ESPECTROSCOPIA DE RAYOS X

Absorción de RX: la intensidad o potencia de la

radiación X disminuye a medida que pasan a través de
un material como consecuencia de la absorción y la
dispersión; las discontinuidades en las absorciones
aparecen cuando la radiación X posee suficiente
energía para extraer electrones. Como consecuencia el
espectro de absorción de un elemento es sencillo y
consiste en unos pocos picos de absorción bien
definidos y las longitudes de onda de los picos son
características del elemento y son independientes en
gran parte de su estado químico. La dispersión para
todos los elementos excepto los más ligeros es
normalmente pequeño, y se puede despreciar en
aquellas regiones de longitud de onda donde tiene lugar
una absorción apreciable.
ESPECTROSCOPIA DE RAYOS X

Emisión de RX (XES): Los rayos X se producen cuando

un haz de electrones muy energéticos (del orden de 1
keV) se desaceleran al chocar con un material blanco
(metal, cristal, etc.), una carga acelerada emite
radiación electromagnética, de este modo, el choque
produce un espectro continuo de rayos X además, los
átomos del material blanco emiten también rayos X
monocromáticos, lo que se conoce como línea de
emisión característica del material.
El haz electrónico primario induce la salida de electrones
de los niveles electrónicos internos, emitiendo radiación
X secundaria en la medida que los electrones de niveles
más externos caen en los niveles internos vacantes.
ESPECTROSCOPIA DE RAYOS X
Fluorescencia de RX (EFX): La fluorescencia es el
fenómeno por el cual una sustancia es capaz de
absorber energía en forma de radiaciones
electromagnéticas y luego emitir parte de esa energía
en forma de radiación electromagnética de longitud de
onda diferente.
La radiación primaria promueve la salida de electrones
atómicos desde los niveles electrónicos internos; a
medida que los electrones de niveles mas externos caen
a los niveles internos vacantes se emite radiación X
secundaria, que es característica para cada material. La
Florescencia de RX es utilizada para análisis elemental
conjunto de casi cualquier material, particularmente en
la investigación de metales, vidrios, cerámicos, ciencia
forense y arqueología.
ESPECTROSCOPIA DE RAYOS X

Difracción de RX: los rayos X sufren difracción en los

diferentes planos de un cristal, cuando los rayos X son
dispersados por el entorno ordenado de un cristal, tienen
lugar interferencias (tanto constructivas como
destructivas) entre los rayos dispersados, ya que las
distancias entre los centros de dispersión son del mismo
orden de magnitud que la longitud de onda de la
radiación. El resultado es la difracción. La difracción es,
por tanto, esencialmente un fenómeno de dispersión. Los
átomos dispersan la radiación incidente en todas
direcciones, y en algunas direcciones los rayos
dispersados estarán completamente en fase y por tanto
se refuerzan mutuamente para formar rayos difractados.
Es una técnica que permite caracterizar materiales
cristalinos desde un punto de vista estructural.
 DIFRACCIÓN DE BRAGG
Si tenemos un haz de rayos x incidiendo sobre un
cristal en forma especular, ocurrirá una dispersión de
estos rayos de tal forma que se cumpla la condición
de Bragg para la difracción. La diferencia de camino
recorrido entre los dos haces reflejados es de
2dseno(θ). Para tener interferencia constructiva,
debemos exigir que la diferencia de camino sea igual
a un número entero de veces la longitud de onda de
haz (nλ). Así, obtenemos la condición para la
difracción de Bragg.

Los diagramas de dispersión reflejan la

intensidad relativa de los rayos X dispersados por
los átomos de un material
ESPECTROSCOPIA DE RAYOS X
Espectroscopía electrónica para el análisis químico (ESCA): Un
átomo o molécula, cuando es sometido a bombardeo con un haz
de rayos X de alta energía, produce una emisión de electrones a
partir de los niveles internos de los átomos de la muestra. Todos
aquellos electrones cuyas energías de enlace sean inferiores a la
energía contenida en los rayos X de excitación serán desalojados de
la muestra. Se determina la energía de los electrones emitidos y las
energías de enlace definen sin ambigüedad a cada átomo
específico. Análisis elemental.

Espectroscopía de emisión Auger (AES): la excitación con un

haz de electrones primarios induce la salida de electrones
atómicos desde niveles electrónicos internos; cuando los
electrones caen en los niveles internos vacantes, por un proceso no
radiatorio, el exceso de energía de transfiere a electrones de niveles
mas externos, expulsándolos (electrones Auger). Es muy utilizada
como Análisis cuantitativo de la composición de regiones de la
superficie, mediante comparación con muestras estándar de
composición conocida.
ESPECTROSCOPIA DE RAYOS X
FLUORESCENCIA DE RAYOS X:
- Fenómeno atómico: Reemisión de rayos X de los átomos excitados,
- Análisis Elemental para Z (número atómico) > 5 (cualitativo) y Z > 13 (cuantitativo),
- Muestra: 500 mg (no destructivo),
- Limitaciones del método: Z < 5, precisión limitadas muestras heterogéneas,
- Limitaciones para la muestra: Aplicable a sólidos y líquidos no volátiles.

DIFRACCIÓN DE RAYOS X:
- Fenómeno molecular: Difracción de rayos X por los planos de cristal,
- Permite investigar con alta especificidad sólidos cristalinos; distingue isómeros y
estructuras hidratadas; específico por compuesto, puede cuantificar mezclas,
- Muestra: 0.1 mg (no destructivo)
- Limitaciones del método: La detección y la sensibilidad son dependientes de la pureza,
cristalinidad y tamaño de los cristales,
- Limitaciones para la muestra: Aplicable a sólidos y polímeros cristalinos.
INSTRUMENTAL
Fuente
Selectores de longitud de onda: Filtros y Monocromadores,
Soporte para la muestra
Detector de radiación
Procesador de la señal
Dispositivo de lectura
INSTRUMENTAL: Fuente

Cátodo: filamento de Tungsteno (W). Se

aplica un voltaje para producir la emisión
de electrones.
Ánodo: Cu, Co, Ag, Mo, Cr, Rh y W. Se
aplica una diferencia de potencial
ánodo-cátodo para que los electrones
sean atraídos.
Los "rayos X característicos" se generan de acuerdo con el siguiente esquema

a) Estado energético de los electrones en un átomo del ánodo que va a ser alcanzado por un electrón del
filamento.
b) Estado energético de los mismos electrones después del impacto con un electrón del filamento. El
electrón incidente rebota, pero consigue expulsar a un electrón del ánodo, dejando el hueco
correspondiente.
c) Un electrón de un nivel energético superior cae y ocupa el hueco. Este salto energético, perfectamente
definido, genera los llamados rayos X característicos del material anódico.
Producción de la denominada radiación de frenado
(brehmstrahlung). Cuando un electrón de alta energía
pasa cerca del núcleo se desvía debido a la interacción
electromagnética. Como consecuencia de este proceso
de desvío, el electrón pierde energía en forma de un
fotón X, cuya energía (longitud de onda) puede tomar
cualquier valor (hasta el valor que llevaba el electrón
incidente – radiación continua).

Producción de rayos X característicos de un metal. Un

electrón de alta energía puede producir la salida de un
electrón cercano al núcleo. La vacante así producida se
rellena por el salto de otro electrón de una capa
superior, con mayor energía. Esa diferencia de energía
entre niveles (característica del átomo) se transforma en
radiación X característica, con una longitud de onda
(energía) determinada.
INSTRUMENTAL
Filtros: se utilizan para crear un haz de RX
monocromático o de longitudes de ondas restringido.
Por ejemplo con un filtro de zirconio de
aproximadamente 0.01 cm de grosor se elimina la
línea Kβ y la mayoría de la radiación continua de la
emisión de un blanco de molibdeno.

Tubo y Filtro para un mamógrafo

INSTRUMENTAL
Monocromadores: El monocromador consiste en un par de
colimadores y en un elemento dispersante. Los colimadores
normalmente consisten en una serie de placas o tubos de
metal poco espaciados que absorben todos los haces de
radiación excepto los paralelos. Por otra parte, el elemento
dispersante es un cristal simple montado sobre un
goniómetro o sobre una placa rotatoria que permite la
variación y determinación precisa del ángulo θ entre la cara
del cristal y el haz incidente colimado. pueden ser del tipo
prisma (refracción) o una red de difracción (difracción) .
INSTRUMENTAL: Detectores de rayos X
Detectores de gas: (proporcionales o Geiger) es un cilindro metálico lleno con un gas que contiene
un fino alambre metálico (ánodo) a lo largo de su eje, los r-x que entran en el cilindro son absorbida
por el gas y esta absorción va acompañada por la ionización del gas produciéndose electrones que
se mueven por la acción del campo eléctrico hacia el ánodo mientras que los iones positivos se
mueven hacia el cátodo obteniéndose una pequeña corriente eléctrica.
Detectores de centelleo: En este tipo de detector la radiación x se hace incidir sobre un material
fluorescente (INa/ITl 2%). El flash de luz producida pasa a un fotomultiplicador donde arranca un
número de electrones obteniéndose al final un pulso del orden de voltios.
Detectores semiconductores: Se utilizan tanto de silicio dopados con litio Si(Li), o detectores de
germanio dopados con litio Ge(Li). Los RX causan una excitación originando electrones libres en la
banda de conducción y huecos en la banda de valencia, manteniendo un elevado voltaje entre las
caras opuestas del cristal se crea un pequeño pulso en un circuito externo que es amplificado hasta el
orden de milivoltios.
Detector PSD: Este tipo de detector permite determinar la intensidad de varias líneas de difracción
de manera simultánea. Es especialmente útil en medidas a T variable en las que es necesario obtener
el difractograma en el menor tiempo posible.
Ventanas y monocromadores secundarios:
Con objeto de obtener una buena resolución al mismo tiempo que una buena intensidad en un
difractómetro convencional se utilizan los siguientes dispositivos.
Ventana de divergencia: se coloca en el camino del haz incidente, antes de la muestra. Limitan la
divergencia del haz incidente y por tanto el área “iluminada” en la muestra. Su principal función es
disminuir el background aunque a costa de disminuir la intensidad de los haces difractados.
Ventana de dispersión: se coloca inmediatamente después de la muestra
Ventana del detector: se coloca antes del detector. Cuanto menor es su abertura mayor es la
resolución obtenida pero menor la intensidad obtenida.
Ventanas Soller: consisten en un conjunto de finas placas metálicas paralelas al círculo del
difractómetro. Estas placas eliminan una gran proporción de rayos inclinados respecto al plano del
círculo del difractómetro.
Monocromador secundario: el más utilizado es de grafito. Consisten en un cristal orientado de
manera que la difracción se produce únicamente para una λ determinada. Debe ser
mecánicamente resistente, la intensidad difractada debe ser elevada para reducir la pérdida en lo
posible, el carácter de mosaico debe ser pequeño para reducir la divergencia. La superficie se
curva para enfocar el haz difractado en un área pequeña. El efecto sobre el difractograma es
disminuir el background, elimina la señal debida a la Kβ y disminuye la anchura de los picos.
MICROSCOPÍA DE BARRIDO ELECTRÓNICO (MEB-SEM)
MICROSCOPÍA DE BARRIDO ELECTRÓNICO (MEB-SEM)

Ojo Humano: (resolución) 0,2 mm

Resol.: MO: 0.2μm(1000x) / ME: 0.2ηm(1.000.000x)
Haz de Luz (vis) / Haz de electrones
Lentes: vidrio / electromagnéticas
Enfoque (Prof. Campo): 15 μm / 4 mm ME: 1.000.000x / MT: 3-5.000.000x
Medio: Atmosfera / Vacío Haz electrones: ~30 kV / ~120 kV
Cualquier muestra / Solo muestras conductoras Lentes electromagnéticas: 2 / 4
MICROSCOPÍA DE BARRIDO ELECTRÓNICO (MEB-SEM)

El haz la superficie de la muestra se generan

principalmente las siguientes partículas:
Electrones retrodispersados (BSE), ~ 180º
Electrones secundarios (SE), ~ 35º
Radiación electromagnética (RX)
MICROSCOPÍA DE BARRIDO ELECTRÓNICO (MEB-SEM)
MICROSCOPÍA DE BARRIDO ELECTRÓNICO (MEB-SEM)
Los detectores más habituales son los siguientes:
Detector de electrones secundarios (SE): capta la energía proveniente de los electrones secundarios generados en
el material por la interacción del haz de electrones. Aportan la información de la textura/topografía más superficial
al provenir de la capa más externa.
Detector de electrones retrodispersados (BSE): capta la energía proveniente de los electrones retrodispersados.
Posee menos resolución de la superficie pero es sensible a las variaciones en el número atómico de los elementos
de la superficie, y por tanto en la composición. Observaremos distinto tono de gris según el peso atómico (más
claro si el elemento es más pesado ya que emite más energía y ‘brilla’ más).
Detector de Rayos X (EDX, EDS o EDAX): este detector capta la energía proveniente de los rayos X generados en la
superficie y son característicos de cada elemento de la muestra por lo que nos aportan información sobre la
composición elemental. A diferencia de los BSE, nos aportan información de más volumen de la muestra. nos
permite conocer de forma semicuantitativa la composición de la superficie de nuestra muestra. Los EDX pueden
aplicarse en un punto en concreto de la superficie de la muestra o en un área. Cuando el análisis se aplica en un
área, cabe la posibilidad de obtener un mapa con los diferentes elementos que posee el área seleccionada de la
muestra, siendo representado cada elemento con un color diferente. Lo podéis ver en la imagen de uno de
nuestros Proyectos más abajo.

Detector de Rayos X (WDS): similar al EDX, pero en lugar de recibir la energía de todos los rayos X a la vez,
únicamente mide la señal que genera un solo elemento. Se trata de una técnica más lenta pero más sensible y
precisa.
Detector de electrones retrodispersados difractados (BSED): este detector recibe la energía de los electrones
difractados por la superficie que cumplen la ley de Bragg y aportan información de la estructura cristalina de la
muestra.
MICROSCOPÍA DE BARRIDO ELECTRÓNICO (SEM) con
DETECTOR DE ENERGIA DISPERSIVA DE RX (EDS)
Características de un SEM-EDS para aplicaciones Forenses (GSR)
- El análisis de restos de disparo de armas de fuego o por sus siglas en inglés GSR (GunShot Residue)
se determina inequívocamente por la presencia de Plomo (Pb), Bario (Ba) y Antimonio (Sb),
elementos provenientes del fulminante presente en un proyectil, el SEM-EDS permite la
determinación de la correlación entre la morfología y la composición química de las partículas
individuales.
- En términos generales los equipos que cumplen con la aplicación forense de Detección y Análisis
de residuos de disparo de armas de fuego (GSR) también cumplen con las características
necesarias para otras aplicaciones en el campo forense.
- En la República Argentina y por acuerdo del Sistema Nacional de Microscopía (SNM) celebrado
en Salta en noviembre de 2013, el hallazgo de al menos una (1) partícula que contenga los tres
elementos citados (Pb, Ba y Sb) y morfología característica hace que el análisis se considere
positivo.
MICROSCOPÍA DE BARRIDO ELECTRÓNICO (SEM)
con DETECTOR DE ENERGIA DISPERSIVA DE RX (EDS)
MICROSCOPÍA DE BARRIDO ELECTRÓNICO (SEM)
con DETECTOR DE ENERGIA DISPERSIVA DE RX (EDS)

- Se acordó que el análisis puede ser manual o automatizado, que el tipo de dispositivo estándar
para toma de muestras será como máximo de 1.27 cm de diámetro (Stub), que la resolución del
SEM debe ser al menos 0.5 µm (500 nm), que el voltaje de adquisición de espectros debe ser de 20
kV, que las partículas “características” deben contener Plomo, Bario y Antimonio (Pb-Ba-Sb), que las
partículas “consistentes” pueden ser de Pb-Ba, Sb-Ba, Pb-Sb,

- Para otros tipos de fulminantes (libres de plomo) las partículas características pueden contener al
menos tres de los siguientes elementos: Galodinio (Gd), Titanio (Ti), Cinc (Zn), Galio (Ga), Cobre (Cu)
y Estaño (Sn), y las consistentes dos de los elementos citados y además: Aluminio (Al), Silicio (Si),
Estroncio (Sr). La recopilación de datos sugerida es de 3000 cuentas por segundo y que la
documentación a resguardar serán:
- Imágenes de las partículas que muestran su morfología característica (con la mayor resolución
posible).
- Espectros de rayos X con todos los elementos presentes de la partícula.
MICROSCOPÍA DE BARRIDO ELECTRÓNICO (SEM)
con DETECTOR DE ENERGIA DISPERSIVA DE RX (EDS)
MICROSCOPÍA DE BARRIDO ELECTRÓNICO (SEM)
con DETECTOR DE ENERGIA DISPERSIVA DE RX (EDS)
 (1) – El Rango de voltaje de aceleración dependerá
del tipo de muestra que se desee analizar: Los
electrones acelerados por un bajo voltaje se utilizan
QUANTA ZEISS EVO ZEISS EVO VEGA3 XMU PHENOM JEOL JSM-
para muestras muy sensibles, como podrían ser las
450 ESEM 15 25 GSR IT500
muestras biológicas sin preparación adicional o
Rango de voltaje de de 0.2 a 40 De 0.2 a 30 De 0.2 a 30 De 0.2 a 30 De 4.8 a De 0.3 kV a
aceleración electrónica kV kV kV kV 20kV 30kV
muestras muy aislantes. Los voltajes elevados se
(1) utilizan para muestras metálicas, ya que éstas en
general no sufren daños como las biológicas y de
NORMA ASTM E1588 cumple cumple cumple cumple cumple cumple
(2)
esta manera se aprovecha la menor longitud de
onda para tener una mejor resolución. Como se
mencionó anteriormente el voltaje usado para el
análisis de GSR es de 20 kV.

(2) – Sobre la Norma ASTM E1588 (Gunshot Residue Analysis by Scanning Electron Microscopy/Energy Dispersive X-Ray
Spectrometry):
1.1 Esta práctica cubre el análisis de residuos de disparo (GSR) mediante microscopía electrónica de barrido / espectrometría de
rayos X de energía dispersiva (SEM / EDS) utilizando métodos manuales y automáticos. El análisis se puede realizar manualmente,
con el operador manipulando los controles del microscopio y el software del sistema EDS, o de manera automatizada, donde
parte del análisis se controla mediante funciones de software preestablecidas. Esta práctica se refiere al análisis de fragmentos de
microscopía electrónica y no aborda la recolección de muestras.
1.2 Dado que los formatos de software y hardware varían entre los sistemas comerciales, las pautas se ofrecerán en los términos
más generales posibles. Para obtener la terminología y el funcionamiento adecuados deben consultarse los manuales del sistema
SEM / EDS para cada instrumento.
1.3 Los valores indicados en unidades SI deben considerarse estándar. No se incluyen otras unidades de medida en esta norma.
1.4 Esta práctica ofrece un conjunto de instrucciones para realizar una o más operaciones específicas. Esta práctica no puede
reemplazar el conocimiento, la habilidad o la habilidad adquirida a través de la educación, la capacitación y la experiencia
apropiadas, y debe usarse junto con un juicio profesional sólido.
1.5 Esta práctica no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Al aplicar esta práctica,
es responsabilidad del usuario establecer prácticas de seguridad y salud adecuadas y determinar la aplicabilidad de las
limitaciones reglamentarias o convenciones establecidas antes de su uso.
 QUANTA
450 ESEM
ZEISS EVO
15
ZEISS EVO
25
VEGA3
XMU
PHENOM
GSR
JEOL
IT500
JSM-
(4) – Sistema de vacío: para tener una referencia en
Sistema de vacío con cumple cumple cumple cumple cumple cumple cuanto a los valores comparativos de esta fila la presión
Presión variable (3) ambiente es de aproximadamente de 1 at = 98 066,5
Sistema de Vacío (4) Variable de Variable de Variable de Variable de N/D Variable de Pa.
2600 Pa a
0.0006 Pa
400 Pa a alto
vacío (N/D)
400 Pa a
alto vacío
500 Pa a
0.009 Pa
650 Pa a 0.005
Pa
Los microscopios deben trabajar en vacío para que no
(N/D) interfieran las partículas o moléculas presentes en el aire
Área del Detector del 30 mm2 del 50 mm2 del 100 mm2, 20 mm2 del 25 mm2 del 50 mm2 del las cuales se ionizarían y dificultarían las lecturas, como
EDS (5) tipo SDD tipo SDD (incluye dos tipo SDD tipo SDD tipo SDD regla a mayor voltaje de aceleración se requerirá
detectores
mayor vacío.
SDD)
Portamuestras: (6) 20 muestras 9 o 36 9 o 36 24 muestras 36 muestras 25 muestras (5) - El Área del Detector del EDS: Cuanto más grande el
cantidad y diámetro muestras de muestras de de 12 mm de de 12mm de de 12.3 mm de área de la detección, mayor es la sensibilidad de la
12,5 mm de 12 mm de 12 mm de diametro diámetro diámetro detección y se reduce el tiempo de análisis.
diámetro diámetro diámetro
(6) – Portamuestras: a mayor número de muestras para
el análisis automatizado permite una mayor adquisición
(3) – Sobre el sistema de vacío con Presión variable de datos.
Pese a su gran potencial, la técnica SEM cuenta con algunas
limitaciones:
– El ensayo debe realizarse en condiciones de vacío (alto vacío) lo
que impide ensayar muestras que no sean estables a baja presión.
– No pueden ensayarse muestras húmedas, contaminadas o que
puedan desprender gases bajo presión.
– Las muestras no metálicas deben grafitarse o metalizarse (Au, Pt,
etc.) antes el ensayo.
En el caso de GSR se utiliza alto vacío y todos los MEB, cumplen con
esta condición, para otro tipo de prácticas o pericias, sobre todo
aquellas que contengan aire o agua (mayormente muestras de
origen biológico) en su estructura la muestra deberá grafitarse o
metalizarse para transformarla en conductora y el microscopio la
pueda “ver” y trabajar a bajo o mínimo vacío para evitar la
deformación o implosión de la misma.
TOMA DE MUESTRAS PARA GSR CON ADHESIVO DE CARBONO (STUB´S)
 QUANTA ZEISS EVO ZEISS EVO VEGA3 PHENOM JEOL JSM- (7) – Filamento: existen distintos filamentos para
Filamento emisor de
450 ESEM
Tungsteno
15
Tugnsteno
25
Tugnsteno
XMU
Tungsteno
GSR
CeB6
IT500
Tugnsteno
producir haz el barrido de electrones (los mismos de
electrones (7) (W) (W) o LaB6 (W) o LaB6 (W) (W) o LaB6 denominan “consumibles) y deben ser cambiados
Análisis Cuantitativo Posee, sin Posee, Posee, Posee, sin Posee, sin Posee, sistema periódicamente por su desgaste).
(8)
necesidad de sistema sistema necesidad de necesidad de integral Filamento de tungsteno: el más económico, pero
estándares integral integral estándares de estándares
también el que produce un haz de mayor tamaño.
de referencia referencia de referencia
Resolución (9) 3 nm 3 nm 2 nm 3 nm 20nm 2.5 nm Corta duración (120hs aproximadamente).
Tamaño de entrada 284 mm de 250 mm de 300 mm de 275 mm de 100 mm de 300 mm de Filamento de hexaboruro de lantano: mayor
para muestras (10) diametro diámetro y diámetro y diámetro y diámetro y diametro y 90 duración (1800-2400hs aproximadamente) y haz
145 mm de 210 mm de 320 mm de 100 mm de mm de altura
más fino. También es más caro y precisa un vacío
altura altura altura altura
Peso máximo de 2 kg 6 kg 6 kg 8 kg N/D 6 kg mayor.
muestra (11) Filamento de hexaboruro de cerio: mayor duración
(8000-9000hs aproximadamente). Similar al de
hexaboruro de lantano.

(8) – Análisis Cuantitativo: todos los microscopios poseen la posibilidad de análisis cuantitativo con estándares de referencia
interna
(9) – Resolución: a mayor resolución se obtendrán imágenes de mejor calidad de la muestra estudiada. La misma depende
del tipo de muestra y del voltaje utilizado.
(10) – Tamaño de entrada para muestras: Cuanto mayor es el tamaño de entrada de la puerta donde se introducen las
muestras, se podrán colocar objetos de mayor tamaño (armas, prendas, trozos de mampostería, etc.)
(11) Peso máximo de muestra: es importante la resistencia de la platina en el caso de tener que analizar muestras de gran
peso.
 QUANTA ZEISS EVO ZEISS EVO VEGA3 PHENOM JEOL JSM-
450 ESEM 15 25 XMU GSR IT500 (11) Peso máximo de muestra: es importante la
Visualización de la Posee una Cámara Cámara Cámara CCD Cámara Cámara CCD resistencia de la platina en el caso de tener que
cámara de muestras Cámara de CCD con CCD con CCD video color
analizar muestras de gran peso.
TV vista frontal vista frontal
infrarrojo y superior y superior (12) – Magnificación: medida del detalle máximo
Magnificación (12) De 3X a De 5X a De 5X a De 3X a De 80X a De 5X a que se puede observar en una muestra. La misma
1.000.000X 1.000.000X 1.000.000X 1.000.000X 100.000X 300.000X depende del tipo de muestra y del voltaje utilizado.
Peso
Alimentación eléctrica
760 Kg
220V,
470 kg
220V,
520 kg
220V,
450 kg
230V 110 – 240V
500 kg
220V, menor
(13) - Resolución digital: es la resolución con la cual
menor 10A menor 10 A menor 10 A 10 A se guardarán las imágenes obtenidas.
Resolución digital (13) 6.144 x 32.000 x 32.000 x 2.048 x 2.048 16.384 x 5.120 x 3.840
4.096 24.000 24.000 pixeles 16.384 pixeles
pixeles pixeles pixeles pixeles

- Metalizador/grafitador.
- Estándar sintético de GSR (utilizado para calibrar el MEB
periódicamente estableciendo la posición y el tamaño de las
partículas del estándar).
- Juegos de estándar para certificar la Norma ASTM E 1588
- 1500 stub para práctica en el levantamiento de muestras para GSR.
- Garantía: 2 años, con mantenimiento preventivo gratuito. (Servicio
Técnico Local)
OTRAS APLICACIONES FORENSES DE UN SEM-EDS
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