Un nuevo método para la calibración en sitio

de Transformadores de Potencial

Florian Predl, Dr. Michael Krüger, OMICRON, Austria

Presentador: Francisco Enriquez, OMICRON Energy Solutions de Mexico S.A. de C.V.

Abstracto - Los transformadores de potencial (TP) se utilizan transformadores de tensión con condensador de
en las redes eléctricas con fines de medida y/o de protección. acoplamiento (CCVT, por sus siglas en inglés)
Los estrictos requisitos en cuanto a su precisión exigen la Las normas anteriores exigen una determinada cantidad de
calibración de los equipos antes de su instalación. Las clases puntos de funcionamiento en los que el transformador de
de precisión de los TP son diferentes para los trasformadores tensión tiene que cumplir los requisitos de exactitud
de protección y los de medida y se clasifican en función del especificados.
error máximo de relación y de ángulo de fase entre los
Para la medición de devanados se especifica el error de
vectores de la tensión primaria y la tensión secundaria con
relación de tensión y el desplazamiento de fase entre el 80%
respecto al lado primario.
y el 120% de la tensión nominal primaria y del 25% al 100%
de la carga nominal secundaria. Además, para las clases 0.1
Esta calibración se realiza en los laboratorios de los y 0.2 con una carga nominal de 10 VA o menos, se definen
fabricantes, las compañías eléctricas o los institutos de el error de relación de corriente y los desplazamientos de fase
pruebas. Una vez calibrado, el TP normalmente funciona sin incluso para 0 VA, lo que representa un circuito abierto.
más recalibración durante su vida útil. En algunos casos, por Para los devanados de protección se especifica el error de
ejemplo, durante una reforma de la subestación, se vuelve a relación de tensión y el desplazamiento de fase del 2% al
confirmar la exactitud del TP con una prueba de laboratorio 100%*Fv de la tensión nominal primaria, donde Fv es el
o numerosas mediciones in situ. La exactitud del TP depende factor de tensión nominal y se puede especificar hasta en 1,9
de la inductancia de fuga, la resistencia del devanado, la veces la tensión nominal primaria.
relación de transformación y la corriente de excitación a la
El rango de carga se especifica del 25% al 100% de la carga
frecuencia de alimentación. La deformación del núcleo y del
nominal.
devanado como resultado de influencias externas y del
envejecimiento en general, por ejemplo, pueden provocar un Además los transformadores de tensión con más de un
cambio del error del TP. Además, puede ser interesante para devanado secundario tienen que cumplir la especificación de
obtener las características de excitación del TP en clase, mientras que los demás devanados tienen que ser
mediciones de laboratorio para el análisis de tratados tanto como circuito abierto (0 VA), como con una
ferrorresonancia o programas de simulación. carga nominal del 100% teniendo en cuenta la carga
simultánea total definida.
1. Requisitos de exactitud para transformadores de
potencial. 2. Pruebas de los TP sobre el terreno

Normas internacionales que especifican la definición En este contexto, es muy útil contar con la oportunidad de
exactitud y su limitación para transformadores de tensión obtener información acerca de las mediciones en laboratorio
convencionales, como de la clase de exactitud.
- IEC 60044-2 para transformadores de tensión inductivos Hasta ahora, las pruebas de exactitud de los TP eran una tarea
- IEC 60044-5 para transformadores de tensión de mucha envergadura. Las soluciones de medidas de alta
capacitivos exactitud son sistemas complejos que constan de diversos
- IEC 61869-3 requisitos adicionales para dispositivos calibrados y extremadamente exactos. Esto
transformadores de tensión inductivos (versión incluye una fuente de alta tensión, un transformador de
reelaborada de la norma IEC 60044-2) referencia, un conjunto de cargas estándar, puentes de
- IEC 61869-5 requisitos adicionales para medición para comparación y una computadora para evaluar
transformadores de tensión capacitivos (versión todos los datos medidos. El tiempo y los costos que implican
reelaborada de la norma IEC 60044-5) son enormes, tanto para las pruebas in situ como durante la
- IEEE C57.13 requisitos estándar para transformadores fabricación.
de medida Las soluciones de prueba más pequeñas normalmente
- ANSI C93.1 requisitos para condensadores de carecen de la exactitud necesaria o son incapaces de tener en
acoplamiento de portadora de línea eléctrica y cuenta todas las diferentes cargas.
3. Método de modelado Uc tensión del núcleo (EMF - fuerza electromotriz)
Us1 tensión secundaria en el devanado 1a-1n
El nuevo dispositivo de prueba VOTANO 100 de
OMICRON utiliza el método de modelado. Ip'' corriente primaria en referencia al devanado
secundario 1a-1n
Iexc corriente de excitación
Ib1 corriente de carga en el devanado 1a-1n
Ib2'' – Ib5'' corriente de carga en el devanado xa-xn en
referencia al devanado 1a-1n
Rp'' resistencia de devanado del devanado primario
en referencia al devanado secundario 1a-1n
Xp'' reactancia de fuga del devanado primario en
referencia al devanado secundario 1a-1n
Fig. 1 Fig. 1: VOTANO 100 – un pequeño y ligero (15 kg)
R1 resistencia del devanado del devanado
analizador de TPs
secundario 1a-1n
R2'' – R5'' resistencia de devanado del devanado xa-xn en
El concepto de modelado de un TP permite una visión referencia al devanado secundario (1a-1n)
detallada del diseño del transformador y de su
comportamiento físico. El método basado en el modelado X1 reactancia de fuga del devanado secundario 1a-
permite el cálculo de la clase de exactitud en general, 1n
mediante la aplicación inversa del Diagrama Möllinger- X2'' – X5'' reactancia de fuga del devanado xa-xn en
Gewecke. Para este método, es necesario conocer los referencia al devanado secundario 1a-1n
parámetros del circuito equivalente. Xm inductancia principal del núcleo
Los parámetros se determinan por mediciones eléctricas en Rm pérdidas magnéticas del núcleo
los lados de baja y de alta tensión del TP. El método utiliza
frecuencias bajas para la medición para permitir un bajo nivel
de potencia de prueba y bajas tensiones. La figura 3 muestra el diagrama de circuito equivalente de un
TP capacitivo con cinco devanados secundarios, donde el
Para que el método de modelado sea el adecuado hay que quinto devanado es un devanado de tensión residual (da-dn).
determinar las pérdidas totales del TP. Las pérdidas se El divisor capacitivo consiste en C1 y C2. Todas las tensiones
separan en e impedancias se refieren al devanado secundario 1a-1n.

- Reactancia de fuga primaria y secundaria (pérdidas de

dispersión secundaria)
- Resistencia del devanado primario y secundario
(pérdidas de dispersión primaria)
- Pérdidas de excitación (pérdidas en el núcleo de hierro)

La figura 2 muestra el diagrama de circuito equivalente de un

TP inductivo con cinco devanados secundarios, donde el
quinto devanado es un devanado de tensión residual (da-dn).
Todas las tensiones e impedancias se refieren al devanado
secundario 1a-1n.

Fig. 3 Diagrama de circuito equivalente de un TP capacitivo

Además del diagrama de circuito equivalente de un

transformador de tensión inductivo, el diagrama de circuito
equivalente de un TP capacitivo tiene los siguientes
parámetros adicionales

Xc1'' impedancia del condensador superior del divisor

capacitivo en referencia al devanado secundario
1a-1n
Xc2'' impedancia del condensador inferior del divisor
capacitivo en referencia al devanado secundario
1a-1n
Fig. 2 Diagrama de circuito equivalente de un TP inductivo
Xc'' impedancia de la reactancia de compensación en
referencia al devanado secundario 1a-1n
Up'' tensión primaria en referencia al devanado
secundario 1a-1n
3.1 Procedimiento de medición de VOTANO 100
Para la determinación de las pérdidas individuales hay que
realizar varias pruebas. Por lo tanto el procedimiento de
medición de VOTANO 100 es el siguiente:

1. Medición de impedancias en cortocircuito

2. Medición de las resistencias del devanado
secundario
3. Medición de la impedancia en cortocircuito
secundaria (en caso de más de un devanado
secundario)
4. Medición de la curva inicial de magnetización y
separación de pérdidas en el núcleo dependientes de
la frecuencia
5. Medición de la corrección de la relación de
transformación
Fig. 5 Configuración para la medición de la impedancia en
cortocircuito de los TP capacitivos
Todas estas pruebas se realizan en un ciclo de pruebas y
tardan menos de 20 minutos con VOTANO 100. Los valores 3.1.2 Medición de las resistencias del devanado
medidos se utilizan para determinar los elementos del modelo
de TP y calcular la exactitud del TP mediante funciones Esta medición se realiza utilizando una señal de corriente CC
matemáticas integradas. Los resultados de la prueba se que se inyecta en el devanado secundario, mientras que el
comparan automáticamente con la norma IEC o IEEE devanado primario permanece en circuito abierto. En los TP
seleccionada y se realiza la correspondiente evaluación de la capacitivos, la NHF (portadora) tiene que ser flotante, es
clase. decir, desconectada de tierra. De lo contrario, una posible
ondulación de la señal de CC se cortocircuitaría con tierra a
3.1.1 Medición de impedancias en cortocircuito través de C2.
Para la prueba de impedancia en cortocircuito, se Tan pronto como se satura el núcleo y se detectan señales
cortocircuita el devanado primario. En el devanado constantes, se puede obtener la resistencia del devanado. Esta
secundario se inyecta una señal de corriente CA y se registra medición se repite en cada devanado secundario del TP en
la caída de tensión resultante en los terminales. La medición prueba.
tiene que repetirse para cada devanado secundario. La La figura 6 muestra la configuración de la prueba en los TP
impedancia resultante (Zsc_x) es una combinación de pérdidas inductivos y los TP capacitivos.
de dispersión primarias y secundarias.

_ = + + +

Donde
x índice del devanado secundario donde se inyecta la señal
de corriente
La figura 4 muestra la configuración de la prueba en un TP
inductivo y la figura 5 indica la configuración de la prueba
en un TP capacitivo. En TP capacitivos la NHF (portadora) Fig. 6 Configuración para medición de la resistencia del
tiene que estar conectada a tierra. devanado TP inductivos y capacitivos.

3.1.3 Medición de la impedancia en corto circuito

secundario
Si el TP en prueba tiene más de un devanado secundario, se
lleva a cabo una prueba adicional de impedancia en
cortocircuito. Se inyecta una señal de corriente alterna en el
primer devanado secundario 1a-1n, mientras el segundo
devanado secundario 2a-2n está en cortocircuito. La
impedancia en cortocircuito obtenida consistirá en las
pérdidas de dispersión siguientes.

_ = + + + ′

Fig. 4 Configuración para la medición de la impedancia en La información de esta medición permite la separación entre
cortocircuito de los TP inductivos
la reactancia de fuga primaria y secundaria.
En la figura 7 se ilustra la configuración básica de prueba.
Para los TP capacitivos es importante levantar la NHF
(portadora) del suelo, de otro modo C2 causará una
impedancia adicional en paralelo en el primario.
Además, se conecta un segundo sensor de tensión
directamente en el puente de cortocircuito. El motivo de esto
es compensar posibles resistencias de contacto causadas por
las abrazaderas del puente de cortocircuito y también la
propia impedancia del puente de cortocircuito. Se espera que Fig. 8 Configuración para la medición de la curva inicial de
la impedancia en cortocircuito secundaria sea muy baja, por magnetización en TP inductivos y TP capacitivos
lo tanto una posible impedancia de contacto influiría
drásticamente en los resultados obtenidos de la prueba.
3.1.5. Medición de la corrección de la relación de
transformación
VOTANO 100 mide la corrección de la relación de
transformación para considerar una posible compensación de
la relación de transformación. La compensación de la
relación de transformación es una práctica común para
compensar el error de relación de tensión hacia un error de
relación más positivo. Usando este método se puede lograr
que el transformador de tensión se mantenga dentro de las
tolerancias definidas por su clase de exactitud.
Fig. 7 Configuración para la medición de la impedancia en
cortocircuito secundaria en TP inductivos y TP capacitivos
El procedimiento para la medición de la corrección de la
relación de transformación es ligeramente diferente entre los
3.1.4. Medición de la curva inicial de magnetización TP inductivos y los capacitivos.
La curva inicial de magnetización se obtiene mediante la
aplicación de una señal de tensión de CA en el primer 3.1.5.1. Medición de la corrección de la relación de
devanado secundario, cuya área de tensión-tiempo es igual al transformación en TP inductivos
flujo magnético inducido en el núcleo. Se miden la tensión Un TP puede tener una corrección de relación de
secundaria de terminal, la corriente de excitación resultante transformación para compensar el error de relación de
y también el ángulo de fase entre la tensión de excitación y tensión. Físicamente, el error de relación de tensión es
la corriente de excitación. La excitación se realiza a bajas siempre negativo, a menos que el TP tenga una corrección de
frecuencias con el fin de suprimir las influencias ejercidas relación de transformación, que desplazará el error de
por la capacitancia de dispersión primaria. Con el fin de relación de tensión hacia un error de relación de tensión
transformar los datos de frecuencia baja de nuevo a la positivo.
frecuencia nominal, hay que separar las pérdidas
dependientes de la frecuencia para el cálculo de las pérdidas Para la medición de la corrección de relación de
en el núcleo a la frecuencia nominal. transformación se aplica una tensión máxima de 4 kV en el
devanado primario, mientras que la tensión secundaria
Hay que medir la curva inicial de magnetización solo para el inducida se mide en cada devanado sucesivamente. Esta
primer devanado secundario, ya que los TP con varios medición representa una medición de la relación de tensión
devanados tienen un núcleo de hierro donde se unen los sin carga a tensiones primarias bastante bajas. Al mismo
devanados individuales. La curva inicial de magnetización se tiempo, se calcula el error teórico de relación de tensión con
reajustará en consecuencia para todos los demás devanados el modelo matemático, suponiendo que no hay corrección de
secundarios. relación de transformación. La diferencia entre el error de
En la figura 8 se ilustra la configuración de la prueba. La relación de tensión sin carga medido y el error de relación de
NHF (portadora) tiene que estar flotando con el fin de evitar tensión calculado tiene su causa en la corrección de la
cualquier influencia de C2, que se comportaría de la misma relación de transformación del TP.
manera que una capacitancia de dispersión primaria parásita.
Dado que se utilizan frecuencias muy bajas para esta
medición, el nivel de tensión necesario se puede reducir 3.1.5.2. Medición de la corrección de la relación de
significativamente, lo que hace que la propia medición ahorre transformación en TP capacitivos
en términos de tensiones primarias inducidas. Además, hay En los TP capacitivos la corrección de relación de
que asegurarse de que la tensión primaria inducida no será transformación se mide en dos etapas. En primer lugar la
superior a 3 kV para los TP capacitivos ya que el aislamiento relación de tensión total se mide mediante la aplicación de
del terminal de la NHF (portadora) está diseñado para una tensión (UprimM1) de un máximo de 4 kV en el devanado
soportar 4 kV según IEC y 3,5 kV según IEEE. Si la tensión primario, mientras que se mide la tensión secundaria
primaria inducida fuera mayor que estos límites, inducida (UsecM1) en el primer devanado secundario (1a-1n).
posiblemente dañaría el aislamiento del terminal de la NHF Este resultado proporciona la relación de tensión del TP
(portadora). capacitivo completo, que consta de la relación de tensión
causada por el divisor capacitivo (Nc) y el TP inductivo
intermedio (NVT).
 = ∗ 3.2. Cálculo del error de relación de tensión dependiente
de la carga y el desplazamiento de fase
En esta etapa se conocen todos los parámetros para el modelo
La configuración de prueba para esta medición se muestra en matemático, por lo que el error de relación de tensión
la figura 9 a continuación. dependiente de la carga y el desplazamiento de fase se
pueden calcular para cada punto de funcionamiento deseado
del TP definido en la norma seleccionada.
La corriente de carga provoca una caída de tensión en la
impedancia de dispersión secundaria. Esta caída de tensión
se añade a la tensión del terminal con el fin de calcular la
tensión del núcleo. A la tensión del núcleo obtenida, se
conocen la corriente de excitación resultante y su ángulo de
fase relacionado con la tensión del núcleo. Se necesita la
información sobre la corriente de excitación para calcular la
corriente primaria total (Ip''). Dependiendo de la condición
de carga de los otros devanados, se añade su corriente de
Fig. 9 Configuración para la medición de la relación tensión
total del TP capacitivo carga a la corriente primaria total. La corriente primaria causa
una caída de tensión adicional en la impedancia de dispersión
primaria. La caída de tensión primaria se añade a la tensión
En una segunda etapa se desconecta de tierra el terminal NHF del núcleo con el fin de derivar la tensión primaria. El error
(portadora) y se conecta al terminal A de HV. Se aplica la de relación de tensión puede derivarse de la tensión primaria
tensión primaria (UprimM2) entre A y NHF (portadora) a tierra, y la tensión del terminal secundario. Como se conoce la
mientras que se mide la tensión secundaria inducida (UsecM2) corrección de la relación de transformación, la desviación
en el primer devanado secundario 1a-1n (véase la figura 10). causada por la corrección de la relación de transformación se
Hay que garantizar que el TP inductivo intermedio ahora se añade al error de relación de tensión calculado. Como el
opere en el mismo punto de trabajo que para la medición de propio cálculo se realiza en plano complejo, también se
la relación de tensión total del TP capacitivo, ya que la parte puede derivar el desplazamiento de fase.
inductiva es no lineal con la tensión aplicada. Este método
permite la separación entre la relación de tensión del divisor 4. Verificación de TP utilizando el método de modelado
capacitivo y del divisor inductivo. La relación de tensión
medida es igual a la relación de tensión del TP inductivo VOTANO 100 consigue unos resultados de prueba precisos
intermedio. que están cerca de la referencia. Esto permite calibrar con
precisión los transformadores de tensión de clase 0.1 de
exactitud. Por lo tanto, el dispositivo se puede utilizar para
pruebas de TP de protección y de medida durante el proceso
=
de fabricación así como para la verificación in situ de la
exactitud del transformador de tensión. Sin embargo, antes
de poner un TP en funcionamiento por primera vez, debe ser
Como última etapa la tensión primaria se eleva hasta 3 kV
probado con inyección primaria al nivel de tensión nominal.
como máximo con el fin de medir el error de relación de
tensión del TP intermedio a una tensión de prueba más alta
para lograr un cálculo más exacto de la corrección de la
relación de transformación. 5. Casos prácticos
La medición de la relación de tensión inductiva del TP 5.1. Medición de un TP de referencia de 66 kV
capacitivo a un máximo de 3 kV tiene que repetirse
sucesivamente para cada devanado secundario, ya que hay El primer caso práctico trata de una medición in situ de un
que derivar la corrección de relación de transformación para TP de referencia de 66 kV a 132 kV. El devanado secundario
cada devanado secundario. tiene dos tomas para adaptar la relación de tensión entre
132 kV/√3:110 V/√3 y 66 kV/√3:110 V/√3. La información
de la placa de características del TP se muestra en la figura
10. La exactitud de este TP de referencia se define como
±0,03% en el error de relación de tensión y de ±1,5 min en el
desplazamiento de fase a una carga nominal de 1 VA con un
factor de potencia de 1,0 y para un rango de tensión del 50%
al 125% de la tensión nominal primaria. La exactitud del TP
se especifica para un rango de frecuencia de 50 Hz a 60 Hz.

Fig. 10 Configuración para la medición de la relación tensión

inductiva del TP capacitivo
 El desplazamiento de fase obtenido estaba ligeramente fuera
de los límites requeridos de ±1,5 min, véase la figura 14 y la
figura 15. La variación más alta fue a un 80% de la tensión
nominal primaria y una carga de 1 VA con un valor absoluto
de -1,07 min. Esta discrepancia podría ser aceptable para las
mediciones de verificación en la clase 0.1 de TP de medida.

Potencia Tabla de desplazamiento de fase (min)

VA VA [%] cos phi 80% 100% 120%

1,0000 100,0% 1,0000 -2,5727 -2,5655 -2,5576

0,0000 0,0% 1,0000 -2,3296 -2,3225 -2,3146

Fig. 11 Placa de características del TP de referencia

Fig. 15 Tabla de desplazamiento de fase

La foto siguiente (figura 11) muestra la caja de terminales del

devanado secundario. El TP se probó varias veces con el fin
de demostrar la estabilidad de los resultados de la prueba para
50 Hz, 60 Hz e incluso para las dos posibles relaciones de
tensión.

Fig. 16 Diagrama de desplazamiento de fase

Los resultados en sí han demostrado ser muy estables en el

rango de frecuencias de 50 Hz a 60 Hz y para todas las
mediciones sucesivas realizadas. La mayor varianza absoluta
entre todas las pruebas sucesivas fue de ±0,001% en lo que
respecta al error de relación de tensión y de ±0,03 min en lo
Fig. 12 Caja de terminales secundaria que respecta al desplazamiento de fase.
Esto demuestra que el concepto de modelado funciona de una
Los resultados de la prueba que se muestran a continuación manera fiable y repetible.
son un ejemplo para la toma completa (66 kV/√3:110 V/√3)
5.2. Medición de un TP de referencia de 4 kV
a 50 Hz. Se puede observar (figura 12 y figura 13) que el error
de relación de tensión está dentro de los límites requeridos de El segundo caso práctico trata de una medición comparativa
±0,03% del 80% al 120% de la tensión nominal primaria y en un TP de aislamiento sólido de resina de 4 kV. El TP se
de 0 VA hasta condición de carga de 1 VA. ha calibrado en un laboratorio de calibración independiente
en Austria, que es conforme con las normas nacionales y que
Potencia Error de relación de tensión en % de tensión utiliza las unidades físicas de medida de acuerdo con el
nominal Sistema Internacional de Unidades (SI). La incertidumbre de
VA VA [%] cos phi 80% 100% 120% medida ampliada UFu para el error de relación de tensión es
1,0000 100,0% 1,0000 -0,0064% -0,0038% -0,0019% del 0,006%, y Uδu para el desplazamiento de fase es de
0,0000 0,0% 1,0000 -0,0052% -0,0025% -0,0006% 0,4 min.
Fig. 13 Tabla errores de relación de tensión La figura 16 muestra la información de la placa de
características del TP de referencia y la figura 17 ilustra el
error de relación de tensión y el desplazamiento de fase
obtenido en el laboratorio.

Fig. 14 Diagrama de errores de relación de tensión Fig. 17 Información de la placa de características

 Fig. 22 Diagrama de desplazamiento de fase

6. Referencias

[1] IEC 61869-3:2011 Transformadores de medida –

Fig. 18 Error de relación de tensión y desplazamiento de fase Requisitos adicionales para los transformadores de
tensión inductivos

Los resultados de las pruebas obtenidos por VOTANO 100 [2] Bergman, Anders: In situ calibration of voltage
respecto al error de relación de tensión y el desplazamiento transformers on the Swedish national grid. Tesis
de fase se muestran en la figuras 18 a 21. La prueba se había doctoral; Upsala, 1994
realizado a 50 Hz y 60 Hz. [3] Raetzke, Stephanie et al.: Condition assessment of
Al 100% de la tensión nominal primaria y el 100% de la carga instrument transformers using Dielectric Response
nominal la diferencia absoluta respecto a la referencia es del Analysis. Cigre 2012
0,0042% en el error de relación de tensión y de 0,75 min en
[4] Azcarraga, C.G. et al.: On-site Testing of Instrument
el desplazamiento de fase.
Transformers; 2006 Annual Report Conference on
Al 100% de la tensión nominal primaria y una carga de 0 VA Electrical Insulation and Dielectric Phenomena
la diferencia absoluta es del 0,0062% con respecto al error de
relación de tensión y de 0,703 min en el desplazamiento de [5] Manual del usuario del VOTANO 100
fase. [6] IEC 60044-2 Edición 1.2 / 2003-02 "Transformadores
de medida. Parte 2: Transformadores de tensión
Potencia Error de relación de tensión en % de tensión nominal inductivos", Número de referencia CEI/IEC 60044-
VA VA [%] cos phi 80% 100% 120% 2:1997+A1:2000+A2:2002
1,0000 100,0% 1,0000 -0,0101% -0,0118% -0,0178% [7] IEC 60044-5 Primera edición / 2004-04
0,0000 0,0% 1,0000 0,0063% 0,0046% -0,0014% "Transformadores de medida. Parte 5: Transformadores
de tensión capacitivos", Número de referencia CEI/IEC
60044-5:2004
Fig. 19 Tabla errores de relación de tensión
[8] IEC 61869-3 Edición 1.0 / 2011-07 "Transformadores de
medida. Parte 3: Requisitos adicionales para los
transformadores de tensión inductivos"
[9] IEC 61869-5 Edición 1.0 / 2011-07 "Transformadores de
medida. Parte 5: Requisitos adicionales para los
transformadores de tensión capacitivos"
[10] IEEE "Requisitos estándar para transformadores de
medida" IEEE Norma C57.13TM-2008
[11] ANSI C93.1 – 1999 Requisitos para condensadores de
acoplamiento de portadora de línea eléctrica y
transformadores de tensión con condensador de
Fig. 20 Diagrama de errores de relación de tensión acoplamiento (CCVT, por sus siglas en inglés)

Potencia Tabla de desplazamiento de fase (min)

VA VA [%] cos phi 80% 100% 120%

1,0000 100,0% 1,0000 1,0573 1,3540 1,7354

0,0000 0,0% 1,0000 1,4998 1,7966 2,1781

Fig. 21 Tabla de desplazamiento de fase

Acerca de los autores

Florian Predl trabaja para OMICRON como

ingeniero de aplicaciones, centrándose principalmente en
aplicaciones de transformadores de medida desde septiembre
de 2007. Se graduó en el Instituto Técnico Superior Federal
en Rankweil, Austria centrándose en la tecnología de alta
frecuencia.

Michael Freiburg actualmente trabaja

como asistente de investigación en la Universidad Técnica de
Dortmund, Alemania. Sus intereses de investigación
incluyen el diagnóstico de equipos de alta tensión y la ciencia
de materiales. Se licenció como ingeniero en 2010 y
actualmente trabaja para lograr el doctorado en la
Universidad Técnica de Dortmund, Alemania, en
cooperación con OMICRON, Austria.

Dr. Michael Krüger es Jefe de Servicios de

Ingeniería en "Soluciones de prueba y diagnóstico para
activos primarios", OMICRON, Austria. Estudió ingeniería
eléctrica en la Universidad de Aquisgrán (RWTH) y la
Universidad de Kaiserslautern (Alemania) y se graduó en
1976 (Dipl.-Ing.). En 1990 recibió el Dr. tecn. de la
Universidad de Viena. El Dr. Michael Krüger tiene una
experiencia de más de 30 años en ingeniería de alta tensión y
diagnóstico de aislamiento.