Sabías que los Rayos X se descubrieron en 1895 por el físico alemán Röntgen y recibieron

ese nombre porque se desconocía su naturaleza en ese momento. En 1912 se estableció de

manera precisa la naturaleza de los rayos X. En ese año se descubrió la difracción de rayos
x en cristales y este descubrimiento probó la naturaleza
de los rayos X y proporcionó un nuevo método para
investigar la estructura de la materia de
manera simultánea.
Te preguntaras qué son los rayos x…
Bueno, Los R-X son radiación electromagnética de la
misma naturaleza que la luz, pero de longitud de onda
mucho más corta. La unidad de medida en la región de
los r-x es el angstrom (Å), igual a 10-10 m y los rayos x
usados en difracción tienen longitudes de onda en el
rango 0.5-2.5 Å mientras que la longitud de onda de la
luz visible está en el orden de 6000 Å.
Los rayos X se producen cuando una partícula cargada
eléctricamente con suficiente energía cinética es
frenada rápidamente. Los electrones son las partículas
utilizadas habitualmente y la radiación se obtienen en un
dispositivo conocido como tubo de rayos x

Estado cristalino
Todos los materiales cristalinos adoptan una distribución regular de átomos o iones en el
espacio. La porción más simple de la estructura es que al repetirse mediante traslación
reproduce todo el cristal se define como celda unidad.
Un nivel creciente de simetría origina relaciones entre los diferentes parámetros de celda y
da lugar a los 7 sistemas cristalinos.

Interacción de los R-X con la materia. Difracción.

La interacción de los r-X con la materia esencialmente ocurre mediante dos procesos:

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a) Algunos fotones del haz incidente son desviados sin pérdida de energía, constituyen la
radiación dispersada exactamente con la misma λ que la radiación incidente (es la que
origina el fenómeno de la difracción).
b) Los fotones pueden sufrir una serie de choques inelásticos al incidir sobre un blanco y su
energía incrementa la T de la muestra o da
lugar al fenómeno de fluorescencia.
¿Bajo qué condiciones el haz de r-x será
difractado? Un rayo difractado puede
definirse como un rayo compuesto de un
gran número de rayos dispersados que se
refuerzan mutuamente. La difracción es,
por tanto, esencialmente un fenómeno de
dispersión. Los átomos dispersan la
radiación incidente en todas direcciones,
y en algunas direcciones los rayos
dispersados estarán completamente en
fase y por tanto se refuerzan mutuamente
para formar rayos difractados.

Las técnicas más importantes de difracción son:

EL DIFRACTÓMETRO CONVENCIONAL
Tubo de rayos X
Los r-x se generan en un dispositivo conocido como tubo de r-x. Un generador convencional
consiste de un cátodo con un filamento de W que emite e- que son acelerados bajo vacío
por un alto voltaje aplicado a lo largo del tubo (del orden de 30kV). El haz de electrones

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incide sobre un blanco metálico, ánodo o
anticátodo (habitualmente Cu o Mo y
menos frecuentemente Cr, Fe o Ag).
Detectores
Existen cuatro tipos de detectores:
proporcionales, Geiger, de centelleo y
semiconductores.
Todos se basan en la capacidad de los r-x
para ionizar átomos, bien de un gas
(proporcionales o Geiger) o de un sólido
(centelleo o semiconductores). Contadores
proporcionales: Consisten en un cilindro metálico lleno con un gas que contiene un fino
alambre metálico (ánodo) a lo largo de su eje. La mayor parte de los r-x que entra en el
cilindro es absorbida por el gas y esta absorción va acompañada por la ionización del gas
produciéndose electrones que se mueven por la acción del campo eléctrico hacia el ánodo
mientras que los iones positivos se mueven hacia el cátodo obteniéndose una pequeña
corriente eléctrica. Detectores de centelleo: En este tipo de detector la radiación x se hace
incidir sobre un material fluorescente. El flash de luz producida pasa a un fotomultiplicador
donde arranca un número de electrones obteniéndose al final un pulso del orden de voltios.
Detectores semiconductores: Se han utilizado tanto Si como Ge. Los r-x causan una
excitación originando electrones libres en la banda de conducción y huecos en la banda de
valencia, manteniendo un elevado voltaje entre las caras opuestas del cristal se crea un
pequeño pulso en un circuito externo que es amplificado hasta el orden de mili voltios.
Detector PSD: Este tipo de detector permite determinar la intensidad de varias líneas de
difracción de manera simultánea. Es especialmente útil en medidas a T variable en las que
es necesario obtener el difractograma en el menor tiempo posible.

Muestra y porta muestras.

En un difractómetro convencional la muestra se mantiene en posición horizontal y se rota
para minimizar los efectos de orientación preferente y favorecer la orientación de los
cristales al azar. El porta muestras convencional tiene una profundidad de 1 mm y es
adecuado para muestras del orden de gramos. El porta de bajo fondo es un cristal de Si con
una cavidad de 50 micras para pequeñas cantidades de muestra. El porta de retrocarga
permite minimizar los efectos de orientación preferente. También es posible el uso de
capilares que permiten trabajar en transmisión.
PATRÓN DE DIFRACCIÓN DE MUESTRAS POLICRISTALINAS
Diagrama de difracción de rayos X.
Un difractograma de r-x recoge los datos de intensidad en función del ángulo de difracción
(2θ) obteniéndose una serie de picos. Los datos más importantes obtenidos a partir de un
difractograma son los siguientes:
- posición de los picos expresada en valores de θ, 2θ, d ó q = 1/d2.
- intensidad de pico. Las intensidades se pueden tomar como alturas de los picos o para

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trabajos de más precisión las áreas. Al pico más intenso se le asigna un valor de 100 y el
resto se re-escala respecto a éste.
- perfil de pico. Aunque se utiliza menos que los anteriores la forma de los picos también
proporciona información útil sobre la muestra analizada.
APLICACIONES DE LA DIFRACCIÓN DE RAYOS X.
Identificación de fases.
Una fase cristalina dada siempre produce un patrón de difracción característico, bien esté
en
estado puro o como constituyente de una mezcla. Este hecho es la base para el uso de la
difracción como método de análisis químico. El análisis cualitativo se realiza mediante la
identificación del patrón de esa fase. Para la identificación cualitativa se usa la Powder
Diffraction File, esta base de datos contiene datos de d-I además de información
cristalográfica y bibliográfica para gran cantidad de fases crist. de materiales inorgánicos,
minerales, productos farmacéuticos, etc.
Pureza de muestras.
En una mezcla de compuestos cada fase cristalina presente va a contribuir al patrón de
difracción de r-x global. En química preparativa de materiales esto puede utilizarse para
identificar el grado de avance de una reacción y la pureza del producto. La difracción de r-x
también puede utilizarse para identificar impurezas, bien sean reactivos que no han
reaccionado completamente o subproductos de reacción
Medida de tensiones.
Cuando un grano se somete a una tensión uniforme perpendicular a los planos de difracción
el espaciado se hará mayor que d0 (espaciado en ausencia de tensión) y, según se deduce
de la ley de Bragg, el pico de difracción se desplaza a un ángulo más bajo. Si la tensión no
es uniforme hay zonas con espaciado mayor que d0 y zonas con espaciado menor que d0
produciéndose un ensanchamiento del pico de difracción que es el resultado observado
experimentalmente. En la práctica el stress se determina a partir de la posición 2θ de una
única reflexión midiendo el espaciado a diferentes valores de ψ (diferentes orientaciones
de la muestra).
Análisis cuantitativo.
Los métodos de análisis cuantitativo basados en la difracción de r-x pueden clasificarse en
dos grandes grupos: métodos que emplean picos seleccionados y métodos que utilizan todo
el difractograma.
Dentro de los métodos basados en picos seleccionados se encuentran:
- método de difracción-absorción: se basa en la relación de intensidades de un pico en la
fase pura y en la mezcla. Requiere el conocimiento de los coeficientes de absorción de la
fase pura y de la mezcla, si no se conocen es posible preparar una curva de calibrado.
- método de la adición stándard: en la mezcla debe existir una fase de referencia (i) con un
pico no solapado con ningún pico de la fase a analizar (j). La metodología consiste en la
adición de una cantidad conocida de fase pura j, c’j.
- método del stándard interno: en este método la intensidad integrada de un pico de la fase
analizada se compara con la intensidad de un pico de una fase añadida en proporciones
conocidas.

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El material usado como stándard debe cumplir una serie de requisitos: químicamente
estable, sin picos solapados con la fase analizada, sin orientación preferente, etc.
Dentro de los métodos que utilizan todo el difractograma se encuentran:
- método de descomposición del difractograma. Se basa en la separación del difractograma
en los difracto gramas individuales de cada componente de la mezcla, una vez separados se
asignan las áreas integradas a cada componente y se aplican las metodologías anteriores.
- método de Rietveld. En este caso se considera el difractograma total como la suma de los
patrones individuales de cada fase y se extrae la información sin separar en componentes.
Determinación de diagramas de fase.
La difracción de r-x junto con el análisis térmico y la microscopía son las técnicas más
utilizadas para establecer los diagramas de fase.
Consideremos por ejemplo una aleación formada por dos metales A y B con dos soluciones
sólidas terminales α y β ambas cúbicas centradas en las caras y una fase intermedia γ
cúbica centrada en el cuerpo. La determinación del diagrama de fases mediante rayos-x
normalmente comienza con la determinación de los equilibrios a T ambiente. El primer paso
es preparar una serie de aleaciones de composición conocida a las que se deja alcancen un
enfriamiento lento y se registra el patrón de difracción de r-x.
Una vez determinado el diagrama a T ambiente para el estudio a elevada T se deja que la
aleación alcance el equilibrio a esa T y se enfría rápidamente, entonces se registra el patrón
de difracción a T ambiente. En algunos casos las fases estables a alta T no son estables al
enfriar y hay que utilizar cámaras de alta T para registrar el patrón.
Determinación de estructuras cristalinas
El proceso de determinación
de una estructura mediante
drx comienza con la toma de
datos con suficiente precisión
en un intervalo amplio de 2θ.
La siguiente etapa es el
indexado, los programas más
habituales para llevar a cabo el
indexado son ITO, TREOR y
DICVOL entre otros. La siguiente etapa, ajuste de perfil, permite asignar intensidades, forma
y anchura de picos, background; existen dos técnicas diferentes: el método de Le Bail y el
método de Pawley. Una vez obtenidas las intensidades de las reflexiones es necesario
obtener una aproximación inicial de la estructura, para ello se pueden emplear métodos
tradicionales como los de Patterson o directos, así como métodos basados en el espacio
directo. Por último, se realiza el refinamiento de la estructura utilizando el método de
Rietveld en el que se minimiza la diferencia entre la intensidad calculada y la medida
experimentalmente.
4.7 Estudio de texturas.
Cada grano en un agregado policristalino normalmente tiene una orientación cristalográfica
diferente de la de sus vecinos. Considerado como unas todas las orientaciones de todos los
granos pueden estar aleatoriamente distribuidas o pueden tender a agruparse, en mayor o
menor grado alrededor de una o varias orientaciones particulares. Cualquier agregado

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caracterizado por esta condición se dice que posee orientación preferente o textura. La
orientación preferente puede tener una gran influencia sobre las intensidades de los picos
de
difracción.
La orientación preferente es un fenómeno muy frecuente, en metales, materiales
cerámicos, películas semiconductoras y recubrimientos en general entre otros. De hecho,
la presencia de orientación preferente es la regla habitual, no la excepción. Las texturas más
frecuentes son en forma de fibras o en forma de láminas. En la textura fibrosa en la mayoría
de los granos la misma dirección cristalográfica [uvw] es paralela o casi paralela al eje del
alambre. En el caso de la textura en láminas la mayoría de los granos están orientados con
cierto plano cristalográfico (hkl) aproximadamente paralelo a la superficie de la lámina y
una dirección en ese plano [uvw] aproximadamente paralela a la dirección en la que se
aplanó la lámina.
La mayoría de las texturas laminares, sin embargo, sólo pueden describirse mediante la
suma de un número de orientaciones ideales o componentes de textura; esto sólo puede
hacerse mediante una descripción gráfica tal como la figura de polo. El uso de las figuras de
polo para representar texturas puede ilustrarse mediante el siguiente ejemplo:
supongamos una lámina de un metal cúbico que contiene sólo 10 granos y la orientación
de esos granos es conocida. La orientación de esos 10 granos puede resumirse
representando las posiciones de los polos {100} en una única proyección estereográfica con
el plano de proyección paralelo a la superficie de la lámina. Puesto que cada grano posee
tres polos {100} habrá un total de 30 polos representados en la proyección. Si los granos
tienen una orientación completamente aleatoria esos polos
aparecerán uniformemente distribuidos sobre la proyección. Sin embargo, si existe
orientación preferente los polos tenderán a agruparse en ciertas áreas de la proyección
dejando otras vacías.

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