A12-CEC-Análisis de Defectos - Vanessa Caicedo
A12-CEC-Análisis de Defectos - Vanessa Caicedo
A12-CEC-Análisis de Defectos - Vanessa Caicedo
Análisis c: Excel
16
14
12
10
0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30
Observaciones
21.875
22
Análisis de defectos: Carta u
Inspección de ensambles de componentes electrónicos
Análisis u: Excel
2.50
2.00
1.50
1.00
0.50
0.00
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24
Se encontro el patron 1 de datos con cambios en el nivel de proceso, se debe a: Introducción de un nuevo
elemento de las 6Ms.Cambios en los métodos de inspección.Mayor o menor supervisión de operadores.Procesos
que han mejorado/empeorado desempeño
Análisis u: IBM-SPSS
Observaciones
No se en
Análisis de defectos: Carta u
Testeo de trabajo estandarizado en las últimas dos semanas laborales
3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14
Observaciones
146.3333
147
Análisis de defectos: Carta c
Quejas de clientes en las últimas 15 semanas
Análisis c: Excel
0.18
0.16
0.14
0.12
0.10
0.08
0.06
0.04
0.02
0.00
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15
Se encontro el patron 1 de datos con cambios en el proceso y se debe a: Introducción de un nuevo elemento de
las 6Ms. Cambios en los métodos de inspección. Mayor o menor supervisión de operadores.Procesos que han
mejorado/empeorado desempeño
Análisis c: IBM-SPSS
Observaciones