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    Microscopia Electronica Meb+Principios

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    Ruiz Ramírez Juan Antonio
    La microscopía electrónica de barrido (MEB) permite determinar las características microestructurales de una muestra mediante el uso de electrones acelerados. El MEB produce imágenes de alta resolución de la superficie de una muestra utilizando electrones secundarios y retrodispersados, y puede realizar un microanálisis químico mediante espectrometría de energía de rayos X.

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    La microscopía electrónica de barrido (MEB) permite determinar las características microestructurales de una muestra mediante el uso de electrones acelerados. El MEB produce imágenes de alta resolución de la superficie de una muestra utilizando electrones secundarios y retrodispersados, y puede realizar un microanálisis químico mediante espectrometría de energía de rayos X.

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    La microscopía electrónica de barrido (MEB) permite determinar las características microestructurales de una muestra mediante el uso de electrones acelerados. El MEB produce imágenes de alta resolución de la superficie de una muestra utilizando electrones secundarios y retrodispersados, y puede realizar un microanálisis químico mediante espectrometría de energía de rayos X.

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    La microscopía electrónica de barrido (MEB) permite determinar las características microestructurales de una muestra mediante el uso de electrones acelerados. El MEB produce imágenes de alta resolución de la superficie de una muestra utilizando electrones secundarios y retrodispersados, y puede realizar un microanálisis químico mediante espectrometría de energía de rayos X.

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    MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE

    BARRIDO
    Microscopía Electrónica de Barrido (MEB)

    Es una técnica de caracterización muy versátil en


    diferentes áreas de la ciencia, que nos permite
    determinar las características
    microestructuralescomo: topografía, morfología y
    tamaño de partícula.
    GENERALIDADES

    • MICROSCOPIO ÓPTICO LA RESOLUCIÓN DEPENDE DE 


    CON QUE ILUMINA (800-200nm).
    • HAZ ELECTRONES ACELERADOS (0.004nm)
    • ALTO VACÍO
    • LA MUESTRA DEBE SER CONDUCTORA, LAS NO
    CONDUCTORAS CREAN CARGAS EN SUPERFICIE POR EL
    BARRIDO
    TIPOS DE MICROSCOPIOS

    • TRANSMISIÓN(TEM)
    • BARRIDO(SEM)
    • EMISIÓN DE IONES (FIM)
    • EFECTO TUNEL (STM)
    Microscopio electrónico de barrido (MEB, SEM)

    Imágenes Microanálisis

    De electrones secundarios
    (topográficas) WDX EDX

    De electrones retrodispersados De punto


    (de contraste)
    De área
    Mapeo
    Perfil de concentración
    Microscopio electrónico de barrido (MEB, SEM)

    Imágenes
    De electrones secundarios
    (topográficas)
    Microscopio electrónico de barrido (MEB, SEM)

    Imágenes

    De electrones retrodispersados
    (de contraste)
    ALEACIÓN PLATA-COBRE-NIQUEL
    Microscopio electrónico de barrido (MEB, SEM)

    Imágenes Microanálisis

    De electrones secundarios
    (topográficas) WDX EDX

    De electrones retrodispersados De punto


    (de contraste)
    De área
    Mapeo
    Perfil de concentración
    Microscopio electrónico de barrido (MEB, SEM)

    Microanálisis

    EDX

    De punto
    De área
    Microscopio electrónico de barrido (MEB, SEM)

    Microanálisis

    EDX

    Mapeo
    Microscopio electrónico de barrido (MEB, SEM)

    Microanálisis

    EDX

    Perfil de concentración
    MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE
    BARRIDO

    COLUMNA
    Filamento
    Bobinas o lentes electromagnéticos
    Bobina deflectora

    CÁMARA
    Detectores
    De electrones secunadarios
    De electrones retrodispersados
    De energía (de rayos x)

    Platina
    ELECTRONES RETRODISPERSADOS
    ELECTRONES
    RETRODISPERSADOS
    • Energía mayor de 50ev
    • Imagen de zonas con distinto Z (número atómico)
    • A mayor numero atómico, mayor intensidad. Este hecho permite
    distinguir fases de un material de diferente composición química.
    • Las zonas con menor z se verán mas oscuras que las zonas que tienen
    mayor número atómico.
    ELECTRONES SECUNDARIOS
    . LA SEÑAL DE SECUNDARIOS PROCEDE
    DE LA MISMA SUPERFICIE
    • Debido a la baja energía de los secundarios, en su viaje hacia el exterior
    de la muestra van perdiendo energía por diferentes interacciones, de
    forma que solo los que están muy próximos a la superficie tienen
    alguna probabilidad de escapar del material y llegar al detector.
    MICROANÁLISIS POR RAYOS X
    ACERO
    INOXIDABLE
    El detector de RX de dispersión de energías, recibe el
    espectro total emitido por todos los elementos de la
    muestra a la vez. Para cada fotón de rayos X incidente
    el detector genera un impulso eléctrico cuya altura
    será proporcional a la energía del fotón. Los distintos
    impulsos eléctricos generados son separados y
    almacenados en función de su valor con ayuda de un
    analizador de altura de impulsos multicanal.
    EL ESPECTRO DE RADIACIÓN X EMITIDO POR UN MINERAL
    EN EL PROCESO PUEDE SER UTILIZADO PARA HACER UN
    MICROANÁLISIS QUÍMICO SEMICUANTITATIVO MEDIANTE
    ESPECTROMETRÍA DE DISPERSIÓN DE LONGITUDES DE ON
    DA
    . LOS ELECTRONES INCIDENTES EXCITAN LOS ÁTOMOS DE
    LA MUESTRA Y PROVOCAN LA EMISIÓN DE RAYOS X CUYA
    LONGITUD DE ONDA () ES CARACTERÍSTICA DE LOS
    ELEMENTOS PRESENTES EN LA MUESTRA Y CUYA
    INTENSIDAD PARA UNA DETERMINADA LONGITUD DE ONDA
    ES PROPORCIONAL A LA CONCENTRACIÓN RELATIVA DEL
    ELEMENTO A ESA ().
    NORMALMENTE SE OBTIENE UN ANÁLISIS CUALITATIVO DE LOS
    CONSTITUYENTES MAYORITARIOS Y MINORITARIOS DE PEQUEÑAS
    ÁREAS (1mm). SIN EMBARGO, EN MUESTRAS PLANAS Y BIEN
    PULIDAS ES POSIBLE HACER ANÁLISIS CUANTITATIVOS AL
    COMPARAR LA INTENSIDAD DE LOS RAYOS X A CUALQUIER () CON
    LA PRODUCIDA EN UNA MUESTRA ESTÁNDAR (PATRÓN) DE
    COMPOSICIÓN CONOCIDA. LA PRECISIÓN DE UN ANÁLISIS
    CUANTITATIVO NORMALMENTE ES MAYOR DEL ± 2% Y LOS LÍMITES
    DE DETECCIÓN ESTÁN ALREDEDOR DE LAS 100 PPM EN ANÁLISIS
    RUTINARIOS, LLEGANDO A SER DE 10 PPM EN CIRCUNSTANCIAS
    EXCEPCIONALES.
    PREPARACIÓN DE MUESTRAS
    • MUESTRA SECA, SÓLIDA Y CONDUCTORA C. ELÉCTRICA
    • LOS NO CONDUCTORES RECUBRIMIENTO CON ORO O CARBÓN

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