b
fig. c
fig.d
la fig. a muestra la probeta despus del esmerilado, la fig.b muestra la probeta despus del
pulido intermedio, la fig.c muestra la superficie despus del pulido final sin rayaduras, la
fig d muestra la probeta luego del ataque
Figura :Microscopio metalrgico con el trazado del haz luminoso a travs del sistema
ptico.
CUESTIONARIO.1)
2)
3)
4)
TEST N01