Microscopia Electronica Meb+Principios
Microscopia Electronica Meb+Principios
Microscopia Electronica Meb+Principios
BARRIDO
Microscopía Electrónica de Barrido (MEB)
• TRANSMISIÓN(TEM)
• BARRIDO(SEM)
• EMISIÓN DE IONES (FIM)
• EFECTO TUNEL (STM)
Microscopio electrónico de barrido (MEB, SEM)
Imágenes Microanálisis
De electrones secundarios
(topográficas) WDX EDX
Imágenes
De electrones secundarios
(topográficas)
Microscopio electrónico de barrido (MEB, SEM)
Imágenes
De electrones retrodispersados
(de contraste)
ALEACIÓN PLATA-COBRE-NIQUEL
Microscopio electrónico de barrido (MEB, SEM)
Imágenes Microanálisis
De electrones secundarios
(topográficas) WDX EDX
Microanálisis
EDX
De punto
De área
Microscopio electrónico de barrido (MEB, SEM)
Microanálisis
EDX
Mapeo
Microscopio electrónico de barrido (MEB, SEM)
Microanálisis
EDX
Perfil de concentración
MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE
BARRIDO
COLUMNA
Filamento
Bobinas o lentes electromagnéticos
Bobina deflectora
CÁMARA
Detectores
De electrones secunadarios
De electrones retrodispersados
De energía (de rayos x)
Platina
ELECTRONES RETRODISPERSADOS
ELECTRONES
RETRODISPERSADOS
• Energía mayor de 50ev
• Imagen de zonas con distinto Z (número atómico)
• A mayor numero atómico, mayor intensidad. Este hecho permite
distinguir fases de un material de diferente composición química.
• Las zonas con menor z se verán mas oscuras que las zonas que tienen
mayor número atómico.
ELECTRONES SECUNDARIOS
. LA SEÑAL DE SECUNDARIOS PROCEDE
DE LA MISMA SUPERFICIE
• Debido a la baja energía de los secundarios, en su viaje hacia el exterior
de la muestra van perdiendo energía por diferentes interacciones, de
forma que solo los que están muy próximos a la superficie tienen
alguna probabilidad de escapar del material y llegar al detector.
MICROANÁLISIS POR RAYOS X
ACERO
INOXIDABLE
El detector de RX de dispersión de energías, recibe el
espectro total emitido por todos los elementos de la
muestra a la vez. Para cada fotón de rayos X incidente
el detector genera un impulso eléctrico cuya altura
será proporcional a la energía del fotón. Los distintos
impulsos eléctricos generados son separados y
almacenados en función de su valor con ayuda de un
analizador de altura de impulsos multicanal.
EL ESPECTRO DE RADIACIÓN X EMITIDO POR UN MINERAL
EN EL PROCESO PUEDE SER UTILIZADO PARA HACER UN
MICROANÁLISIS QUÍMICO SEMICUANTITATIVO MEDIANTE
ESPECTROMETRÍA DE DISPERSIÓN DE LONGITUDES DE ON
DA
. LOS ELECTRONES INCIDENTES EXCITAN LOS ÁTOMOS DE
LA MUESTRA Y PROVOCAN LA EMISIÓN DE RAYOS X CUYA
LONGITUD DE ONDA () ES CARACTERÍSTICA DE LOS
ELEMENTOS PRESENTES EN LA MUESTRA Y CUYA
INTENSIDAD PARA UNA DETERMINADA LONGITUD DE ONDA
ES PROPORCIONAL A LA CONCENTRACIÓN RELATIVA DEL
ELEMENTO A ESA ().
NORMALMENTE SE OBTIENE UN ANÁLISIS CUALITATIVO DE LOS
CONSTITUYENTES MAYORITARIOS Y MINORITARIOS DE PEQUEÑAS
ÁREAS (1mm). SIN EMBARGO, EN MUESTRAS PLANAS Y BIEN
PULIDAS ES POSIBLE HACER ANÁLISIS CUANTITATIVOS AL
COMPARAR LA INTENSIDAD DE LOS RAYOS X A CUALQUIER () CON
LA PRODUCIDA EN UNA MUESTRA ESTÁNDAR (PATRÓN) DE
COMPOSICIÓN CONOCIDA. LA PRECISIÓN DE UN ANÁLISIS
CUANTITATIVO NORMALMENTE ES MAYOR DEL ± 2% Y LOS LÍMITES
DE DETECCIÓN ESTÁN ALREDEDOR DE LAS 100 PPM EN ANÁLISIS
RUTINARIOS, LLEGANDO A SER DE 10 PPM EN CIRCUNSTANCIAS
EXCEPCIONALES.
PREPARACIÓN DE MUESTRAS
• MUESTRA SECA, SÓLIDA Y CONDUCTORA C. ELÉCTRICA
• LOS NO CONDUCTORES RECUBRIMIENTO CON ORO O CARBÓN